JPH0476505B2 - - Google Patents
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- JPH0476505B2 JPH0476505B2 JP60091335A JP9133585A JPH0476505B2 JP H0476505 B2 JPH0476505 B2 JP H0476505B2 JP 60091335 A JP60091335 A JP 60091335A JP 9133585 A JP9133585 A JP 9133585A JP H0476505 B2 JPH0476505 B2 JP H0476505B2
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- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 92
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/52—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
- H01L23/538—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames the interconnection structure between a plurality of semiconductor chips being formed on, or in, insulating substrates
- H01L23/5382—Adaptable interconnections, e.g. for engineering changes
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0286—Programmable, customizable or modifiable circuits
- H05K1/0292—Programmable, customizable or modifiable circuits having a modifiable lay-out, i.e. adapted for engineering changes or repair
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
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- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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-
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Description
【発明の詳細な説明】
A 産業上の利用分野
本発明は、技術変更(EC)及び修理手段を有
する、多チツプの回路モジユールに係り、更に具
体的に云えば、回路モジユールの両方の主要表面
上に配置された切断可能な導体によるEC及び修
理手段を有する、多チツプの回路モジユールに係
る。
する、多チツプの回路モジユールに係り、更に具
体的に云えば、回路モジユールの両方の主要表面
上に配置された切断可能な導体によるEC及び修
理手段を有する、多チツプの回路モジユールに係
る。
B 開示の概要
本発明は、回路モジユールの両方の主要表面上
に配置された切断可能な導体によるEC及び修理
手段を有する、多チツプの回路モジユールを提供
する。一実施例に於て、両主要表面上の切断可能
な導体を用いて、回路モジユール中の欠陥のある
ピン貫通導体を修理することができる。
に配置された切断可能な導体によるEC及び修理
手段を有する、多チツプの回路モジユールを提供
する。一実施例に於て、両主要表面上の切断可能
な導体を用いて、回路モジユール中の欠陥のある
ピン貫通導体を修理することができる。
C 従来技術
半導体デバイスのための従来のパツケージに於
ては、モジユール製造後にEC又は修理手段が設
けられた。一般的には、多数のチツプが装着され
るモジユール又は基板中に代替用回路導体が設け
られた。それらの回路導体を1つをEC又は部品
故障のために取換える場合には、チツプを支持し
ているモジユール又は基板の主要表面上に特別に
設けられた接続導体部分(切断可能な導体)を切
断することによつて、不用な回路導体が分離され
る。その分離された不用な回路導体を、別のEC
配線導体によつて取換えることができる。
ては、モジユール製造後にEC又は修理手段が設
けられた。一般的には、多数のチツプが装着され
るモジユール又は基板中に代替用回路導体が設け
られた。それらの回路導体を1つをEC又は部品
故障のために取換える場合には、チツプを支持し
ているモジユール又は基板の主要表面上に特別に
設けられた接続導体部分(切断可能な導体)を切
断することによつて、不用な回路導体が分離され
る。その分離された不用な回路導体を、別のEC
