JPH0453255B2 - - Google Patents

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JPH0453255B2
JPH0453255B2 JP59167904A JP16790484A JPH0453255B2 JP H0453255 B2 JPH0453255 B2 JP H0453255B2 JP 59167904 A JP59167904 A JP 59167904A JP 16790484 A JP16790484 A JP 16790484A JP H0453255 B2 JPH0453255 B2 JP H0453255B2
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photosensitive film
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light
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photosensitive
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Shigehisa Shimizu
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Fuji Photo Film Co Ltd
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8914Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined
    • G01N21/8916Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined for testing photographic material

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  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、感光フイルムの両側縁部から裁断除
去される耳部を利用して、感光フイルム表面にお
ける欠陥の有無を検査するようにした表面検査方
法および装置に関するものである。
〔従来技術〕
一般に、写真用ロールフイルムを製造するにあ
たつては、幅広のベースフイルム上に多層の感光
剤を順次塗布してこれをロール状に巻き取り、そ
の後にこれを送りながら所定幅、所定長に裁断し
ている。ところで、前記ベースフイルムを長手方
向に送りながら感光剤を塗布してゆくと、ベース
フイルムの中央部分はともかく、その両側縁部ま
では感光剤を均一に塗布することは困難である。
そこで、感光剤が塗布された感光フイルムを所定
幅に裁断する工程で、感光フイルムの前記両側縁
部を所定幅で裁断し、製品となる中央部分から除
去している。しかし、こうして所定幅で耳部を除
去したとしても、耳部での感光剤の塗布むら等
が、製品化される中央部分にまでも及ぶことがあ
るため、前記中央部分についても感光剤の塗布む
ら等の表面状態を検査しておく必要がある。
このため、従来においては、感光フイルムを所
定幅に裁断する工程で得られる前記耳部を、1ロ
ツト分巻き取つて保管しておき、その後この耳部
を巻き戻しながらその表面状態を目視観察し、例
えば中央部分にまで及ぶ程度の塗布むらがあるか
否か、それがあつた場合には、長手方向のどの位
置にあるかを確認して検査している。しかし、こ
のような検査手法では、耳部で発見された欠陥部
分の位置が、すでに巻き取られている中央部分で
はどの位置に対応しているのかが正確には決定し
にくいことから、中央部分から欠陥部分を除去す
る時には、ある程度の余裕をもつて切除しなくて
はならない。また、1ロツトごとに目視検査を行
うことから、検査のために次工程を待機しなくて
はならないと共に、検査員の個人差や疲労などに
よる検査レベルのばらつきなどもあつて、合理的
ではない。
一方、このような検査を自動化するために、例
えば実公昭45−23978号、実公昭46−25437号、さ
らには特開昭58−68651号、特開昭58−68652号な
どの各公報に示されているように、ウエブの被検
査面に光を照射して、表面状態を光学的に検査す
る手法が知られている。しかしながら、上記の各
公報記載の手法においては、ウエブの全幅を検査
の対象としていることから、検査精度が低下せざ
るを得ない。しかも、上述したような感光フイル
ムを対象とする場合には、製品とされる中央部分
にも検査光が照射されるため、使用光源が限定さ
