JPH0478577B2 - - Google Patents
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Description
[発明の技術分野]
本発明は高誘電率磁器組成物に係り、特に、
Pb(Zn1/3Nb2/3)O3を主体とした誘電率温度係数
(T.C.C.)温度変化の小さい高誘電率磁器組成物
に関する。 [発明の技術的背景とその問題点] 誘電体材料として要求される電気的特性として
は、誘電率、誘電率温度係数、誘電損失、誘電率
バイアス電界依存性、容量抵抗積等があげられ
る。 特に容量抵抗積(CR値)は、十分高い値を取
る必要があり、EIAJ(日本電子機械工業会)の電
子機器用積層磁器コンデンサ(チツプ型)規格
RC−3698Bに常温で500MΩ・μF以上と規定され
ている。さらにより厳しい条件でも使用できるよ
うに、高温(例えば米国防省規格MILC−55681B
では125℃でのCR値が定められている。)でも高
いCR値を維持することが要求される。 また、誘電率温度係数の小さいことが要求され
るが、一般に誘電率(K)の大きい材料では、
T.C.C.が大きい傾向がありK/T.C.C.が大きいこ
と、すなわち、誘電率の変化の相対値の小さいこ
とが要求される。 さらに積層タイプの素子を考えた場合、電極層
と誘電体層とは一体的に焼成されるため、電極材
料としては誘電体材料の焼成温度でも安定なもの
を用いる必要がある。従つて誘電体材料の焼成温
度が高いと白金(Pt)、パラジウム(Pd)等の高
価な材料を用いなければならず、銀(Ag)等の
安価な材料を使用できるように、1100℃以下程度
の低温での焼成が可能であることが要求される。 従来から知られている高誘電率磁器組成物とし
てチタン酸バリウムをベースとして、これに錫酸
塩、ジルコン酸塩、チタン酸塩等を固溶したもの
がある。確かに誘電率の高いものを得ることはで
きるが、誘電率が高くなるとT.C.C.が大きくな
り、また、バイアス電界依存性も大きくなつてし
まうという問題があつた。さらに、チタン酸バリ
ウム系の材料の焼成温度は1300〜1400℃程度と高
温であり、電極材料として必然的に白金、パラジ
ウム等の高温で耐えうる高価な材料を用いなけれ
ばならず、コスト高の原因となる。 このチタン酸バリウム系の問題点を解消すべ
く、各種組成物の研究がなされている。例えば鉄
ニオブ酸鉛を主体としたもの(特開昭57−57204
号)、マグネシウム・ニオブ酸鉛を主体としたも
の(特開昭55−51758)、マグネシウム・タングス
テン酸鉛を主体としたもの(特開昭52−21699号)
等がある。鉄ニオブ酸鉛を主体としたものは、
CR値の焼成温度による変化が大きく、特に高温
におけるCR値の低下が大きいという問題点があ
る。マグネシウム・ニオブ酸鉛を主体としたもの
は焼成温度が比較的高く、また、マグネシウム・
タングステン酸鉛を主体としたものは、CR値が
大きいと誘電率が小さく、誘電率が大きいとCR
値が小さいという問題点が有つた。さらにこれら
の材料のT.C.C.はチタン酸バリウム系より優れて
はいるものの十分ではない。 さらに、マグネシウムニオブ酸鉛とチタン酸鉛
との固溶体で必要に応じ鉛の一部をバリウム、ス
トロンチウム、カルシウムで置換した材料につい
ても研究されている(特開昭55−121959号)。し
かしながらこの材料のT.C.C.は−25〜85℃で最良
のものでも−59.8%であり、十分とは言えない。
さらに、コンデンサ材料として最も重要なCR値
については述べられておらず、コンデンサ材料と
しての有用性は明らかではない。 また、特開昭57−25607号にはマグネシウム・
ニオブ酸鉛と亜鉛ニオブ酸鉛との固溶体の材料に
ついても研究されている。しかしながらCR値、
及びT.C.C.について延べられておらず、コンデン
サ材料としての有用性は明らかではない。 [発明の目的] 本発明は以上の点を考慮してなされたもので、
誘電率が大きく、かつその温度係数の小さい高誘
電率磁器組成物を提供することを目的とする。 [発明の概要] 本発明は、一般式 xPb(Zn1/3Nb2/3)O3−yPb(Mg1/3Nb2/3)O3−
zPbTiO3で表わしたとき、それぞれの成分を頂
点とする三元図の a(x=0.50,y=0.00,z=0.50) b(x=1.00,y=0.00,z=0.00) c(x=0.20,y=0.80,z=0.00) d(x=0.05,y=0.90,z=0.05) で示される各点を結ぶ線内の組成(ただし、ab
を結ぶ線分上は除く)のPbの一部を1〜35mol%
のBa及びSrの少なくとも1種で置換した高誘電
率磁器組成物である。 従来から誘電体材料として各種のペロブスカイ
ト型の磁器材料が検討されているが、亜鉛・ニオ
ブ酸鉛(Pb(Zn1/3Nb2/3)O3は磁器とした場合、
ペロブスカイト構造を取りにくく、誘電体材料と
しては適さないと考えられていた(NEC
Research & Development No.29April
1973p.15〜21参照)。本発明者等の研究によれば、
Pb(Zn1/3Nb2/3)O3のPbサイトをBaまたはSrで
適量置換することにより、磁器で安定なペロブス
カイト構造を形成できることがわかつた。さら
に、この様な磁器組成物は、非常に高い誘電率お
よび絶縁抵抗を示し、かつ、その温度特性も極め
て良好であることがわかつた。また、機械的強度
も優れたものであることがわかつた。さらに研究
を進めた結果、この亜鉛ニオブ酸鉛にマグネシウ
ム・ニオブ酸鉛およびチタン酸鉛とを組合せるこ
とにより、さらに高い誘電率と絶縁抵抗を合せ持
つ高誘電率磁器組成物が得られることを見出した
