JPH0467401A - 磁気ディスクテスターのエラー検査方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野コ この発明は、磁気ディスクテスターのエラー検査方式に
関し、詳しくは読み出し電圧のトラックの１周に対する
平均電圧より、ノイズを除去してＩＥＬい平均電圧を算
出し、これに係数を乗じてコンパレータの基準電圧とす
る演算と制御をコンピユータ化した検査方式に関する。

［従来の技術］ コンピュータシステムに使用されるハード磁気ディスク
（以下単に磁気ディスク）は、媒体に欠陥があるとデー
タにエラーが生ずるので、磁気ディスクテスターにより
検査が行われる。

第２図（ａ）〜（Ｃ）により磁気ディスクのエラー検査
方法を説明する。図（ａ）は磁気ディスクテスターの基
本構成を示し、被検査の磁気ディスク１の適当にサンプ
ルされたテストトラック１ａに対して、磁気ヘッド２ａ
＋　アンプ２ｂによりテスト信号が書込み／読み出しさ
れる。読み出されたテスト信号ＳＲには、磁気ディスク
の欠陥により波形が消失するミッシングエラー、波形の
振幅が基準値より過大なスパイクエラー、振幅が周期的
に変動するモジュレーションエラーなどがあり、またテ
スト信号を消去した後に読み出しを行うとき、消去不完
全により発生するエキストラエラーがある。エラー検査
においては、図（ｂ）に示すように、読み出されたテス
ト信号ＳＲを平均値測定回路３に入力してトラックの１
周に対する平均電圧（以下ＴＡＡと略記する）を算出す
る。この平均値測定回路は積分回路などにより構成され
た公知のハード回路である。ＴＡＡはレベル調整抵抗４
を経て基準電圧作成回路５に人力し、マイクロプロセッ
サ（ＭＰＵ）９より与えられる適当な係数が乗ぜられて
基準電圧ｖＬが作成され、コンパレータ６の子端子に与
えられる。これに対してテスト信号ＳＲが一端子に加え
られて両者が比較される。

図（Ｃ）において、スパイクエラーの測定においては基
準電圧をＴＡＡより高いｖＬｓに設定する。テスト信号
ＳＲの波形（（）、（ハ）のピーク値は基準電圧ｖＬｓ
より小さいのでコンパレータ６の出力はないが、波形（
ロ）はこれを超えるので検出パルスが出力される。これ
に対してミッシングエラーの測定においては基準電圧を
ＴＡＡより低いｖＬｍとし、これを超える波形（イ）、
（１：Ｉ）に対して検出パルスが出力されるが、波形（
ハ）はこれに達しないので出力されない。エラー判定回
路７においては、テスト信号ＳＲに同期したタイミング
でコンパレータの検出パルスがチエツクされ、波形（０
）はスパイクエラーと、また波形（ハ）はミッシングエ
ラーと判定され、ＭＰＵ９の制御によりエラーデータが
メモリ８に記録される。なお、モジュレーションエラー
やエキストラエラーもほぼ同様であるので説明を省略す
る。

以上において、ＴＡＡは一定値でなく磁気ディスクおよ
びトラックごとに変わるので、磁気ディスクごとに多数
のトラックより適当数のテストトラック１ａをサンプル
し、各テストトラックに対して上記のエラー検査が行わ
れる。エラーの種別には各種あり、またテストトラック
の数が多くて検査にはかなり長時間を要するので、検査
時間を短縮するために実際の磁気ディスクテスターでは
、コンパレータ６など必要なものを複数個並列に設け、
各種のエラー検査をなるべく同時に行うように構成され
ている。

