JPH0467526A - 電子放出素子の製造方法 - Google Patents

電子放出素子の製造方法

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JPH0467526A
JPH0467526A JP2177727A JP17772790A JPH0467526A JP H0467526 A JPH0467526 A JP H0467526A JP 2177727 A JP2177727 A JP 2177727A JP 17772790 A JP17772790 A JP 17772790A JP H0467526 A JPH0467526 A JP H0467526A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
material layer
insulating layer
cathode material
electrode
Prior art date
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Pending
Application number
JP2177727A
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English (en)
Inventor
Kaoru Tomii
冨井 薫
Susumu Sugano
菅野 享
Akira Kaneko
彰 金子
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Priority to DE69026353T priority patent/DE69026353T2/de
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Priority to US07/629,954 priority patent/US5243252A/en
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、平板型画像表示装置等に用いられる電子放出
素子の製造方法に関するものである。
従来の技術 最近、平板型画像表示装置等に用いられる電子源として
、加熱を必要としない電子放出素子、いわゆる冷陰極の
開発が活発に行われている。その中で、電界放出型の電
子放出素子は、電子を放出させるために、陰極エミッタ
突起の先端の曲率半径が1μm以下となるように針状加
工され、その陰極エミッタ突起の先端に10v/cI′
n程度の強電界が集中するように構成される。この電界
放出型の電子放出素子は、一般に次のような長所を有し
ている。
(1)電流密度が高い。
(2)陰極を加熱する必要がないので、電力消費が非常
に少ない。
(3)点(ポイント)および線(ライン)電子源として
使用することができる。
寸だ、上記電子放出素子をアレイ状に配列した構成も知
られており、同アレイを平面デイスプレィパネルに用い
る試みも行われている。
従来、この電界放出型の電子放出素子の製造方法として
、種々の提案がなされている。その−例として、ジャー
ナル・オプ・アプライド・フィジックス、3504〜3
505頁、7号、第39巻、1968年(Journa
l  of Applied Physics ’v 
P3504〜3505、No、7、Vol、39.19
68)に記載されている製造方法について第3図(a)
、(b)を参照し2なから説明する。
第3図(a)は上記従来の電子放出素子の製造途中の状
態を示す断面図、第3図(b)は上記従来の電子放出素
子の製造完成状態を示す断面図である。
第3図(a)に示すように、才ず、電気絶縁基板101
の上に導電性膜102、絶縁層103および導電性膜1
04を適当なマスクを用い、順次蒸着等により形成し、
複数のアレイ状に配列した空洞105を作製する。次い
で、この空洞105の開口部を適当な物質106の回転
斜蒸着により閉じさせつつ、この開口部真上より陰極材
料107を正蒸着することにより、空洞105内におい
て導電性膜102上に先端側が次第に細くなる陰極エミ
ッタ突起108を形成する。最後に、第3図(b)に示
すように、物質106を除去することにより、アレイ状
の電子放出素子(冷陰極)を作製することができる。
そして、導電性膜104が正、導電性膜102が負とな
るように電源を接続し、陰極エミッタ突起]08の陰極
材料107で定する所定の電圧以上の電圧を印加するこ
とにより、電界が集中する陰極エミッタ突起108より
電子を放出させることができる。
発明が解決し2ようとする課題 しかし、以上のような従来例の構成では、複数のアレイ
状の空洞105内に陰極エミッタ突起108を作製する
際、回転斜蒸着と真上からの正蒸着を同時に行うことが
必要であり、この同時蒸着の制御を正確に行うことは非
常に困難である。寸だ、厚さ約]trmの絶縁層103
を挾んで両溝電性膜102.10・1間に電圧を印り口
