JPH0492895A - ダイヤモンド薄膜の気相合成方法 - Google Patents
ダイヤモンド薄膜の気相合成方法Info
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- JPH0492895A JPH0492895A JP20709190A JP20709190A JPH0492895A JP H0492895 A JPH0492895 A JP H0492895A JP 20709190 A JP20709190 A JP 20709190A JP 20709190 A JP20709190 A JP 20709190A JP H0492895 A JPH0492895 A JP H0492895A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は反応ガスの化学反応によりダイヤモンド薄膜を
合成する方法に関する。
合成する方法に関する。
[従来の技術]
エレクトロニクス材料、光学材料及び超硬工具などに応
用されるダイヤモンド薄膜の需要が最近増大している。
用されるダイヤモンド薄膜の需要が最近増大している。
そしてダイヤモンド薄膜の製造技術として、CVD法(
Chemical Vapor Deposition
)と呼ばれる技術か近年注目を集めている。この方法は
、たとえばメタンガス(CH4)等の炭化水素化合物を
加熱したフィラメントあるいはプラズマ等を用いて分解
、イオン化することによって金属、半導体あるいはセラ
ミックス基板上にダイヤモンド状の炭素膜を成長させる
ものである。
Chemical Vapor Deposition
)と呼ばれる技術か近年注目を集めている。この方法は
、たとえばメタンガス(CH4)等の炭化水素化合物を
加熱したフィラメントあるいはプラズマ等を用いて分解
、イオン化することによって金属、半導体あるいはセラ
ミックス基板上にダイヤモンド状の炭素膜を成長させる
ものである。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、前記従来方法では、ダイヤモンド膜成長
には基板温度が700−1000℃以上の高温を必要と
し、基板の劣下及び設備上の問題があった。また良質な
ダイヤモンド薄膜を得るには炭化水素化合物原料濃度が
全ガスの1%以下でなければならないため、高速合成が
できなかった。
には基板温度が700−1000℃以上の高温を必要と
し、基板の劣下及び設備上の問題があった。また良質な
ダイヤモンド薄膜を得るには炭化水素化合物原料濃度が
全ガスの1%以下でなければならないため、高速合成が
できなかった。
さらに、得られた膜中にはグラファイト等の非ダイヤモ
ンド構造の物質が多量に混在し、純度の点で問題があっ
た。
ンド構造の物質が多量に混在し、純度の点で問題があっ
た。
そこで本発明の課題は基板温度が従来よりも低温である
緩和な条件において、より純度の高いダイヤモンド薄膜
を従来よりも高速で合成する気相合成方法を提供するこ
とにある。
緩和な条件において、より純度の高いダイヤモンド薄膜
を従来よりも高速で合成する気相合成方法を提供するこ
とにある。
[課題を解決するための手段]
前記課題を解決するために請求項1の発明は炭素元素を
有する原料を分解し、所定の基板上にダイヤモンド薄膜
を合成する方法において、該原料の分解反応系にハロゲ
ン元素を添加することを特徴とするダイヤモンド薄膜の
気相合成方法とされる。
有する原料を分解し、所定の基板上にダイヤモンド薄膜
を合成する方法において、該原料の分解反応系にハロゲ
ン元素を添加することを特徴とするダイヤモンド薄膜の
気相合成方法とされる。
請求項2の発明は請求項1の発明において、炭素元素を
有する原料か炭化水素、アルコール及びケトンからなる
群から選ばれる1以上の気体であることを特徴とする 請求項3の発明は請求項1の発明において、炭素元素を
有する原料がハロゲン元素を有する炭化水素であること
を特徴とする 請求項4の発明は請求項1ないし3の発明において、ハ
ロゲン元素を添加するためにハロゲン、ハロゲン化炭素
及びハロゲン間化合物からなる群から選ばれる1以上の
物質を用いることを特徴とする 請求項5の発明は請求項1ないし4の発明において、基
