JPH0479026A - アルマイト面内磁化膜の製造方法 - Google Patents
アルマイト面内磁化膜の製造方法Info
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Landscapes
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明はアルマイトを用いた磁気記録媒体に関する。更
に詳細には、本発明はアルマイト面内磁化膜の製造方法
に関する。
に詳細には、本発明はアルマイト面内磁化膜の製造方法
に関する。
[従来の技術]
アルマイト微細孔中にFew Cow Niなどの磁性
金属をメッキ充填した磁性膜は、その大きな形状効果か
ら垂直磁気異方性を示すことが知られている。
金属をメッキ充填した磁性膜は、その大きな形状効果か
ら垂直磁気異方性を示すことが知られている。
近年、これらの材料をリジッドディスクに適用し、高密
度垂直磁気記録媒体とする検討が進められている。しか
し、リジッドディスクでは記録再生時に磁気ヘッドが0
.2μm程度媒体から浮上しており、垂直磁気記録では
、この浮上量によりスペシーシング損失が大きくなり、
媒体の最下層まで記録が十分に行えないため、再生時に
十分な出力が得られず、オーバーライド特性も十分な特
性が得られないという問題がある。
度垂直磁気記録媒体とする検討が進められている。しか
し、リジッドディスクでは記録再生時に磁気ヘッドが0
.2μm程度媒体から浮上しており、垂直磁気記録では
、この浮上量によりスペシーシング損失が大きくなり、
媒体の最下層まで記録が十分に行えないため、再生時に
十分な出力が得られず、オーバーライド特性も十分な特
性が得られないという問題がある。
[発明が解決しようとする課題]
パイロット万年筆の何台らは陽極酸化アルマイト微細孔
にCo−Ni合金をメッキ充填すると、Co5o−N1
5o付近の組成で、市内磁化膜が得られる事を報告して
いる(J 、Elctrochem、Soc、 。
にCo−Ni合金をメッキ充填すると、Co5o−N1
5o付近の組成で、市内磁化膜が得られる事を報告して
いる(J 、Elctrochem、Soc、 。
vol、22.No、l 、pp、32(1975))
。この面内磁気異方性は、結晶構造に起因していると考
えられ、上記の組成では、Niのfcc相とCoのhc
p相が混在している。この媒体の断面構造を第2図に示
す。
。この面内磁気異方性は、結晶構造に起因していると考
えられ、上記の組成では、Niのfcc相とCoのhc
p相が混在している。この媒体の断面構造を第2図に示
す。
図示されているように、この種の媒体構造の特徴は、充
填された磁性粒子1がアルマイト3により隔離され、磁
性粒子相互の交換結合が生じないということである。こ
のことは、薄膜の磁化過程において磁壁が発生しにくい
ことを示唆している。
填された磁性粒子1がアルマイト3により隔離され、磁
性粒子相互の交換結合が生じないということである。こ
のことは、薄膜の磁化過程において磁壁が発生しにくい
ことを示唆している。
しかし、回合らの作製した市内磁化膜は、面内方向の保
磁力および角形比が垂直方向の保磁力や角形比とほぼ同
等の値を示し、市内磁化膜としての特性が不十分であっ
た。特に、再生出力か低く、実用レベルには至らない。
磁力および角形比が垂直方向の保磁力や角形比とほぼ同
等の値を示し、市内磁化膜としての特性が不十分であっ
た。特に、再生出力か低く、実用レベルには至らない。
従って、本発明の目的は優れた再生出力を有するアルマ
イト面内磁化膜の製造方法を提供することである。
イト面内磁化膜の製造方法を提供することである。
[課題を解決するための手段]
前記目的を達成するために、本発明では、Aヌもしくは
1合金を陽極酸化して生成したアルマイトの微細孔中に
強磁性体をメッキ充填してなる磁気記録媒体の製造方法
において、強磁性体メッキ時に使用する交流電源周波数
が500Hzよりも大きいことを特徴とするアルマイト
面内磁化膜の製造方法を提供する。
1合金を陽極酸化して生成したアルマイトの微細孔中に
強磁性体をメッキ充填してなる磁気記録媒体の製造方法
において、強磁性体メッキ時に使用する交流電源周波数
が500Hzよりも大きいことを特徴とするアルマイト
