JPS6226705A - 高誘電率磁器組成物 - Google Patents
高誘電率磁器組成物Info
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- JPS6226705A JPS6226705A JP60165737A JP16573785A JPS6226705A JP S6226705 A JPS6226705 A JP S6226705A JP 60165737 A JP60165737 A JP 60165737A JP 16573785 A JP16573785 A JP 16573785A JP S6226705 A JPS6226705 A JP S6226705A
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- JP
- Japan
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- dielectric constant
- temperature
- composition
- present
- ceramic composition
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- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
- Inorganic Insulating Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
” [発明の技術分野]
本発明は高誘電率磁器組成物に係り、特に、P b(Z
n72 N E)’/7> 03 を主体とした誘電
率)6度係数(T、C,C,)i品度変化の小さい高誘
電率磁器組成物に関する。
n72 N E)’/7> 03 を主体とした誘電
率)6度係数(T、C,C,)i品度変化の小さい高誘
電率磁器組成物に関する。
[発明の技術的前1qとその問題点]
誘電体材料として要求される電気的特性としては、誘電
率、誘電率温度係数、誘電損失、誘電率バイアス電界1
衣存性、容量抵抗積等があげられる。
率、誘電率温度係数、誘電損失、誘電率バイアス電界1
衣存性、容量抵抗積等があげられる。
特に容量抵抗積(CR値)は、十分高い賄を取る必要が
あり、EIAJ(日本電子機械工業会)の電子機器用積
層磁器コンデンサ(デツプを)ノ↓1格RC−3G98
Bに帛)品で500MΩ・μF以上と規定されている。
あり、EIAJ(日本電子機械工業会)の電子機器用積
層磁器コンデンサ(デツプを)ノ↓1格RC−3G98
Bに帛)品で500MΩ・μF以上と規定されている。
ざらにより厳しい条f’lでも使用でさるように、高d
シ(例えば米国防電規格M I L −G −55G8
1Bでは125°CでのCR値が定められている。)で
乙高いCR値を維持することが要求される。
シ(例えば米国防電規格M I L −G −55G8
1Bでは125°CでのCR値が定められている。)で
乙高いCR値を維持することが要求される。
また、誘電率温度係数の小さいことが要求されるが、一
般に誘電率(K)の大ぎい材料では、T、C,C,が大
きい傾向がありに/丁、C,C。
般に誘電率(K)の大ぎい材料では、T、C,C,が大
きい傾向がありに/丁、C,C。
が大きいこと、すなわち、誘電率の変化の相対直の小さ
いことが要求される。
いことが要求される。
さらに積層タイプの素子を考えた場合、電極層と誘電体
層とは一体的に焼成されるため、電極材料としては誘電
体材料の焼成温度でも安定なものを用いる必要がある。
層とは一体的に焼成されるため、電極材料としては誘電
体材料の焼成温度でも安定なものを用いる必要がある。
従って誘電体材料の焼成温度が高いと白金(Pt)、パ
ラジウム(Pd)等の高価なりiわ1を用いな()れば
ならず、銀(Ag)等の安価な材料を使用できるように
、1100℃以下程度の低温での焼成が可能であること
が要求される。
ラジウム(Pd)等の高価なりiわ1を用いな()れば
ならず、銀(Ag)等の安価な材料を使用できるように
、1100℃以下程度の低温での焼成が可能であること
が要求される。
従来から知られている高誘電率ra器組成物としてチタ
ン酸バリウムをベースとして、これに錫酸塩、ジルコン
