JPH0449740B2 - - Google Patents

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JPH0449740B2
JPH0449740B2 JP11822284A JP11822284A JPH0449740B2 JP H0449740 B2 JPH0449740 B2 JP H0449740B2 JP 11822284 A JP11822284 A JP 11822284A JP 11822284 A JP11822284 A JP 11822284A JP H0449740 B2 JPH0449740 B2 JP H0449740B2
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liquid metal
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capillary
sintered
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Satoshi Haraichi
Hiroshi Yamaguchi
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Hitachi Ltd
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/06Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は液体金属イオン源に係り、特に、加熱
効率が高く、イオン化物質の蒸散を抑制すること
ができ、しかも熱応力によつて破損する虞れの無
いように改良した液金属イオン源、及びその製造
に好適な方法に関するものである。
〔発明の背景〕
従来のマイクロイオンビーム装置において、イ
オン源として広く用いられてきた、ニードル型の
液体金属イオン源を第1図に示す。イオン源チツ
プ1はタングステン(以下Wと略記する)フイラ
メント2及びその先端にWニードル4を有する。
加熱電源6によつてWフイラメント2を直接加熱
し、その上にのせたイオン化物質3を溶融し、W
ニードル4の先端を溶融したイオン化物質3でぬ
らす。この状態でWニードル4と引出し電極5と
の間に、引出し電源7によつて電圧を印加しWニ
ードル4の先端からイオン化物質3をイオンビー
ムとして引出す。第2図は前記のWニードル4付
近の拡大断面詳細図である。Wフイラメント2の
先に先端の鋭く尖つたWニードル4を設け、溶融
したイオン化物質3で先端部までぬらす。ところ
が、こうした構造ではイオン化物質3を周囲に露
出した状態でWフイラメント2上にのせているた
めに、イオン化物質3の蒸発を抑制することは不
可能であり、高蒸気圧のイオン化物質を長時間に
わたつて安定して引出すことは困難であつた。ま
た加熱方法がWフイラメント2に電流を流す直接
加熱であるために、高融点のイオン化物質を安定
して溶融し続けるのに充分な加熱効率を得ること
も困難であつた。
上記の様なニードル型の液体金属イオン源の持
つ欠点を補うものとして、従来考案されているイ
オン源として、キヤピラリーニードル型液体金属
イオン源(第3図)が有る。Wニードル4の周囲
にWあるいはセラミツクのキヤピラリー8を設
け、キヤピラリー8とニードル4の間の密閉され
た隙間を通して、イオン化物質3をニードル4の
先端に供給する。このキヤピラリーニードル型イ
オン源は、イオン化物質3を密閉された空間内で
溶融するため、イオン化物質3の蒸発を抑制する
ことはできるが、キヤピラリー8に熱を奪われる
ため加熱効率は非常に悪いものであつた。
加熱効率を改善した公知のキヤピラリーニード
ル型イオン源を第4図に示す。第3のキヤピラリ
ーニードル型液体金属イオン源におけるセラミツ
クのキヤピラリー8の周囲に加熱用のフイラメン
ト9を設けたものである。これは、フイラメント
9によりキヤピラリー8を直接的に加熱すること
によつて加熱効率の向上を計つたものであるが、
実際はフイラメント9とキヤピラリー8とは線接
触しかしないため、わずかしか加熱効率は向上し
ない。またフイラメント9をキヤピラリー8の内
部に埋め込んで、加熱効率の向上を計つたイオン