板が金属、半導体及びセラミックスよりなる群から選ば
れる1以上の物質を有することを特徴とする。
有する原料か炭化水素、アルコール及びケトンからなる
群から選ばれる1以上の気体であることを特徴とする 請求項3の発明は請求項1の発明において、炭素元素を
有する原料がハロゲン元素を有する炭化水素であること
を特徴とする 請求項4の発明は請求項1ないし3の発明において、ハ
ロゲン元素を添加するためにハロゲン、ハロゲン化炭素
及びハロゲン間化合物からなる群から選ばれる1以上の
物質を用いることを特徴とする 請求項5の発明は請求項1ないし4の発明において、基
板が金属、半導体及びセラミックスよりなる群から選ば
れる1以上の物質を有することを特徴とする。
ここで炭素元素を有する原料としては、例えば炭化水素
(メタン、エタン、プロパン又はアセチレン等)、酸素
元素を有する有機化合物(メタノール等のアルコール又
はアセトン等のケトン類)など及びこれらの1種以上の
混合物を用い得る。
(メタン、エタン、プロパン又はアセチレン等)、酸素
元素を有する有機化合物(メタノール等のアルコール又
はアセトン等のケトン類)など及びこれらの1種以上の
混合物を用い得る。
またこの炭素元素を有する原料がさらにハロゲン元素を
も有している物質、例えばハロゲン化炭化水素(フッ化
メチル(CH3F)、塩化メチル、臭化メチル、塩化エ
チル又はフッ化メチレン等)であってもよい。又、これ
らの炭素元素を有する原料を分解し、イオンやラジカル
等とする方法としてはマイクロ波、マイクロ波プラズマ
、プラズマ、熱又は光等を用いる従来の種々の方法を用
いることができる。
も有している物質、例えばハロゲン化炭化水素(フッ化
メチル(CH3F)、塩化メチル、臭化メチル、塩化エ
チル又はフッ化メチレン等)であってもよい。又、これ
らの炭素元素を有する原料を分解し、イオンやラジカル
等とする方法としてはマイクロ波、マイクロ波プラズマ
、プラズマ、熱又は光等を用いる従来の種々の方法を用
いることができる。
前記基板としては金属、半導体、又はセラミックを有す
るものを用いるのが好ましくすなわち、金属、半導体又
はセラミックス製の基板、これらの混合体の基板又は基
板の表面のみが金属、半導体又はセラミックス製又はこ
れらの混合体の基板を用いるのが好ましい。
るものを用いるのが好ましくすなわち、金属、半導体又
はセラミックス製の基板、これらの混合体の基板又は基
板の表面のみが金属、半導体又はセラミックス製又はこ
れらの混合体の基板を用いるのが好ましい。
前記ダイヤモンド薄膜の厚さはその用途に応じた厚さの
ものとなすことかでき、工具、ヒートシンク用では数百
μm以上、光学膜、半導体デバイス用であれば100人
〜数μm程度とすることかできる。
ものとなすことかでき、工具、ヒートシンク用では数百
μm以上、光学膜、半導体デバイス用であれば100人
〜数μm程度とすることかできる。
前記分解反応系とは、前記炭素元素を有する原料気体か
分解し、イオンやラジカル等とされる反応系を意味して
いる。この反応系へのハロゲン元素の添加方法は例えば
ハロゲン元素を有する化学物質の添加により行うことが
でき、例えばハロゲン気体(塩素(C12)フッ素(F
2)、臭素(Brz)等)又はハロゲン間化合物(四フ
ッ化二臭素(Br2F、 )等)又はハロゲン化炭素(
四塩化炭素(CC1,)、四フッ化炭素(CF、) 、
四フッ化炭素(C2F4)、二塩化−酸化炭素(COC
L)等)などの気体又はこれらの気体の2以上の混合気
体を添加することにより行うことかできる。また前記の
炭素元素を有する原料気体がさらにハロゲン元素をも有
している(例えば塩化メチル(CH3C1)等)場合に
は、この気体によってハロゲン元素の添加を行うことか
できる。
分解し、イオンやラジカル等とされる反応系を意味して
いる。この反応系へのハロゲン元素の添加方法は例えば
ハロゲン元素を有する化学物質の添加により行うことが
でき、例えばハロゲン気体(塩素(C12)フッ素(F
2)、臭素(Brz)等)又はハロゲン間化合物(四フ
ッ化二臭素(Br2F、 )等)又はハロゲン化炭素(
四塩化炭素(CC1,)、四フッ化炭素(CF、) 、
四フッ化炭素(C2F4)、二塩化−酸化炭素(COC
L)等)などの気体又はこれらの気体の2以上の混合気