酸塩、チタン酸塩等を固溶したものがある。確かに誘電
率の高いものを得ることはできるが、誘電率が高くなる
とT、C,C,が大きくなり、また、バイアス電界依存
性も大きくなってしまうという問題があった。ざらに、
チタン酸バリウム系の材料の焼成温度は1300〜14
00℃程度と高温であり、電極材料として必然的に白金
、パラジウム等の高温で耐えうる高価な材料を用いなけ
ればならず、ロス1−高の原因となる。
ン酸バリウムをベースとして、これに錫酸塩、ジルコン
酸塩、チタン酸塩等を固溶したものがある。確かに誘電
率の高いものを得ることはできるが、誘電率が高くなる
とT、C,C,が大きくなり、また、バイアス電界依存
性も大きくなってしまうという問題があった。ざらに、
チタン酸バリウム系の材料の焼成温度は1300〜14
00℃程度と高温であり、電極材料として必然的に白金
、パラジウム等の高温で耐えうる高価な材料を用いなけ
ればならず、ロス1−高の原因となる。
このチタン酸バリウム系の問題点を解消すべく、各種組
成物の研究がなされている。例えば鉄ニオブ酸鉛を主体
としたもの(特開昭57−57204号)。
成物の研究がなされている。例えば鉄ニオブ酸鉛を主体
としたもの(特開昭57−57204号)。
マグネシウム・ニオブ酸鉛を主体としたもの(特1用昭
55−51758) 、マグネシウム・タングステン酸
鉛を主体としたちのく特開昭52−21G99号)等が
ある。鉄ニオブ酸鉛を主体としたものは、OR舶の焼成
温度による変化が大きく、特に高温におけるCR値の低
下が人さいという問題点がある。マグネシウム・ニオブ
酸鉛を主体としたしのは焼成温度が比較的高く、また、
マグネシウム・タングステン酸鉛を主体としたものは、
CR値が大きいと誘電率が小さく、誘電率が大きいとC
R値が小さいという問題点が有った。さらにこれらの材
料のT、C,C,はチタン酸バリウム系より優れてはい
るものの十分ではない。
55−51758) 、マグネシウム・タングステン酸
鉛を主体としたちのく特開昭52−21G99号)等が
ある。鉄ニオブ酸鉛を主体としたものは、OR舶の焼成
温度による変化が大きく、特に高温におけるCR値の低
下が人さいという問題点がある。マグネシウム・ニオブ
酸鉛を主体としたしのは焼成温度が比較的高く、また、
マグネシウム・タングステン酸鉛を主体としたものは、
CR値が大きいと誘電率が小さく、誘電率が大きいとC
R値が小さいという問題点が有った。さらにこれらの材
料のT、C,C,はチタン酸バリウム系より優れてはい
るものの十分ではない。
さらに、ニッケルニオブ酸鉛と亜鉛ニオブ酸鉛との固溶
体で必要に応じ鉛の一部をバリウム、ストロンチウム、
カルシウムで置換した材料についても研究されている(
特開昭58−214201号)。しかしながらこの材r
1のT、C,C,は−25〜85℃で最良のものでも±
33%であり、十分とは言えない。さらに、コンデンサ
材料として最も重要なCR値については述べられておら
ず、コンデンサ材料と、しての有用性は明らかではない
。
体で必要に応じ鉛の一部をバリウム、ストロンチウム、
カルシウムで置換した材料についても研究されている(
特開昭58−214201号)。しかしながらこの材r
1のT、C,C,は−25〜85℃で最良のものでも±
33%であり、十分とは言えない。さらに、コンデンサ
材料として最も重要なCR値については述べられておら
ず、コンデンサ材料と、しての有用性は明らかではない
。
また、特開昭59−105208号にはマグネシウム・
ニオブ酸鉛ど亜鉛ニオブ酸鉛およびニッケルニオブ酸鉛
との固溶体の材料についても研究されている。しかしな
がらCRllffについては述べられておらず、コンデ
ンサ材料としての有用性は明らかではない。またT、C
,C,も最良のもので6−36%であり充分ではない。
ニオブ酸鉛ど亜鉛ニオブ酸鉛およびニッケルニオブ酸鉛
との固溶体の材料についても研究されている。しかしな
がらCRllffについては述べられておらず、コンデ
ンサ材料としての有用性は明らかではない。またT、C
,C,も最良のもので6−36%であり充分ではない。
[発明の目的]
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、絶縁抵抗
、誘電率が大きく、かつその温度係数の小さい高誘電率
磁器組成物を提供することを目的とする。
、誘電率が大きく、かつその温度係数の小さい高誘電率