のである。 以下に本発明組成物の組成範囲について説明す
る。 Me=Ba,Srは上記した一般式のペロブスカイ
ト構造を形成するために必要な元素であり、
1mol%以下だと、パイロクロア構造が混在し、
高い誘電率および高い絶縁抵抗を示さない。
35mol%以上では誘電率が1000程度以下と小さく
なつてしまつたり、焼成温度が1100℃以上と高く
なつたりしてしまう。よつて、Me線分での置換
量は、(Pb1-〓Me〓)と表わしたとき 0.01<α<0.35 とする。 誘電体材料においては常温における容量を高く
するため、キユリー温度が常温付近(0〜30℃)
にくるようにする。本発明のMe成分は上述した
ようにペロブスカイト構造を形成するための必須
成分であるが、また、本発明磁器組成物のキユリ
ー温度を下げるシフターの働きがある。さらに、
絶縁抵抗を著しく増加させ、機械的強度も向上さ
せる。 Me成分によるPbの置換量はキユリー温度等を
考慮して適宜設定することが可能であるが、亜鉛
ニオブ酸鉛およびチタン酸鉛の多き領域(x>
0.5,z>0.1)では、10mol%以上が好ましく、
マグネシウム・ニオブ酸鉛の多い領域(y>0.6,
z<0.05)では、1mol%以上で十分その置換の
効果を発揮する。 第1図に本発明磁器組成物の組成範囲を示す。 線分adの外側では焼成温度が1100℃以上と高
くなつてしまい、また絶縁抵抗も低下し高いCR
値を得ることができない。 また、線分cdの外側では、キユリー温度がも
ともと常温付近にあるため、Me成分による置換
でキユリー点が大幅に低温側に移動して、常温に
おける誘電率が大幅に低下してしまう。また、d1
(x=0.10,y=0.80,z=0.10)としたとき、線
分cd1の内側がより好ましい。 またマグネシウム・ニオブ酸鉛は少量の添加・
含有でその効果を発揮するが実用上は1mol%以
上含有することが望ましい。 また、CR値を考慮すると、亜鉛・ニオブ酸鉛
を15mol%以上含有することが好ましく、さらに
は、20mol%以上含有することがより好ましい。
20mol%以上含有する時は、誘電損失も特に小さ
い。 またc1(x=0.40,y=0.60,z=0.00), d2(x=0.15,y=0.70,z=0.15), d3(x=0.20,y=0.60,z=0.20), c2(x=0.45,y=0.55,z=0.00)としたと
き、線分c1d1の外側では、緻密な磁器を得るのが
比較的困難である。 このように、CR値、T.C.C.,焼結性等を考慮
すると線分c1d2の内側、特に線分c2d2、さらには
線分c2d3の内側が好ましい。しかしながら誘電率
等を考慮した場合には、この様な線分で区切られ
た組成系でも十分な特性を有している。 第2図は亜鉛・ニオブ酸鉛50mol%、マグネシ
ウム・ニオブ酸鉛50mol%の組成系でのMe量に
よるCR値と誘電率の変化を示したものである。
同図から明らかなように、少量のMe成分の添加
含有によつて、大幅に特性が向上していることが
分る。特にCR値における効果は顕著であり、セ
ラミツクコンデンサとしての信頼性に優れてい
る。 本発明は、前記一般式で表わされるものを主体
とするものであるが、多少化学量論比がずれても
構わない。この組成物を酸化物に換算すると、 PbO 46.13〜69.09wt% BaO 0.00〜18.10wt% SrO 0.00〜12.99wt% ZnO 0.42〜 9.13wt% Nb2O5 15.15〜27.13wt% TiO2 0.00〜14.31wt% MgO 0.04〜 3.73wt% (ただし、BaOとSrOとの合計で0.32〜
18.10wt%) となる。 また、本発明の効果を損わない範囲での不純
物、添加物、置換物等の含有も構わない。例え
ば、MnO2,CoO,NiO,MgO,Sb2O3,ZrO2,
La2O3等の遷移金属やランタニド元素があげられ
る。これらの添加物の含有量は、多くても1wt%
程度である。 特にMn,Coは有効であり、0.01〜0.5wt%程
度の少量の添加が効果的である。 次に本発明組成物の製造方法について説明す
る。 出発原料としてPb,Ba,Sr,Zn,Nb,Ti,
Mgの酸化物もしくは焼成により酸化物になる炭
酸塩、しゆう酸塩等の塩類、水酸化物、有機化合
物等を所定の割合で秤量し、十分混合した後に仮
焼する。この仮焼は700℃〜850℃程度で行う。余
り仮焼温度が低いと焼結密度が低下し、また、余
り高いと、やはり焼結密度が低下し、絶縁抵抗が
低下する。次いで仮焼物を粉砕し原料粉末を製造
する。平均粒径は0.8〜2μm程度が好ましく、余
り大きいと焼結体中にポアーが増加し、小さいと
成型性が低下する。この様な原料粉末を用い所望
の形状に成型した後、焼成することにより、高誘
電率セラミツクを得る。本発明の組成物を用いる
ことにより焼成は1100℃以下、980〜1080℃程度
と比較的低温で行うことができる。 積層タイプの素子を製造する場合は、前述の原
料粉末にバインダー、溶剤等を加えスラリー化し
て、グリーンシートを形成しこのグリーンシート
上に内部電極を印刷した後、所定の枚数を積層・
圧着し、焼成することにより製造する。この時、
本発明の誘電体材料は低温で焼結ができるため、
内部電極材料として例えばAg主体の安価な材料
を用いることができる。 また、このように低温で焼成が可能であること
から、回路基板上等に印刷・焼成する厚膜誘電体
ペーストの材料としても有効である。 この様な本発明磁器組成物は、高誘電率かつ、
そのT.C.C.が良好である。また、CR値も大きく、
特に高温でも十分な値を有し、高温での信頼性に
優れている。 T.C.C.の小さいことは本発明の大きな特徴であ
