JPH0436924A - プラズマディスプレイパネルの製造方法 - Google Patents
プラズマディスプレイパネルの製造方法Info
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- JPH0436924A JPH0436924A JP14417590A JP14417590A JPH0436924A JP H0436924 A JPH0436924 A JP H0436924A JP 14417590 A JP14417590 A JP 14417590A JP 14417590 A JP14417590 A JP 14417590A JP H0436924 A JPH0436924 A JP H0436924A
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Landscapes
- Gas-Filled Discharge Tubes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
プラズマディスプレイパネルの製造方法に関し、発光の
ための混合ガスの組成変化を抑え、プラズマディスプレ
イパネルの表示動作の安定化及び長寿命化を図ることを
目的とし、 放電空間に充填されるペニングガスに接する蒸着膜を有
したプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記ペニングガスの1成分である気体をイオン化して照
射しつつ、前記蒸着膜の蒸着を行うことを特徴とする。
ための混合ガスの組成変化を抑え、プラズマディスプレ
イパネルの表示動作の安定化及び長寿命化を図ることを
目的とし、 放電空間に充填されるペニングガスに接する蒸着膜を有
したプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記ペニングガスの1成分である気体をイオン化して照
射しつつ、前記蒸着膜の蒸着を行うことを特徴とする。
本発明は、プラズマディスプレイパネルの製造方法に関
する。
する。
プラズマディスプレイパネル(F D P )は、薄い
奥行きで大型の表示画面を実現できるため、各種機器の
表示手段として広く利用されつつある。
奥行きで大型の表示画面を実現できるため、各種機器の
表示手段として広く利用されつつある。
それ故、より表示品質が安定し且つ長寿命であることが
望まれている。
望まれている。
周知のように、I) D Pは、表示側及び背面側の一
対の透明基板を放電空間を設けて対向配置し、格r状に
対向する電極の交点で画定される放電セルを選択的に発
光可能に構成されている。
対の透明基板を放電空間を設けて対向配置し、格r状に
対向する電極の交点で画定される放電セルを選択的に発
光可能に構成されている。
電極の表面には、低融点ガラスなどの誘電体層及び誘電
体を放電によるイオン衝撃から保護する保護膜が設りら
れる。
体を放電によるイオン衝撃から保護する保護膜が設りら
れる。
この保護膜は、放電開始電圧を下げるために2次電子放
出係数の大きな膜とされ、一般に、Mg0(酸化マグネ
シウム)などの間熱性酸化物の茎着によって形成される
。
出係数の大きな膜とされ、一般に、Mg0(酸化マグネ
シウム)などの間熱性酸化物の茎着によって形成される
。
また、放電空間には、ペニング効果により低い駆動電圧
で発光を生しる混合ガス、ずなわら、いわゆるペニング
ガスが充填される。
で発光を生しる混合ガス、ずなわら、いわゆるペニング
ガスが充填される。
ペニングガスとしては、発光の主体となるNe(ネオン
)に少量のXe(キセノン)を加えた2種の単原子分子
(希ガス)からなる混合ガスが一般に用いられるが、他
にXeに代えてAr(アルゴン)を加えたものなど、所
望の発光色やP I) Pの構造などに応じて種々の組
み合わせの混合ガスが用いられている。
)に少量のXe(キセノン)を加えた2種の単原子分子
(希ガス)からなる混合ガスが一般に用いられるが、他
にXeに代えてAr(アルゴン)を加えたものなど、所
望の発光色やP I) Pの構造などに応じて種々の組
み合わせの混合ガスが用いられている。
従来においてば、P II) ri)を使用するにつれ
て、ペニングガスを構成する気体分子が放電空間に対し
て露出した保護膜に吸着し、ペニングガスの組成が徐々
に変化する。例えば、上i1のNeとXeとの混合ガス
をペニングガスとして用いた場合におい“ζ、特に少量
のXeが保護膜に吸着すると、ペニングガスの組成は大
きく変化する。
て、ペニングガスを構成する気体分子が放電空間に対し
て露出した保護膜に吸着し、ペニングガスの組成が徐々