磁器組成物を提供することを目的とする。
[発明の概要J
本発明は、一般式
%式%
N b% ) O,で表わしたとき、それぞれの成分を
頂点とする三元図の a (X = 0.50.V = 0.00.Z =
0.50 )b (x = 1.00.y = O,Q
O,z = 0.00 )c (x = 0.10.y
= 0.90.z = 0.00 )で示される各点
を結ぶ線内の組成(ただし、abcを結ぶ線分上は除く
)のPbの一部を1〜3゜mol%のBa及び3rの少
なくとも一種で置換した高誘電率磁器組成物である。
頂点とする三元図の a (X = 0.50.V = 0.00.Z =
0.50 )b (x = 1.00.y = O,Q
O,z = 0.00 )c (x = 0.10.y
= 0.90.z = 0.00 )で示される各点
を結ぶ線内の組成(ただし、abcを結ぶ線分上は除く
)のPbの一部を1〜3゜mol%のBa及び3rの少
なくとも一種で置換した高誘電率磁器組成物である。
従来からM電体材料として各種のベロアスカイ1−型の
磁器材料が検討されているが、亜鉛・ニオブ酸鉛(P
b (Z r1’/) N b’/* )○、)はvI
i器とした場合、ベロアスカイト構造を取りにくく、誘
電体材料としては適さないと考えられていた(NECR
e5earcl+ & Development
No、 29April 1973 p、15〜
21参照)。本発明者等の研究によれば、Pb (Zn
5Nbb)6.のPbサイトをBaまたはSrで遠足置
換することにより、磁器で安定なベロアスカイ1−構造
を形成できることがわかった。さらに、この様な磁器組
成物は、非常に高い誘電率および絶縁抵抗を示し、かつ
、その温度特性も極めて良好であることがわかった。ま
た、機械的強度も優れたものであることがわかった。さ
らに研究を進めた結果、この亜鉛ニオブ酸鉛にニッケル
・ニオブ酸鉛およびマグネシウムニオブ酸鉛とを組合け
ることにより、さらに高い誘電率と絶縁抵抗を合「持つ
高誘電率磁器組成物が1!7られることを見出したので
ある。
磁器材料が検討されているが、亜鉛・ニオブ酸鉛(P
b (Z r1’/) N b’/* )○、)はvI
i器とした場合、ベロアスカイト構造を取りにくく、誘
電体材料としては適さないと考えられていた(NECR
e5earcl+ & Development
No、 29April 1973 p、15〜
21参照)。本発明者等の研究によれば、Pb (Zn
5Nbb)6.のPbサイトをBaまたはSrで遠足置
換することにより、磁器で安定なベロアスカイ1−構造
を形成できることがわかった。さらに、この様な磁器組
成物は、非常に高い誘電率および絶縁抵抗を示し、かつ
、その温度特性も極めて良好であることがわかった。ま
た、機械的強度も優れたものであることがわかった。さ
らに研究を進めた結果、この亜鉛ニオブ酸鉛にニッケル
・ニオブ酸鉛およびマグネシウムニオブ酸鉛とを組合け
ることにより、さらに高い誘電率と絶縁抵抗を合「持つ
高誘電率磁器組成物が1!7られることを見出したので
ある。
以下に本発明組成物の組成範囲について説明する。
Me=3a、Srは上記した一般式のペロブスカイト構
造を形成するために必要な元素であり、1mol%以下
だと、パイロクロア構造が混在し、高い誘電率および高
い絶縁抵抗を示さない。30mol%以上では誘電率が
1000程度以下と小さくなってしまったり、焼成温度
が1100℃以上と高くなったりしてしまう。よって、
Me酸成分の圃換屋は、(Pb Me(x)と表
わしたとき1−α 0.01 <α< 0.30 とする。
造を形成するために必要な元素であり、1mol%以下
だと、パイロクロア構造が混在し、高い誘電率および高
い絶縁抵抗を示さない。30mol%以上では誘電率が
1000程度以下と小さくなってしまったり、焼成温度
が1100℃以上と高くなったりしてしまう。よって、
Me酸成分の圃換屋は、(Pb Me(x)と表
わしたとき1−α 0.01 <α< 0.30 とする。
誘電体材オニ1にJ3いては常温にお(プる容昂を高く
するため、キュリ一温度が常温付近(0〜30℃)にく
るJ、うにする。本発明のMe酸成分上)ボしたように
べロブスカイ1〜構造を形成するための必須成分である
が、また、本発明磁器組成物のキュリ一温度を下げるシ
フターの働きがある。さらに、絶縁抵抗を著しく増加さ