面内磁化膜の製造方法を提供する。
アルマイト微細孔中にメッキ充填する強磁性体は、例え
ば、Fe、Co、Ni単体もしくはこれらの合金が好ま
しい。
ば、Fe、Co、Ni単体もしくはこれらの合金が好ま
しい。
[作用コ
前記のように、本発明の方法によれば、アルマイトの微
細孔中に強磁性体をメッキ充填する際、使用する交流電
源の周波数を500Hzより大きくすることで、アルマ
イト磁性膜に市内磁気異方性を発生させることができる
。
細孔中に強磁性体をメッキ充填する際、使用する交流電
源の周波数を500Hzより大きくすることで、アルマ
イト磁性膜に市内磁気異方性を発生させることができる
。
従って、本発明の方法により作製されたアルマイト磁化
膜では市内磁気記録が可能になり、磁気ヘッドの浮上量
に対する再生出力の減少が抑制され、また、十分なオー
バーライド特性が期待できる。
膜では市内磁気記録が可能になり、磁気ヘッドの浮上量
に対する再生出力の減少が抑制され、また、十分なオー
バーライド特性が期待できる。
更に、各々の磁性粒子が酸化アルミニウムで囲まれ、完
全に分離されているため、連続薄膜型磁気記録媒体のよ
うに磁化遷移領域でジグザグドメインが発生しにくり、
その結果、再生時のノイズが小さくなり高い再生出力が
得られる。また、膜面内で特定の方向に異方性を生じな
いため、再生時のモジュレーションも無い。
全に分離されているため、連続薄膜型磁気記録媒体のよ
うに磁化遷移領域でジグザグドメインが発生しにくり、
その結果、再生時のノイズが小さくなり高い再生出力が
得られる。また、膜面内で特定の方向に異方性を生じな
いため、再生時のモジュレーションも無い。
メッキ用交流電源周波数を500Hz超にすると面内磁
化膜化する正確なメカニズムは未だ解明されていないの
で推測の域を出ないが、アルマイトは整流作用を持って
おり、交流を使用してアルマイト微細孔中にメッキを行
うと、アルマイトがカソードに分極された時にのみ、還
元電流が流れる。使用する交流の周波数が高くなるとア
ルマイトがカソード分極されている時間が短くなり、1
回のカソード分極時に成長する磁性粒子の厚さが薄くな
る。従って、高い周波数でメッキした磁性粒子は、低い
周波数でメッキした磁性粒子に比べ、粒子の軸長方向で
の連続性が低(なり、磁性粒子の形状異方性か低下し、
市内磁気異方性が発生するものと思われる。
化膜化する正確なメカニズムは未だ解明されていないの
で推測の域を出ないが、アルマイトは整流作用を持って
おり、交流を使用してアルマイト微細孔中にメッキを行
うと、アルマイトがカソードに分極された時にのみ、還
元電流が流れる。使用する交流の周波数が高くなるとア
ルマイトがカソード分極されている時間が短くなり、1
回のカソード分極時に成長する磁性粒子の厚さが薄くな
る。従って、高い周波数でメッキした磁性粒子は、低い
周波数でメッキした磁性粒子に比べ、粒子の軸長方向で
の連続性が低(なり、磁性粒子の形状異方性か低下し、
市内磁気異方性が発生するものと思われる。
メッキに使用する交流電源周波数は、通常の50H2ま
たは60Hzより高いものであれば上記の効果が期待さ
れるが、−船釣には500Hzを越える領域が好ましい
。
たは60Hzより高いものであれば上記の効果が期待さ
れるが、−船釣には500Hzを越える領域が好ましい
。
また上記メッキ方法でアルマイト中に充填する強磁性体
はFe、Co、Ni単体もしくはこれらの合金であり、
さらに面内磁化特性を向上させるため、上記強磁性体中
にPあるいはWを含有させることもできる。
はFe、Co、Ni単体もしくはこれらの合金であり、
さらに面内磁化特性を向上させるため、上記強磁性体中
にPあるいはWを含有させることもできる。
メッキ時の交流電源周波数に加えて、微細孔中に析出し
た磁性粒子の軸比(長軸長/軸径)を下げることにより
市内磁気特性を更に向−1−させることもできる。アル
マイトのセル径をD C1微細孔径(軸径に等しい)を
Dpt厚さ(長軸長に等しい)をtとすると、軸比はt
/DI)で表される。
た磁性粒子の軸比(長軸長/軸径)を下げることにより
市内磁気特性を更に向−1−させることもできる。アル
マイトのセル径をD C1微細孔径(軸径に等しい)を
Dpt厚さ(長軸長に等しい)をtとすると、軸比はt