［解決しようとする課題］ さて、以上におけるエラーの検出個数は基準電圧ｖＬに
より大きく変化するので、ＴＡＡに乗する係数を％刻み
として微小な間隔の基準電圧ｖＬを作り、これにより高
精度のエラー測定が行われる。しかしながら、磁気ヘッ
ド２ａにより読み出される信号には、第３図（ａ）に示
すように、テスト信号ＳＲの他に、ディスクｌやアンプ
２ｂのノイズＮＲが含まれているので、第２図（ａ）の
平均値測定回路３の出力電圧はノイズＮＲの誤差を含む
ＴＡＡ’　となり、高精度を必要とするエラー測定に誤
差を生ずる。これに対して、従来においては予め適当な
基準電圧をコンパレータに与えテエラー測定を行い、え
られたエラーデータより正しいＴＡＡを推定し、これに
より誤差のないエラー測定が行われている。第３図（ｂ
）はＴＡＡの推定方法を説明するもので、まず、基準電
圧作成回路５に適当な段階の係数を設定し、被検査のテ
ストトラックのテスト信号ＳＲを平均値測定回路に入力
し、その出力電圧に上記の係数を乗じて基準電圧ｖＬを
段階的に変化してスパイクエラーＥｍと、ミッシングエ
ラーＥ−の検出個数を測定する。図の曲線は基準電圧ｖ
Ｌを横軸にとり、エラーの検出個数を縦軸にプロットし
たもので、ＥｓとＥｍは基準電圧ｖＬがＴＡＡ　（未知
）に近づくほど急激に増加するが、エラーがランダムに
分布するために両曲線は横軸に関して図示のように対称
形をなす特徴があり、従って、両曲線の中心線Ｃに対す
る基準電圧がＴＡＡを示す筈である。これにより正しい
ＴＡＡを推定し、第２図（ａ）の調整抵抗ｒｖ４を調整
して正しいＴＡＡを基準電圧作成回路５に与える方法が
行われている。

以上のエラー曲線の作成とＴＡＡの推定や調整抵抗ｒｖ
の調整などは従来では手作業で行われているが、多数の
テストトラックに対する手作業は茜だ繁雑で時間がかか
る非能率なものであり、これをコンピユータ化して検査
効率を向上することが要請されている。

この発明は以上に鑑みてなされたもので、磁気ディスク
テスターのエラー検査に対してプログラマブル・ゲイン
コントローラを設けてコンピュータ化し、ＴＡＡに含ま
れているノイズを除去して正しいＴＡＡを設定する検査
方式を提供することを目的とする。

［課題を解決するための手段］ この発明は、被検査の磁気ディスクのトラ１．りにテス
ト信号を書込み／読み出しし、平均値測定回路によりト
ラックの１周に対する読み出し信号の平均電圧を算出し
、基準電圧作成回路により平均電圧に％刻みの係数を乗
じて基準電圧を作成し、基準電圧とテスト信号の読み出
し電圧とをコンパレータにより比較して、テスト信号の
エラー検査を行う磁気ディスクテスターにおけるエラー
検査方式である。磁気ディスクテスターに対してＭＰＵ
により制御されるプログラマブルφゲインコントローラ
を設ける。まず予備測定が行われ、被検査の磁気ディス
クの各テストトラックに対して、平均値測定回路の出力
電圧を適当な刻みで変化してエラーの分布特性を測定し
、分布特性より読み出し電圧に含まれたノイズによる誤
差を除去した正しい平均電圧を求める。次にエラー検査
においては、プログラマブル・ゲインコントローラの制
御により、各テストトラックに対する正しい平均電圧を
基準電圧作成回路に入力してテスト信号のエラー検査が
行われる。

上記の予備測定におけるエラーの分布特性の測定は、ス
パイクエラーとミッシングエラーに対して行い、基準電
圧に関して対称的なスパイクエラーの分布曲線とミッシ
ングエラーの分布曲線の中心線に対する基準電圧を正し
い平均値電圧とするものである。

［作用コ 以上のエラー検査方式においては、まず予備測定が行わ
れ、被検査の磁気ディスクのテストトラックに対して、
適当な段階で基準電圧を変化してスパイクエラーとミッ
シングエラーの分布曲線を測定し、両曲線の中心線に対
する基準電圧が、ノイズを除去した正しい平均電圧と推
定される。エラー測定においてはマイクロプロセッサに
よるプログラマブル・ゲインコントローラの制御により
、正しい平均電圧を基準電圧作成回路に入力して誤差の
ないエラー検査を行うもので、プログラマブル・ゲイン
コントローラの制御と、各分布曲線の作成、両曲線の中
心線に対する基準電圧の計算および正しい平均電圧の推
定作業はすべてＭＰＵにより自動化されて短時間に正確
に行われるので、検査時間が大幅に短縮され、かつ高精
度のエラー検査を行うことができる。

