JP2737675B2 - 縦型微小冷陰極の製造方法 - Google Patents

縦型微小冷陰極の製造方法

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JP2737675B2
JP2737675B2 JP32456194A JP32456194A JP2737675B2 JP 2737675 B2 JP2737675 B2 JP 2737675B2 JP 32456194 A JP32456194 A JP 32456194A JP 32456194 A JP32456194 A JP 32456194A JP 2737675 B2 JP2737675 B2 JP 2737675B2
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emitter
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cold cathode
laminated film
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政行 吉木
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Nippon Electric Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、縦型微小冷陰極の製造
方法に関わり、特にエッチングによる微小な縦型冷陰極
の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、ミクロンサイズの微小冷陰極を作
る試みが始まっている。微小にすることそしてエミッタ
先端を尖鋭化することにより、電界集中を起こさせ、電
子を放出させるための印加電圧を小さくすることができ
る。平面ディスプレイ等に利用される縦型微小冷陰極を
作るために、蒸着、スパッタ等の方法があるが、いずれ
の場合も形状作製のためレジストパターニングを行う必
要がある。しかしながら、パターニングに対しては解像
度の限界があり、サイズ的にサブミクロンがやっとであ
る。また、一つのエミッタから得られる電流量は小さい
ので、ある程度の電流量をとるためにエミッタをアレイ
化する必要がある。しかし、蒸着、スパッタ等で作製さ
れるエミッタアレイは、高さ、先端半径、エミッション
電圧閾値、エミッション面積などの電界電子放出のため
のパラメータがばらついており、電流密度の均一性が悪
い。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の製造方法では、
サブミクロン以下のサイズのエミッタを作製することや
エミッタ先端を尖鋭化することは、パターニングの際の
解像度の限界から、むずかしい。また、蒸着、スパッタ
で作製するエミッタアレイは均一性が悪いという問題が
ある。本発明の目的は、上述の問題点を解決し、サブミ
クロン以下のサイズの縦型微小冷陰極の製造方法を提供
することである。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は、2つの絶縁層
でサンドウィッチしたエミッタ層を有する縦型微小冷陰
極の製造方法で、片側の絶縁層を一部エッチングしたあ
と、エミッタ層を等方性エッチングすることにより、エ
ッチングしながった絶縁層側に尖鋭な部分をもつエミッ
タを形成し、更にもう一方の絶縁層をエッチングするこ
とを特徴とする微小冷陰極の製造方法である。
【0005】また、本発明は、2つの絶縁層でサンドウ
ィッチした非常に薄いエミッタ層を有する縦型微小冷陰
極の製造方法で、両側の絶縁層を一部エッチングするこ
とにより、エミッタを形成することを特徴とする微小冷
陰極の作製方法である。
【0006】
【実施例】以下、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は、本発明の第1の実施例に係わる縦型微小冷
陰極の製造工程を示す断面図である。まず、図1(a)
に示すように、Si基板2上に段差をつけるためSiO
2 等の絶縁層1(厚み1μm)をパターニングし、Si
2 等の第1絶縁層3を約2000オングストローム
(A)、WSi等の第1ゲート導電層4を約1000
A、Si3 4 等の第2絶縁層5を約2000A、Mo
等のエミッタ導電層6を約2000A、SiO2等の第
3絶縁層7を約2000A、WSi等の第2ゲート導電
層8を約1000A形成する。次に図1(b)のように
研磨する。第3絶縁層7を図1(c)のように第2絶縁
層5がエッチングされないようなエッチャントでエッチ
ングする。エミッタ導電層6を等方性エッチングする。
このとき、第3絶縁層7側はエッチングしてあるので、
速くエッチングされ、第2絶縁層5側はエッチングがお
そい。その結果、図1(d)のようにエミッタの先端は
尖鋭化される。最後に、第2絶縁層5を図1(e)のよ
うにエッチングする。
【0007】図2は、本発明の第2の実施例に係わる縦
型微小冷陰極の製造工程を示す断面図である。まず、図
2(a)に示すように、Si基板2上に段差をつけるた
めSiO2 等の絶縁層1(厚み1μm)をパターニング
し、Si3 4 等の第1絶縁層3を約2000A、WS
i等の第1ゲート導電層4を約1000A、SiO2
の第2絶縁層5を約2000A、Mo等のエミッタ導電
層6を約100A、SiO2 等の第3絶縁層7を約20
00A、WSi等の第2ゲート導電層8を約1000A
形成する。薄膜の厚さの制御は、PRに比べて非常に小
さいところまで行える。したがって、エミッタ層の厚み
を制御することによって、希望の先端半径のエミッタを
得ることができる。また、均一性も数段良い。次に図2
(b)のように研磨する。第2と第3絶縁層5,7を図
2(c)のようにエッチングし、エミッタ導電層6の頭
を出す。この実施例では、第2と第3絶縁層5,7が同
じ材料で形成してあるので、同時にエッチングされる。
エミッタ導電層6は極めて薄く作られているので、その
ままエミッタとなる。
【0008】
【発明の効果】本発明を適用するならば、従来のパター
ニングと横方向エッチングによりエミッタ先端を尖鋭化
する方法よりも、自動的に均一性良く尖鋭なエミッタを
形成することが可能である。これにより低電圧動作をさ
せることのでき、均一性に優れた縦型微小冷陰極を作製
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)〜(e)は、本発明による縦型微小冷陰
極の第1の実施例の製造工程を示す断面図である。
【図2】(a)〜(c)は本発明による第2の実施例の
製造工程を示す断面図である。
【符号の説明】
1 絶縁層 2 Si基板 3 第1絶縁層 4 第1ゲート導電層 5 第2絶縁層 6 エミッタ導電層 7 第3絶縁層 8 第2ゲート絶縁層

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 Si基板上に凸状の段差を形成する工程
    と、前記Si基板上に第1の絶縁層、第1のゲート導電
    層、第2の絶縁層、エミッタ導電層、第3の絶縁層、第
    2のゲート導電層よりなる積層膜を形成する工程と、前
    記凸状段差上部の前記積層膜を選択的に除去し、前記凸
    状段差側面に前記積層膜を残すことによって各層の断面
    を露出させる工程と、積層膜のうち第3の絶縁層あるい
    は第2の絶縁層の一方のみをエミッタ導電層膜厚より深
    くエッチングする工程と、エミッタ導電層をエミッタの
    先端を尖鋭化してエッチングする工程を有することを特
    徴とする縦型微小冷陰極の製造方法。
  2. 【請求項2】 Si基板上に凸状の段差を形成する工程
    と、前記Si基板上に第1の絶縁層、第1のゲート導電
    層、第2の絶縁層、数百A以下の膜厚を有するエミッタ
    導電層、第3の絶縁層、第2のゲート導電層よりなる積
    層膜を形成する工程と、前記凸状段差上部の前記積層膜
    を選択的に除去し、前記凸状段差側面に前記積層膜を残
    すことによって各層の断面を露出させる工程と、積層膜
    のうち第2の絶縁層と第3の絶縁層をエッチングし、エ
    ミッタ導電層先端を露出させる工程を有することを特徴
    とする縦型微小冷陰極の製造方法。
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