体を添加することにより行うことかできる。また前記の
炭素元素を有する原料気体がさらにハロゲン元素をも有
している(例えば塩化メチル(CH3C1)等)場合に
は、この気体によってハロゲン元素の添加を行うことか
できる。
また四塩化炭素(CCI4)又は二塩化−酸化炭素(C
0C12)等の様に液状の物質は、水素の気体と混合し
飽和蒸気として水素の気体と共に反応系に供給すること
ができる。すなわち原料が固体又は液体であっても気体
化することによって本発明方法に用い得る。
0C12)等の様に液状の物質は、水素の気体と混合し
飽和蒸気として水素の気体と共に反応系に供給すること
ができる。すなわち原料が固体又は液体であっても気体
化することによって本発明方法に用い得る。
そして前記炭素元素を有する原料の気体はその他の原料
気体、例えば水素気体及びハロゲン元素を有する気体等
と共に使用し得る。本方法にて使用する原料気体全体中
の好ましいハロゲン元素含量は0.5容量%〜5容量%
であり、より好ましくは約1.0容量%である。これは
、ハロゲン元素含量が少なすぎるとハロゲンラジカルの
作用が弱くなるし、多すぎるとダイヤモンド膜の品質上
問題が生じる可能性があるからである。
気体、例えば水素気体及びハロゲン元素を有する気体等
と共に使用し得る。本方法にて使用する原料気体全体中
の好ましいハロゲン元素含量は0.5容量%〜5容量%
であり、より好ましくは約1.0容量%である。これは
、ハロゲン元素含量が少なすぎるとハロゲンラジカルの
作用が弱くなるし、多すぎるとダイヤモンド膜の品質上
問題が生じる可能性があるからである。
また炭素元素を有する原料の気体の含量は同様に原料気
体全体中0.5容量%〜5容量%が好ましく、約1.0
容量%がより好ましい。これは少なすぎると膜の合成速
度が遅くなるし、多すぎるとダイヤモンド膜の品質上問
題が生じる劣れがあるためである。
体全体中0.5容量%〜5容量%が好ましく、約1.0
容量%がより好ましい。これは少なすぎると膜の合成速
度が遅くなるし、多すぎるとダイヤモンド膜の品質上問
題が生じる劣れがあるためである。
そして炭素元素とハロゲン元素から生じたハロゲンラジ
カルとは理論上1対lで反応することから、炭素元素と
ハロゲン元素との原料気体全体中における存在比は炭素
元素1に対してハロゲン元素1以上が好ましいと考えら
れる。
カルとは理論上1対lで反応することから、炭素元素と
ハロゲン元素との原料気体全体中における存在比は炭素
元素1に対してハロゲン元素1以上が好ましいと考えら
れる。
請求項6の発明は請求項1ないし5の発明において、該
原料の分解反応系に紫外線を照射することを特徴とする
。前記紫外線の発生源としては例えば高圧水銀ランプ、
紫外線用白熱ランプ又はキセノンランプなど従来の種々
の装置を使用しうる。
原料の分解反応系に紫外線を照射することを特徴とする
。前記紫外線の発生源としては例えば高圧水銀ランプ、
紫外線用白熱ランプ又はキセノンランプなど従来の種々
の装置を使用しうる。
そして紫 外線は例えば波長300〜400nm、強度
10 mW/crJ〜50 mW/ci程度のものを
用い得る。該反応系に紫外線を照射する方法として例え
ば前記基板上に前記原料気体を供給し、この基板上に紫
外線を照射する。
10 mW/crJ〜50 mW/ci程度のものを
用い得る。該反応系に紫外線を照射する方法として例え
ば前記基板上に前記原料気体を供給し、この基板上に紫
外線を照射する。
[作 用]
反応系に添加されたハロゲン元素が分解され、ハロゲン
ラジカルが生じるが、このハロゲンラジカルは非常に活
性であるので、炭素元素を有する原料の気体と容易に反
応し、これを分解する。この結果、炭素元素を有する原
料の気体は従来方法よりも基板が低温である条件下にお
いてもより速く分解され得る。従って、従来よりも緩和
な条件下においてより速くダイヤモンド薄膜が合成でき
る。さらにこのハロゲンラジカルは基板表面に吸着した
黒鉛構造炭素の原因となる錯体と強く相互作用し、これ
を分解除去する。従って従来よりもより純度の高いダイ
ヤモンド薄膜を得ることができる。
ラジカルが生じるが、このハロゲンラジカルは非常に活
性であるので、炭素元素を有する原料の気体と容易に反
応し、これを分解する。この結果、炭素元素を有する原