れたり、あるいは検査光強度を低く抑えなければ
ならないことから、検査出力のSN比を上げるこ
とができないという欠点がある。さらに、前述し
たように、感光フイルムの両側縁では、感光剤が
不均一に塗布されているため、本来耳部として裁
断される部分を欠陥個所として誤検出することに
なる。なお、この誤検出は、耳部を裁断した後に
は生じないが、そのためには、感光フイルムの裁
断工程を、耳部の裁断工程と、耳部を裁断した後
の感光フイルムを所定幅に裁断する工程との2工
程にせざるを得なくなる。
〔発明の目的〕
本発明は、上述した従来技術の欠点を解消する
ためになされたもので、両端が耳部として裁断除
去される感光フイルムの表面検査を、省力化しな
がら検査精度を向上させると共に、感光フイルム
の殆どの部分、特に製品として利用される部分に
は一切の影響を与えることのない表面検査方法お
よび装置を提供することを目的とする。
〔発明の構成〕
上記目的の達成にあたり、本発明は、感光フイ
ルム両側縁から所定幅をもつて裁断されてくる耳
部に、ライン状の検査光を照射し、前記耳部によ
つて変調された検査出力光を測定し、この測定に
よる波形パターンと予め設定した標準的な波形パ
ターンとを比較することによつて、感光フイルム
の中央部分の表面状態を間接的に判定するように
したものである。
〔実施例の構成〕
本発明の一実施例を示す第1図において、感光
剤が塗布されて感光剤層1が形成された感光フイ
ルム2は、供給ローラ3に巻回されている。供給
ローラ3に巻回された感光フイルム2は、裁断刃
5および受けローラ6との間を通つて耳部7、製
品として利用される中央部分8,9とそれぞれ所
定幅に裁断され、それぞれ等しい送り速度で駆動
される巻き取りローラ10,11,12、あるい
はフイーダローラ13などを介して巻き取られ
る。なお、感光フイルム2の反対側の側縁部も、
所定幅の耳部として裁断され巻き取られるが、耳
部7と全く対応しているので、図面の煩雑化を防
ぐために図示を省略してある。
一般に、感光フイルム2に生ずる欠陥は、前記
耳部7まで及んでいることが殆どである。例え
ば、第1図に例示したような、巻きしわ部15、
感光剤層1がフイルムベースの裏面側にまで回り
込んだ裏回り部16、感光剤の塗布が不充分であ
る膜切れ部17などは、製品とされる感光フイル
ム2の中央部分8、さらには中央部分8、さらに
は中央部分9にまで達することが多く、前記耳部
7の上記欠陥個所の位置に対応して、中央部分
8,9の該当個所を切除しなくてはならない。こ
れを検出するために、図示したように、耳部7の
巻き取りローラ10の手前に、表面18aが黒色
のつや消し処理が施されたローラ18と、検出光
学系20とが設けられている。
検出光学系20は、赤外光を発光するLED(発
光ダイオード)を横一列に配置した照明部21
と、照明部21からの光をライン状にするための
シリドリカルレンズ22と、前記耳部7から反射
されてくる検査出力光を受光するための例えば
CCDからなるラインセンサ23、ラインセンサ
23上に検査出力光を結像する結像レンズ24と
から構成されてくる。そして、第2図にも示すよ
うに、照明部21からの照明光は、シリンドリカ
ルレンズ22によりライン状照明25となつて、
耳部7の全幅Dおよびその両側の部分にまで照射
される。なお、上記検出光学系20は、感光フイ
ルム2の反射側の側縁部から裁断される耳部に対
しても、全く同様にして設けられている。
前記ラインセンサ23からの電気信号は、例え
ば第3図に示した制御回路によつて処理される。
すなわち、ラインセンサ23から得られる電気信
号は、画像処理回路30によつて、アナログビデ
オ信号に変換される。このアナログビデオ信号
は、ライン状照明25が耳部7において反射され
ることによつて強度変調された信号で、その出力
電圧Vを縦軸に、そして時間tを横軸にとると、
第4図Aのような波形となる。なおこの場合、時
間tはラインセンサ23の走査時間、すなわちラ
イン状照明25の幅方向の座標に対応することに
なる。第4図において、時間tが0からt1まで
の間は、ローラ18の表面18aからの反射光出
力で非常に微弱であるが、時間t1から時間t1
から時間t2までの間は、感光フイルム2の感光
剤層1からの反射光出力となつて、Va以上の出
力電圧が得られるようになる。さらに時間t2〜
t3の間では、感光剤層1の領域から外れたベー
スフイルム面からの反射出力となつて、その出力
電圧はVb以上となり、時間t3以降ではローラ
18の表面18aからの反射光出力になる。な
お、ローラ18の表面18aからの反射を低く抑
えることによつて、検査出力光の弁別が確実にな
りSN比が向上する。
そこで前記アナログビデオ信号の波形パターン
と、予め設定した標準的な波形パターンとを比較
することによつて、その差異から塗布ムラ等の欠
