JPH0452690Y2 - - Google Patents

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JPH0452690Y2
JPH0452690Y2 JP3020082U JP3020082U JPH0452690Y2 JP H0452690 Y2 JPH0452690 Y2 JP H0452690Y2 JP 3020082 U JP3020082 U JP 3020082U JP 3020082 U JP3020082 U JP 3020082U JP H0452690 Y2 JPH0452690 Y2 JP H0452690Y2
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JP
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liquid crystal
crystal display
transparent
display element
terminal
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JP3020082U
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JPS58135721U (ja
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  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は、透明電極を有する液晶表示素子の
試験装置に関する。
従来、透明電極aを有する液晶表示素子bの規
格試験を実施するには、第1図イに示すように一
層構造のものについては、クリツプcの端子c1
でコモン電極dを掴み、他のクリツプeの端子e
1を液晶表示素子bの透明電極aの面に手により
個別に順次接触させて試験を繰り返し実施してい
た。また、第1図ロに示すように二層構造の場合
には、表面層の試験を終えた後、裏面電極fへも
同様にして順々に接触させて試験を行なつてい
た。
しかしながら、このような従来の方法では、端
子の数が多くかつ小さいので、作業時間が多くか
かり能率が極めて悪く、特に二層式で表裏に電極
があるものに対しては煩雑である。しかも接触が
不安定になり勝ちのため試験ミスが生じやすい。
そのうえ透明電極のため電極の目視確認が行ない
にくいため、目ばかりでなく神経も疲労し、電極
面に傷や汚れが付きやすいなど、作業性が悪く不
良品を発生することも多いという不都合があつ
た。
この考案は、叙上の問題点に着目してなされた
もので、液晶表示素子の透明電極に当接される伸
縮自在で、かつ、接触面が円形平面の接触ピンを
複数個該液晶表示素子の透明電極に対応する位置
にソケツトを用いて交換可能に取り付けた透明ア
クリル等の透明絶縁体からなる第一の端子板と、
前記液晶表示素子の位置決めガイドと、該液晶表
示素子の裏面電極に対応する位置に接触ピンをソ
ケツトを用いて交換可能に取り付けた透明アクリ
ル等の透明絶縁体からなる第二の端子板とを備
え、該第二の端子板は、前記第一の端子板に対面
して上下動可能に設けられ、前記取り付けた接触
ピンの先端の接触面が上下摺動可能な取付穴を有
し、かつ、前記両端子板の所要箇所に目視試験用
の窓を貫通して設け、前記液晶表示素子の複数個
の透明電極に対応した各々の前記接触ピンを上下
から透明電極に当接して試験する構成にして、こ
れらの問題点を解決することを目的としている。
以下、この考案の一実施例を第2図以下に基い
て説明する。
1は、さきに本出願人が出願した実願昭56−
176740号の考案と略同型の昇降機構を備えた接続
装置を利用した液晶表示素子b(以下「セル」と
云う)試験装置で、基台2に立設された縦軸3,
4の上端部に上板5が水平に固着され、中間に下
板6が縦軸3,4を案内棒として上下動可能に設
けられており、下板6の上限の位置は上板5に貫
通して螺入されたストツプ調整ピン7と、これに
対応して下板6の上面に立設されたストツパ8と
によつて調整される。上板5及び下板6の前部に
は透明アクリル製絶縁体の第一の端子板9と第二
の端子板10が対面してそれぞれ取り付けられて
いる。上板5に固着の端子板9には被試験用セル
b表面の複数個の透明電極aに対応した位置に先
端が円形平面で、かつ、伸縮自在な接触ピン11
をソケツト11aを用いて下向きに配設し、該ソ
ケツト11aのつば部11bを端子板9に止めて
前記接触ピン11を固定してある。
一方、下板6に固着の端子板10にも同様にセ
ルbの裏面電極fに対応した位置に接触ピン12
がソケツト12aを用いて上向きに配設してある
が、その取付方法は、端子板10表面に、ソケツ
ト12aのつば部12bの外径部が該端子板10
の中間に固定されるよう穴13を刻設してあり、
接触ピン12の先端太径部12cの一部が穴13
の外へ出て待機しており裏面電極fに当接すると
き穴13の内面を上下に摺動し、横方向への前記
ピン12の位置ずれを防ぐようになつている。さ
らに、端子板10の表面には、セルbの載置位置
設定のための透明アクリル製の帯状長方形をした
ガイド14とコの字型のガイド15とが貼設して
ある。
なお、端子板9,10及び基台2にはセルbの
体裁面b1(表示面)の面積に対応する箇所に長
方形で垂直面を同一にするようにくり抜かれた目
視試験用の窓9a,10a,2aがそれぞれ貫設
してあり点灯試験時における上からの目視を容易
にし、また透過式のセルbに対し基台2の裏面か
ら電灯16により照明することによつて試験でき
る構造となつている。
次に作用について述べると、まず、セルbをガ
イド14,15の間に載置し、実願昭56−176740
の考案と同じ操作によつて下板6を上昇させると
予め調整されているストツプ調整ピン7とストツ