「、機械的強度も向上させる。
するため、キュリ一温度が常温付近(0〜30℃)にく
るJ、うにする。本発明のMe酸成分上)ボしたように
べロブスカイ1〜構造を形成するための必須成分である
が、また、本発明磁器組成物のキュリ一温度を下げるシ
フターの働きがある。さらに、絶縁抵抗を著しく増加さ
「、機械的強度も向上させる。
M’ e成分によるPbの置換Mはキュリー温度等を考
慮して適宜設定することが可能であるが、亜鉛ニオブ酸
鉛の多い領域(x > 0.7.z> 0.2)では、
10m01%以上が好ましく、亜鉛・ニオブ酸鉛の少な
い領域(X < 0.5.)では、1mol%以上で十
分その置換の効果を発揮する。
慮して適宜設定することが可能であるが、亜鉛ニオブ酸
鉛の多い領域(x > 0.7.z> 0.2)では、
10m01%以上が好ましく、亜鉛・ニオブ酸鉛の少な
い領域(X < 0.5.)では、1mol%以上で十
分その置換の効果を発揮する。
第1図に本発明磁器組成物の組成範囲を示ず。
線分aCの外側では焼成温度が1100℃以上と高くな
ってしまい、また絶縁抵抗も低下し高いCR値を得るこ
とができない。
ってしまい、また絶縁抵抗も低下し高いCR値を得るこ
とができない。
さらに、この外側では、キュリ一温度がもともと常温付
近にあるため、Me酸成分よる置換でキュリ一点が大幅
に低温側に移動して、常温に、13ける誘電率が大幅に
低下してしまう。
近にあるため、Me酸成分よる置換でキュリ一点が大幅
に低温側に移動して、常温に、13ける誘電率が大幅に
低下してしまう。
またニッケル・ニオブ酸鉛およびマグネシウムニオブ酸
鉛は少量の添加・含有でその効果を発揮するが実用上は
1mol%以上含有することが望ましい。
鉛は少量の添加・含有でその効果を発揮するが実用上は
1mol%以上含有することが望ましい。
また、CR値、T、C,C,を考慮すると、ニッケル・
ニオブ酸鉛を30mol%以下含有することが好ましく
、さらには、15m01%以下含有することがより好ま
しい。
ニオブ酸鉛を30mol%以下含有することが好ましく
、さらには、15m01%以下含有することがより好ま
しい。
第2図は亜鉛・ニオブ酸鉛80m OI 9G−ニッケ
ル・二Aブg鉛1omo+%、マグネシウムニオブ酸鉛
10mol%の組成系でのM OmによるCR値と誘電
率の変化を示したものである。同図から明らかなように
、少量のMe酸成分添加含有によって、大幅に特性が向
上していることが分る。特にCRIf[におりる効果は
顕著であり、セラミックコンデンサとしての信頼性に優
れている。
ル・二Aブg鉛1omo+%、マグネシウムニオブ酸鉛
10mol%の組成系でのM OmによるCR値と誘電
率の変化を示したものである。同図から明らかなように
、少量のMe酸成分添加含有によって、大幅に特性が向
上していることが分る。特にCRIf[におりる効果は
顕著であり、セラミックコンデンサとしての信頼性に優
れている。
本発明は、前記一般式で表わされるものを主体とするも
のであるが、多少化学量論比がずれても構わない。
のであるが、多少化学量論比がずれても構わない。
また本発明の効果を損わない範囲での不純物。
添加物、置換物等の含有も構わない。例えば、fvln
Ox 、 coo、 Cr203 、 Zr
O2。
Ox 、 coo、 Cr203 、 Zr
O2。
S i Ol 、La2O3、S bz 03 、 N
d203等の遷移金属及びランタニド元素があげられ
る。
d203等の遷移金属及びランタニド元素があげられ
る。
これらの添加物の含有量は、多くて乙1wt%程度であ
る。
る。
次に本発明組成物の製造方法について説明づる。
出発原料としてPb、Ba、Sr、Zn、Nb。
Ti、Ni、Mgの酸化物もしくは焼成により酸化物に
なる炭酸塩、しゅう酸塩等の塩類、水酸化物、イin化
合物等を所定の割合で秤吊し、十分混合した後に仮焼す
る。この仮焼は700℃〜900℃程度で行う。余り仮
焼温度が低いと焼結密度が低下し、また、余り高いど、
やはり焼結蜜度が低下し、絶縁抵抗が低下する。次いで
仮焼物を粉砕し原料粉末を製造する。平均粒径は0.5
〜2μm程度が好ましく、余り大きいと焼結体中にボア
ーが増加し、小ざいど成型性が低下する。この様な原料
粉末を用い所望の形状に成型した後、焼成することによ
り、高誘電率セラミックを1qる。本発明の組成物を用