り、これは、K≧10000のごとく大きな誘電率の
場合特に顕著である。この様に誘電率の大きい場
合には、(誘電率)/(温度変化率の絶対値)の
大きいことが要求される。本発明ではこの点に関
しても非常に優れている。 さらに、誘電率バイアス電界依存性も従来のチ
タン酸バリウム系の材料と比較して優れており、
誘電率の変化率が4KV/mmでも10%以下程度の
材料を得ることもできる。したがつて、高圧用の
材料として有効である。また誘電損失が小さく、
交流用、高周波用としても有効である。 さらに前述のごとくT.C.C.が小さいため、電歪
素子へ応用した場合でも変位量の温度変化の小さ
い素子を得ることができる。 さらに、焼成時のグレインサイズも1〜3μmと
均一化されるため耐圧性にも優れている。 以上電気的特性について述べたが、機械的強度
も十分に優れたものである。 [発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、高誘電
率でかつ温度特性、バイアス特性に優れた高誘電
率磁器組成物を得ることができる。特に、この様
な各種特性に優れた磁器を低温焼成で得ることが
できるため、積層セラミツクコンデンサ、積層型
セラミツク変位発生素子等の積層タイプのセラミ
ツク素子への応用に適している。 [発明の実施例] 以下に本発明の実施例を説明する。 出発原料としてPb,Ba,Sr,Zn,Nb,Ti,
Mgの酸化物、炭酸化物等の出発原料をボールミ
ル等で混合し、700〜850℃で仮焼する。次いでこ
の仮焼体をボールミル等で粉砕し乾燥の後、バイ
ンダーを加え造粒し、プレスして直径17mm、厚さ
約2mmの円板状素体を形成した。混合、粉砕用の
ボールは、不純物の混入を防止するため、部分安
定化ジルコニアボール等の硬度が大きく、かつ靱
性の高いボールを用いることが好ましい。 この素体を空気中980〜1080℃、2時間の条件
で焼結し、両主面に銀電極を焼付け各特性を測定
した。誘電損失、容量は、1KHz、1Vrms,25℃
の条件でのデジタルLCRメーターによる測定値
であり、この値から誘電率を算出した。また、絶
縁抵抗は、100Vの電圧を2分間印加した後、絶
縁抵抗計を用いて測定した値から算出した。な
お、T.C.C.は、25℃の値を基準とし、−25℃,85
℃での変化率で表わした。容量抵抗積は、25℃お
よび125℃での(誘電率)×(絶縁抵抗)×(真空の
誘電率)から求めた。絶縁抵抗の測定は、空気中
の湿気の効果を除くためシリコーンオイル中で行
つた。その結果を第1表に示す。
Pb(Zn1/3Nb2/3)O3を主体とした誘電率温度係数
(T.C.C.)温度変化の小さい高誘電率磁器組成物
に関する。 [発明の技術的背景とその問題点] 誘電体材料として要求される電気的特性として
は、誘電率、誘電率温度係数、誘電損失、誘電率
バイアス電界依存性、容量抵抗積等があげられ
る。 特に容量抵抗積(CR値)は、十分高い値を取
る必要があり、EIAJ(日本電子機械工業会)の電
子機器用積層磁器コンデンサ(チツプ型)規格
RC−3698Bに常温で500MΩ・μF以上と規定され
ている。さらにより厳しい条件でも使用できるよ
うに、高温(例えば米国防省規格MILC−55681B
では125℃でのCR値が定められている。)でも高
いCR値を維持することが要求される。 また、誘電率温度係数の小さいことが要求され
るが、一般に誘電率(K)の大きい材料では、
T.C.C.が大きい傾向がありK/T.C.C.が大きいこ
と、すなわち、誘電率の変化の相対値の小さいこ
とが要求される。 さらに積層タイプの素子を考えた場合、電極層
と誘電体層とは一体的に焼成されるため、電極材
料としては誘電体材料の焼成温度でも安定なもの
を用いる必要がある。従つて誘電体材料の焼成温
度が高いと白金(Pt)、パラジウム(Pd)等の高
価な材料を用いなければならず、銀(Ag)等の
安価な材料を使用できるように、1100℃以下程度
の低温での焼成が可能であることが要求される。 従来から知られている高誘電率磁器組成物とし
てチタン酸バリウムをベースとして、これに錫酸
塩、ジルコン酸塩、チタン酸塩等を固溶したもの
がある。確かに誘電率の高いものを得ることはで
きるが、誘電率が高くなるとT.C.C.が大きくな
り、また、バイアス電界依存性も大きくなつてし
まうという問題があつた。さらに、チタン酸バリ
ウム系の材料の焼成温度は1300〜1400℃程度と高
温であり、電極材料として必然的に白金、パラジ
ウム等の高温で耐えうる高価な材料を用いなけれ
ばならず、コスト高の原因となる。 このチタン酸バリウム系の問題点を解消すべ
く、各種組成物の研究がなされている。例えば鉄
ニオブ酸鉛を主体としたもの(特開昭57−57204
号)、マグネシウム・ニオブ酸鉛を主体としたも
の(特開昭55−51758)、マグネシウム・タングス
テン酸鉛を主体としたもの(特開昭52−21699号)
等がある。鉄ニオブ酸鉛を主体としたものは、
CR値の焼成温度による変化が大きく、特に高温
におけるCR値の低下が大きいという問題点があ
る。マグネシウム・ニオブ酸鉛を主体としたもの
は焼成温度が比較的高く、また、マグネシウム・
タングステン酸鉛を主体としたものは、CR値が
大きいと誘電率が小さく、誘電率が大きいとCR
値が小さいという問題点が有つた。さらにこれら
の材料のT.C.C.はチタン酸バリウム系より優れて
はいるものの十分ではない。 さらに、マグネシウムニオブ酸鉛とチタン酸鉛
との固溶体で必要に応じ鉛の一部をバリウム、ス
トロンチウム、カルシウムで置換した材料につい
ても研究されている(特開昭55−121959号)。し