陥を検出することができる。この実施例では、ア
ナログビデオ信号を二値化することによつて、耳
部と塗布部とを識別し、かつラインセンサ23の
読み出し用走査信号をカウントすることで、耳部
分と塗布部の幅を求め、予め設定した標準的な幅
と比較することで、欠陥の有無を判定している。
アナログビデオ信号は、2値化回路として作用す
るコンパレータ31,32に入力される。コンパ
レータ31の閾値レベルは、抵抗31aを調整す
ることによつて、第4図におけるVaにセツトさ
れ、他方のコンパレータ32では、抵抗32aの
調整でVbにセツトさている。従つて、コンパレ
ータ31,32に第4図Aのアナログビデオ信号
が入力されると、コンパレータ31,32の出力
はそれぞれB,Cのように2値化(デジタル化)
される。そして、この2値化された信号はCPU
33に入力され、ラインセンサー23の走査信号
を参照して耳部と塗布部の幅がそれぞれ算出され
る。CPU33には、さらに耳部7の送り信号が
供給される。このため、例えばフイーダローラ1
3(第1図参照)を駆動する駆動ローラ34の回
転速度を検出する検出器36からの信号が利用さ
れる。なお、ステツピングモータによつて、各ロ
ーラを駆動する場合には、モータに供給されるパ
ルス列をCPU33に入力すればよい。
CPU33は、前述した各入力信号に基づいて
演算処理を行い、欠陥と判定された場合には、ブ
ザー37によつて警告したり、あるいはプリンタ
38やフロツピイデイスク39に、異常があつた
ことを感光フイルム2の送り情報と共に記録する
ようになつている。
〔実施例の作用〕
上記構成によれば、感光フイルム2の両側縁か
ら裁断されてくる耳部7を監視することによつ
て、製品化される感光フイルム2の中央部分8,
9の表面状態を自動検査できるようになる。この
ためには、まずCPU33に「D」、「S」入力部
40を介して、第2図における「D」の値、「S」
の値を入力する。この「D」の値は、感光フイル
ム2の両側縁から裁断される耳部7の幅寸法であ
り、また「S」の値は、耳部7における感光剤1
の塗布領域の標準的な幅寸法であり、これらによ
つて標準的なサンプルが設定される。次ぎに、コ
ンパレータ31,32の抵抗31a,32aを調
整して、第4図AにおけるVa,Vbを設定する。
以上の操作によつて、測定準備が完了し、続いて
検出光学系20を作動させればよい。
感光フイルム2の裁断工程と並行し、実時間で
得られる測定幅は、前述のようにして設定された
標準的サンプルのもつ適正値と比較される。そし
て、第5図に例示したように、アナログビデオ信
号がF1の波形である場合には、コンパレータ3
1,32の出力は図示の形態となつて、標準サン
プルのものと等しくなるので欠陥個所なしと判定
できる。
例えば、感光フイルム2の耳部7に巻しわ部1
5(第1図参照)があると、ライン状照明25が
乱反射されるので、全体的に検査出力光の光量が
低下し、第5図中のF2のようなアナログビデオ
信号となる。従つて、コンパレータ31,32か
らの出力は対応図示したような形になり、欠陥が
あることを簡単に検出できることになる。また、
第5図におけるF3,F4は、それぞれ感光剤1
がフイルムベース裏面側まで回つている裏回り部
16、膜切れ部17(いずれも第1図参照)があ
つた場合の、各信号波形を示している。感光フイ
ルム2の長手方向における欠陥個所の位置を特定
するためには、感光フイルム2あるいは耳部7の
送り信号(いずれも等しい)が用いられる。そし
て、欠陥個所が検出された場合には、前記送り信
号に基づいて、その位置情報がCPU33から出
力され、プリンタ38やフロツピイデイスク39
を介して記録される。なお、第5図から明らかな
ように、欠陥の種類に応じて各コンパレータ3
1,32からの出力が異なるので、その欠陥の種
類も識別できることになる。なお、欠陥個所が検
出された際、CPU33からはその欠陥個所の位
置信号も得られることから、この信号を利用する
ことにより、感光フイルム2側に別設された裁断
器の作動を制御すれば、欠陥個所の自動排除を行
つたり、検査対象が例えばシート状フイルムの場
合には、不良シートの自動振り分けも可能とな
る。
以上、図面を参照しながら本発明の一実施例に
ついて説明してきたが、本発明は必ずしもこれに
限定されるものではない。例えば、検査光学系2
0の照明部21として、螢光灯やランプなどの一
般光源を、赤外線透過フイルタと組み合わせて利
用したり、回転多面鏡で光線を走査することによ
つてライン状照明を行うようにしてもよい。な
お、回転多面鏡を利用する場合には、検査出力光
をフオトマルで受光するようにするのが通常であ
るので、ライン状照明の幅位置は回転多面鏡の駆
動信号から抽出することになる。また、感光フイ