［実施例］ 第１図（ａ）、（ｂ）は、この発明による磁気ディスク
テスターのエラー検査方式の実施例における基本のブロ
ック構成図と検査手順の概略のフローチャートを示す。

図（ａ）は前記した第２図（ａ）の磁気ディスクテスタ
ーの構成と同一部品に同一の番号を付与してあり、同一
部品の機能説明は省略する。この発明においては、上記
の構成に対して平均値測定回路３と基準電圧作成回路５
の間にスイッチｌＯａ　、　１０ｂを設け、各スイッチ
の間にＭＰＵ９により制御されるプログラマブル・ゲイ
ンコントローラ（ＰＧＣ）１１を接続する。ＰＧＣは単
一チップにより製作され、市販されているものを使用す
ることができ、その内容説明は省略する。

第１図（ａ）、（ｂ）を併用してエラー検査方法を説明
すると、被検査の磁気ディスク１のテストトラック（Ｔ
Ｒ）ｌａに対して、磁気ヘッド２　ａ　＋アンプ２ｂに
よりテスト信号が書込まれる■。これに対してまず予備
測定が行われ、ＭＰＵ９により基準電圧作成回路５に対
して適当な段階の係数が設定される■。読み出されたテ
スト信号ＳＲは平均値測定回路３に入力してトラック１
周に対する平均電圧が測定され■、予備測定においては
、両スイッチ１０ａ　、　ｌＯｂを直通とし、平均値測
定回路３の出力電圧を基準電圧作成回路５に直接入力し
、これに対して上記の係数を乗じて基準電圧ｖＬを作成
し■、これをコンパレータ６の子端子に与え、端子に与
えられるテスト信号ＳＲと比較してスパイクエラーＥｓ
とミッシングエラーＥ■を検出し、そのデータをメモリ
８に記憶する■。ＭＰＵ９による係数の段階的変化が終
了したか否かが判定され■、終了していないときはステ
ップは■に戻って新たに係数を設定して上記の処理が繰
り替えされる。すべての係数に対する処理が終了すると
、メモリに記憶されているＥｓとＥ−のデータから、Ｍ
ＰＵにより第３図（ｂ）のエラー分布曲線が作成され、
両分布曲線の中心線よりノイズ分が除去された正しいＴ
ＡＡが算出される■。すべてのＴＲに対するＴＡＡが算
出されると■、本番測定に移行する。本番測定において
は、両スイッチｌＯａ　、　１０ｂを切り替えてＰＧＣ
ＩＩを接続し、ＭＰＵの制御によりＰＧＣを制御して平
均値測定回路の出力電圧をＴＡＡに補正するようになし
■、また基準電圧作成回路５に基準電圧ｖＬｓまたはｖ
Ｌｓに対する％刻みの係数を設定する［相］。ついで、
ＴＲに対する読み出しを行い、平均値測定回路によりＴ
Ｒの１周に対するテスト信号ＳＲの平均電圧が測定され
■、この平均電圧はＰＧＣにより正しいＴＡＡに補正さ
れて基準電圧作成回路に入力し、基準電圧ｖＬｓまたは
ｖＬｙｓが出力されてコンパレータ６に与えられ、これ
によりＥｓまたはＥ−が測定されてメモリに記憶される
＠。すべてのＴＲに対する測定が終了すると、当該磁気
ディスクに対するエラー検査が終了し、メモリに記憶さ
れた測定データは所定の形式に編集されて出力される。

以上の実施例においては、回路のブロック構成は基本で
あって、実際の磁気ディスクテスターにおいてはコンパ
レータ６などを複数個並列に設けて、各エラーを同時に
検査するなどやや複雑なものであり、またフローチャー
トは概略なものであり、実際ではステップの構成が複雑
で、順序の変更もありうるが、この発明の趣旨は以りに
より了解される。