かしながらこの材料のT.C.C.は−25〜85℃で最良
のものでも−59.8%であり、十分とは言えない。
さらに、コンデンサ材料として最も重要なCR値
については述べられておらず、コンデンサ材料と
しての有用性は明らかではない。 また、特開昭57−25607号にはマグネシウム・
ニオブ酸鉛と亜鉛ニオブ酸鉛との固溶体の材料に
ついても研究されている。しかしながらCR値、
及びT.C.C.について延べられておらず、コンデン
サ材料としての有用性は明らかではない。 [発明の目的] 本発明は以上の点を考慮してなされたもので、
誘電率が大きく、かつその温度係数の小さい高誘
電率磁器組成物を提供することを目的とする。 [発明の概要] 本発明は、一般式 xPb(Zn1/3Nb2/3)O3−yPb(Mg1/3Nb2/3)O3−
zPbTiO3で表わしたとき、それぞれの成分を頂
点とする三元図の a(x=0.50,y=0.00,z=0.50) b(x=1.00,y=0.00,z=0.00) c(x=0.20,y=0.80,z=0.00) d(x=0.05,y=0.90,z=0.05) で示される各点を結ぶ線内の組成(ただし、ab
を結ぶ線分上は除く)のPbの一部を1〜35mol%
のBa及びSrの少なくとも1種で置換した高誘電
率磁器組成物である。 従来から誘電体材料として各種のペロブスカイ
ト型の磁器材料が検討されているが、亜鉛・ニオ
ブ酸鉛(Pb(Zn1/3Nb2/3)O3は磁器とした場合、
ペロブスカイト構造を取りにくく、誘電体材料と
しては適さないと考えられていた(NEC
Research & Development No.29April
1973p.15〜21参照)。本発明者等の研究によれば、
Pb(Zn1/3Nb2/3)O3のPbサイトをBaまたはSrで
適量置換することにより、磁器で安定なペロブス
カイト構造を形成できることがわかつた。さら
に、この様な磁器組成物は、非常に高い誘電率お
よび絶縁抵抗を示し、かつ、その温度特性も極め
て良好であることがわかつた。また、機械的強度
も優れたものであることがわかつた。さらに研究
を進めた結果、この亜鉛ニオブ酸鉛にマグネシウ
ム・ニオブ酸鉛およびチタン酸鉛とを組合せるこ
とにより、さらに高い誘電率と絶縁抵抗を合せ持
つ高誘電率磁器組成物が得られることを見出した
のである。 以下に本発明組成物の組成範囲について説明す
る。 Me=Ba,Srは上記した一般式のペロブスカイ
ト構造を形成するために必要な元素であり、
1mol%以下だと、パイロクロア構造が混在し、
高い誘電率および高い絶縁抵抗を示さない。
35mol%以上では誘電率が1000程度以下と小さく
なつてしまつたり、焼成温度が1100℃以上と高く
なつたりしてしまう。よつて、Me線分での置換
量は、(Pb1-〓Me〓)と表わしたとき 0.01<α<0.35 とする。 誘電体材料においては常温における容量を高く
するため、キユリー温度が常温付近(0〜30℃)
にくるようにする。本発明のMe成分は上述した
ようにペロブスカイト構造を形成するための必須
成分であるが、また、本発明磁器組成物のキユリ
ー温度を下げるシフターの働きがある。さらに、
絶縁抵抗を著しく増加させ、機械的強度も向上さ
せる。 Me成分によるPbの置換量はキユリー温度等を
考慮して適宜設定することが可能であるが、亜鉛
ニオブ酸鉛およびチタン酸鉛の多き領域(x>
0.5,z>0.1)では、10mol%以上が好ましく、
マグネシウム・ニオブ酸鉛の多い領域(y>0.6,
z<0.05)では、1mol%以上で十分その置換の
効果を発揮する。 第1図に本発明磁器組成物の組成範囲を示す。 線分adの外側では焼成温度が1100℃以上と高
くなつてしまい、また絶縁抵抗も低下し高いCR
値を得ることができない。 また、線分cdの外側では、キユリー温度がも
ともと常温付近にあるため、Me成分による置換
でキユリー点が大幅に低温側に移動して、常温に
おける誘電率が大幅に低下してしまう。また、d1
(x=0.10,y=0.80,z=0.10)としたとき、線
分cd1の内側がより好ましい。 またマグネシウム・ニオブ酸鉛は少量の添加・
含有でその効果を発揮するが実用上は1mol%以
上含有することが望ましい。 また、CR値を考慮すると、亜鉛・ニオブ酸鉛
を15mol%以上含有することが好ましく、さらに
は、20mol%以上含有することがより好ましい。
20mol%以上含有する時は、誘電損失も特に小さ
い。 またc1(x=0.40,y=0.60,z=0.00), d2(x=0.15,y=0.70,z=0.15), d3(x=0.20,y=0.60,z=0.20), c2(x=0.45,y=0.55,z=0.00)としたと
き、線分c1d1の外側では、緻密な磁器を得るのが
比較的困難である。 このように、CR値、T.C.C.,焼結性等を考慮
すると線分c1d2の内側、特に線分c2d2、さらには
線分c2d3の内側が好ましい。しかしながら誘電率
等を考慮した場合には、この様な線分で区切られ
た組成系でも十分な特性を有している。 第2図は亜鉛・ニオブ酸鉛50mol%、マグネシ
ウム・ニオブ酸鉛50mol%の組成系でのMe量に
よるCR値と誘電率の変化を示したものである。
同図から明らかなように、少量のMe成分の添加
含有によつて、大幅に特性が向上していることが
分る。特にCR値における効果は顕著であり、セ
ラミツクコンデンサとしての信頼性に優れてい
る。 本発明は、前記一般式で表わされるものを主体
とするものであるが、多少化学量論比がずれても