した時、絶縁層103がピンポール等を有し、耐電圧が
なかったり、絶縁層103の端面での表面リークで耐電
圧が低下するなどの問題を有していた。
本発明は、上記従来技術の問題を解決するものであり、
高い電子放出効率を有し、また、陰極材料層と制御電極
間の絶縁耐電圧を向上させることができ、したがって、
電子放出の信頼性を向上させることができるようにした
電子放出素子を容易に、しかも、歩留まり良く製造する
ことができるようにした製造方法を提供し、また、電子
ビームの広がりを抑えて質の高い電子ビームを得ること
ができるようにした電子放出素子を容易に、しがも、歩
留甘り良く製造することができるようにした製造方法を
提供することを目的とするものである。
課題を解決するだめの手段 上記目的を達成するために、本発明の技術的解決手段は
、絶縁基板上にベース電極を形成し、このベース電極の
上に幅が徐々に変わる陰極材料層パターンと同一形状の
絶縁層を形成し、上記ベース電極における少なくとも上
記絶縁層が形成されていない表面に陽極酸化、熱酸化等
の処理により絶縁層を形成し、上記陰極材料層パターン
の絶縁層を除去して上記ベース電極の上に陰極材料層と
、この陰極材料層とは異なる材料からなる被覆材を順次
形成し、これら被覆材および陰極材料層を上記除去した
絶縁層のパターンとほぼ同一の位置で同一パターン形状
となるようにエツチング加工し、上記ベース電極上の絶
縁層および上記被覆材の上方から絶縁層および制御電極
を形成し、その後、上記被覆材をその上の絶縁層および
制御電極と共に除去するようにしたものである。
そして、上記陰極材料層の外側方の絶縁層を上記陰極材
料層の厚さと同等以上の厚みを有するように形成するの
が好ましい。
また、上記陰極材料層を上記被覆材よりも小さいパター
ンとなるようにエツチング加工することができ、まだ、
上記ベース電極を上記陰極材料層のパターンと同一か、
それよりも小さくなるように絶縁化処理することができ
る。
作用 したがって、本発明によれば、電子を陰極材料層のエツ
ジ部から放出させるので、ベース電極をスパッター法等
により形成し、ベース電極の表面の絶縁層を陽槙酸化、
熱酸化等の処理により形成し、陰極材料層をスパッター
法、エツチング加工等により形成し、ベース電極の表面
の絶縁層の上の絶縁層および制御電極をスパッター法等
により形成するので、陰極を針状に加工する必要がない
しかも、所定の形状に形成した陰極材料層を基準に制御
電極を形成し、陰極材料層と制御電極の位置関係の精度
を向上させることができる。
実施例 以下、本発明の実施例について図面を参照しながら説明
する。
第1図(a)−L(g)は本発明の一実施例における電
子放出素子の製造方法を示し、製造工程説明用の断面図
、第2図(a)〜(c)は上記製造方法により製造した
電子放出素子を示し、第2図(a)は平面図、第2図(
b)オよび(c)はそれぞれ第2図(a)のnb−nb
線およびII c −n c線に沿う断面図である(第
2図(a)の平面図では、理解しやすいよう、に、第2
図(b)、(c)に対応する各部に同方向の斜線を付し
ている)。
まず、電子放出素子について説明すると、第2図(a)
〜(c)に示すように、ガラス等からなる絶縁基板1の
上に導電性物質からなるベース電極2が形成され、ベー
ス電極2の上にこのベース電極2から電流を供給される
陰極材料層3が形成されている。この陰極材料層3とし
ては、仕事関数が低く、かつ高融点の材料、例えば、S
iC,ZrCXTic、Mo、W等が用いられる。陰極
材料層3は中心より四方に延びる十字状で、エツジ部3
aを有するように断面において矩形、若しくは台形に形
成され、かつ平面における幅Wが先端側から中心側に至
るに従いOから所定の大きさせで徐々に直線的に変化す
る形状に設定されている。なお、陰極材料層3は上記パ
ターン形状に限定されるものではなく、また幅Wの変化
も次第に変化すればよく、直線的な変化に限定されるも
のではない。ベース電極2の上の陰極材料層3の下側外
縁部と陰極材料層3の形成されていない部分、少なくと
も陰極材料層3の形成されていない部分には絶縁層4が
形成されている。陰極材料層3の外側方、図示例では陰
極材料層3の周囲にはこの陰極材料層3に対し、所定の
間隔をおいて絶縁層5と制御電極6が絶縁層4の上に順
次形成されている。絶縁層5はAl2O3、SiO2等
からなり、陰極材料層3の厚さと同等以上の厚さに形成
され、制御電極6は陰極材料層3から電子を引き出すだ
めのものであり、金属等で形成されている。
以上の構成において、以下、その動作について説明する
陰極材料層3が負となり、制御電極6が正となるように
両者の間に電圧を印加する。これにより陰極材料層3の
エツジ部3aに電気力線が集中し、強電界となる。この
とき、陰極材料層3および制御電極6の幅が場所によっ
て徐々に変わっているので、電界強度も変化する。した
がって、作製時に陰極材料層3および制御電極6のパタ
ーン精度にバラツキが生じても、電子放出するのに必要