ルム2から裁断される耳部7は、製品として使用
されることがないので、製品として利用される中
央部分から遮光して隔離した部位に耳部7を導い
ておけば、可視光を用いた検査を行うことも可能
である。なお上述の各光学検査は、反射式のみな
らず透過式であつて等しく適用できるのはもちろ
んである。
さらに、上記実施例では感光フイルムの両側縁
から耳部を裁断し、その両者を検査することを前
提にしているが、例えば一方の側縁部のみを検査
し、他方の側縁についてはかなり余裕をもつて裁
断除去してしまうような態様にも、本発明は適用
可能である。また、検査対象としてもロールフイ
ルムだけでなく、シートフイルムであつてもよ
い。
〔発明の効果〕
上述のように、本発明によれば、感光フイルム
から裁断除去される耳部を、その裁断工程と並行
して光学検査するようにしたので、製品化される
部分に影響を与えることなく異常個所を実時間で
検出できるようになり、その対応が迅速化される
と共に、安定した検査精度を維持できることにな
る。そして、検査が自動化されることに伴い、異
常個所の検出に応じて、その部分を自動的に選別
除去することにも容易に対応できるようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例を示す斜視図であ
る。第2図は、本発明に利用されるライン状照明
の照明位置を示す説明図である。第3図は、本発
明に利用される電気回路の一例を示すブロツク図
である。第4図は、本発明において標準とされる
信号波形の一例を示すチヤート図である。第5図
は、欠陥個所を含む信号波形の一例を示すチヤー
ト図である。 1……感光剤層、2……感光フイルム、5……
裁断刃、7……耳部、18……ローラ、20……
検査光学系、21……照明部、23……ラインセ
ンサ、25……ライン状照明、30……画像処理
回路、31,32……コンパレータ、33……
CPU。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 所定幅の耳部の途中まで、感光剤が塗布され
    た感光フイルムの表面を検査する方法において、 前記感光フイルムの搬送中に裁断され、中央部
    分から離されて送られてくる耳部の少なくとも一
    方に対して、その幅方向にライン状の光を照射
    し、この光が耳部表面で強度変調されることによ
    つて得られる検査出力光を測定し、この測定によ
    る波形パターンと予め設定した標準的な波形パタ
    ーンとを比較することによつて、中央部分の表面
    状態を判定することを特徴とする感光フイルムの
    表面検査方法。 2 前記検査出力光は、耳部からの反射光である
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の感
    光フイルムの表面検査方法。 3 所定幅の耳部の途中まで、感光剤が塗布され
    た感光フイルムの表面を検査する装置において、 前記感光フイルムの搬送中に裁断され、中央部
    分から離されて送られてくる耳部の少なくとも一
    方に、その幅方向にライン状の光を照射するライ
    ン状の投光部と、この光が耳部表面で強度変調さ
    れることによつて得られる検査出力光を受光して
    アナログビデオ信号を発生するラインセンサ受光
    部と、感光フイルムの送り速度を検出するための
    送り速度検出器と、耳部の幅と感光剤の塗布幅を
    指定することによつて、標準的幅を設定するため
    の入力部と、アナログビデオ信号の波形から耳部
    の幅と塗布幅とを求め、これらの測定幅と標準的
    幅とを比較することによつて欠陥の有無を判定
    し、そして送り速度から欠陥が存在する中央部分
    の送り方向での位置を特定するための制御手段と
    からなることを特徴とする感光フイルムの表面検
    査装置。
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Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01140160U (ja) * 1988-03-18 1989-09-26
US5113081A (en) * 1990-12-27 1992-05-12 Eastman Kodak Company Web inspection system and method with exposure, detection and sampling means
US5164603A (en) * 1991-07-16 1992-11-17 Reynolds Metals Company Modular surface inspection method and apparatus using optical fibers