構わない。この組成物を酸化物に換算すると、 PbO 46.13〜69.09wt% BaO 0.00〜18.10wt% SrO 0.00〜12.99wt% ZnO 0.42〜 9.13wt% Nb2O5 15.15〜27.13wt% TiO2 0.00〜14.31wt% MgO 0.04〜 3.73wt% (ただし、BaOとSrOとの合計で0.32〜
18.10wt%) となる。 また、本発明の効果を損わない範囲での不純
物、添加物、置換物等の含有も構わない。例え
ば、MnO2,CoO,NiO,MgO,Sb2O3,ZrO2,
La2O3等の遷移金属やランタニド元素があげられ
る。これらの添加物の含有量は、多くても1wt%
程度である。 特にMn,Coは有効であり、0.01〜0.5wt%程
度の少量の添加が効果的である。 次に本発明組成物の製造方法について説明す
る。 出発原料としてPb,Ba,Sr,Zn,Nb,Ti,
Mgの酸化物もしくは焼成により酸化物になる炭
酸塩、しゆう酸塩等の塩類、水酸化物、有機化合
物等を所定の割合で秤量し、十分混合した後に仮
焼する。この仮焼は700℃〜850℃程度で行う。余
り仮焼温度が低いと焼結密度が低下し、また、余
り高いと、やはり焼結密度が低下し、絶縁抵抗が
低下する。次いで仮焼物を粉砕し原料粉末を製造
する。平均粒径は0.8〜2μm程度が好ましく、余
り大きいと焼結体中にポアーが増加し、小さいと
成型性が低下する。この様な原料粉末を用い所望
の形状に成型した後、焼成することにより、高誘
電率セラミツクを得る。本発明の組成物を用いる
ことにより焼成は1100℃以下、980〜1080℃程度
と比較的低温で行うことができる。 積層タイプの素子を製造する場合は、前述の原
料粉末にバインダー、溶剤等を加えスラリー化し
て、グリーンシートを形成しこのグリーンシート
上に内部電極を印刷した後、所定の枚数を積層・
圧着し、焼成することにより製造する。この時、
本発明の誘電体材料は低温で焼結ができるため、
内部電極材料として例えばAg主体の安価な材料
を用いることができる。 また、このように低温で焼成が可能であること
から、回路基板上等に印刷・焼成する厚膜誘電体
ペーストの材料としても有効である。 この様な本発明磁器組成物は、高誘電率かつ、
そのT.C.C.が良好である。また、CR値も大きく、
特に高温でも十分な値を有し、高温での信頼性に
優れている。 T.C.C.の小さいことは本発明の大きな特徴であ
り、これは、K≧10000のごとく大きな誘電率の
場合特に顕著である。この様に誘電率の大きい場
合には、(誘電率)/(温度変化率の絶対値)の
大きいことが要求される。本発明ではこの点に関
しても非常に優れている。 さらに、誘電率バイアス電界依存性も従来のチ
タン酸バリウム系の材料と比較して優れており、
誘電率の変化率が4KV/mmでも10%以下程度の
材料を得ることもできる。したがつて、高圧用の
材料として有効である。また誘電損失が小さく、
交流用、高周波用としても有効である。 さらに前述のごとくT.C.C.が小さいため、電歪
素子へ応用した場合でも変位量の温度変化の小さ
い素子を得ることができる。 さらに、焼成時のグレインサイズも1〜3μmと
均一化されるため耐圧性にも優れている。 以上電気的特性について述べたが、機械的強度
も十分に優れたものである。 [発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、高誘電
率でかつ温度特性、バイアス特性に優れた高誘電
率磁器組成物を得ることができる。特に、この様
な各種特性に優れた磁器を低温焼成で得ることが
できるため、積層セラミツクコンデンサ、積層型
セラミツク変位発生素子等の積層タイプのセラミ
ツク素子への応用に適している。 [発明の実施例] 以下に本発明の実施例を説明する。 出発原料としてPb,Ba,Sr,Zn,Nb,Ti,
Mgの酸化物、炭酸化物等の出発原料をボールミ
ル等で混合し、700〜850℃で仮焼する。次いでこ
の仮焼体をボールミル等で粉砕し乾燥の後、バイ
ンダーを加え造粒し、プレスして直径17mm、厚さ
約2mmの円板状素体を形成した。混合、粉砕用の
ボールは、不純物の混入を防止するため、部分安
定化ジルコニアボール等の硬度が大きく、かつ靱
性の高いボールを用いることが好ましい。 この素体を空気中980〜1080℃、2時間の条件
で焼結し、両主面に銀電極を焼付け各特性を測定
した。誘電損失、容量は、1KHz、1Vrms,25℃
の条件でのデジタルLCRメーターによる測定値
であり、この値から誘電率を算出した。また、絶
縁抵抗は、100Vの電圧を2分間印加した後、絶
縁抵抗計を用いて測定した値から算出した。な
お、T.C.C.は、25℃の値を基準とし、−25℃,85
℃での変化率で表わした。容量抵抗積は、25℃お
よび125℃での(誘電率)×(絶縁抵抗)×(真空の
誘電率)から求めた。絶縁抵抗の測定は、空気中
の湿気の効果を除くためシリコーンオイル中で行
つた。その結果を第1表に示す。
【表】
【表】
第1表から明らかなように、本発明磁器組成物
は、高誘電率(K=2200以上)かつ、温度特性が
良好(−25〜85℃で−53%以内)である。CR値
も1900MΩ・μF(25℃)以上と大きく、特に、125
℃でも、350MΩ・μF以上であり、高温での信頼
性に優れている。また、T.C.C.の小さいことはK
≧10000のごとくの大きな誘電率の場合特に顕著
である。この様に誘電率の大きい場合には、(誘
電率)/(温度変化率の絶対値)の大きいことが
要求される。本発明実施例では、K≧10000のと
きこの値が220以上となり、非常に優れている。
さらに誘電率バイアス電界依存性も1KV/mmで
45%以内と優れている。また誘電損失が25℃、
1KHzで3.5%以下と小さい。 さらに、亜鉛・ニオブ酸鉛を15mol%以上含有