いることにより焼成は1100℃以下、950〜108
0℃程度と比較的低温で行うことができる。
なる炭酸塩、しゅう酸塩等の塩類、水酸化物、イin化
合物等を所定の割合で秤吊し、十分混合した後に仮焼す
る。この仮焼は700℃〜900℃程度で行う。余り仮
焼温度が低いと焼結密度が低下し、また、余り高いど、
やはり焼結蜜度が低下し、絶縁抵抗が低下する。次いで
仮焼物を粉砕し原料粉末を製造する。平均粒径は0.5
〜2μm程度が好ましく、余り大きいと焼結体中にボア
ーが増加し、小ざいど成型性が低下する。この様な原料
粉末を用い所望の形状に成型した後、焼成することによ
り、高誘電率セラミックを1qる。本発明の組成物を用
いることにより焼成は1100℃以下、950〜108
0℃程度と比較的低温で行うことができる。
積層タイプの素子を!!漬する場合は、前述の原料粉末
にバインダー、溶剤等を加えスラリー化して、グリーン
シートを形成しこのグリーンシート上に内部電極を印刷
した後、所定の枚数を積層・圧着し、焼成することにJ
:す1iRJuする。この時、本発明の誘電体材料は低
温で焼結ができるため、内部電極材料として例えばAq
主体の安価な材料を用いることができる。
にバインダー、溶剤等を加えスラリー化して、グリーン
シートを形成しこのグリーンシート上に内部電極を印刷
した後、所定の枚数を積層・圧着し、焼成することにJ
:す1iRJuする。この時、本発明の誘電体材料は低
温で焼結ができるため、内部電極材料として例えばAq
主体の安価な材料を用いることができる。
また、このように低温で焼成が可能であることから、回
路基板上等に印刷・焼成プる厚膜諺電体ベース1−の材
料としても有効である。
路基板上等に印刷・焼成プる厚膜諺電体ベース1−の材
料としても有効である。
この様な本発明磁器組成物は、高誘電率かつ、そのT、
C,C,が良好である。また、CR値も大きく、特に高
温でも十分な値を有し、高温での信頼性に優れている。
C,C,が良好である。また、CR値も大きく、特に高
温でも十分な値を有し、高温での信頼性に優れている。
誘電率の大きいυ1りにT、C,C1の小さいことは本
発明の特徴であり、これは、K≧5000のどとくの大
きな誘電率の場合特に顕著である。この様に誘電率の大
きい場合には、(誘電率)/(温度変化率の絶対1直)
の大きいことが要求され、本発明ではこの点に関しても
非常に優れている。
発明の特徴であり、これは、K≧5000のどとくの大
きな誘電率の場合特に顕著である。この様に誘電率の大
きい場合には、(誘電率)/(温度変化率の絶対1直)
の大きいことが要求され、本発明ではこの点に関しても
非常に優れている。
さらに、誘電率バイアス電界依存性も従来のブタン酸バ
リウム系の材料と比較して優れており、誘電率の変化率
が4kV/nunでも10%以下程度の材料を1σるこ
ともできる。したがって、高圧用の材r4として有効で
ある。また誘電損失が小さく、交流用、高周波用として
も有効である。
リウム系の材料と比較して優れており、誘電率の変化率
が4kV/nunでも10%以下程度の材料を1σるこ
ともできる。したがって、高圧用の材r4として有効で
ある。また誘電損失が小さく、交流用、高周波用として
も有効である。
さらに前述のごと<T、C,C,が小さいため、電歪素
子へ応用した場合でも変位?の温度変化の小さい素子を
得ることができる。
子へ応用した場合でも変位?の温度変化の小さい素子を
得ることができる。
ざらに、焼成時のグレインサイズも1〜3μmと均一化
されるため耐圧性にも優れている。
されるため耐圧性にも優れている。
以上電気的特性について)ホベたが、機械的強度も十分
に優れたものである。
に優れたものである。
[発明の効果]
以上説明したJ:うに、本発明によれば、高誘電率でか
つ温度1!f性、バイアス特性に優れた高誘電率磁器組
成物を得ることができる。特に、この様な各種1S性に
優れた磁器を低温焼成で得ることができるため、偵賢セ
ラミックコンデンサ、積層型セラミック変位発生素子等
の積層タイプのLラミック素子への応用に適している。
つ温度1!f性、バイアス特性に優れた高誘電率磁器組
成物を得ることができる。特に、この様な各種1S性に
優れた磁器を低温焼成で得ることができるため、偵賢セ
ラミックコンデンサ、積層型セラミック変位発生素子等
の積層タイプのLラミック素子への応用に適している。