US5389789A (en) * 1992-05-20 1995-02-14 Union Camp Corporation Portable edge crack detector for detecting size and shape of a crack and a portable edge detector
FR2736286B1 (fr) * 1995-07-07 1997-08-22 Kodak Pathe Dispositif et procede pour optimiser un parametre donne d'un processus d'enduction d'une composition liquide sur un support
JP3527330B2 (ja) * 1995-09-22 2004-05-17 富士写真フイルム株式会社 写真フイルムの製造方法及び装置
US5726749A (en) * 1996-09-20 1998-03-10 Libbey-Owens-Ford Co. Method and apparatus for inspection and evaluation of angular deviation and distortion defects for transparent sheets
JP2002033098A (ja) * 2000-07-18 2002-01-31 Nisshinbo Ind Inc 電極用原反のスリッタ及び切断方法
FR2813957B1 (fr) * 2000-09-11 2003-02-07 Eastman Kodak Co Machine d'analyse de la proprete de bandes transparentes perforees
US6542240B2 (en) * 2001-03-30 2003-04-01 Alcan International Limited Method of identifying defective roll on a strip processing line
TWI239817B (en) * 2002-12-20 2005-09-21 Japan Tobacco Inc Rolling paper inspection device and tobacco rolled up device
WO2005072265A2 (en) * 2004-01-22 2005-08-11 Wintriss Engineering Corporation Illumination system for material inspection
JP6049177B2 (ja) * 2012-09-19 2016-12-21 株式会社小森コーポレーション シート状物の検査装置
KR101741224B1 (ko) * 2015-05-08 2017-05-30 주식회사 한성시스코 타이어 보강벨트의 텍스타일 코드 개수 검사장치

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2057675B (en) * 1979-07-20 1983-11-16 Hitachi Ltd Photoelectric detection of surface defects
JPS6333160Y2 (ja) * 1980-09-27 1988-09-05
JPS5863838A (ja) * 1981-10-14 1983-04-15 Fuji Electric Co Ltd 欠陥検出回路
JPS5867093A (ja) * 1981-10-19 1983-04-21 株式会社東芝 印刷回路基板検査方法及びその装置
US4432013A (en) * 1981-11-23 1984-02-14 Owens-Illinois, Inc. Method and apparatus for comparing data signals in a container inspection device
US4553838A (en) * 1982-04-15 1985-11-19 Eaton Corporation Optical inspection system

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Publication number Publication date
US4709157A (en) 1987-11-24
JPS6147542A (ja) 1986-03-08

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