源の場合、Au等の非常に高融点のイオン化物質
に適用した時、フイラメント9とキヤピラリー8
を構成する物質の熱膨脹率の差によつて、イオン
源の構造が破壊されるという問題が生じる。
上記いずれの公知例においても、高融点高蒸気
圧のイオン化物質に対応する上で要求される条
件、すなわち加熱効率が高く高融点の物質を溶融
できること、及びイオン化物質の蒸発を抑制でき
ること、の2点を満足できておらず、マイクロイ
オンビーム技術を改質、成膜、修正等の分野に広
く応用していく上で克服しなければならない、重
要な技術的課題となつていた。なお、この種のイ
オン源については1979年、米国ベル研究所発行の
文献(Journal Of Vacum Science And
Technology,16(6)Nov/Dec 1979)においてワ
グナー(Wagner)及びホール(Hall)がリキツ
ドゴールドソース(Liquid Gold Source)と題
して論じている。
〔発明の目的〕
本発明は上述の事情に鑑みて為され、加熱効率
が高く、イオン化物質の蒸散を抑制することがで
き、しかも熱応力によつて破損する虞れの無い液
体金属イオン源、及びその製造に好適な方法を提
供しようとするものである。
〔発明の概要〕
上記目的を達成する為、本発明の液体金属イオ
ン源は、熱膨脹率をほぼ等しくする導電性の焼結
部材と電気絶縁性の焼結部材とを用いて金属イオ
ン源を構成し、かつ、上記双方の焼結部材の少な
くとも一部分を相互に連設して一体を成形し、前
記導電性の焼結部材に通電して発熱させ、この発
生熱が該導電性焼結部材と一体成形された電気絶
縁性焼結部材に伝導して溶融金属を加熱するよう
に構成したことを特徴とする。
また、本発明の液体金属イオン源製造方法は、
焼結によつて電気絶縁性の固形部材となるように
絶縁体粒子を練り合わせたペースト(絶縁ペース
ト)を構成すると共に、焼結によつて前記の電気
絶縁性固形部材とほぼ等しい熱膨脹率を有する導
電性固形部材となるように導電性粒子と絶縁体粒
子とを練り合わせたペースト(導電ペースト)を
構成し、共通の型の中に前記絶縁ペーストと導電
ペーストとを入れて一緒に焼結して、導電性焼結
部材と絶縁性焼結部材とが一体成形されたイオン
源用部材を構成することを特徴とする。
〔発明の実施例〕
本発明の液体金属イオン源について、第5図以
降を参照しつつ、実施例を順次に6例説明し、併
せて本発明の製造方法を述べる。
実施例 1 第5図は第1の実施例の断面図、第6図は同実
施例の斜視図である。
Wニードル4の周囲にセラミツクのキヤピラリ
ー8を設け、Wニードル4とキヤピラリー8の間
の密閉された隙間を通して、イオン化物質3を供
給する点は従来のキヤピラリーニードル型イオン
源と同様である。本実施例においてはキヤピラリ
ー8の周囲に、W粒子を混入して焼結した導電性
のあるセラミツク10(以下Wセラミツクと記述
する)によつて加熱用ヒータのパターンを形成し
てある。加熱用ヒータのパターンの一例を第6図
に示すが、次にこのパターンの形成方法を説明す
る。セラミツクのキヤピラリー8の周囲にセラミ
ツクのペーストでヒータパターン形状の溝を設
け、この溝をWセラミツクのペーストで充填して
焼結することにより、隙間をセラミツク11で絶
縁されたWセラミツク10のヒータパターンを形
成する。ここでWセラミツクとセラミツクの熱膨
脹率がほぼ等しくなる様に、Wセラミツクにおけ
るW粒子とセラミツク粒子の混合比を決めること
が重要である。
セラミツク材料としてAl2O3を用いた場合、
W100%に対してAl2O3を10%(重量比)混合し
た焼結体では、Wの熱膨脹率(100%)に対して
熱膨脹率が8%変化し、Al2O3の熱膨脹率に接近
する。
その上、Al2O3の混合率を変化させると熱膨脹
率はこれにほぼ比例して変化するので、前記の混
合焼結部材の熱膨脹率をAl2O3の熱膨脹率とほぼ
等しからしめることは別段の困難を伴わない。
上述のようにして両者の熱膨脹率をほぼ等しか
らしめることにより、焼結の際のパターン形状の
変形を小さく抑えることができ、さらにはWセラ
ミツクヒータに高温を発生させた時のキヤピラリ
ーの破壊を防ぐことができる。上記の方法により
製造した、加熱用ヒーター体型のキヤピラリーに
おいては、Wセラミツクのヒータはその周囲の大
半をキヤピラリーに接しているため、加熱効率は
