JPH0449632A - インナーリードボンディング装置における帯電監視システム - Google Patents

インナーリードボンディング装置における帯電監視システム

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JPH0449632A
JPH0449632A JP15876890A JP15876890A JPH0449632A JP H0449632 A JPH0449632 A JP H0449632A JP 15876890 A JP15876890 A JP 15876890A JP 15876890 A JP15876890 A JP 15876890A JP H0449632 A JPH0449632 A JP H0449632A
Authority
JP
Japan
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carrier tape
tape
bonding
charge
reel
Prior art date
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Pending
Application number
JP15876890A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasushi Takeda
武田 泰
Akihide Saito
斉藤 彰英
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Toshiba Mechatronics Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Seiki Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0449632A publication Critical patent/JPH0449632A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、インナーリードボンディング装置における帯
電監視システムに関する。
(従来の技術) 一般に、インナーリードボンディング装置は、供給リー
ルから巻出されるキャリアテープのインナーリードに半
導体チップをボンディングし、ボンディング後のキャリ
アテープにスペーサテープを重ね合わせて収納リールに
巻取るように構成されている。
ここて、スペーサテープは、キャリアテープに設けられ
ているインナーリードの変形を防止し、或いは該リート
のボンデインクされた半導体チ・ツブの損傷を防止し、
それらリート及び半導体チ・ンプを保護するものである
然るに、キャリアテープとスペーサテープは、それらが
収納リールに巻取られる過程て、それらテープのために
ガイド装置等との摩擦によって静電気を帯びる。このよ
うに静電気か帯電したキャリアテープやスペーサテープ
を収納リールに巻取ると、キャリアテープに保持されて
いる半導体チップの回路を静電破壊する等の虞れかある
そこて従来、実公昭63−36685号公報に記載の如
く、収納リールに対するキャリアテープ導入経路とスペ
ーサテープ導入経路のそれぞれに、それらテープに帯電
している静電気を除去する金属製ガイドローラを設置す
るものか提案されている。
(発明が解決しようとする課題) 然しなから、従来技術ては、収納リールに対するキャリ
アテープ導入経路とスペーサテープ導入経路のそれぞれ
に金属製ガイトローラの如くの静電気除去手段を設置し
たとしても、その除去効果を確認する手段を備えること
の考慮かなされていない。
このため、従来技術ては、金属製ガイドローラの如くの
静電気除去手段の作動か不良てあっても、ボンデインク
装置は継続してボンデインク作業を行ない、結果として
、ボンデインク後の半導体チップに静電破壊等の不良を
もたらす虞れがあった。
本発明は、収納リールに巻取られるキャリアテープとス
ペーサテープの帯電状態を監視し、ボンディング後の半
導体チップに静電破壊等の不良か生ずることを未然に防
ぐことを目的とする。
[発明の構成コ (課題を解決するための手段) 請求項1に記載の本発明は、供給リールから巻出される
キャリアテープのインナーリートに半導体チップをボン
ディングし、ボンディング後のキャリアテープにスペー
サテープを重ね合わせて収納リールに巻取るように構成
したインナーリートボンデインク装置における帯電監視
システムにおいて、収納リールに対するキャリアテープ
導入経路にキャリアテープの帯電量を測定する帯電量測
定手段を設けると共に、収納リールに対するスペーサテ
ープ導入経路にスペーサテープの帯電量を測定する帯電
量測定手段を設けるようにしだものである。
請求項2に記載の本発明は、前記収納リールに対するキ
ャリアテープ導入経路とスペーサテープ導入経路のそれ
ぞれに、それらテープに帯電した静電気を除去する静電
気除去手段を設け、キャリアテープ導入経路とスペーサ
テープ導入経路のそれぞれにおける静電気除去手段の設
置位置に対する経路下流側に、前記各帯電量測定手段を
設けるようにしたものである。
(作用) 請求項1に記載の本発明によれば、収納リールに巻取ら
れるキャリアテープとスペーサテープは、それらの導入
経路に設けられている帯電量測定手段によって、それら
の帯電量を測定される。
従って、それらの帯電量か予め定めた臨界値以上てあれ
ば、ボンディング装置によるボンデインク作業を停止す
る等により、ボンデインク後の半導体チップに生ずる静
電破壊等の不良を未然に防止てきる。
請求項2に記載の本発明によれば、収納リールに巻取ら
れるキャリアテープとスペーサテープは、静電気除去手
段により静電気を除去された後、帯電量測定手段により
その除去能力を確認せしめられる。従って、静電気除去