な電界強度となる陰極材料層3のエツジ部3aは必ず存
在し、安定した電子放出特性を得ることができる。また
、制御電極6を陰極材料層3の上面と同等、あるいはそ
れより高い位置に形成しているので、陰極材料層3のエ
ツジ部3aより放出された電子の広がりを防止すること
ができ、陰極材料層3の上面にほぼ垂直な方向に進行さ
せることができ、したがって、電子ビームの質を向上さ
せることができる。
このように上記電子放出素子によれば、陰極材料層3を
その幅が徐々に変わるパターンに形成することによシ、
陰極材料層3と制御電極6のパタ−ン精度にバラツキが
生じても、電子放出に必要な電界強度となるエツジ部が
必ず存在し、そのエツジ部に電界集中しやすくすること
ができる。したがって、電子放出効率を高めることがで
きる。
また、ベース電極2の表面に絶縁層4を形成し、この絶
縁層4上に絶縁層5を介して制御電極6を形成すること
により、陰極材料層3と制御電極6との間の絶縁耐電圧
を向上させることができ、陰極のエツジ部に電界が集中
しやすくすることができる。したがって、電子放出効率
を高めると共に、信頼性を向上させることができる。
また、制御電極6を陰極材料層3の上面と同等、あるい
はそれより高い位置に形成することによシ、陰極材料層
3のエツジ部3aより放出された電子の広がりを防止す
ることができる。したがって、質の高い電子ビームを得
ることができる。
また、マトリックス電子放出源として、多くの電子を均
一に放出させることができる。
次に、上記構成の電子放出素子を製造する本発明の製造
方法について第1図(a)〜(f)に示す断面図を参照
しながら説明する。
まず、第1図(a)に示すように、ガラス等の絶縁基板
1の上に、A1、Ta、Mo等の導電性物質からなるベ
ース電極2を真空蒸着、あるいはスパッター等の方法で
所定の膜厚に形成する。続いてベース電極2の上に、後
述する陰極材料層3のパターン形状で、例えばSiO2
からなる絶縁°層7を形成する。このように絶縁層7を
パターン形状に形成するには、ベース電極2の上に絶縁
層7を所定の厚さに形成した後、その上にホトレジスト
 (図示省略)のパターンを形成し、このホトレジスト
をマスクとして絶縁層7をエツチングする(あるいは絶
縁層7はホトレジストパターンそのものでも良い。)。
次に、第1図(b)に示すように、ベース電極2の少な
くとも絶縁層7が形成されていない露出部分の表面を処
理して絶縁層4に形成する。この処理方法としては、ベ
ース電極2となる導電性物質がA1、Taであれば陽極
酸化、あるいは酸素雰囲気中での熱酸化があり、AIを
用いたときにはAl2O3、Taを用いたときには、T
a205の酸化物絶縁層4を得ることができる。この処
理時に、絶縁層7の下側外縁部まで、ある程度、絶縁層
4を形成するのが望せしい。
次に、第1図(c)に示すように、絶縁層7を除去した
後、SiC,ZrC,TicXMoXW等からなる陰極
材料層3を真空蒸着、スパッター等の方法で所定の膜厚
に形成し、更に、陰極材料層3の上に被覆材としてリフ
トオフ材8を同様にして後述の絶縁層5の膜厚より厚く
形成する。このリフトオフ材8は金属、若しくは絶縁物
を用いることができ、後述する陰極材料層3のエツチン
グ加工時の腐食液に耐え、また、これを除去するときに
用いる腐食液が他の材料を腐食しないような材料であれ
ば良い。
次に、第1図(d)に示すように、上記陰極材料層3の
パターン状で、すなわち、上記絶縁層7を形成した位置
と同じ位置で、ホトレジスト9をリフトオフ材8上に形
成し、このホトレジスト9を保護膜として、リフトオフ
材8および陰極材料層3をエツチング加工する(リフト
オフ材8としてホトレジストそのものであっても良い。
)。更に、第1図(e)に示すように、陰極材料層3の
みをエツチングし、リフトオフ材8より所定量だけ小さ
いパターンに加工する。
次に、第1図(f)に示すように、ホトレジスト9を除
去し、絶縁層4およびリフトオフ材8の上方から絶縁層
5および金属からなる制御電極6をスパッター法等によ
り順次全面に形成する。このとき、絶縁層5の膜厚は、
陰極材料層3の膜厚と同等、若しくはそれ以上とする。
次に、リフトオフ材8を除去することにより、第1図(
g)に示すように、リフトオフ材8の上の絶縁層5およ
び制御電極6も同時に除去し、陰極材料層3を露出させ
てエツジ部3aを形成すると共に、この陰極材料層3を
所定の間隔をおいて囲むように絶縁層5、制御電極6を
形成することができる。
当然のことながら、制御電極6に使用する金属は、リフ
トオフ材8を除去する工程で腐食されない等、化学的、
物理的に安定な材料である必要がある。
発明の詳細 な説明したように本発明の電子数d素子の製造方法によ
れば、電子を陰極材料層のエツジ部から放出させるので
、ベース電極をスパッター法等により形成し、ベース電
極の表面の絶縁層を陽極酸化、熱酸化等の処理により形
成し、陰極材料層をスパッター法、エツチング加工等に
より形成し、ベース電極の表面の絶縁層の上の絶縁層お