料の気体は従来方法よりも基板が低温である条件下にお
いてもより速く分解され得る。従って、従来よりも緩和
な条件下においてより速くダイヤモンド薄膜が合成でき
る。さらにこのハロゲンラジカルは基板表面に吸着した
黒鉛構造炭素の原因となる錯体と強く相互作用し、これ
を分解除去する。従って従来よりもより純度の高いダイ
ヤモンド薄膜を得ることができる。
また紫外線はハロゲン元素の光分解を起こすため紫外線
照射によってハロゲンラジカルの発生効率が高められる
。従って前記したハロゲンラジカルの作用がより向上す
る。
照射によってハロゲンラジカルの発生効率が高められる
。従って前記したハロゲンラジカルの作用がより向上す
る。
[実施例]
次に本発明方法の一具体例について第1図に基ついて説
明する。第1図は本発明方法の実施に適した装置の一例
を簡略化した形で示したものである。第1図の装置にお
いてlは円筒型の反応容器であり、その−側面上部には
三種の気相原料を供給するための三本の供給管2a、2
b、2cを備え、前記−側面と並行である側面の下部に
は排気口3か設けられている。前記反応容器1内には、
基板ホルダー4上載置された基板5が前記供給管2a、
2b、2cの開口部とほぼ対向する位置に配置されてい
る。そして通常のマイクロ波発振器6が反応容器lの外
部であって基板ホルダー4の垂直下に相当する位置に設
けられており、マイクロ波発振器6から発振したマイク
ロ波を基板5に供給するためのマイクロ波導波管7が、
反応容器lの外部において基板ホルダー4の垂直方向上
部及び下部に対向して設けられている。
明する。第1図は本発明方法の実施に適した装置の一例
を簡略化した形で示したものである。第1図の装置にお
いてlは円筒型の反応容器であり、その−側面上部には
三種の気相原料を供給するための三本の供給管2a、2
b、2cを備え、前記−側面と並行である側面の下部に
は排気口3か設けられている。前記反応容器1内には、
基板ホルダー4上載置された基板5が前記供給管2a、
2b、2cの開口部とほぼ対向する位置に配置されてい
る。そして通常のマイクロ波発振器6が反応容器lの外
部であって基板ホルダー4の垂直下に相当する位置に設
けられており、マイクロ波発振器6から発振したマイク
ロ波を基板5に供給するためのマイクロ波導波管7が、
反応容器lの外部において基板ホルダー4の垂直方向上
部及び下部に対向して設けられている。
また反応容器lの上面壁には高純度石英製板材がはめ込
まれた窓8か設けられている。この窓8の位置に隣接し
て紫外線Sの光源である高圧水銀ランプ9が設けられて
いる。前記窓8及び高圧水銀ランプ9は基板ホルダー4
上に載置された基板5に高圧水銀ランプ9からの紫外線
Sが照射される位置とされる。
まれた窓8か設けられている。この窓8の位置に隣接し
て紫外線Sの光源である高圧水銀ランプ9が設けられて
いる。前記窓8及び高圧水銀ランプ9は基板ホルダー4
上に載置された基板5に高圧水銀ランプ9からの紫外線
Sが照射される位置とされる。
本実施例においてダイヤモンド薄膜を製造する場合には
供給管2aから水素ガスを毎分1リツトル、供給管26
からメタンガスを20cc/分及び供給管2Cから塩素
ガスを5cc/分の割合で反応容器1内に供給した。反
応容器内は排気口3に連続する図示しない通常の減圧手
段により80トールに減圧する一方、周波数2.45G
Hz波長約12国、電力約300Wのマイクロ波により
シリコンの基板5を約600°Cまで加熱し約1時間保
持した。
供給管2aから水素ガスを毎分1リツトル、供給管26
からメタンガスを20cc/分及び供給管2Cから塩素
ガスを5cc/分の割合で反応容器1内に供給した。反
応容器内は排気口3に連続する図示しない通常の減圧手
段により80トールに減圧する一方、周波数2.45G
Hz波長約12国、電力約300Wのマイクロ波により
シリコンの基板5を約600°Cまで加熱し約1時間保
持した。
この間高圧水銀ランプ9からの紫外線Sを窓8を通して
基板5に照射した。なお使用した紫外線Sは波長300
nm 〜400nmで強度20 mW / crlであ
った。
基板5に照射した。なお使用した紫外線Sは波長300
nm 〜400nmで強度20 mW / crlであ
った。
以上の操作によりシリコンの基板3上に厚さ約15μm
の膜Mを得た。この膜Mをラマン散乱測定により評価し
たところ1333c&に強いピークが観測されダイヤモ
ンドであることが確認された。
の膜Mを得た。この膜Mをラマン散乱測定により評価し
たところ1333c&に強いピークが観測されダイヤモ
ンドであることが確認された。
そして非ダイヤモンド構造の炭素が混在する場合に見ら
れる1 500cnr付近のピークは非常に弱いもので
あった。
れる1 500cnr付近のピークは非常に弱いもので
あった。
一方従来のダイヤモンド薄膜合成方法においては基板温
度が700〜1000℃以上であることを必要とする上
、膜の成長速度が1μm/時以下の場合にのみ良質な膜
が得られていた。従って本発明方法によると、基板温度
600℃という低温度にて、1時間で15μmの良質な
膜(ダイヤモンド薄膜)Mを得ることができ、従来と比
べてその効果は顕著である。
度が700〜1000℃以上であることを必要とする上
、膜の成長速度が1μm/時以下の場合にのみ良質な膜
が得られていた。従って本発明方法によると、基板温度
600℃という低温度にて、1時間で15μmの良質な
膜(ダイヤモンド薄膜)Mを得ることができ、従来と比
べてその効果は顕著である。
また対照としては塩素ガスの供給を止めた他は上述の条
件と同様に実施したか、膜成長はほとんど起きず、塩素
ガスの重要性が示唆された。
件と同様に実施したか、膜成長はほとんど起きず、塩素
ガスの重要性が示唆された。
なお本実施例は原料気体を分解する手段として従来のマ
イクロ波プラズマCVD法を利用しているか、この方法
に代えてその他のプラズマCVD法又は熱フイラメント
法等の種々の方法を利用し得ることは言うまでもないっ また、本実施例における水素、メタンカス及び塩素ガス
から成る全原料気体の供給条件としては全原料気体の流
量は全原料気体中のメタンカス濃度を低(するとダイヤ
モンド膜の品質上有利なので0.11/分以上とするの
が好ましい。
イクロ波プラズマCVD法を利用しているか、この方法
に代えてその他のプラズマCVD法又は熱フイラメント
法等の種々の方法を利用し得ることは言うまでもないっ また、本実施例における水素、メタンカス及び塩素ガス
から成る全原料気体の供給条件としては全原料気体の流
量は全原料気体中のメタンカス濃度を低(するとダイヤ
モンド膜の品質上有利なので0.11/分以上とするの
が好ましい。
そして分解反応系の気体圧力範囲はlOトール〜760
トール(1気圧)とすることかでき、1気圧に近いと気
体の流れの制御が困難となることから10トール〜10
0トールが好ましい。
トール(1気圧)とすることかでき、1気圧に近いと気
体の流れの制御が困難となることから10トール〜10
0トールが好ましい。
また基板温度は約500℃以上ないし約1000℃以下
とされるのが好ましい。
とされるのが好ましい。
さらに本実施例におけるマイクロ波の電力は基板形状及
び反応管形状等の装置に存在するが例えば100W−I
KWの範囲となしつる。またマイクロ波の波数は例えば
IGHz〜数百GHzとなしうる。
び反応管形状等の装置に存在するが例えば100W−I
KWの範囲となしつる。またマイクロ波の波数は例えば
IGHz〜数百GHzとなしうる。
以上の諸条件の選択によってダイヤモンド薄膜の製造速
度及び該膜の品質をより改善しつる。
度及び該膜の品質をより改善しつる。
[発明の効果]
請求項Iないし6の発明によると、非常に活性なハロゲ
ンラジカルか炭素元素を有する原料の気体と反応し、こ
れを迅速に分解するので、基板温度条件が従来よりも緩
和な条件下において迅速にダイヤモンド薄膜を合成する
ことができる。さらにはハロゲンラジカルは基板表面上
の黒鉛構造炭素の原因となる錯体を分解除去するので、
純度の高いダイヤモンド薄膜を得ることかできる。すな
わち基板の劣下の問題、高温条件下による設備上の問題
を生じることなく、従来よりも迅速により良質のダイヤ
モンド薄膜を合成することができる。
ンラジカルか炭素元素を有する原料の気体と反応し、こ
れを迅速に分解するので、基板温度条件が従来よりも緩
和な条件下において迅速にダイヤモンド薄膜を合成する
ことができる。さらにはハロゲンラジカルは基板表面上
の黒鉛構造炭素の原因となる錯体を分解除去するので、
純度の高いダイヤモンド薄膜を得ることかできる。すな
わち基板の劣下の問題、高温条件下による設備上の問題
を生じることなく、従来よりも迅速により良質のダイヤ
モンド薄膜を合成することができる。
請求項3の発明によると、該炭素元素を有する原料であ
るハロゲン元素を含む炭化水素化合物は非常に容易にハ
ロゲンラジカルと炭化水素ラジカルとに分解されるので
ダイヤモンド薄膜の合成はより容易となる。
るハロゲン元素を含む炭化水素化合物は非常に容易にハ
ロゲンラジカルと炭化水素ラジカルとに分解されるので
ダイヤモンド薄膜の合成はより容易となる。
請求項5の発明によると前記基板とて一定のものを使用
することにより、ダイヤモンド薄膜の合成をより容易な
ものとなし得る。
することにより、ダイヤモンド薄膜の合成をより容易な
ものとなし得る。
請求項6発明によると紫外線の照射によってハロゲンラ
ジカルの発生か促進されるため、ハロゲンラジカルの供
給が効率的に行われ、従ってダイヤモンド薄膜の成長速
度及び品質はより向上する。
ジカルの発生か促進されるため、ハロゲンラジカルの供
給が効率的に行われ、従ってダイヤモンド薄膜の成長速
度及び品質はより向上する。
第1図は実施例において使用される装置の概略図である
。 ■・・・反応容器 2a、2b、2cm−−供給管 5・・・基 板 6・・・マイクロ波発振器 9・・・高圧水銀ランプ S・・・紫外線 M・・・膜
。 ■・・・反応容器 2a、2b、2cm−−供給管 5・・・基 板 6・・・マイクロ波発振器 9・・・高圧水銀ランプ S・・・紫外線 M・・・膜
Claims (6)
- 1.炭素元素を有する原料を分解し、所定の基板上にダ
イヤモンド薄膜を合成する方法において、該原料の分解
反応系にハロゲン元素を添加することを特徴とするダイ
ヤモンド薄膜の気相合成方法。 - 2.炭素元素を有する原料が炭化水素、アルコール及び
ケトンからなる群から選ばれる1以上の気体である請求
項1に記載のダイヤモンド薄膜の気相合成方法。 - 3.炭素元素を有する原料がハロゲン元素を有する炭化
水素である請求項1に記載のダイヤモンド薄膜の気相合
成方法。 - 4.ハロゲン元素を添加するために、ハロゲン、ハロゲ
ン化炭素及びハロゲン間化合物からなる群から選ばれる
1以上の物質を用いることを特徴とする請求項1ないし
3に記載のダイヤモンド薄膜の気相合成方法。 - 5.基板が金属、半導体及びセラミックスよりなる群か
ら選ばれる1以上の物質を有することを特徴とする請求
項1ないし4に記載のダイヤモンド薄膜の気相合成方法
。 - 6.原料の分解反応系に紫外線を照射することを特徴と
する請求項1ないし5に記載のダイヤモンド薄膜の気相
合成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20709190A JPH0492895A (ja) | 1990-08-04 | 1990-08-04 | ダイヤモンド薄膜の気相合成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20709190A JPH0492895A (ja) | 1990-08-04 | 1990-08-04 | ダイヤモンド薄膜の気相合成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0492895A true JPH0492895A (ja) | 1992-03-25 |
Family
ID=16534052
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20709190A Pending JPH0492895A (ja) | 1990-08-04 | 1990-08-04 | ダイヤモンド薄膜の気相合成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0492895A (ja) |
-
1990
- 1990-08-04 JP JP20709190A patent/JPH0492895A/ja active Pending
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