する組成では、CR値が2000MΩ・μF以上となり、
また、20mol%以上では3000MΩ・μF以上と極め
て優れた値を取る。また、20mol%以上では誘電
損失も2%以下と非常に小さい値を示す。 参考例は本発明組成の範囲外のものである。 Me成分を含まないものは(参考例1〜7)、誘
電率が小さく、またCR値も極めて小さく、誘電
損失が大きく、さらに、T.C.C.も大きくなつてし
まう。また、参考例8はMe成分を過剰に加えた
ものであるが、誘電率が小さく、その温度変化も
極めて大きい。 第3図に誘電率の温度特性を示す。比較のた
め、市販の積層コンデンサ用のチタン酸バリウム
系の材料の特性を合せて示した(参考例9,10)。
参考例9は25℃で12000程度の大きい誘電率を示
すものの−25℃および85℃では−80%以下のT.
C.C.を示す。これに対し本発明では、K=11000
(25℃)のものでも(実施例8)わずか−41%以
内であり、K=6500(25℃)のものでは(実施例
3)−20%以内と極めて小さい。このT.C.C.は、
常温での値に対する負の変化より正の変化のほう
が重視され、+30%以上の変化を示す材料はEIA,
EIAJおよびJISのコンデンサのどの規格も満足せ
ず、コンデンサ材料としては全く実用性がない。
たとえば、参考例1,2,3,6,7,8等では
コンデンサ材料として全く実用的ではない。 第4図は直流バイアス電界依存性を示す図であ
る。一般に誘電率はバイアス電界が高くなるにつ
れ低下する傾向があり、この傾向は誘電率が高い
ほど顕著になる。参考例9は、誘電率が12000程
度であるが、1KV/mmで−80%,2KV/mmで−
93%と非常に大きな低下の傾向を示している。こ
れに対し実施例8は誘電率が11000とほぼ同等の
大きさであるにもかかわらず1KV/mmで−45%
と極めて小さく、2KV/mmでも−64%程度に過
ぎない。 さらにチタン酸バリウム(参考例10)は実施例
24と同程度の誘電率を示すが、4KV/mmで−50
%の変化を示すのに対し、実施例24では−10%と
極めて小さい。このように直流バイアス電界依存
性の小さい本発明組成物は高圧用のコンデンサ材
料として有効である。また、積層コンデンサを考
えた場合、同一形状で大容量化を考えた場合、誘
電体層一層当たりの厚みを薄くする必要がある
が、この場合、一層あたりの印加電界が高くなる
ことになる。しかしながら本発明の組成物はバイ
アス特性に優れているため、この様な素子に応用
した場合でも特性が低下することがない。また実
施例24の試料では誘電損失が0.01%と極めて小さ
いため、交流用としても適している。 第5図に実施例8の電気歪みを示す。電気歪み
は、接触型変位検出用ポテンシヨメータで縦効果
の変位を検出し、試料の印加電界の関数として、
XYレコーダーを用いて記録した。試料の形状は
1.00mm厚、直径12.0mmの円板状で、試料の両面に
銀ペーストを800℃で焼付けて電極としたものを
用いた。歪みと電界の関係は、ヒステリシスのほ
とんど見られない2次曲線となつており、
10KV/cmの電界印加時に0.85×10-4の縦効果電
歪を示した。第5図から明らかなように本発明の
磁器組成物は積層セラミツクアクチユエーター用
の材料としても使用できることがわかる。 第6図は実施例8のX線デイフラクシヨンパタ
ーン図であるが、ほぼ完全なペロブスカイト相と
なつている。従つて誘電率が11000,CR値
34000MΩ・μF(25℃),6000MΩ・μF(125℃)と
優れた値を示している。これに対しPbサイトの
Baによる置換のない参考例3の場合は、第7図
に示したように多量のパイロクロール相が見られ
る。従つて、誘電率が4500と小さく、CR値も
620MΩ・μF(25℃)と極めて小さく、全く実用的
ではない。 次いで実施例8の組成を用いて積相セラミツク
コンデンサを作成した実施例を説明する。まず、
この様な組成を有する焙焼粉にバインダー、有機
溶剤を加えてスラリー化した後ドクタープレイド
型キヤスターを用いて30μmのグリーンシートを
作成した。このグリーンシート上に80Ag/20Pd
の電極ペーストを所定のパターンで印刷し、この
様な電極パターンを有するシートを20層積層圧着
した。その後、所定の形状に切断し、脱脂を行い
1020℃、2Hの条件で焼成を行つた。焼結後、外
部電極としてAgペーストを焼付け、積層セラミ
ツクコンデンサを製造した。その電気的特性を第
2表に示す。
は、高誘電率(K=2200以上)かつ、温度特性が
良好(−25〜85℃で−53%以内)である。CR値
も1900MΩ・μF(25℃)以上と大きく、特に、125
℃でも、350MΩ・μF以上であり、高温での信頼
性に優れている。また、T.C.C.の小さいことはK
≧10000のごとくの大きな誘電率の場合特に顕著
である。この様に誘電率の大きい場合には、(誘
電率)/(温度変化率の絶対値)の大きいことが
要求される。本発明実施例では、K≧10000のと
きこの値が220以上となり、非常に優れている。
さらに誘電率バイアス電界依存性も1KV/mmで
45%以内と優れている。また誘電損失が25℃、
1KHzで3.5%以下と小さい。 さらに、亜鉛・ニオブ酸鉛を15mol%以上含有
する組成では、CR値が2000MΩ・μF以上となり、
また、20mol%以上では3000MΩ・μF以上と極め
て優れた値を取る。また、20mol%以上では誘電
損失も2%以下と非常に小さい値を示す。 参考例は本発明組成の範囲外のものである。 Me成分を含まないものは(参考例1〜7)、誘
電率が小さく、またCR値も極めて小さく、誘電