よび制御電極をスパッター法等により形成するので、陰
極を針状に加工する必要がなく、容易に製造することが
できる。しかも、所定の形状に形成した陰極材料層を基
準に制御電極を形成し、陰極材料層と制御電極の位置関
係の精度を向上させることができる。このように、高い
電子放出効率を有し、また、陰極材料層と制御電極間の
絶縁耐電圧を向上させることができ、したがって、電子
放出の信頼性を向上させることができるようにした電子
放出素子を容易に、しかも、歩留捷り良く製造すること
ができる。
また、電子ビームの広がりを抑えて質の高い電子ビーム
を得ることができるようにした電子放出素子を容易に、
しかも、歩留まり良く製造することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)〜(g)は本発明の一実施例における電子
放出素子の製造方法を示す製造工程説明用の断面図、第
2図(a)〜(c)は上記製造方法により製造した電子
放出素子を示し、第2図(a)は平面図、第2図(b)
および(c)はそれぞれ第2図(a)のnb−nbiお
よびII c −II c線に沿う断面図、第3図(a
)は従来の電子放出素子の製造途中の状態を示す断面図
、第3図(b)は従来の電子放出素子の製造完成状態を
示す断面図である。 1・−絶縁基板、2 ベース電極、3 陰極材料層、4
・絶縁層、5 ・絶縁層、6 制御電極、7・絶縁層、
8 リフトオフ材、9 ホトレジスト。 代理人の氏名 弁理士 粟 野 重 孝 は力・1名第
1図 第2図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)絶縁基板上にベース電極を形成し、このベース電
    極の上に幅が徐々に変わる陰極材料層パターンと同一形
    状の絶縁層を形成し、上記ベース電極における少なくと
    も上記絶縁層が形成されていない表面に陽極酸化、熱酸
    化等の処理により絶縁層を形成し、上記陰極材料層パタ
    ーンの絶縁層を除去して上記ベース電極の上に陰極材料
    層と、この陰極材料層とは異なる材料からなる被覆材を
    順次形成し、これら被覆材および陰極材料層を上記除去
    した絶縁層のパターンとほぼ同一の位置で同一パターン
    形状となるようにエッチング加工し、上記ベース電極上
    の絶縁層および上記被覆材の上方から絶縁層および制御
    電極を形成し、その後、上記被覆材をその上の絶縁層お
    よび制御電極と共に除去することを特徴とする電子放出
    素子の製造方法。
  2. (2)陰極材料層の外側方の絶縁層を上記陰極材料層の
    厚さと同等以上の厚みを有するように形成する請求項1
    記載の電子放出素子の製造方法。
  3. (3)陰極材料層を被覆材よりも小さいパターンとなる
    ようにエッチング加工する請求項1記載の電子放出素子
    の製造方法。
  4. (4)ベース電極を陰極材料層のパターンと同一か、そ
    れよりも小さくなるように絶縁化処理する請求項1記載
    の電子放出素子の製造方法。
JP2177727A 1989-12-19 1990-07-05 電子放出素子の製造方法 Pending JPH0467526A (ja)

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DE69026353T DE69026353T2 (de) 1989-12-19 1990-12-18 Feldemissionsvorrichtung und Verfahren zur Herstellung derselben
EP90124623A EP0434001B1 (en) 1989-12-19 1990-12-18 Electron emission device and method of manufacturing the same
US07/629,954 US5243252A (en) 1989-12-19 1990-12-19 Electron field emission device

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5281891A (en) * 1991-02-22 1994-01-25 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Electron emission element

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5281891A (en) * 1991-02-22 1994-01-25 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Electron emission element

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