JPH0465048A - 電子放出素子 - Google Patents
電子放出素子Info
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- JPH0465048A JPH0465048A JP2175421A JP17542190A JPH0465048A JP H0465048 A JPH0465048 A JP H0465048A JP 2175421 A JP2175421 A JP 2175421A JP 17542190 A JP17542190 A JP 17542190A JP H0465048 A JPH0465048 A JP H0465048A
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Landscapes
- Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、電界放出型の電子放出素子に関オーるもので
ある。
ある。
(従来の技術)
第8図及び第9図は、絶縁基板上に平面的に形成された
電界放出型の電子放出素子を示している。
電界放出型の電子放出素子を示している。
絶縁基板100上には、複数の突端部101がくし歯状
に形成されたエミッタ102が設りられ。
に形成されたエミッタ102が設りられ。
ている。このエミッタ102に隣接して、前記各突端部
101に対応する開口部103を備えたケート104か
設けられでいる。イして、3二のケート104を間にl
、て前記エミッタ102と反対側の絶縁基板100上に
は、ケート104と才行にアノード105か設けらtて
いる。
101に対応する開口部103を備えたケート104か
設けられでいる。イして、3二のケート104を間にl
、て前記エミッタ102と反対側の絶縁基板100上に
は、ケート104と才行にアノード105か設けらtて
いる。
ここで、エミッタ102とゲー ト104の間、及びケ
ート104とア、ノート105との間にそわぞJ1所定
の電位差を付与すると、ゴミツタ102゜の突端部10
1から電子か放出さお、これら電1−はケート104の
開[1部103を軒てアノード105に射突する。
ート104とア、ノート105との間にそわぞJ1所定
の電位差を付与すると、ゴミツタ102゜の突端部10
1から電子か放出さお、これら電1−はケート104の
開[1部103を軒てアノード105に射突する。
このような平面形の構成の電で放出素子を形成する場合
には、従来は絶縁基板100上に電界電子放出材料を一
層構造て被着させ、その−Vにホト1ノシストを所定パ
ターンて形成し、てエツチングを行)ていた。
には、従来は絶縁基板100上に電界電子放出材料を一
層構造て被着させ、その−Vにホト1ノシストを所定パ
ターンて形成し、てエツチングを行)ていた。
前述した従来の電子放出素子の構造たと、エツチング装
置の特性によっては、エミッタ102の突端部101の
端面を十分に尖らせることができず、電子放出開始電圧
か高くなって現実的な駆動条件ては、電流を大きくとれ
なくなってしまうという問題点があった。
置の特性によっては、エミッタ102の突端部101の
端面を十分に尖らせることができず、電子放出開始電圧
か高くなって現実的な駆動条件ては、電流を大きくとれ
なくなってしまうという問題点があった。
本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、
電子か放出されるエミッタの突端部の端面か十分に尖っ
た構造の電子放出素子を提供することを目的としている
。
電子か放出されるエミッタの突端部の端面か十分に尖っ
た構造の電子放出素子を提供することを目的としている
。
本発明の電子放出素子は、比較的エツチングされやすい
第1金属が絶縁基板上に被着され、その上に第1金属よ
りもエツチングさtにくい電界放出部材か被着されて構
成されている。
第1金属が絶縁基板上に被着され、その上に第1金属よ
りもエツチングさtにくい電界放出部材か被着されて構
成されている。
本考案による二層構造の電子放出素子によれば、表層の
電界放出部材よりも下層の第1金属の方がエツチングさ
れて深くえぐられやすく、相対的に電界放出部材は突出
することになり、結果として低い動作電圧で大きな放出
電流を得ることができる。
電界放出部材よりも下層の第1金属の方がエツチングさ
れて深くえぐられやすく、相対的に電界放出部材は突出
することになり、結果として低い動作電圧で大きな放出
電流を得ることができる。
〔実施例)
本発明の一実施例である電子放出素子の構造を、第1図
〜第7図に示す製造工程に従って説明する。なお、以下
に示す工程の番号と図面番号とは一致している。
〜第7図に示す製造工程に従って説明する。なお、以下
に示す工程の番号と図面番号とは一致している。
■石英又はガラス等からなる絶縁基板1を洗浄した後、
第1図に示すように、その表面に第1金属としてのアル
ミニウムを約1.2μmの厚さて堆積し、アルミニウム
層2(A42層2)を形成する。
第1図に示すように、その表面に第1金属としてのアル
ミニウムを約1.2μmの厚さて堆積し、アルミニウム
層2(A42層2)を形成する。
■第2図に示すように、前記A2層2の上に、電界放出
部材としてのタングステンを約0.2〜0.5μmの厚
さで堆積し、タングステン層3(W層3)を形成する。
部材としてのタングステンを約0.2〜0.5μmの厚
さで堆積し、タングステン層3(W層3)を形成する。
■WWB2上面にホトレジスト4を塗布して露光・現像
し、第3図(A)、(B)に示すように電子放出素子の
形状にバターニングする。
し、第3図(A)、(B)に示すように電子放出素子の
形状にバターニングする。