損失が大きく、さらに、T.C.C.も大きくなつてし
まう。また、参考例8はMe成分を過剰に加えた
ものであるが、誘電率が小さく、その温度変化も
極めて大きい。 第3図に誘電率の温度特性を示す。比較のた
め、市販の積層コンデンサ用のチタン酸バリウム
系の材料の特性を合せて示した(参考例9,10)。
参考例9は25℃で12000程度の大きい誘電率を示
すものの−25℃および85℃では−80%以下のT.
C.C.を示す。これに対し本発明では、K=11000
(25℃)のものでも(実施例8)わずか−41%以
内であり、K=6500(25℃)のものでは(実施例
3)−20%以内と極めて小さい。このT.C.C.は、
常温での値に対する負の変化より正の変化のほう
が重視され、+30%以上の変化を示す材料はEIA,
EIAJおよびJISのコンデンサのどの規格も満足せ
ず、コンデンサ材料としては全く実用性がない。
たとえば、参考例1,2,3,6,7,8等では
コンデンサ材料として全く実用的ではない。 第4図は直流バイアス電界依存性を示す図であ
る。一般に誘電率はバイアス電界が高くなるにつ
れ低下する傾向があり、この傾向は誘電率が高い
ほど顕著になる。参考例9は、誘電率が12000程
度であるが、1KV/mmで−80%,2KV/mmで−
93%と非常に大きな低下の傾向を示している。こ
れに対し実施例8は誘電率が11000とほぼ同等の
大きさであるにもかかわらず1KV/mmで−45%
と極めて小さく、2KV/mmでも−64%程度に過
ぎない。 さらにチタン酸バリウム(参考例10)は実施例
24と同程度の誘電率を示すが、4KV/mmで−50
%の変化を示すのに対し、実施例24では−10%と
極めて小さい。このように直流バイアス電界依存
性の小さい本発明組成物は高圧用のコンデンサ材
料として有効である。また、積層コンデンサを考
えた場合、同一形状で大容量化を考えた場合、誘
電体層一層当たりの厚みを薄くする必要がある
が、この場合、一層あたりの印加電界が高くなる
ことになる。しかしながら本発明の組成物はバイ
アス特性に優れているため、この様な素子に応用
した場合でも特性が低下することがない。また実
施例24の試料では誘電損失が0.01%と極めて小さ
いため、交流用としても適している。 第5図に実施例8の電気歪みを示す。電気歪み
は、接触型変位検出用ポテンシヨメータで縦効果
の変位を検出し、試料の印加電界の関数として、
XYレコーダーを用いて記録した。試料の形状は
1.00mm厚、直径12.0mmの円板状で、試料の両面に
銀ペーストを800℃で焼付けて電極としたものを
用いた。歪みと電界の関係は、ヒステリシスのほ
とんど見られない2次曲線となつており、
10KV/cmの電界印加時に0.85×10-4の縦効果電
歪を示した。第5図から明らかなように本発明の
磁器組成物は積層セラミツクアクチユエーター用
の材料としても使用できることがわかる。 第6図は実施例8のX線デイフラクシヨンパタ
ーン図であるが、ほぼ完全なペロブスカイト相と
なつている。従つて誘電率が11000,CR値
34000MΩ・μF(25℃),6000MΩ・μF(125℃)と
優れた値を示している。これに対しPbサイトの
Baによる置換のない参考例3の場合は、第7図
に示したように多量のパイロクロール相が見られ
る。従つて、誘電率が4500と小さく、CR値も
620MΩ・μF(25℃)と極めて小さく、全く実用的
ではない。 次いで実施例8の組成を用いて積相セラミツク
コンデンサを作成した実施例を説明する。まず、
この様な組成を有する焙焼粉にバインダー、有機
溶剤を加えてスラリー化した後ドクタープレイド
型キヤスターを用いて30μmのグリーンシートを
作成した。このグリーンシート上に80Ag/20Pd
の電極ペーストを所定のパターンで印刷し、この
様な電極パターンを有するシートを20層積層圧着
した。その後、所定の形状に切断し、脱脂を行い
1020℃、2Hの条件で焼成を行つた。焼結後、外
部電極としてAgペーストを焼付け、積層セラミ
ツクコンデンサを製造した。その電気的特性を第
2表に示す。
【表】
得られた積層セラミツクコンデンサの誘電率は
約11000であり、各特性が十分に優れていること
がわかる。特にT.C.C.は−25℃〜85℃で±50%以
内であり、JISのE特性およびEIAのZ5U特性を
満足するものである。 前述の如く、本発明の効果を損なわない範囲、
1wt%以下程度、好ましくは0.5wt%以下のMn,
Co等を添加しても良い。この様な添加物は、耐
圧の向上、T.C.C.の改良、誘電損失の低減等の効
果を得ることもでき、少量、0.01wt%程度でその
効果は現れる。第3表にMnO,CoOを添加した
場合の諸特性を示す。 また第2表と同様に実施例8の組成に0.1mol
%のMnO及びCoOを添加したものを用い、同様
に積層セラミツクコンデンサを製造した。その結
果を第4表に示す。 この様に、本発明による高誘電率磁器組成物
は、T.C.C.等の各種特性に優れており、特に積層
セラミツクコンデンサ用の材料として有効であ
る。
約11000であり、各特性が十分に優れていること
がわかる。特にT.C.C.は−25℃〜85℃で±50%以
内であり、JISのE特性およびEIAのZ5U特性を
満足するものである。 前述の如く、本発明の効果を損なわない範囲、
1wt%以下程度、好ましくは0.5wt%以下のMn,
Co等を添加しても良い。この様な添加物は、耐
圧の向上、T.C.C.の改良、誘電損失の低減等の効
果を得ることもでき、少量、0.01wt%程度でその
効果は現れる。第3表にMnO,CoOを添加した
場合の諸特性を示す。 また第2表と同様に実施例8の組成に0.1mol