に変化する。例えば、上i1のNeとXeとの混合ガス
をペニングガスとして用いた場合におい“ζ、特に少量
のXeが保護膜に吸着すると、ペニングガスの組成は大
きく変化する。
この組成変化のため、表示動作の累積時間が長くなるに
つれて放電開始電圧が上昇し、表示動作が不安定となっ
て表示品質が損なわれるという問題があった。
つれて放電開始電圧が上昇し、表示動作が不安定となっ
て表示品質が損なわれるという問題があった。
また、放電開始電圧が所定値を越えると表示動作が不能
となり、このためにP l) Pの寿命が短いという問
題があった。
となり、このためにP l) Pの寿命が短いという問
題があった。
本発明は、上述の問題に鑑の、発光のための混合ガスの
組成変化を抑え、プラズマディスプレイパネルの表示動
作の安定化及び長寿命化を図ることを目的としている。
組成変化を抑え、プラズマディスプレイパネルの表示動
作の安定化及び長寿命化を図ることを目的としている。
[課題を解決するための手段]
本発明に係る製造方法は、上述の課題を解決するため、
第1図及び第2図に示すように、放電空間19に充填さ
れるペニングガス30に接する奈着膜21を有したプラ
ズマデイスジ1/イパネル1の製造方法であって、前記
ペニングガス30の1成分である気体31をイオン化し
て照射しつつ、前記蒸着膜21の奈着を行う。
第1図及び第2図に示すように、放電空間19に充填さ
れるペニングガス30に接する奈着膜21を有したプラ
ズマデイスジ1/イパネル1の製造方法であって、前記
ペニングガス30の1成分である気体31をイオン化し
て照射しつつ、前記蒸着膜21の奈着を行う。
〔作 用]
プラズマディスプレイパネル1の製造が完了した段階で
、放電空間19に充填されたペニングガス30と接する
ことになる蒸着膜21は、ペニングガス30の成分の1
つである気体31のイオンの照射を受けつつ蒸着される
。
、放電空間19に充填されたペニングガス30と接する
ことになる蒸着膜21は、ペニングガス30の成分の1
つである気体31のイオンの照射を受けつつ蒸着される
。
このイオン照射によって、蒸着中の膜内に気体31の分
子がとり込まれ、予めガス吸着に対して飽和状態となっ
た蒸着膜21が形成される。また、蒸着膜21は、イオ
ンの衝突による物理的な清浄作用、ずなわら、いわゆる
スパンタフリーニング作用を受けつつ形成されるので、
その表面(放電空間19に対する露出面)が平坦となり
、ガス吸着の起こりにくい性質をもった膜となる。
子がとり込まれ、予めガス吸着に対して飽和状態となっ
た蒸着膜21が形成される。また、蒸着膜21は、イオ
ンの衝突による物理的な清浄作用、ずなわら、いわゆる
スパンタフリーニング作用を受けつつ形成されるので、
その表面(放電空間19に対する露出面)が平坦となり
、ガス吸着の起こりにくい性質をもった膜となる。
以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ説明する。
第2図は本発明に係るP I’ll P ]の構造を示
す要部断面図である。
す要部断面図である。
PDPlは、表示側のガラス基板11、背面側のガラス
基板12、各ガラス基板11.]、、2の表面に形成さ
れた複数の帯状のX電極13及びY電極14、各電極1
3.14を覆う誘電体15と保al膜21 、球状のス
ベーナ18、スベーザ18で反射した光を遮光する遮光
マスク20、及び周囲を密封する封止ガラス17などか
ら構成されている。第2図において、ガラス基板11の
上面が表示面1111となる。
基板12、各ガラス基板11.]、、2の表面に形成さ
れた複数の帯状のX電極13及びY電極14、各電極1
3.14を覆う誘電体15と保al膜21 、球状のス
ベーナ18、スベーザ18で反射した光を遮光する遮光
マスク20、及び周囲を密封する封止ガラス17などか
ら構成されている。第2図において、ガラス基板11の
上面が表示面1111となる。
スベーザ18に、l:って間隙手法が規定された放電空
間19にば、NeとXeとを混合したペニングガス30
が500〜600 [Torr]程度の圧力となるよう
に充填されている。P I) P 1では、ペニングガ
ス30中のXeの濃度は0.2%以1・とされている。
間19にば、NeとXeとを混合したペニングガス30
が500〜600 [Torr]程度の圧力となるよう
に充填されている。P I) P 1では、ペニングガ
ス30中のXeの濃度は0.2%以1・とされている。
このようなI) D P 1の製造に際してυJ、まず
、表示側のガラス基板ll上に、スパッタリング蒸着に
よってクロム、銅、クロムを順に積層し、層構造の金属