/DI)で表される。
tの値は陽極酸化時に加えるクーロン量あるいは表面研
磨によって制御でき、500人〜5μmが現実的と考え
られる。Dpの値はアルマイトの種類とDp拡大処理に
よって変化し、上限はDCと考えられるが、現実的には
、op:o、95Dc(付札率で表すと0.82)が上
限と考えられる。
磨によって制御でき、500人〜5μmが現実的と考え
られる。Dpの値はアルマイトの種類とDp拡大処理に
よって変化し、上限はDCと考えられるが、現実的には
、op:o、95Dc(付札率で表すと0.82)が上
限と考えられる。
実際のDpの値は100人(硫酸アルマイト、拡大処理
無し)〜2400人(リン酸アルマイト。
無し)〜2400人(リン酸アルマイト。
Dcの95%まで拡大処理実施)であり、上記のtの値
を考慮すると、軸比としては、0.208(500人/
2400人)〜500 (50000人/100人)の
範囲内で変化させることができ、軸比を下げて形状異方
性を面内方向に持たせた場合に良好な面内磁気特性が得
られる。
を考慮すると、軸比としては、0.208(500人/
2400人)〜500 (50000人/100人)の
範囲内で変化させることができ、軸比を下げて形状異方
性を面内方向に持たせた場合に良好な面内磁気特性が得
られる。
何台らは、陽極酸化浴に、硫酸を用いている。
硫酸は、解離度が大きい酸であるため浴の抵抗が小さく
、陽極酸化時にかかる電圧は、〜20V程度であり、微
細孔径は、〜200人である。硫酸に対し、シュウ酸お
よびリン酸は、解離度が小さく、陽極酸化時に大きな電
圧がかかる。従って、微細孔径〜500人のアルマイト
が得られ、磁性層厚が同じ場合、硫酸浴に比べ軸比が1
/2以下のものが得られる。陽極酸化の後にリン酸また
はスルファミン酸等の浴で微細孔拡大を行うと、さらに
軸比を小さくする事もできる。
、陽極酸化時にかかる電圧は、〜20V程度であり、微
細孔径は、〜200人である。硫酸に対し、シュウ酸お
よびリン酸は、解離度が小さく、陽極酸化時に大きな電
圧がかかる。従って、微細孔径〜500人のアルマイト
が得られ、磁性層厚が同じ場合、硫酸浴に比べ軸比が1
/2以下のものが得られる。陽極酸化の後にリン酸また
はスルファミン酸等の浴で微細孔拡大を行うと、さらに
軸比を小さくする事もできる。
前記のように、メッキ電源周波数の選択および軸itの
コントロールに加えて、更に別の方法を併用することも
できる。
コントロールに加えて、更に別の方法を併用することも
できる。
例えば、アルマイト微細孔中にCrF地層を設け、この
上に本発明の磁性体を積層させると、CoまたはCo合
金の(100)面が基板に平行に成長し、軸化容易軸が
基板面内に配向し、−層良好な面内磁化膜となる。下地
層はCrに限らす、CoのC軸を膜面内方向に配向させ
ることかできるものであれば何でもよい。
上に本発明の磁性体を積層させると、CoまたはCo合
金の(100)面が基板に平行に成長し、軸化容易軸が
基板面内に配向し、−層良好な面内磁化膜となる。下地
層はCrに限らす、CoのC軸を膜面内方向に配向させ
ることかできるものであれば何でもよい。
下地層の厚さは特に限定されないか、一般的には0.0
2μm〜1μmの範囲内が好ましい。0゜02μm以下
では、Crの(110)面が1−分に成長せず、coま
たはCo合金を市内配向させることが困難となる。一方
、1μm超では、COまたはCo合金の面内配向に及ぼ
す効果か飽和し、厚くするたけ不経済となる。
2μm〜1μmの範囲内が好ましい。0゜02μm以下
では、Crの(110)面が1−分に成長せず、coま
たはCo合金を市内配向させることが困難となる。一方
、1μm超では、COまたはCo合金の面内配向に及ぼ
す効果か飽和し、厚くするたけ不経済となる。
このように、メッキ時の交流電源周波数の選択の他に、
所望により、下地層の存在による結晶磁気異方性と、軸
比による形状磁気異方性の両方の点から相乗的に磁性層
を市内磁化膜化することかでき、極めて優れた特性を有
する面内磁化膜か得られる。
所望により、下地層の存在による結晶磁気異方性と、軸
比による形状磁気異方性の両方の点から相乗的に磁性層
を市内磁化膜化することかでき、極めて優れた特性を有
する面内磁化膜か得られる。