手段の作動の良否を常に自動的に確認することか可能と
なり、ボンデインク後の半導体チップに生ずる静電破壊
等の不良を未然に、確実に防止てきる。
(実施例) 第1図は本発明の一実施例に係るインナーリートボンデ
インク装置を模式的に示す正面図、第2図は本発明の制
御系統を示すブロック図、第3図は本発明の制御手順を
示す流れ図である。
ボンデインク装置10は、第1図に示す如く、キャリア
テープ1か巻かれた供給リール11と、この供給リール
11に巻かれたキャリアテープ1を巻取る収納リール1
2とを有し、リール駆動モータ11Aにて供給リール1
1を駆動し、リール駆動モータ12Aにて収納リール1
2を駆動する。リール駆動モータ12Aは制御装置20
により制御される。12Bはリール駆動モータドライバ
回路である。尚、キャリアテープ1は、エツチング等に
より形成されたリードパターンを備えており、デバイス
ホールの内側に張り出すインナーリードに半導体チップ
2の電極部を接続可能としている。
ボンディング装置10は、供給リール11と収納リール
12との間にボンディングヘッド13を配置している。
ボンディングヘッド13はツール14を備え、ツール1
4の先端はキャリアテープ1の上面に対向する。そして
、このキャリアテープ1の下面側には、半導体チップ2
が載置される載置部15が配置されている。この載置部
15は、XY力方向駆動されるXYテーブル16に搭載
されている。ボンディングヘッド13、XYテーブル1
6は制御装置20により制御される。
尚、13Aはボンディングヘッドドライバ回路、16A
はXY子テーブルライバ回路である。
ボンディング装置10は、ボンディングヘッド13の両
側に、ガイドプーリ21A、21B、テープ供給側スプ
ロケット歯車22A、22B、ガイド板22Cと、ガイ
ド板23C、テープ収納側スプロケット歯車23A、2
3B、ガイドプーリ24A、24Bを配置しており、パ
ルスモータからなるテープ送りモータ25にてテープ収
納側スプロケット歯車23Aが回転駆動される。各スプ
ロケット歯車22A、22B、23A、23Bは、キャ
リアテープ1に設けたスプロケット孔に係合しており、
制御装置20が制御する長さだけスプロケット歯車23
Aにより該キャリアテープ1を間欠的に送給する。尚、
25Aはテープ送りモータドライバ回路である。
又、ボンディング装置10は、キャリアテープ1の供給
リール11に対しスペーサテープ3の収納リール31を
付帯配置し、キャリアテープ1の収納リール12に対し
スペーサテープ3の供給リール32を付帯配置している
即ち、ボンディング装置10にあっては、キャリアテー
プ1に設けられているリードの変形を防止し、該リード
を保護するために、キャリアテープ1にスペーサテープ
3を重ね合わせて前記供給リール11に巻回し、供給リ
ール11からキャリアテープ1を巻出す時に、このキャ
リアテープ1からスペーサテープ3を分離し、このスペ
ーサテープ3を収納リール31に巻取ることとしている
又、ボンディング装置10にあっては、ボンディング終
了したキャリアテープ1に、供給リール32から巻出さ
れるスペーサテープ3を重ね合わせて収納リール12に
一緒に巻取ることとしている。これにより、キャリアテ
ープ1に設けられているリードの変形を防止し、或いは
該リードにボンディングされた半導体チップ2の損傷を
防止し、それらリード及び半導体チップ2を保護するも
のである。
ここで、ボンディング装置10にあっては、供給リール
11からのキャリアテープ導出経路、収納リール12へ
のキャリアテープ導入経路、収納リール12へのスペー
サテープ導入経路のそれぞれに、静電気除去装置41〜
43を配置している。静電気除去装置41.42はキャ
リアテープ1に帯電した静電気を除去し、静電気除去装
置43はスペーサテープ3に帯電した静電気を除去する
尚、静電気除去装置41〜43は、例えばイオナイザに
て構成され、エアノズルから吹き出されるイオン化エア
をテープ1.3に吹き付けることにて、静電気を除去す
る。静電気除去装置41〜43は制御装置20により制
御される。尚、41A〜43Aは静電気除去装置ドライ
バ回路である。
更に、ボンディング装置10にあっては、収納リール1
2に対するキャリアテープ導入経路とスペーサテープ導
入経路のそれぞれにおける静電気除去装置42.43の
設定位置に対する経路下流側に、帯電量測定装置44.
45を配置している、帯電量測定装置44はキャリアテ
ープ1に残存する帯電量を測定し、帯電量測定装置I4
5はスペーサテープ3に残存する帯電量を測定する。帯
電量測定装置44.45の測定結果は常時乃至は随時制
御装置20に転送され、制御装置20は、テープ1.3
の帯電量が予め定めた臨界値以上である時、ボンディン
グ装置10の作動を停止し、且つ警報装置46を駆動さ
せてこの帯電異常をブザー ランプ表示等にて警報する
然るに、ボンディング装N10は、制御装置20により
以下の如く作動される。
即ち、ボンディング装置10にあっては、テープ収納側
スプロケット歯車23Aが間欠駆動する毎に、供給リー
ル11に巻回されているキャリアテープ1が巻出されて
ボンディングヘッド13の下方へ位置する。そして、テ
ープ収納側スプロケット歯車23Aと収納リール12の
間に弛むキャリアテープ1を不図示の検出器にて検出し
、これによりリール駆動モータ12Aを駆動せしめ、キ
ャリアテープ1を収納リール12に巻取る。同時に、供
給リール11から巻出されるスペーサテープ3はキャリ
アテープ1から分離して収納リール31に巻取られ、供
給リール32から巻出されるスペーサテープ3はボンデ
ィング後のキャリアテープ1に重ね合わされて該キャリ
アテープ1と共に収納リール12に巻取られる。
又、ボンディング装置10にあっては、テープ収納側ス
プロケット歯車23Aが間欠駆動してキャリアテープ1
の新たなリードがボンデインクヘッド13の下方に位置
する毎に、XYテーブル16を移動し、半導体チップ2
をボンディングヘット13の真下に位置決めし、その後
ボンディングヘッド13か下降してキャリアテープ1の
リードに半導体チップ2をボンディングする。
ここで、ボンディング装置10にあっては、第3図に示
す如く、該ボンディング装置10の作動開始と共に、静
電気除去装置41〜43が駆動開始せしめられる。同時
に、制御装置20は、帯電量測定装置44.45の測定
結果を転送される。
そして、制御装置20は、収納リール12に重ね合わさ
れて巻取られるキャリアテープ1とスペーサテープ3の
各帯電量を常時乃至は随時監視し、該帯電量か予め定め
た臨界値以上である時、ボンディング装置10の作動を
停止し、且つ警報装置46を作動させてその帯電異常を
ブザー、ランフ表示等にてオペレータに通報する。
次に、上記実施例の作用について説明する。
上記実施例によれば、収納リール12に巻取られるキャ
リアテープ1とスペーサテープ3は、それらの導入経路
に設けられている帯電量測定装置44.45によって、
それらの帯電量を測定される。従ワて、それらの帯電量
か予め定めた臨界値以上てあれば、ボンディング装置1
0によるボンディング作業を停止し、且つ警報装置46
を作動させることにより、ボンディング後の半導体チッ
プ2に生ずる静電破壊等の不良を未然に防止できる。
又、上記実施例によれば、収納リール12に巻取られる
キャリアテープ1とスペーサテープ3は、静電気除去装
置42.43により静電気を除去された後、帯電量測定
装置44.45によりその除去効果を確認せしめられる
。従って、静電気除去装置42.43の作動の良否を常
に自動的に確認することか可能となり、ボンディング後
の半導体チップ2に生ずる静電破壊等の不良を未然に、
確実に防止できる。
尚、本発明の実施において、静電気除去手段は、例えば
、キャリアテープとスペーサテープのそれぞれに転接す
る金属ローラの如くであっても良い。
又、本発明の実施においては、キャリアテープ供給リー
ルから巻出されたスペーサテープを、リールを介するこ
となく、直接キャリアテープ収納リールに供給するもの
であっても良い。
[発明の効果] 以上のように本発明によれば、収納リールに巻取られる
キャリアテープとスペーサテープの帯電状態を監視し、
ボンディング後の半導体チップに静電破壊等の不良が生
ずることを未然に防止できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係るインナーリードボンデ
ィング装置を模式的に示す正面図、第2図は本発明の制
御系統を示すブロック図、第3図は本発明の制御手順を
示す流れ図である。 1・・・キャリアテープ、 2・・・半導体チップ、 3・・・スペーサテープ、 10・・・ボンディング装置、 11・・・供給リール、 12・・・収納リール、 42.43・・・静電気除去装置、 44.45・・・帯電量測定装置。 代理人 弁理士  塩 川 修 治 第3図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)供給リールから巻出されるキャリアテープのイン
    ナーリードに半導体チップをボンディングし、ボンディ
    ング後のキャリアテープにスペーサテープを重ね合わせ
    て収納リールに巻取るように構成したインナーリードボ
    ンディング装置における帯電監視システムにおいて、収
    納リールに対するキャリアテープ導入経路にキャリアテ
    ープの帯電量を測定する帯電量測定手段を設けると共に
    、収納リールに対するスペーサテープ導入経路にスペー
    サテープの帯電量を測定する帯電量測定手段を設けるこ
    とを特徴とするインナーリードボンディング装置におけ
    る帯電監視システム。
  2. (2)前記収納リールに対するキャリアテープ導入経路
    とスペーサテープ導入経路のそれぞれに、それらテープ
    に帯電した静電気を除去する静電気除去手段を設け、キ
    ャリアテープ導入経路とスペーサテープ導入経路のそれ
    ぞれにおける静電気除去手段の設置位置に対する経路下
    流側に、前記各帯電量測定手段を設ける請求項1記載の
    インナーリードボンディング装置における帯電監視シス
    テム。
JP15876890A 1990-06-19 1990-06-19 インナーリードボンディング装置における帯電監視システム Pending JPH0449632A (ja)

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JP15876890A JPH0449632A (ja) 1990-06-19 1990-06-19 インナーリードボンディング装置における帯電監視システム

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JPH0449632A true JPH0449632A (ja) 1992-02-19

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012064702A (ja) * 2010-09-15 2012-03-29 Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd ダイボンダ及び半導体製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012064702A (ja) * 2010-09-15 2012-03-29 Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd ダイボンダ及び半導体製造方法

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