非常に高く、電源12によつてWセラミツクヒー
タ10に電流を流して、高融点イオン化物質を安
定して溶融し続けるに充分な熱量を得ることがで
きる。またWセラミツクのヒータパターンの周囲
をさらにセラミツクの層で覆いヒータからの輻射
熱を閉じ込めることもでき、これによつて加熱効
率はさらに向上する。
実施例 2 第7図は第2の実施例の断面図と示す。本実施
例においてはキヤピラリー8の周囲に形成するW
セラミツクの層10′を円筒状に構成する。
上記Wセラミツク層10′の周囲に、Wセラミ
ツク層10′よりも大径のコイル状フイラメント
13を設け、Wセラミツク層10′とフイラメン
ト13との間に電圧を印加するための電源14を
設ける。Wセラミツクは導電性があるので、他の
導電体との間に電圧を印加することによつて、そ
の間の空間に電場を生成することができる。従つ
て本実施例では、加熱されたフイラメント13と
Wセラミツク層10′との間に電源14により電
圧を印加して、フイラメント13で発生する熱電
子をWセラミツクの層10′に照射することによ
つて、電子線衝撃加熱を行う。Wセラミツクの層
10′とセラミツクキヤピラリー8とはその境界
面全面で接触しており、加熱効率は非常に高い。
実施例 3 第3の実施例について第8図を用いて説明す
る。本実施例が前記の実施例2と異なるところ
は、キヤピラリー8の最下端部に該キヤピラリー
8と一体的に連設してWセラミツクのコントロー
ル電極15を設けたものである。Wセラミツクは
セラミツクと全く同様に焼結可能であるので、キ
ヤピラリー8及びコントロール電極15と一体と
なつた型の中にWセラミツク及びセラミツクのペ
ーストを各部に充填して焼結し、上記の構造を形
成する。すなわち、キヤピラリー8に相当する部
分にセラミツクのペーストを充填するとともに、
電極15に相当する部分にWセラミツクのペース
トを充填して一体に成形し、これを焼結して固化
させる。本例は、イオンビームを引出す際に、コ
ントロール電極15に電源16から適当な電位を
与えて、コントロール電極15と引出し電極5と
の間に一様な電場を生成することによつて、イオ
ンビームのエミツシヨンを安定化する。キヤピラ
リーの加熱方法としては、第1の実施例あるいは
第2の実施例のどちらを用いてもよいが、第2の
実施例を用いた場合フイラメント13からの熱電
子が、コントロール電極15の生成する電場によ
つて、その軌道を曲げられる虞れが有るので、こ
れを防止する手段を併設することが望ましい。
実施例 4 第4の実施例について第9図及び第10図を用
いて説明する。本実施例はニードル4′の側面に
イオン化物質3の流路を形成するために、突条の
パターン17を設けたものである。この突条パタ
ーン17の外径と等しい内径を有するキヤピラリ
ー8を構成して、該キヤピラリーの中にニードル
4′を嵌合すると(第10図参照)、イオン化物質
(溶融金属)3は数本に分割された縦方向(第1
0図において紙面と垂直)を通つて先端部に供給
される。従つて、加熱効率が向上し、毛細管現象
の効果も加わつて、イオン化物質3は安定して先
端部に供給される。次に突条パターン17の形成
方法を説明する。Wセラミツクのニードル4の周
囲に、昇華性のあるパラフイン等の高分子化合物
で突条パターン17の型を形成して、その隙間を
Wセラミツクペーストで充填する。Wセラミツク
ペーストを焼結すると同時に高分子化合物は昇華
し、その結果突条パターン17が形成される。
実施例 5 第5の実施例について第11図を用いて説明す
る。高蒸気圧のイオン化物質に対応するイオン源
として、従来キヤピラリーニードル型イオン源の
他に含浸電極型イオン源が公知である。含浸電極
型イオン源とはキヤピラリーの先端につけられ
た、微小な毛細管構造をもつ導電体をエミツタと
して用いるもので、イオン化物質は密閉されたキ
ヤピラリー内部から、毛細管を通して外部にしみ
出すことによつて供給され、エミツタ先端からイ
オンビームとして引出される。本実施例はエミツ
タ部をWセラミツクにより形成するとともに、キ
ヤピラリーに第1の実施例と同様の加熱用ヒータ
パターンを設けた含浸電極型イオン源である。
本実施例の装置(第11図)を構成する場合、
その含浸電極、即ち、毛細管構造を有する多孔質
の導電物質で形成された針状の部材であるニード
