JPH0442924Y2 - - Google Patents

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JPH0442924Y2
JPH0442924Y2 JP3280186U JP3280186U JPH0442924Y2 JP H0442924 Y2 JPH0442924 Y2 JP H0442924Y2 JP 3280186 U JP3280186 U JP 3280186U JP 3280186 U JP3280186 U JP 3280186U JP H0442924 Y2 JPH0442924 Y2 JP H0442924Y2
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ceramic substrate
heat sink
fixing base
chip
cap
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JP3280186U
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、超高周波用の半導体装置、特に外部
に露出した放熱板付きのパツケージを用いた半導
体装置に関する。
〔従来の技術〕
第2図aは従来の超高周波用半導体装置の一例
のキヤツプなしの平面図、同図bはキヤツプ付き
の断面図である。第2図a,bにおいて、中央上
部にFETチツプ固着台1aが突出している放熱
板1の該固着台1aの上にFETチツプ4が固着
され、放熱板1の固着台1aを除く上面には、周
辺側壁を有するセラミツク基体12の下面が接着
されている。また、このセラミツク基体12の内
部底面には、固着台1aをはさんで一対のドレイ
ン用メタライズ層2D、ゲート用メタライズ層2
Gが形成されており、このメタライズ層2Dと2
Gおよび固着台上面に対し、チツプ4のドレイン
電極、ゲート電極およびソース電極からボンデイ
ングワイヤでもつて接続がなされている。また、
メタライズ層2Dと2Gは、側壁下部の積層金属
層を通して外部リード18にそれぞれ接続されて
おり、側壁の上面には平板のキヤツプ19が気密
に接合されている。
〔考案が解決しようとする問題点〕
上記従来の半導体装置では、半導体チツプがセ
ラミツク基体の側壁によつて囲まれているので、
チツプマウントなどの組立の自動化を行うことは
困難であつた。
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点に対し本考案では、放熱板の上面に
接着している従来の周辺側壁のあるセラミツク基
体の代わりに、側壁のない平板のセラミツク基板
を用い、さらに、放熱板中央上部に突出した半導
体チツプ固着台に固着した半導体チツプの電極か
らの外部リードへの引出しは、チツプ電極とボン
デイングワイヤで接続したセラミツク基板上のメ
タライズ層を、スルーホールと積層金属層を通し
て外部に引出し、かつ、セラミツク基体側壁上面
を平板のキヤツプで気密封止している。
〔実施例〕
つぎに本考案を実施例により説明する。
第1図aは本考案の一実施例のキヤツプなしの
平面図、同図bはキヤツプ付きの断面図である。
第1図a,bにおいて、放熱板1の中央上部に突
出した半導体チツプ固着台1aには、FETチツ
プ4が固着され、放熱板1の固着台1aを除く上
面には平板のセラミツク基板2が接着されてい
る。セラミツク基板2の上面には、放熱板の固着
台1aをはさんでドレイン用メタライズ層3Dと
ゲート用メタライズ層3Gが設けられており、
FETチツプのドラインおよびゲート電極との間
にボンデイングワイヤ7でもつて接続されてい
る。さらにメタライズ層3D,3Gはセラミツク
基板2のスルーホール5および積層金属層6を通
してサラミツク基板周辺の段部水平面に引出さ
れ、外部リード8と接続されている。なお、セラ
ミツク基板2の周辺には、冠状のキヤツプ9の下
辺が金一スズ合金ソルダを用いて気密に接合され
ている。
〔考案の効果〕 上述の本考案による半導体装置では、放熱板の
半導体チツプ固着台に固着した半導体チツプを囲
むセラミツクの側壁がないので、自動機によるチ
ツプマウント、ワイヤボンデイングなどの自動組
立が極めて容易になる。また、チツプの電極から
の外部リードへの引出しはスルーホールを用いて
いるので、信頼度の高い気密性が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図aは本考案の一実施例のキヤツプなしの
平面図、同図bはキヤツプ付きの断面図である。
第2図aは従来の超高周波用半導体装置のキヤツ
プなしの平面図、同図bはキヤツプ付きの断面図
である。 1……放熱板、1a……固着台、2……セラミ
ツク基板、2D,2G,3D,3G……メタライ
ズ層、4……FETチツプ、5……スルーホール、
6……積層金属層、7……ボンデイングワイヤ、
8,18……外部リード、9……冠状キヤツプ、
19……平板キヤツプ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 中央部上面に半導体チツプ固着台が突出された
    放熱板と、この放熱板のチツプ固着台を除く上面
    を被つて接着されたセラミツク基板と、前記放熱
    板のチツプ固着台上に固着された半導体チツプ
    と、このチツプの電極と、前記セラミツク基板上
    に設けられているメタライズ層との間に接続され
    たボンデイングワイヤと、前記セラミツク基板の
    スルーホールと積層金属層を通して前記メタライ
    ズ層と接続された外部リードと、前記セラミツク
    基体の周辺に接合された冠状のキヤツプとを含む
    ことを特徴とする半導体装置。
JP3280186U 1986-03-06 1986-03-06 Expired JPH0442924Y2 (ja)

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JP3280186U JPH0442924Y2 (ja) 1986-03-06 1986-03-06

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JP3280186U JPH0442924Y2 (ja) 1986-03-06 1986-03-06

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JPS62145340U JPS62145340U (ja) 1987-09-12
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JP2596339B2 (ja) * 1993-09-14 1997-04-02 日本電気株式会社 半導体素子パッケージ

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JPS62145340U (ja) 1987-09-12

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