配線導体によつて取換えることができる。
米国特許第3923359号明細書は、切断可能な導
体がプリント回路板の主要表面上に設けられてい
るEC手段の一例について記載しており、米国特
許第4254445号明細書は、半導体チツプのパツケ
ージについて記載している。
体がプリント回路板の主要表面上に設けられてい
るEC手段の一例について記載しており、米国特
許第4254445号明細書は、半導体チツプのパツケ
ージについて記載している。
IBMテクカル・デイスクロージヤ・ブレテイ
ン、1978年8月、第957頁の文献は、切断的な導
体をプリント回路板の上面に用い、該回路板を貫
通する絶縁されたピンの底部に取付けられた代替
用接続配線導体を下面に用いている、ECプリン
ト回路板について開示している。
ン、1978年8月、第957頁の文献は、切断的な導
体をプリント回路板の上面に用い、該回路板を貫
通する絶縁されたピンの底部に取付けられた代替
用接続配線導体を下面に用いている、ECプリン
ト回路板について開示している。
上記の各従来技術例に於ては、EC用の切断可
能な導体がすべて回路板、モジユール、又は基板
の1つの主要表面上にしか配置されていない。従
つて、切断可能な導体に要するすべての空間が上
記の1つの表面に収容されねばならない。更に、
回路板、モジユール、又は基板の両主要表面間を
貫通する貫通導体を、それらに接続されている回
路から完全に電気的に分離して、そのような切断
可能な導体により簡単にバイパスさせることがで
きない。
能な導体がすべて回路板、モジユール、又は基板
の1つの主要表面上にしか配置されていない。従
つて、切断可能な導体に要するすべての空間が上
記の1つの表面に収容されねばならない。更に、
回路板、モジユール、又は基板の両主要表面間を
貫通する貫通導体を、それらに接続されている回
路から完全に電気的に分離して、そのような切断
可能な導体により簡単にバイパスさせることがで
きない。
D 発明が解決しようとする問題点
本発明の目的は、モジユールの両主要表面に配
置された切断可能な導体によるEC及び修理手段
を有する回路モジユールを提供することである。
置された切断可能な導体によるEC及び修理手段
を有する回路モジユールを提供することである。
E 問題点を解決するための手段
本発明は、概略的に言えば、複数個の代替用貫
通導体を回路モジユール基板に予備的に組込むと
同時に、これらの貫通導体と端子手段を基板の両
主要表面上に設けた切断可能な導体で接続し、正
規の貫通導体及びその代替用貫通導体の両方共に
欠陥がある場合でも代替接続を可能にする回路モ
ジユールに特徴がある。
通導体を回路モジユール基板に予備的に組込むと
同時に、これらの貫通導体と端子手段を基板の両
主要表面上に設けた切断可能な導体で接続し、正
規の貫通導体及びその代替用貫通導体の両方共に
欠陥がある場合でも代替接続を可能にする回路モ
ジユールに特徴がある。
本発明によれば、一方の主要表面上に回路手段
又はチツプを有し、他方の表面上に複数の端子手
段を有する回路モジユールは;上記一方の表面上
で上記回路手段に接続された第1の選択的に切断
可能な導体と;上記他方の表面上で各々別々の上
記端子手段第2及び第3の選択的に切断可能な導
体と;上記第1の導体から上記第2の導体へ上記
モジユールを貫通する第1の代替用貫通導体と;
上記第3の導体から上記一方の主表面上の隔離し
たパツドへ上記モジユールを貫通する第2の代替
用貫通体とを含み;上記パツドは、上記第1及び
第2導体の少なくとも一方が切断され且つ上記第
3導体が非切断状態のとき、上記回路手段との間
で代替用配線により接続されるよう構成されてい
る複数の代替用貫通導体を有する。
又はチツプを有し、他方の表面上に複数の端子手
段を有する回路モジユールは;上記一方の表面上
で上記回路手段に接続された第1の選択的に切断
可能な導体と;上記他方の表面上で各々別々の上
記端子手段第2及び第3の選択的に切断可能な導
体と;上記第1の導体から上記第2の導体へ上記
モジユールを貫通する第1の代替用貫通導体と;
上記第3の導体から上記一方の主表面上の隔離し
たパツドへ上記モジユールを貫通する第2の代替
用貫通体とを含み;上記パツドは、上記第1及び
第2導体の少なくとも一方が切断され且つ上記第
3導体が非切断状態のとき、上記回路手段との間
で代替用配線により接続されるよう構成されてい
る複数の代替用貫通導体を有する。
切断可能な導体が半導体チツプの回路モジユー
ル又は基板の両主要表面上に配置される。従つ
て、EC及び修理手段を設けるために要する主要
表面の領域が減少し、又信号配線導体を切断可能
な導体により電気的に分離してバイパスさせるこ
とができる。更に、基板の両主要表面上に切断可
能な導体を用いて、ピンを取換えることができ
る。
ル又は基板の両主要表面上に配置される。従つ
て、EC及び修理手段を設けるために要する主要
表面の領域が減少し、又信号配線導体を切断可能
な導体により電気的に分離してバイパスさせるこ
とができる。更に、基板の両主要表面上に切断可
能な導体を用いて、ピンを取換えることができ
る。
F 実施例
第2図に於て、回路モジユール1は適当な誘電
体又は絶縁体の材料より成る。例えば、モジユー