パ8とにより上限位置に停止するが、このとき、
上下に配設されている接触ピン11,12の先端
平面部がセルbのそれぞれに対応する透明電極a
及び裏面電極fのすべてに面接触している。そこ
で予め結線しておいた測定器(図示せず)を用い
て所定の規格試験を実施する。
以上述べてきたように、この考案によれば、液
晶表示素子の透明電極に当接される伸縮自在で、
かつ、接触面が円形平面の接触ピンを複数個該液
晶表示素子の透明電極に対応する位置にソケツト
を用いて交換可能に取り付けた透明アクリル等の
透明絶縁体からなる第一の端子板と、前記液晶表
示素子の位置決めガイドと、該液晶表示素子の裏
面電極に対応する位置に接触ピンをソケツトを用
いて交換可能に取り付けた透明アクリル等の透明
絶縁体からなる第二の端子板とを備え、該第二の
端子板は、前記第一の端子板に対面して上下動可
能に設けられ、前記取り付けた接触ピンの先端の
接触面が上下摺動可能な取付穴を有し、かつ、前
記両端子板の所要箇所に目視試験用の窓を貫通し
て設け、前記液晶表示素子の複数個の透明電極に
対応した各々の前記接触ピンを上下から透明電極
に当接して試験する構成としたので、一層構造、
あるいは二層構造いずれの液晶表示素子に対して
も極めて簡単な操作により各電極に接触ピンを同
時に確実に等圧に面接触させて接続することがで
きるため、電極の目視確認が不要となり目や神経
の疲れることもなく、同一製品を複数個試験した
場合、短時間で試験が可能となり大幅な能率向上
が図れるばかりか、傷や汚れの発生を防止できる
ので品質も向上するという効果がある。なお、端
子板は透明アクリル板を用いるため加工が容易で
しかも値が安く、簡単な取り替えで種々の液晶表
示素子にも対処することができ、また、透過式及
び反射式いずれの素子にも応用できるという利点
もある。
さらにまた、接触ピンの交換もソケツトの活用
により簡単なので、常に最良の状態を維持するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図イは、一層構造の液晶表示素子の従来の
試験方法を示す斜視図、図ロは、二層構造の液晶
表示素子の斜視図、第2図は、この考案の液晶表
示素子試験装置の全容を示す側面図、第3図は、
この考案の主要部の側面図、第4図は、下板に装
備の端子板に液晶表示素子を載置した平面図であ
る。 a……透明電極、b……液晶表示素子、f……
裏面電極、1……液晶表示素子試験装置、9……
端子板、9a……窓、10……端子板、10a…
…窓、11……接触ピン、12……接触ピン、1
2c……太径部、13……穴、14……ガイド、
15……ガイド。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 液晶表示素子の透明電極に当接される伸縮自在
    で、かつ、接触面が円形平面の接触ピンを複数個
    該液晶表示素子の透明電極に対応する位置にソケ
    ツトを用いて交換可能に取り付けた透明アクリル
    等の透明絶縁体からなる第一の端子板と、前記液
    晶表示素子の位置決めガイドと、該液晶表示素子
    の裏面電極に対応する位置に接触ピンをソケツト
    を用いて交換可能に取り付けた透明アクリル等の
    透明絶縁体からなる第二の端子板とを備え、該第
    二の端子板は、前記第一の端子板に対面して上下
    動可能に設けられ、前記取り付けた接触ピンの先
    端の接触面が上下摺動可能な取付穴を有し、か
    つ、前記両端子板の所要箇所に目視試験用の窓を
    貫通して設け、前記液晶表示素子の複数個の透明
    電極に対応した各々の前記接触ピンを上下から透
    明電極に当接して試験する構成としたことを特徴
    とする液晶表示素子試験装置。
JP3020082U 1982-03-05 1982-03-05 液晶表示素子試験装置 Granted JPS58135721U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3020082U JPS58135721U (ja) 1982-03-05 1982-03-05 液晶表示素子試験装置

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JP3020082U JPS58135721U (ja) 1982-03-05 1982-03-05 液晶表示素子試験装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58135721U JPS58135721U (ja) 1983-09-12
JPH0452690Y2 true JPH0452690Y2 (ja) 1992-12-10

Family

ID=30041947

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3020082U Granted JPS58135721U (ja) 1982-03-05 1982-03-05 液晶表示素子試験装置

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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0810174B2 (ja) * 1987-11-10 1996-01-31 東京エレクトロン株式会社 液晶表示体の検査装置
JPH0627711B2 (ja) * 1988-02-09 1994-04-13 東京エレクトロン株式会社 検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS58135721U (ja) 1983-09-12

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