ル18を次記のようにして製造する。
ニードル18を形成すべきWセラミツクを焼結
する際に、Wとセラミツクとの極端に大きさの異
なる粒子(例えば10倍程度大きさの異なる粒子)
を互いに混合して用いることにより、多数の微小
な毛細管を有する多孔質のWセラミツク(以下毛
細管Wセラミツクと記述する)を形成することが
できる。従つてセラミツクキヤピラリー8の先端
に毛細管Wセラミツクのニードル18を、側面に
Wセラミツクのヒータパターン10を同時に焼結
して一体成形することができる。本実施例によれ
ば、Wセラミツクヒータによる加熱効率が高いこ
と、イオン化物質3が完全に密閉されたキヤピラ
リー8の内部から供給されること等の利点があ
り、高融点高蒸気圧のイオン化物質に適用するイ
オン源として最適である。
実施例 6 第6の実施例を第12図に示す。この実施例
は、前記第5の実施例(第11図)を次の如く改
良したものである。
毛細管Wセラミツクのニードル18の周囲を覆
うためのセラミツクのカバー19を、セラミツク
キヤピラリーと一体化して設ける。毛細管Wセラ
ミツクのニードル18はその最先端部のみが外部
に露出する。毛細管Wセラミツクのニードル18
とセラミツクカバー19との間には非常に狭い隙
間20が形成してあり、イオン化物質3は完全に
密閉されたキヤピラリー8の内部から毛細管を通
して、ニードル18の表面にしみ出した後、隙間
20に満たされながらニードル18の先端部に供
給される。第5の実施例の場合、ニードル18の
表面にしみ出したイオン化物質3は、ニードル1
8の全表面から蒸発していくのに対して、本実施
例ではニードル18の最先端部のみが外部に露出
しているために、イオン化物質3の供給量に対す
る蒸発量の比は非常に小さく、さらに高蒸気圧の
イオン化物質に適用可能である。次に本実施例に
おけるセラミツクカバー19の形成方法を説明す
る。毛細管Wセラミツクニードル18を形成した
後、その表面及び先端部を覆うように昇華性高分
子化合物の薄い層を作り、さらに外側にセラミツ
クペーストでカバー19となる層を形成する。上
記のセラミツクペーストを焼結すると同時に高分
子化合物は昇華し、その結果セラミツクカバー1
9及び隙間20が形成される。
前述の各実施例におけるが如くWセラミツクの
ペーストを焼結することによつて、任意の形状の
導電体を形成することが可能であり、しかも絶縁
体のセラミツク部分と熱膨脹率をほぼ等しくする
ことによつて、イオン源構造全体の一体成形が可
能となる。さらに微小な毛細管構造をもつ導電体
の形成も可能であり、従つてキヤピラリーニード
ル型イオン源や含浸電極型イオン源等の液体金属
イオン源を最適形状に一体成形することが可能で
ある。以上のようにして得られた最適形状を有す
る液体金属イオン源は、加熱効率が高くイオン化
物質の蒸発も抑制できるので、Au等の高融点高
蒸気圧のイオン化物質を長時間安定して引出すこ
とができる。こうした特性はマイクロイオンビー
ム技術の進歩に貢献するところが大きく、サブミ
クロンの分野における電子部品の成膜、修正等広
範囲の応用が期待される。
〔発明の効果〕
以上詳述したように、本発明の液体金属イオン
源は加熱効率が高く、イオン化物質の蒸散を抑制
することができ、しかも熱応力によつて破損する
虞れが無いという優れた実用的効果を奏する。
また、本発明の製造方法によれば、上記の液体
金属イオン源を容易に低コストで製造することが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は従来のニードル型液体金属
イオン源の模式図、第3図及び第4図は従来のキ
ヤピラリーニードル型液体金属イオン源の模式
図、第5図及び第6図は本発明の第1の実施例を
示す模式図、第7図は本発明の第2の実施例を示
す模式図、第8図は本発明の第3の実施例を示す
模式図、第9図及び第10図は本発明の第4の実
施例を示す模式図、第11図は本発明の第5の実
施例を示す模式図、第12図は本発明の第6の実
施例を示す模式図である。 1……イオン源チツプ、2……Wフイラメン
ト、3……イオン化物質、4,4′……Wニード
ル、5……引出し電極、8……キヤピラリー、9
……フイラメント、10……Wとセラミツクの混
合粒子を焼結して形成した加熱用ヒータ、10′
……Wとセラミツクの混合粒子を焼結して形成し