ル1は、一連の交互の導電層及び絶縁層より成
る。導電層(図示せず)は、典型的には、表面に
装着された多数のチツプ(例えば、チツプ2)の
ための信号再分配プレーン、電力プレーン、及び
接地プレーンを与える。導体3は、チツプのはん
だボール4を導体5に接続するためにモジユール
1に設けられた信号配線導体の1つである。導体
5及びチツプのECパツド6は通常相互に電気的
に接続されており、例えばレーザー照射により破
壊することができる切断可能な導体7が導体8へ
の接続導体を形成している。信号配線導体9は、
導体8から導体10への接続導体を形成してい
る。
体又は絶縁体の材料より成る。例えば、モジユー
ル1は、一連の交互の導電層及び絶縁層より成
る。導電層(図示せず)は、典型的には、表面に
装着された多数のチツプ(例えば、チツプ2)の
ための信号再分配プレーン、電力プレーン、及び
接地プレーンを与える。導体3は、チツプのはん
だボール4を導体5に接続するためにモジユール
1に設けられた信号配線導体の1つである。導体
5及びチツプのECパツド6は通常相互に電気的
に接続されており、例えばレーザー照射により破
壊することができる切断可能な導体7が導体8へ
の接続導体を形成している。信号配線導体9は、
導体8から導体10への接続導体を形成してい
る。
導体10は通常、切断可能な導体11に結合さ
れている。ECパツド12は、切断可能な導体1
1に接続され、又モジユール1の下面から突出す
るピンに接触しているピン貫通導体13に接続さ
れている。
れている。ECパツド12は、切断可能な導体1
1に接続され、又モジユール1の下面から突出す
るピンに接触しているピン貫通導体13に接続さ
れている。
信号配線導体9が開放又は短絡を生じたり、回
路の設計変更により除かれたこと等の何らかの理
由により、信号配線導体9を回路から除きたい場
合には、単に切断可能な導体7及び11を破壊す
るだけで信号配線導体9を除くことができ、修理
の場合には、従来技術に於て周知の如く、別個の
EC配線導体15を代りに設けることができる。
しかしながら、第2図の従来技術による設計に於
ては、ピン14に接触している貫通導体13の故
障を修理することができない。更に、すべての切
断可能な導体がモジユール1の上面に配置されて
いる。
路の設計変更により除かれたこと等の何らかの理
由により、信号配線導体9を回路から除きたい場
合には、単に切断可能な導体7及び11を破壊す
るだけで信号配線導体9を除くことができ、修理
の場合には、従来技術に於て周知の如く、別個の
EC配線導体15を代りに設けることができる。
しかしながら、第2図の従来技術による設計に於
ては、ピン14に接触している貫通導体13の故
障を修理することができない。更に、すべての切
断可能な導体がモジユール1の上面に配置されて
いる。
本発明に於ては、必要な数のECパツド及びそ
れらに対応する切断可能な導体がモジユールの上
面及び下面に分けて設けられており、モジユール
毎のチツプ密度が益々高くなる傾向に対応して、
装着されている各チツプに割当てられている、よ
り小さなモジユール表面領域の利用が可能であ
る。第1図は、本発明の一実施例を示す。
れらに対応する切断可能な導体がモジユールの上
面及び下面に分けて設けられており、モジユール
毎のチツプ密度が益々高くなる傾向に対応して、
装着されている各チツプに割当てられている、よ
り小さなモジユール表面領域の利用が可能であ
る。第1図は、本発明の一実施例を示す。
前述の如く、第2図に示されている従来技術に
よるモジユールは、該モジユールの上面と、その
下面から突出するピンとの間に、前以つて代替用
信号配線導体を設けられていない。このように修
理の融通がきかないという制約は、第1図の構成
を用いることによつて、除かれる。上面から下面
へ貫通する信号配線導体9′は、モジユールの下
面のECパツド19に接続されている。第2図に
対応する他の構成素子は、第2図に示した参照番
号にダツシユを付して示されている。第1図の実
施例に於ては、EC及び修理の融通性が増してお
り、ピン貫通導体13′に故障が生じても、モジ
ユール全体を廃棄する必要はない。これは、信号
配線導体9′に関してEC又は修理が必要である場
合にしか用いられない。前述の場合と同様に、必
要であれば、切断可能な導体7′及び16を破壊
することにより、信号配線導体9′を分離するこ
とができ、ECパツド6′からECパツド12′へ
EC配線導体15′を設けることにより修理するこ
ともできる。
よるモジユールは、該モジユールの上面と、その
下面から突出するピンとの間に、前以つて代替用
信号配線導体を設けられていない。このように修
理の融通がきかないという制約は、第1図の構成
を用いることによつて、除かれる。上面から下面
へ貫通する信号配線導体9′は、モジユールの下
面のECパツド19に接続されている。第2図に
対応する他の構成素子は、第2図に示した参照番
号にダツシユを付して示されている。第1図の実
施例に於ては、EC及び修理の融通性が増してお
り、ピン貫通導体13′に故障が生じても、モジ
ユール全体を廃棄する必要はない。これは、信号
配線導体9′に関してEC又は修理が必要である場