アルマイト層中に形成される微細孔の深さは電界時間を
制御することにより調節できる。説明するまでもなく、
微細孔の深さはアルマイト層の厚さ以下である。軸比が
問題になる場合、微細孔の直径は前記の軸比の設計値に
より決定される。
制御することにより調節できる。説明するまでもなく、
微細孔の深さはアルマイト層の厚さ以下である。軸比が
問題になる場合、微細孔の直径は前記の軸比の設計値に
より決定される。
アルマイト層はアルミニウム基板を陽極酸化することに
より基板上に直接形成させることもできるが、非磁性基
板上にアルミニウムまたはアルミニウム合金を物理蒸着
法により蒸着し、この蒸着層を陽極酸化することによっ
ても形成させることができる。物理蒸着法としては、真
空蒸着法、イオンブレーティング法、スパッタリング法
、イオンビームデポジション法および化学的気相成長法
(CVD法)などがある。
より基板上に直接形成させることもできるが、非磁性基
板上にアルミニウムまたはアルミニウム合金を物理蒸着
法により蒸着し、この蒸着層を陽極酸化することによっ
ても形成させることができる。物理蒸着法としては、真
空蒸着法、イオンブレーティング法、スパッタリング法
、イオンビームデポジション法および化学的気相成長法
(CVD法)などがある。
アルミニウムの陽極酸化法は公知である。一般的に、ア
ルミニウムの陽極酸化は直流(DC)で行っている。D
Cでは、電流密度を増大させると、耐電場強度が増大し
、腐食性が強くなり、その結果、開始点(ピット)が多
くな−る。この電解初期に生じたピットが続けてエツチ
ングされ微細なホール(孔)が形成される。
ルミニウムの陽極酸化は直流(DC)で行っている。D
Cでは、電流密度を増大させると、耐電場強度が増大し
、腐食性が強くなり、その結果、開始点(ピット)が多
くな−る。この電解初期に生じたピットが続けてエツチ
ングされ微細なホール(孔)が形成される。
本発明の方法における磁気記録媒体に使用される非磁性
基板としては、アルミニウム基板の他に、ポリイミド、
ポリエチレンテレフタレート等の高分子フィルム、ガラ
ス類、セラミック、陽極酸化アルミ、黄銅などの金属板
+Si単結晶板9表面を熱酸化処理したSi単結晶板な
どがある。
基板としては、アルミニウム基板の他に、ポリイミド、
ポリエチレンテレフタレート等の高分子フィルム、ガラ
ス類、セラミック、陽極酸化アルミ、黄銅などの金属板
+Si単結晶板9表面を熱酸化処理したSi単結晶板な
どがある。
また、本発明の方法により得られる磁気記録媒体として
は、ポリエステルフィルム、ポリイミドフィルムなどの
合成樹脂フィルムを基体とする磁気テープや磁気ディス
ク、合成樹脂フィルム、アルミニウム板およびガラス板
等からなる円盤やドラムを基体とする磁気ディスクや磁
気ドラムなど、磁気ヘッドと摺接する構造の種々の形態
を包含する。
は、ポリエステルフィルム、ポリイミドフィルムなどの
合成樹脂フィルムを基体とする磁気テープや磁気ディス
ク、合成樹脂フィルム、アルミニウム板およびガラス板
等からなる円盤やドラムを基体とする磁気ディスクや磁
気ドラムなど、磁気ヘッドと摺接する構造の種々の形態
を包含する。
[実施例コ
以下、実施例により本発明を史に詳細に説明する。
実」1例」−
純度99.99%のAJ板(3cm X 3 cm X
65μm)をトリクロロエタン中で脱脂し、その後5
vt%のNaOH水溶液中で表面酸化層を除去し、次に
Ova!%HNO3水溶液中で中和した。
65μm)をトリクロロエタン中で脱脂し、その後5
vt%のNaOH水溶液中で表面酸化層を除去し、次に
Ova!%HNO3水溶液中で中和した。
陽極酸化を3wt%の(COOH)2水溶液中で行い、
40vの定電圧を印加し、アルマイト層を3μm形成し
た。この後、アルマイトを30℃。
40vの定電圧を印加し、アルマイト層を3μm形成し
た。この後、アルマイトを30℃。
1wt%のH3PO4水溶液中に浸し、バリヤ層調整と
微細孔径の拡大処理を行った。処理後のアルマイトのセ
ル径とボア径はそれぞれ950人、460人であった。
微細孔径の拡大処理を行った。処理後のアルマイトのセ
ル径とボア径はそれぞれ950人、460人であった。
次にアルマイトをCO3O4:0.2モル/λ。
H3BO3: 0.2モル/ヌ、グリセリン:2m1/