［発明の効果コ 以上の説明により明らかなように、この発明によるエラ
ー検査方式においては、プログラマブルΦゲインコント
ローラが設けられてコンピユータ化されており、被検査
の磁気ディスクのテストトラックに対して、予備測定に
よりスパイクエラーとミッシングエラーの両分布曲線が
測定され、同曲線の中心線に対する基準電圧がノイズを
除去した正しい平均電圧とされ、プログラマブル・ゲイ
ンコントローラの制御により、正しい平均電圧を基準電
圧作成回路に入力して誤差のないエラー検査を行うもの
で、プログラマブル・ゲインコントローラの制御、各分
布曲線の測定、正しい平均電圧の計算など、従来の手作
業はすべてＭＰＵにより自動化されて迅速正確に行われ
、磁気ディスクテスターによるのエラー検査の効率化と
高精度化に寄与する効果には大きいものがある。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）および（ｂ）は、この発明による磁気ディ
スクテスターのエラー検査方式の実施例に対する回路の
基本構成図および処理手順の概略のフローチャート、第
２図（ａ）、（ｂ）および（ｃ）は、磁気ディスクテス
ターの従来の基本構成図と、これによるエラー検査方法
の説明図、第３図（ａ）および（ｂ）は、テスター信号
に含まれるノイズと、エラー分布曲線によるノイズ除去
方法の説明図である。 １・・・磁気ディスク、１ａ・・・テストトラック（Ｔ
Ｒ）２ａ・・・磁気ヘッド、２ｂ−・・・アンプ、３・
・・平均値測定回路、　４・・・調整抵抗、５・・・基
準電圧作成回路、６・・・コンパレータ、７・・・エラ
ー判定回路、　８・・・メモリ、９・・・マイクロプロ
セッサ（ＭＰＵ）、ｌｅａ、１Ｏｂ−−−スイッチ、 １１・・・プログラマブル・ゲインコントローラ（ＰＧ
Ｃ）、 ＳＲ・・・読み出しテスター信号、ｖＬ・・・基準電圧
、ＴＡＡ・・・トラック１周の平均電圧、ＮＲ・・・ノ
イズ、　　　　　ＥＳ・・・スノ櫂イクエラーＥｍ・・
・ミッシングエラー ■〜［相］・・・フローチャートのステ・ツブ番号。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）被検査の磁気ディスクのトラックにテスト信号を
   書込み／読み出しし、平均値測定回路により該トラック
   の１周に対する読み出し信号の平均電圧を算出し、基準
   電圧作成回路により該平均電圧に％刻みの係数を乗じて
   基準電圧を作成し、該基準電圧と上記テスト信号の読み
   出し電圧とをコンパレータにより比較して、上記テスト
   信号のエラー検査を行う磁気ディスクテスターにおいて
   、マイクロプロセッサにより制御されるプログラマブル
   ・ゲインコントローラを設け、上記磁気ディスクの各テ
   ストトラックに対して、上記平均値測定回路の出力電圧
   を適当な刻みで変化させて上記エラーの分布特性を測定
   し、該分布特性より上記読み出し電圧に含まれたノイズ
   による誤差を除去した正しい上記平均電圧を求める予備
   測定を行い、上記プログラマブル・ゲインコントローラ
   の制御により、上記各テストトラックに対する上記の正
   しい平均電圧を上記基準電圧作成回路に入力して上記テ
   スト信号のエラー検査を行うことを特徴とる、磁気ディ
   スクテスターのエラー検査方式。（２）上記予備測定に
   おけるエラーの分布特性の測定は、スパイクエラーとミ
   ッシングエラーに対して行い、上記基準電圧に関して対
   称的な該スパイクエラーの分布曲線と該ミッシングエラ
   ーの分布曲線の中心線に対する上基準電圧を上記正しい
   平均値電圧とする、請求項１記載の磁気ディスクテスタ
   ーのエラー検査方式。