■第4図(A)に示すように、SF6を用いたR I
E (Reactive Ion Etching)に
よって最上層のW層3をドライエツチングする。この時
、RIEの特性により、同図(B)に示すようにホトレ
ジスト4の端部は傾斜する。
E (Reactive Ion Etching)に
よって最上層のW層3をドライエツチングする。この時
、RIEの特性により、同図(B)に示すようにホトレ
ジスト4の端部は傾斜する。
■第5図(A)に示すように、下のへ1層2をえぐり込
むようにウェットエツチングする。
むようにウェットエツチングする。
エツチング剤の成分及び配合割合は、例えばLIF系水
溶水溶液るH3 PO4: HNO3:CH3COOH
: H20= 85 : 5 : 5 : 5 テある
。
溶水溶液るH3 PO4: HNO3:CH3COOH
: H20= 85 : 5 : 5 : 5 テある
。
A1はWよりもエツチングレートか大きい。即ち、エツ
チングされやすい。このため、第5図(B)に示すよう
に、本工程のウェットエツチングによれば、上層のW層
3よりも下層のA2層2の方がより深くえぐられる。
チングされやすい。このため、第5図(B)に示すよう
に、本工程のウェットエツチングによれば、上層のW層
3よりも下層のA2層2の方がより深くえぐられる。
■第6図(A)、(B)に示すように、SF6を用いた
RIEにより、電極部分以外の絶縁基板1に溝5を深く
彫る。
RIEにより、電極部分以外の絶縁基板1に溝5を深く
彫る。
■第7図(A)に示すようにホトレジスト4を除去する
。
。
第4図(B)に示したように、ホトレジスト4の端部は
傾斜しており、中央部から厚さが段々蒲〈なっている。
傾斜しており、中央部から厚さが段々蒲〈なっている。
このため、本工程においてホトレジスト4の除去を行う
と、層厚の薄い端部の、トレジスト4は厚い中央部に比
べて早く除去されてしまう。従フて、中央部のホトレジ
スト4を除去していくうちに、ホトレジスト4の下にか
くれていたW層3の端部が除去されていき、第7図(B
)に示すように端部の鰭面は傾斜した形状になる。
と、層厚の薄い端部の、トレジスト4は厚い中央部に比
べて早く除去されてしまう。従フて、中央部のホトレジ
スト4を除去していくうちに、ホトレジスト4の下にか
くれていたW層3の端部が除去されていき、第7図(B
)に示すように端部の鰭面は傾斜した形状になる。
■ダイシングした後、純水及び超音波を用いて各電子よ
出素子を洗浄する。
出素子を洗浄する。
このようにして得られた素子を蛍光表示管の電子源とし
て真空外囲器内に実装したところ、ゲート電圧が350
vから電子放出が得られた。
て真空外囲器内に実装したところ、ゲート電圧が350
vから電子放出が得られた。
以上説明した一実施例によれば、次のような効果がある
。
。
1)製作工程が極めて容易である為、コストか低く歩留
りが良い。
りが良い。
2)WとAnのエツチング特性の違いをうまく利用して
おり、上層のW層3の厚みを制御することによって、所
望の先端の尖った大面積のエミッタを再現性良く容易に
形成することができる。
おり、上層のW層3の厚みを制御することによって、所
望の先端の尖った大面積のエミッタを再現性良く容易に
形成することができる。
3)AJZの厚さを適当に設定することによってエミッ
タ先端を基板から離すことかできエミッタ先端の電界か
強くなり又、エミッタ先端を平面パターンにおいてのみ
ならず深さ方向も鋭利に加工することができるためエミ
ッタ先端の電界強度か強くなり、従フて電子放出開始電
圧が低く、駆動が容易である。
タ先端を基板から離すことかできエミッタ先端の電界か
強くなり又、エミッタ先端を平面パターンにおいてのみ
ならず深さ方向も鋭利に加工することができるためエミ
ッタ先端の電界強度か強くなり、従フて電子放出開始電
圧が低く、駆動が容易である。
4)放出電流密度か大きい。
5)W層3をより薄くすることによってW層3の端面ば
さらに鋭利になり、電子放出開始電圧かさらに低くても
電子放出か可能になる。この場合、W層3の抵抗値は極
めて大きくなるか、A1層2の抵抗値が小さいため、全
体としては低抵抗となる。
さらに鋭利になり、電子放出開始電圧かさらに低くても
電子放出か可能になる。この場合、W層3の抵抗値は極
めて大きくなるか、A1層2の抵抗値が小さいため、全
体としては低抵抗となる。
6)Wのみの構造では、Wが絶縁基板との密着性が悪く
剥れ易いため歩留りを悪化さゼるが、絶縁基板との密着
性のよいAIlを用いた2層構造により歩留りを向上で
きる。
剥れ易いため歩留りを悪化さゼるが、絶縁基板との密着
性のよいAIlを用いた2層構造により歩留りを向上で
きる。
以」−説明した一実施例はAl1とWの組合せてあった
か、第1金属としてはAIl、のかわりにFeでもよい
。また電界放出部材としてはWのかわりに、Mo、Ta
、Ti、LaBa 、あるいはWMO,Ta、Tiの名
炭化物、各ケイ化物、各窒化物も使用てきる。
か、第1金属としてはAIl、のかわりにFeでもよい
。また電界放出部材としてはWのかわりに、Mo、Ta
、Ti、LaBa 、あるいはWMO,Ta、Tiの名
炭化物、各ケイ化物、各窒化物も使用てきる。
また、前記実施例では、W層3は均一な膜として表わし
り、:か、厚さか数100人程度になると均な膜の形成
は困難になり、島状に離れた複数のW層か形成されるよ
うVなる。このような場合でも、A2層か導電電極とし
て働くため、W層からは有効な電子放出を得ることかで
きる。
り、:か、厚さか数100人程度になると均な膜の形成
は困難になり、島状に離れた複数のW層か形成されるよ
うVなる。このような場合でも、A2層か導電電極とし
て働くため、W層からは有効な電子放出を得ることかで
きる。