柔を含むメッキ浴に移し、COメッキを行った。
柔を含むメッキ浴に移し、COメッキを行った。
メッキに用いた電源は交a 15 V p−pで、アル
マイト側に一10V、対極側(カーボン)に+5Vとな
る様にDCバイアスを印加した。交流電源の周波数を5
0Hz、100Hz 、250Hz 、500Hz、8
00Hzおよび1000Hzの各個に設定し、アルマイ
ト微細孔中にCoをメ、キ充増した。
マイト側に一10V、対極側(カーボン)に+5Vとな
る様にDCバイアスを印加した。交流電源の周波数を5
0Hz、100Hz 、250Hz 、500Hz、8
00Hzおよび1000Hzの各個に設定し、アルマイ
ト微細孔中にCoをメ、キ充増した。
第1図に実施例1で作製した試料の異方性エネルギーと
メッキ時の周波数の関係を示す。異方性エネルギーの正
負の符号は正が垂直磁化膜、負か市内磁化膜であること
を示す。図から分かる様にメッキ時の周波数が500H
zを越える領域で異方性エネルギーは負の値、すなわち
市内磁化膜になっていることが分かる。
メッキ時の周波数の関係を示す。異方性エネルギーの正
負の符号は正が垂直磁化膜、負か市内磁化膜であること
を示す。図から分かる様にメッキ時の周波数が500H
zを越える領域で異方性エネルギーは負の値、すなわち
市内磁化膜になっていることが分かる。
支五匠λ
実施例1におけるメッキ浴にNaPH2O2を0.02
モル/λ添加したこと以外は同様の方法によりアルマイ
ト微細孔中にCo−Pをメッキ充填した。
モル/λ添加したこと以外は同様の方法によりアルマイ
ト微細孔中にCo−Pをメッキ充填した。
実l」[と
実施例1におけるメッキ浴にに2WO4を0゜02モル
/λ添加したこと以外は同様の方法によりアルマイト微
細孔中にCo−Wをメッキ充填した。
/λ添加したこと以外は同様の方法によりアルマイト微
細孔中にCo−Wをメッキ充填した。
実l]11
実施例1におけるメッキ浴にNiSO4を0゜2モル/
λ添加したこと以外は同様の方法によりアルマイト微細
孔中にCoNi合金をメッキ充填した。
λ添加したこと以外は同様の方法によりアルマイト微細
孔中にCoNi合金をメッキ充填した。
実m
実施例1におけるメッキ浴にFe50+・(NH4)2
SO4を0.01モル/、1!添加したこと以外は同様
の方法により、アルマイト微細孔中にFeCo合金をメ
ッキ充填した。
SO4を0.01モル/、1!添加したこと以外は同様
の方法により、アルマイト微細孔中にFeCo合金をメ
ッキ充填した。
実11舛喝−
実施例1におけるメッキ浴がFeSO4・(NH4)2
804を0.2モル/J!、H3BO3を0.2モル/
Jl、グリセリンを2111/J!含何すること以外は
同様の方法によりアルマイト微細孔中にFeをメッキ充
填した。
804を0.2モル/J!、H3BO3を0.2モル/
Jl、グリセリンを2111/J!含何すること以外は
同様の方法によりアルマイト微細孔中にFeをメッキ充
填した。
前記実施例2〜6で得られたアルマイト磁性膜の各周波
数における面内方向保磁力(Ha、)と面内方向角形比
(S、)を試料振動型磁力計により最大印加磁場10k
Oeで測定した。測定結果をド記の表1に要約して示す
。
数における面内方向保磁力(Ha、)と面内方向角形比
(S、)を試料振動型磁力計により最大印加磁場10k
Oeで測定した。測定結果をド記の表1に要約して示す
。
表1に示された結果から明らかなように、面内方向保磁
力と面内方向角形比はメッキ時の交流電源周波数の増大
に従って増加し、周波数が500Hzを超えると、その
増加率が顕著になる。
力と面内方向角形比はメッキ時の交流電源周波数の増大
に従って増加し、周波数が500Hzを超えると、その
増加率が顕著になる。
[発明の効果コ
以上説明したように、本発明の方法によれば、アルマイ
トの微細孔中に強磁性体をメッキ充填する際、使用する
交流電源の周波数を500Hzより大きくすることで、
アルマイト磁性膜に面内磁気異方性を発生させることが
できる。
トの微細孔中に強磁性体をメッキ充填する際、使用する
交流電源の周波数を500Hzより大きくすることで、
アルマイト磁性膜に面内磁気異方性を発生させることが
できる。
従って、本発明の方法により作製されたアルマイト磁化
膜では面内磁気記録が可能になり、磁気ヘッドの浮上量
に対する再生出力の減少が抑制され、また、十分なオー
バーライド特性が期待できる。
膜では面内磁気記録が可能になり、磁気ヘッドの浮上量
に対する再生出力の減少が抑制され、また、十分なオー
バーライド特性が期待できる。
第1図は本発明による一実施例における試料の異方性エ
ネルギーとメッキ時の交流周波数の関係を示す特性図で
あり、第2図は公知のアルマイト微細孔中に磁性体がメ
ッキ充填された磁気記録媒体の一例の断面図である。 1・・・磁性体粒子、3・・・アルマイト層。 5・・・基板
ネルギーとメッキ時の交流周波数の関係を示す特性図で
あり、第2図は公知のアルマイト微細孔中に磁性体がメ
ッキ充填された磁気記録媒体の一例の断面図である。 1・・・磁性体粒子、3・・・アルマイト層。 5・・・基板
Claims (2)
- (1)AlもしくはAl合金を陽極酸化して生成したア
ルマイトの微細孔中に強磁性体をメッキ充填してなる磁
気記録媒体の製造方法において、強磁性体メッキ時に使
用する交流電源周波数が500Hzよりも大きいことを
特徴とするアルマイト面内磁化膜の製造方法。 - (2)アルマイト微細孔中にメッキ充填する強磁性体は
、Fe、Co、Ni単体もしくはこれらの合金であるこ
とを特徴とする請求項1記載のアルマイト面内磁化膜の
製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19228390A JPH0479026A (ja) | 1990-07-20 | 1990-07-20 | アルマイト面内磁化膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19228390A JPH0479026A (ja) | 1990-07-20 | 1990-07-20 | アルマイト面内磁化膜の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0479026A true JPH0479026A (ja) | 1992-03-12 |
Family
ID=16288704
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19228390A Pending JPH0479026A (ja) | 1990-07-20 | 1990-07-20 | アルマイト面内磁化膜の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0479026A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014099273A (ja) * | 2012-11-13 | 2014-05-29 | Kuraray Co Ltd | エレクトロルミネセンス素子とその製造方法 |
JP2014099274A (ja) * | 2012-11-13 | 2014-05-29 | Kuraray Co Ltd | エレクトロルミネセンス素子とその製造方法 |
JP2014099272A (ja) * | 2012-11-13 | 2014-05-29 | Kuraray Co Ltd | エレクトロルミネセンス素子とその製造方法 |
-
1990
- 1990-07-20 JP JP19228390A patent/JPH0479026A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014099273A (ja) * | 2012-11-13 | 2014-05-29 | Kuraray Co Ltd | エレクトロルミネセンス素子とその製造方法 |
JP2014099274A (ja) * | 2012-11-13 | 2014-05-29 | Kuraray Co Ltd | エレクトロルミネセンス素子とその製造方法 |
JP2014099272A (ja) * | 2012-11-13 | 2014-05-29 | Kuraray Co Ltd | エレクトロルミネセンス素子とその製造方法 |
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