合にしか用いられない。前述の場合と同様に、必
要であれば、切断可能な導体7′及び16を破壊
することにより、信号配線導体9′を分離するこ
とができ、ECパツド6′からECパツド12′へ
EC配線導体15′を設けることにより修理するこ
ともできる。
又、この実施例は、貫通導体13′に開放が生
じた場合にモジユールの下面のECパツドを用い
ることを可能にする。これは、(1)前述の場合と同
様に、欠陥のある信号配線導体9′を切断し、(2)
ECパツド6′からECパツド21へEC配線導体2
0を接続し、(3)切断可能な導体24を切断し、(4)
ECパツド23からECパツド17へEC配線導体
30を接続することによつて行われる。
じた場合にモジユールの下面のECパツドを用い
ることを可能にする。これは、(1)前述の場合と同
様に、欠陥のある信号配線導体9′を切断し、(2)
ECパツド6′からECパツド21へEC配線導体2
0を接続し、(3)切断可能な導体24を切断し、(4)
ECパツド23からECパツド17へEC配線導体
30を接続することによつて行われる。
更に、この実施例は、ピンの取換えを可能にし
ボードの技術変更を除くことができる。この取換
えは、(1)切断可能な導体16及び26を切断し、
(2)ECパツド19からECパツド23へ及びECパ
ツド17からECパツド27へEC配線導体28及
び29を各々接続することによつて、行われる。
ボードの技術変更を除くことができる。この取換
えは、(1)切断可能な導体16及び26を切断し、
(2)ECパツド19からECパツド23へ及びECパ
ツド17からECパツド27へEC配線導体28及
び29を各々接続することによつて、行われる。
G 発明の効果
本発明によつて、モジユールの両主要表面に配
置された切断可能な導体によるEC及び修理手段
を有する回路モジユールが得られる。
置された切断可能な導体によるEC及び修理手段
を有する回路モジユールが得られる。
第1図は信号配線導体のEC及び修理並びにピ
ンの取換えを可能にする本発明の一実施例を示す
断面図、第2図は従来技術による切断可能な導体
のEC手段を有する半導体チツプ・モジユールを
示す断面図である。 1′……回路モジユール、2′……チツプ、4′
……はんだボール、5′……導体、6′,12′,
19,21,23,27……ECパツド、7′,1
6,18,24,26……切断可能な導体、3′,
9′……信号配線導体、13′,22……ピン貫通
導体、14′,25……ピン、15′,20,2
8,29,30……EC配線導体。
ンの取換えを可能にする本発明の一実施例を示す
断面図、第2図は従来技術による切断可能な導体
のEC手段を有する半導体チツプ・モジユールを
示す断面図である。 1′……回路モジユール、2′……チツプ、4′
……はんだボール、5′……導体、6′,12′,
19,21,23,27……ECパツド、7′,1
6,18,24,26……切断可能な導体、3′,
9′……信号配線導体、13′,22……ピン貫通
導体、14′,25……ピン、15′,20,2
8,29,30……EC配線導体。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 一方の主要表面上に回路手段を有し、他方の
主要表面上に複数の端子手段を有する回路モジユ
ールに於て、 上記一方の主要表面上に配置され上記回路手段
に接続された第1の選択的に切断可能な導体と、 上記他方の主要表面上に配置され各々別の端子
手段に接続された第2及び第3の選択的に切断可
能な導体と、 上記第1の導体から上記第2の導体へ上記モジ
ユールを貫通する第1の代替用貫通導体と、 上記第3の導体から上記一方の主要表面上の隔
離したパツドへ上記モジユールを貫通する第2の
代替用貫通導体とを含み、 上記パツドは、上記第1及び第2導体の少なく
とも一方が切断され且つ上記第3導体が非切断状
態のとき、上記回路手段との間で代替用配線によ
り接続されるよう構成されている複数の代替用貫
通導体を有する回路モジユール。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US626277 | 1984-06-29 | ||
US06/626,277 US4546413A (en) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | Engineering change facility on both major surfaces of chip module |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6119160A JPS6119160A (ja) | 1986-01-28 |
JPH0476505B2 true JPH0476505B2 (ja) | 1992-12-03 |
Family
ID=24509711
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Patent Citations (1)
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