本発明の電子放出素子は、絶縁基板上にエツチングされ
易い第1金属な被着し、その上にエツチングされにくい
電界放出部材を被着した構成なのて、製造しやずく、電
子放出部材を鋭利に形成てきるという効果かある。
易い第1金属な被着し、その上にエツチングされにくい
電界放出部材を被着した構成なのて、製造しやずく、電
子放出部材を鋭利に形成てきるという効果かある。
第1図、第2図、第3図(A)、第4図(A)、第5図
(A)、第6図(A)及び第7図(A)は第1実施例の
製造工程を示す断面図、第3図(B)、第4図〈B)、
第5図(B)、第6図(B)及び第7図(B)はそ、t
′1そt1第3図(A)、第4図(A)、第5図(A)
、第6図(A)及び第7図(A)の部分拡大断面図、第
8図は従来の電子放出素子の一例を示す断面図、第9図
は従来の電子放出素子の一例を示す斜視図である。 1・・・絶縁基板、 2・・・第1金属としてのアルミニウムから成るアルミ
ニウム層(Afi層)、 3・・・電界放出部材としてのタングステンから成るタ
ングステン層(W層)。 第6図(A) 第6図(B) 第7図(A) 第7図(B) 特許出願人 工業技術院長 杉浦 賢双葉電FI業株
式会社 代理人・弁理士 西 村 教 光第 図 第 図(A) 第 図(A) 第 図(A) 第 図(B) 第 図(B) 第 図(B)
(A)、第6図(A)及び第7図(A)は第1実施例の
製造工程を示す断面図、第3図(B)、第4図〈B)、
第5図(B)、第6図(B)及び第7図(B)はそ、t
′1そt1第3図(A)、第4図(A)、第5図(A)
、第6図(A)及び第7図(A)の部分拡大断面図、第
8図は従来の電子放出素子の一例を示す断面図、第9図
は従来の電子放出素子の一例を示す斜視図である。 1・・・絶縁基板、 2・・・第1金属としてのアルミニウムから成るアルミ
ニウム層(Afi層)、 3・・・電界放出部材としてのタングステンから成るタ
ングステン層(W層)。 第6図(A) 第6図(B) 第7図(A) 第7図(B) 特許出願人 工業技術院長 杉浦 賢双葉電FI業株
式会社 代理人・弁理士 西 村 教 光第 図 第 図(A) 第 図(A) 第 図(A) 第 図(B) 第 図(B) 第 図(B)
Claims (1)
- 絶縁基板上に、エッチングレートの大きい第1金属を被
着し、その上に前記第1金属よりエッチングレートの小
さい電界放出部材を被着して成る電子放出素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2175421A JPH0465048A (ja) | 1990-07-04 | 1990-07-04 | 電子放出素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2175421A JPH0465048A (ja) | 1990-07-04 | 1990-07-04 | 電子放出素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0465048A true JPH0465048A (ja) | 1992-03-02 |
Family
ID=15995805
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2175421A Pending JPH0465048A (ja) | 1990-07-04 | 1990-07-04 | 電子放出素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0465048A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007080626A (ja) * | 2005-09-13 | 2007-03-29 | Toppan Printing Co Ltd | 電子放出型電極及びその製造方法 |
KR100766894B1 (ko) * | 2001-11-30 | 2007-10-15 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전계 방출 표시 소자의 제조 방법 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02276129A (ja) * | 1989-01-13 | 1990-11-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プレーナ型冷陰極およびその製造法 |
-
1990
- 1990-07-04 JP JP2175421A patent/JPH0465048A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02276129A (ja) * | 1989-01-13 | 1990-11-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プレーナ型冷陰極およびその製造法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100766894B1 (ko) * | 2001-11-30 | 2007-10-15 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전계 방출 표시 소자의 제조 방법 |
JP2007080626A (ja) * | 2005-09-13 | 2007-03-29 | Toppan Printing Co Ltd | 電子放出型電極及びその製造方法 |
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