[発明の実施例]
以下に本発明の詳細な説明する。
出発原料としてPb、13a、Sr、Zn、Nb。
Ti、Ni、fVIgの酸化物及び炭酸化物等の出発原
料をボールミル等で)昆合し、700〜900℃で仮焼
する。次いでこの仮焼体をボールミル等で粉砕し乾燥の
後、バインターを加え造粒し、プレスして直径17mm
、厚さ約2mmの円板状素体を成形した。
料をボールミル等で)昆合し、700〜900℃で仮焼
する。次いでこの仮焼体をボールミル等で粉砕し乾燥の
後、バインターを加え造粒し、プレスして直径17mm
、厚さ約2mmの円板状素体を成形した。
混合、粉砕用のボールは、不純物の混入を防止するため
、部分安定化ジルコニアボール等の硬度が大さ゛く、か
つ靭性の高いボールを用いることが好ましい。
、部分安定化ジルコニアボール等の硬度が大さ゛く、か
つ靭性の高いボールを用いることが好ましい。
この素体を空気中950〜1080℃、2時間の集注で
焼結し、両主面に!!電極を焼付は各特性を測定した。
焼結し、両主面に!!電極を焼付は各特性を測定した。
誘電損失、容量は、1 kl−1z 、 I Vr+n
s 。
s 。
25℃の条r1でのデジタ、ルLCRメーターによる測
定値であり、この値から誘電率を算出した。また、絶縁
抵抗は、100vの電圧を2分間印加した後、絶縁抵抗
計を用いて測定した値から算出した。なお、T、C,C
,は、25℃の値を基準とし、−25℃、85℃での変
化率で表わした。容?抵抗iは、25℃での(誘電率)
×(絶縁抵抗)X(真空の誘電′$)から求めた。その
結果を第1表に示す。
定値であり、この値から誘電率を算出した。また、絶縁
抵抗は、100vの電圧を2分間印加した後、絶縁抵抗
計を用いて測定した値から算出した。なお、T、C,C
,は、25℃の値を基準とし、−25℃、85℃での変
化率で表わした。容?抵抗iは、25℃での(誘電率)
×(絶縁抵抗)X(真空の誘電′$)から求めた。その
結果を第1表に示す。
以下余白
第1表から明らか4にように、本発明磁器組成物は、高
誘雷率(K = 5200以上)かつ、温度特性が良好
(−25〜85℃で±55%以内)である。CR値ら7
QOOMΩ・μ「(25℃)以上と大ぎい。
誘雷率(K = 5200以上)かつ、温度特性が良好
(−25〜85℃で±55%以内)である。CR値ら7
QOOMΩ・μ「(25℃)以上と大ぎい。
また本発明組成物は誘電率バイアス電界依存性も1kV
/mmで40?6以内とトqれでいる。ざらに誘電]0
失が25℃、1kt−lzで10%以下と小さい。
/mmで40?6以内とトqれでいる。ざらに誘電]0
失が25℃、1kt−lzで10%以下と小さい。
さらに、バリウム、ストロンf−ウムを10m01%以
上S右Jる組成では、CR値が10000MΩ・μ「以
上と極めて優れた値を取る。
上S右Jる組成では、CR値が10000MΩ・μ「以
上と極めて優れた値を取る。
参考例は本発明組成の範囲外のものである。
M e成分を含まないものはく参′)4例1〜G)、C
RI直が極めて小さく、さらに、誘電率が小さいか訓電
損失が大ぎいかT、C,C,が大きくなってしまう。
RI直が極めて小さく、さらに、誘電率が小さいか訓電
損失が大ぎいかT、C,C,が大きくなってしまう。
第3図に誘電率の温度特性を示す。比較のため、市販の
積層コンデンサ用のチタン酸バリウム系の材料の特性を
合ぽて示した(参考例7)。参考例7は25°CでGG
OO程度の大きい誘電率を示ツものの一25℃J3よび
85℃では一50%L’l LのT、C,C。
積層コンデンサ用のチタン酸バリウム系の材料の特性を
合ぽて示した(参考例7)。参考例7は25°CでGG
OO程度の大きい誘電率を示ツものの一25℃J3よび
85℃では一50%L’l LのT、C,C。
を示す。これに対し本発明では、K = G400 (
25°C)のらのでも(実施例5)わずか−20%以内
である。
25°C)のらのでも(実施例5)わずか−20%以内
である。
このT、C,C,は、常温での町に対する負の変化より
正の変化の番ようが重視され、+30%以上の変化を示
す材料はEIA、EIAJj3よび、JISのコンデン
サのどの規格も満足けず、コンデンサ材料としては全く
実用性がない。たとえば、参考例3.6等ではコンデン
サ材料どして全く実用的ではない。
正の変化の番ようが重視され、+30%以上の変化を示
す材料はEIA、EIAJj3よび、JISのコンデン
サのどの規格も満足けず、コンデンサ材料としては全く
実用性がない。たとえば、参考例3.6等ではコンデン
サ材料どして全く実用的ではない。
次いで実施例5にさらに0.1mol%のMn0J5よ
びCooを添加含有したものを用いて積層セラミックコ
ンデンザを作成した実施例を説明する。
びCooを添加含有したものを用いて積層セラミックコ
ンデンザを作成した実施例を説明する。
まず、この様な組成を右する焙焼粉にバイングー。
0機溶剤を加えてスラリー化した後ドクタープレイド型
キilスターを用いて45μmのグリーンシー1〜を作
成した。このグリーンシー!〜上に80A Q /20
Pdの電極ペーストを所定のパターンで印1jill
L、この様な電極パターンを有するシー1−を30層積
膚圧着した。その後、所定の形状に切断し、脱脂を行い
1020℃、2hの条件で焼成を行った。焼結後外部電
極としてA Qペーストを焼付()、積層レラミツクコ
ンデン1ノを製造した。その電気的特性を第2表に示1
゛。
キilスターを用いて45μmのグリーンシー1〜を作
成した。このグリーンシー!〜上に80A Q /20
Pdの電極ペーストを所定のパターンで印1jill
L、この様な電極パターンを有するシー1−を30層積
膚圧着した。その後、所定の形状に切断し、脱脂を行い
1020℃、2hの条件で焼成を行った。焼結後外部電
極としてA Qペーストを焼付()、積層レラミツクコ
ンデン1ノを製造した。その電気的特性を第2表に示1
゛。
以下余白
第2表
形状 4.5X 3.2X 1.0
(mm)一層当りの厚み 25(μm)
容量 0.6(μF)誘電1(
′1失 0.4(%)絶縁抵抗
3.GXIO(MΩ)容量抵抗積 (25℃) 19,000(MΩ・μF〉(12
5℃) 4000(MΩ・μ「)誘電率温度特
性 く −25℃ ) −
13(% )(85℃) −18(%)
j¥1られた積層セラミックコンデンザの誘電鄭は約6
200であり、各特性が十分に優れていることがわかる
。特にT、C,C,は−25〜85 で±20%以内
であり、JISのC特性およびEIAのY5S特性を満
足するしのである。
(mm)一層当りの厚み 25(μm)
容量 0.6(μF)誘電1(
′1失 0.4(%)絶縁抵抗
3.GXIO(MΩ)容量抵抗積 (25℃) 19,000(MΩ・μF〉(12
5℃) 4000(MΩ・μ「)誘電率温度特
性 く −25℃ ) −
13(% )(85℃) −18(%)
j¥1られた積層セラミックコンデンザの誘電鄭は約6
200であり、各特性が十分に優れていることがわかる
。特にT、C,C,は−25〜85 で±20%以内
であり、JISのC特性およびEIAのY5S特性を満
足するしのである。
この様に、本発明による高誘電率磁器組成物は、T、C
,C,等の各種特性に優れており、特に積雪セラミック
:Jンアンザ用の材料どして右動である。
,C,等の各種特性に優れており、特に積雪セラミック
:Jンアンザ用の材料どして右動である。
第1図は、本発明の組成範囲を示す組成図、第2図(よ
、lvI 0通による特性の変化を示づ図、第3図は、
誘電率の温度特性曲線図。 代理人 弁理上 則近憲佑 (ほか1名)Pb (Ni
lb%)03 第1図 (Pb +−=i Mea )((砧”M)6.s(’
13’A Nb g)o、t(Ni ’A N−X)o
、+)031度(00) 比だ1嚢申ヒ論也JQ大のj五層J奇i″を第3図
、lvI 0通による特性の変化を示づ図、第3図は、
誘電率の温度特性曲線図。 代理人 弁理上 則近憲佑 (ほか1名)Pb (Ni
lb%)03 第1図 (Pb +−=i Mea )((砧”M)6.s(’
13’A Nb g)o、t(Ni ’A N−X)o
、+)031度(00) 比だ1嚢申ヒ論也JQ大のj五層J奇i″を第3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 一般式 xPb(Zn_1_/_3Nb_2_/_3)O_3−
yPb(Mg_1_/_3Nb_2_/_3)O_3−
zPb(Ni_1_/_3Nb_2_/_3)O_3で
表わしたとき、それぞれの成分を頂点とする三元図の a(x=0.50、y=0.00、z=0.50)b(
x=1.00、y=0.00、z=0.00)c(x=
0.10、y=0.90、z=0.00)で示される各
点を結ぶ線内の組成(ただし、abcを結ぶ線分上は除
く)のPbの一部を1〜30mol%のBa及びSrの
少なくとも一種で置換したことを特徴とした高誘電率磁
器組成物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60165737A JPS6226705A (ja) | 1985-07-29 | 1985-07-29 | 高誘電率磁器組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60165737A JPS6226705A (ja) | 1985-07-29 | 1985-07-29 | 高誘電率磁器組成物 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6226705A true JPS6226705A (ja) | 1987-02-04 |
Family
ID=15818118
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60165737A Pending JPS6226705A (ja) | 1985-07-29 | 1985-07-29 | 高誘電率磁器組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6226705A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01227305A (ja) * | 1988-03-08 | 1989-09-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 誘電体磁器組成物 |
JPH04108655A (ja) * | 1990-08-28 | 1992-04-09 | Nec Corp | 磁器組成物 |
JPH04243952A (ja) * | 1991-01-31 | 1992-09-01 | Nec Corp | 磁器組成物 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55121957A (en) * | 1979-03-07 | 1980-09-19 | Tdk Electronics Co Ltd | High dielectric ceramic composition |
JPS55121959A (en) * | 1979-03-07 | 1980-09-19 | Tdk Electronics Co Ltd | High dielectric ceramic composition |
JPS59105208A (ja) * | 1982-12-08 | 1984-06-18 | 松下電器産業株式会社 | 高誘電率磁器組成物 |
-
1985
- 1985-07-29 JP JP60165737A patent/JPS6226705A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55121957A (en) * | 1979-03-07 | 1980-09-19 | Tdk Electronics Co Ltd | High dielectric ceramic composition |
JPS55121959A (en) * | 1979-03-07 | 1980-09-19 | Tdk Electronics Co Ltd | High dielectric ceramic composition |
JPS59105208A (ja) * | 1982-12-08 | 1984-06-18 | 松下電器産業株式会社 | 高誘電率磁器組成物 |
Cited By (3)
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JPH04108655A (ja) * | 1990-08-28 | 1992-04-09 | Nec Corp | 磁器組成物 |
JPH04243952A (ja) * | 1991-01-31 | 1992-09-01 | Nec Corp | 磁器組成物 |
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