た円筒電極、13……熱電子放出用フイラメン
ト、15……Wとセラミツクの混合粒子を焼結し
て形成したコントロール電極、17……ニードル
の周囲に管路を形成するための突条パターン、1
8……Wとセラミツクの大きさの異なる混合粒子
を焼結して形成した、微小な毛細管構造を有する
ニードル、19……セラミツクカバー、20……
イオン化物質が通る狭い〓間。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 熱膨脹係数をほぼ等しくする導電性の焼結部
    材と電気絶縁性の焼結部材とを用いて金属イオン
    源を構成し、かつ、上記双方の焼結部材の少なく
    とも一部分を相互に連設して一体に成形し、前記
    導電性の焼結部材に通電して発熱させ、この発生
    熱が該導電性焼結部材と一体成形された電気絶縁
    性焼結部材に伝導して溶融金属を加熱するように
    構成したことを特徴とする液体金属イオン源。 2 前記の金属イオン源はキヤピラリーニードル
    型のイオン源構造であることを特徴とする特許請
    求の範囲第1項に記載の液体金属イオン源。 3 前記のキヤピラリーニードル型構造のイオン
    源構造のキヤピラリーは、電気絶縁性の焼結部材
    で構成した管状部分の外周に導電性焼結部材で構
    成した抵抗発熱パターンを一体に成形したもので
    あることを特徴とする特許請求の範囲第2項に記
    載の液体金属イオン源。 4 前記のキヤピラリーニードル型構造のイオン
    源構造のキヤピラリーは、電気絶縁性の焼結部材
    で構成した管状部分の外周面に導電性焼結部材で
    構成した熱電子集中電極を一体に成形し、電子線
    衝撃加熱を受けるように構成したものであること
    を特徴とする特許請求の範囲第2項に記載の液体
    金属イオン源。 5 前記の金属イオン源は、含浸電極型のイオン
    源構造であることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項に記載の液体金属イオン源。 6 前記の含浸電極型イオン源構造は、微細な毛
    細管構造を有するエミツタの周囲に電気絶縁性焼
    結部材で構成したカバーを設けたものであること
    を特徴とする特許請求の範囲第5項に記載の液体
    金属イオン源。 7 前記のエミツタの周囲に設けたカバーは、エ
    ミツタとの間に〓間を設け、溶融金属が上記の〓
    間を流動して供給されるように構成したものであ
    ることを特徴とする特許請求の範囲第6項に記載
    の液体金属イオン源。 8 焼結によつて電気絶縁性の固形部材となるよ
    うに絶縁体粒子を練り合わせた絶縁ペーストを構
    成すると共に、焼結によつて前記の電気絶縁性固
    形部材とほぼ等しい熱膨脹率を有する導電性固形
    部材となるように導電体粒子と絶縁体粒子とを練
    り合わせた導電ペーストを構成し、共通の型の中
    に前記絶縁ペーストと前記導電ペーストとを入れ
    て一緒に焼結して、導電性焼結部材と絶縁性焼結
    部材とが一体成形されたイオン源用部材を構成す
    ることを特徴とする液体金属イオン源の製造方
    法。 9 前記の導電ペーストと絶縁ペーストとを共通
    の型の中に入れて成形する際、双方のペーストの
    境界面に沿つて昇華性高分子化合物の薄層を介装
    し、焼結の際に上記昇華性高分子化合物を昇華さ
    せ、導電性焼結部材と絶縁性焼結部材との間に〓
    間を形成することを特徴とする特許請求の範囲第
    8項に記載の液体金属イオン源の製造方法。 10 前記の導電ペーストの少なくとも一部は、
    導電体粒子と絶縁体粒子の粒径を不揃いとし、焼
    結によつて微細な毛細管構造を有する導電性焼結
    部材を構成することを特徴とする特許請求の範囲
    第8項に記載の液体金属イオン源の製造方法。
JP11822284A 1984-06-11 1984-06-11 液体金属イオン源及びその製造方法 Granted JPS60262966A (ja)

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