%のMnO及びCoOを添加したものを用い、同様
に積層セラミツクコンデンサを製造した。その結
果を第4表に示す。 この様に、本発明による高誘電率磁器組成物
は、T.C.C.等の各種特性に優れており、特に積層
セラミツクコンデンサ用の材料として有効であ
る。
【表】
【表】
【表】
第1図は、本発明の組成範囲を示す組成図、第
2図は、Me量による特性の変化を示す図、第3
図は、誘電率の温度特性曲線図、第4図は、誘電
率の直流バイアス電界特性曲線図、第5図は、電
気歪みを示す特性曲線図、第6図および第7図
は、X線デイフラクシヨンパターン図。
2図は、Me量による特性の変化を示す図、第3
図は、誘電率の温度特性曲線図、第4図は、誘電
率の直流バイアス電界特性曲線図、第5図は、電
気歪みを示す特性曲線図、第6図および第7図
は、X線デイフラクシヨンパターン図。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 一般式 xPb(Zn1/3Nb2/3)O3−yPb(Mg1/3Nb2/3)O3−
zPbTiO3で表わしたとき、それぞれの成分を頂
点とする三元図の a(x=0.50,y=0.00,z=0.50) b(x=1.00,y=0.00,z=0.00) c(x=0.20,y=0.80,z=0.00) d(x=0.05,y=0.90,z=0.05) で示される各点を結ぶ線内の組成(ただし、ab
を結ぶ線分上は除く)のPbの一部を1〜35mol%
のBa及びSrの少なくとも一種で置換したことを
特徴と高誘電率磁器組成物。 2 Mn及びCoの少なくとも一種を0.5wt%以下
含有することを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の高誘電率磁器組成物。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59274754A JPS61155245A (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | 高誘電率磁器組成物 |
EP85113411A EP0180132B1 (en) | 1984-10-25 | 1985-10-22 | High dielectric constant type ceramic composition |
DE8585113411T DE3586118D1 (de) | 1984-10-25 | 1985-10-22 | Keramische zusammensetzung mit hoher dielektrischer konstante. |
CA000493775A CA1266374A (en) | 1984-10-25 | 1985-10-24 | High dielectric constant type ceramic composition |
US07/157,149 US4818736A (en) | 1984-10-25 | 1988-02-11 | High dielectric constant type ceramic composition |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59274754A JPS61155245A (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | 高誘電率磁器組成物 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3236856A Division JPH0715855B2 (ja) | 1991-08-26 | 1991-08-26 | セラミックコンデンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61155245A JPS61155245A (ja) | 1986-07-14 |
JPH0478577B2 true JPH0478577B2 (ja) | 1992-12-11 |
Family
ID=17546115
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59274754A Granted JPS61155245A (ja) | 1984-10-25 | 1984-12-28 | 高誘電率磁器組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61155245A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4882652A (en) * | 1986-11-04 | 1989-11-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | High dielectric constant type ceramic composition |
JPH01100051A (ja) * | 1987-10-12 | 1989-04-18 | Mitsubishi Mining & Cement Co Ltd | 誘電体磁器組成物 |
-
1984
- 1984-12-28 JP JP59274754A patent/JPS61155245A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS61155245A (ja) | 1986-07-14 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |