JPH048384Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は、回路基板の検査装置に関するもの
である。

一般に、この種の検査装置は、回路基板を支持
するテーブルと、導電接触ピンが取付けられてい
て所定の高さ位置からテーブルに向けて下降する
プローブ固定板とを備えている。このプローブ固
定板には、テーブル上に載置されている回路基板
に対して垂直方向に動くもの、蓋のように回動し
て開閉するもの、それらの複合動作をするもの等
が知られている。この場合、垂直方向に動くもの
と、蓋のように開閉するものに関しては、その動
作が単調であるため、例えば１つのエアシリンダ
にてプローブ固定板を上下動もしくは回動させる
ことができ、構造的には有利であるが、垂直方向
に動くものではそのストロークが短かいこともあ
つてテーブルに対する回路基板の出入れがしにく
いという欠点がある。一方、蓋のように回動する
ものは、回路基板の出し入れに余り不便を感じな
いが、導電接触ピンが回路基板上に接離する際、
若干であるが両者間に擦りが見られるため、ピン
の先端部が偏摩耗したり、場合によつては回路基
板側に傷がついたりする。このような観点からす
れば、導電接触ピンの接離時のみプローブ固定板
を垂直に上下動させ、それ以外では回動させる複
合動作型のものが最も好ましいということになる
が、従来ではその動きを別々のシリンダにもたせ
るようにしているため、すなわち、上下動用のシ
リンダと回動用のシリンダとが必要であるため、
高価であり、また、その分構造が複雑になるとい
う問題が含まれている。

したがつて、この考案の目的は、１つの駆動手
段によつてプローブ固定板を上下動および回動さ
せ得るようにした回路基板の検査装置を提供する
ことにある。

以下、この考案を添付図面に示された実施例を
参照しながら詳細に説明する。

この検査装置は、平らな板材からなる基台１を
有し、この基台１上には例えば２本のガイド支柱
２，２がほぼ垂直に立設されている。また、この
基台１上には、図示しないＸ−Ｙサーボ系にて駆
動されるＸ−Ｙテーブル３が想像線で示す位置に
設けられており、このＸ−Ｙテーブル３上に被検
査回路基板４が載置されるようになつている。

上記ガイド支柱２，２には、摺動台５が上下動
可能に取付けられ、この摺動台５と基台１との間
には、摺動台５を上方に向けて付勢するスプリン
グ６．６が介装している。また、ガイド支柱２，
２の上部には、摺動台５の上限位置を規制するス
トツパー１９，１９が設けられている。摺動台５
の上部には、軸受７，７を介してプローブ固定板
８が回動可能に枢支されている。この実施例にお
いては、プローブ固定板８の基端部は、軸受７，
７にて摺動台５の上面より高い所定の高さ位置に
保持される。また、プローブ固定板８の回動端側
には、上記テーブル３に対応するように複数の導
電接触ピン９がほぼ垂直に貫設されている。

この考案においては、プローブ固定板８は、導
電接触ピン９がＸ−Ｙテーブル３上の回路基板４
に接離する際には垂直に上下動し、導電接触ピン
９と回路基板４とが所定距離はなされている場合
には、回動するようなされている。

すなわち、プローブ固定板８には、駆動手段で
ある１つのエアシリンダ１０が取付けられてい
る。この実施例においては、シリンダ本体１０ａ
がプローブ固定板８の上部に１対の支承板１１，
１１を介して枢着されており、シリンダロツド１
０ｂはプローブ固定板８を貫通して基台１側に延
び、その下端は基台１上に設けられている１対の
支承板１２，１２に枢着されている。このエアシ
リンダ１０によりプローブ固定板８はスプリング
６により摺動台５がストツパー１９に当る所まで
押上げられている不動作位置から、導電接触ピン
９が回路基板４上に押当てられる作動位置に向け
て駆動されるのであるが、その過程においてプロ
ーブ固定板８はロツク手段にて水平状態に拘束さ
れる。このロツク手段は、上記摺動台５の前面側
に突設されているアーム１４に軸支された揺動レ
バー１５と、この揺動レバー１５の動作を制御す
る制御ガイド１６とを有している。揺動レバー１
５の上端側は、エアシリンダ１０にてプローブ固
定板８が作動位置に押さげられる際、その上面に
突出する長さを有し、その端部には逆Ｌ字状の鉤
部１５ａが形成されている。なお、プローブ固定
板８には、この鉤部１５ａと協働する係止孔１７
が穿設されている。他方、揺動レバー１５の下端
には、制御ガイド１６の従動子１５ｂが取付けら
れている。制御ガイド１６は、基台１側から垂直
に立上る第１のガイド溝１６ａと、この第１のガ
イド溝１６ａの上端の所定の高さ位置から特定の
方向に傾斜する、すなわち、従動子１５ｂを介し
て上端鉤部１５ａを係止孔１７に対する係合位置
と非係合位置とに選択的に動かすように傾斜する
第２のガイド溝１６ｂとを備えている。この実施
例では、第２のガイド溝１６ｂは図示の如く右上
りに傾斜している。なお、摺動台５には、プロー
ブ固定板８の水平状態を調節する水平調節ネジ１
８が取付けられている。

次に、この考案の作用について説明する。第２
図には、エアシリンダ１０のシリンダロツド１０
ｂが伸ばされており、プローブ固定板８が不動作
位置にある状態が示されている。すなわち、摺動
台５はスプリング６によりストツパー１９に当る
上方位置に押上げられており、これに伴なつて揺
動レバー１５の従動子１５ｂは第２のガイド溝１
６ｂ内に移動しており、これにより上端鉤部１５
ａは係止孔１７から外されている。したがつて、
プローブ固定板８は軸受７，７を支点として上方
に回動された位置に保持されている。

この状態において、エアシリンダ１０を作動さ
せてそのシリンダロツド１０ｂを縮めると、プロ
ーブ固定板８は軸受７，７を支点として図示反時
計方向に回動し、水平調節ネジ１８に当接して水
平状態となる。そして、水平状態のまま摺動台５
とともにスプリング６に抗して導電接触ピン９が
回路基板４に当接する高さ位置にまで押下げられ
る。この下降過程において、従動子１５ｂは第２
のガイド溝１６ｂから第１のガイド溝１６ａに移
行するため、揺動レバー１５は図示時計方向に回
動し、その上端の鉤部１５ａは係止孔１７の上端
部に係止される。ところで、回路基板４上に導電
接触ピン９が当接する際、複数の導電接触ピン９
の接触圧の合計がスプリング６の強さに比べて大
きくなると、上記揺動レバー１５がない場合に
は、摺動台５が下りプローブ固定板８は支承板１
１を中心として傾いてしまう。これを防止するに
は、スプリング６の強さがいかなる場合でも導電
接触ピン９の合計接触圧よりも大きければ良いの
であるが、このようにするとスプリング６を押下
げるエアシリンダー１０が非常に大きくなる。こ
のことから、この考案においては、揺動レバー１
５を設けて導電接触ピン９の反撥力がいかに大き
くてもプローブ固定板８が傾くことがないように
するとともに、スプリング６には、少なくとも摺
動台５を押上げるに足りる最小バネ圧のものでよ
いようにしている。このようにして、導電接触ピ
ン９は、第３図に示す如く、回路基板４に対して
垂直に押当てられる。

回路基板４の検査が終了すると、エアシリンダ
１０のシリンダロツド１０ｂが再び伸ばされ、摺
動台５はその伸び動作とスプリング６により上方
へ持上げられるのであるが、この場合、プローブ
固定板８は、揺動レバー１５の上端鉤部１５ａに
拘束されて水平状態のまま摺動台５とともに上昇
する。そして、この上昇過程の所定高さ位置にお
いて、従動子１５ｂが第１のガイド溝１６ａから
第２のガイド溝１６ｂに移動するため揺動レバー
１５は図示反時計方向に回動し、その上端鉤部１
５ａが係止孔１７から外れる。同時に摺動台５は
ストツパー１９に当り上昇できなくなる。したが
つて、以後、プローブ固定板８は、軸受７を支点
として回動しながら第２図に示された状態に戻さ
れ、次の検査に待機する。

上記した実施例の説明から明らかなように、こ
の考案によれば、１つの例えばエアシリンダによ
り、プローブ固定板を、導電接触ピンが回路基板
に接触する前後においては垂直に上下させ、他
方、それ以外の時には回路基板の出し入れに都合
がよいように回動させることができるため、構造
が簡単で、かつ、きわめて作業のし易い回路基板
の検査装置が提供される。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案の一実施例を概略的に示した
斜視図、第２図および第３図はその作用を説明す
るための概略的な側面図である。 図中、１は基台、２はガイド支柱、３はテーブ
ル、４は回路基板、５は摺動台、６はスプリン
グ、７は軸受、８はプローブ固定板、９は導電接
触ピン、１０はエアシリンダ、１５は揺動レバ
ー、１６は制御ガイド、１６ａは第１のガイド
溝、１６ｂは第２のガイド溝である。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) Ｘ−Ｙテーブル等に載置されている回路基板
   の所定部位に導電接触ピンを押し当ててその基
   板上に形成されている回路の導電状態等を検査
   する回路基板の検査装置において、 ほぼ垂直に立設されたガイド支柱を有する基
   台と、前記ガイド支柱に沿つて上下動する摺動
   台と、該摺動台を上方に向けて付勢するスプリ
   ングと、一端が前記摺動台に枢支され、かつ、
   他端に前記導電接触ピンを有する回動可能なプ
   ローブ固定板と、該プローブ固定板を前記摺動
   台とともに前記スプリングに抗して押下げて前
   記導電接触ピンを前記回路基板上に当接させる
   駆動手段と、該駆動手段の動作に関連して、前
   記導電接触ピンが前記回路基板に対して接離す
   る際には前記プローブ固定板を特定角度位置に
   拘束して前記回路基板に対して前記導電接触ピ
   ンをほぼ垂直に保持するとともに、前記導電接
   触ピンと回路基板とが所定距離はなされている
   場合においては前記の拘束を解いて前記プロー
   ブ固定板を回動可能とするロツク手段とを備え
   ていることを特徴とする回路基板の検査装置。 (2) 実用新案登録請求の範囲(1)において、前記駆
   動手段は、１つのエアシリンダからなり、該エ
   アシリンダは、前記プローブ固定板と、基台と
   の間に介装されていることを特徴とする回路基
   板の検査装置。 (3) 実用新案登録請求の範囲(1)において、前記摺
   動台には、前記プローブ固定板の前記特定角度
   位置を調節するための調節手段が設けられてい
   ることを特徴とする回路基板の検査装置。 (4) 実用新案登録請求の範囲(1)において、前記ロ
   ツク手段は、前記摺動台に揺動可能に取付けら
   れた揺動レバーと、該揺動レバーの動作を制御
   する制御ガイドとを含み、前記制御ガイドに
   は、前記揺動レバーを前記プローブ固定板に係
   止させる第１のガイド溝と、その係止を解く第
   ２のガイド溝とが形成されていることを特徴と
   する回路基板の検査装置。 (5) 実用新案登録請求の範囲(4)において、前記揺
   動レバーの上端には鉤部が設けられるととも
   に、その下端には前記制御ガイドの従動子が取
   付けられており、前記プローブ固定板には前記
   鉤部と協働する係止孔が穿設されていることを
   特徴とする回路基板の検査装置。