薄膜(膜厚は5000〜1.0000人)を形成し、こ
の金属薄膜をフォトリソグラフィ法によってパターンニ
ングしてX電極13を形成する。ごのとき、スベーザ1
8を設ける位置に対応させて遮光マスク20を形成して
おく。
、表示側のガラス基板ll上に、スパッタリング蒸着に
よってクロム、銅、クロムを順に積層し、層構造の金属
薄膜(膜厚は5000〜1.0000人)を形成し、こ
の金属薄膜をフォトリソグラフィ法によってパターンニ
ングしてX電極13を形成する。ごのとき、スベーザ1
8を設ける位置に対応させて遮光マスク20を形成して
おく。
続けて、X電極13をI貰うようにガラス基板−lxに
鉛ガラスなどの低融点ガラスペーストを塗布し、580
°C程度の温度で低融点ガラスベーストを焼成して誘電
体15(厚さは20μm程度)を形成する。
鉛ガラスなどの低融点ガラスペーストを塗布し、580
°C程度の温度で低融点ガラスベーストを焼成して誘電
体15(厚さは20μm程度)を形成する。
次に、スクリーン印刷法によって誘電体15j:二の適
所にスベーザ18を点在させて載置し、熱処理を行って
誘電体15を軟化させ、スベーザ18を融着によって固
定する。
所にスベーザ18を点在させて載置し、熱処理を行って
誘電体15を軟化させ、スベーザ18を融着によって固
定する。
そして、後述する蒸着装置2を用いて誘電体15を覆う
ようにガラス基板11の表面に酸化マグネシウムからな
る保護膜21を蒸着する。保護膜21ば、スベーザ18
も」二部をも覆うが、保護膜21の厚みは4000〜6
000人であっ゛でスベーザ18の直径(180〜20
0μm)に比べて極めて小さいので、放電空間】9の間
隙寸法にほとんど影響を1j、えない。
ようにガラス基板11の表面に酸化マグネシウムからな
る保護膜21を蒸着する。保護膜21ば、スベーザ18
も」二部をも覆うが、保護膜21の厚みは4000〜6
000人であっ゛でスベーザ18の直径(180〜20
0μm)に比べて極めて小さいので、放電空間】9の間
隙寸法にほとんど影響を1j、えない。
その後、保護膜21を茎着したガラス基板11と、別に
Y電極14、誘電体15、及び誘電体16を覆う保護膜
21を設けた背面側のガラス基板12とを、各X電極1
3と各Y電極14とが格子状に対向するよ・うに重ね合
わせ、J:、j止ガラス17による密封、及びペニング
ガス30の封入などを行い、PDP 1を完成する。
Y電極14、誘電体15、及び誘電体16を覆う保護膜
21を設けた背面側のガラス基板12とを、各X電極1
3と各Y電極14とが格子状に対向するよ・うに重ね合
わせ、J:、j止ガラス17による密封、及びペニング
ガス30の封入などを行い、PDP 1を完成する。
第1図は本発明を実施するための蒸着装置2の概略の構
成を示す図である。
成を示す図である。
蒸着装置2は、チャンバー40と、その内部に設けられ
た電子ビーム加熱型の蒸発源41、ヒーター45、及び
カウフマン型のイオン銃48などから構成されている。
た電子ビーム加熱型の蒸発源41、ヒーター45、及び
カウフマン型のイオン銃48などから構成されている。
蒸発源41は、熱電子を放出するフィラメント42、蒸
発物質(ターゲツト)としてのMgOを収納する耐熱容
器(るつぼ)43、熱電子流E Bを偏向してターゲツ
トに導く磁束発生部44からなり、熱電子流EBのエネ
ルギーによってM g Oを加熱して蒸発させる。
発物質(ターゲツト)としてのMgOを収納する耐熱容
器(るつぼ)43、熱電子流E Bを偏向してターゲツ
トに導く磁束発生部44からなり、熱電子流EBのエネ
ルギーによってM g Oを加熱して蒸発させる。
一方、イオン銃48は、Xeガスポンへ50から調圧弁
51を介して流入されるXeをイオン化し、Xeのイオ
ンビームIBを射出する。Xcは、上述したように、N
eとともにペニングガス30を構成する成分の1つであ
る。
51を介して流入されるXeをイオン化し、Xeのイオ
ンビームIBを射出する。Xcは、上述したように、N
eとともにペニングガス30を構成する成分の1つであ
る。
次に、薄着装置2を用いて行う保護膜21の蒸着につい
て説明する。
て説明する。
まず、誘電体15を設置Jた後の所定数のガラス基板1
1又は12を、誘電体15が蒸発a41と対向するよう
にチャンバー40内にて固定する。
1又は12を、誘電体15が蒸発a41と対向するよう
にチャンバー40内にて固定する。
以1ζではガラス基板11に対して保護膜21の蒸着を
行うものとする。
行うものとする。
次に、図外の真空ポンプによりチャンバー40の排気を
行った後に、−旦、チャンバー40の内部を酸素雰囲気
状態とし、再び排気を行ってチャンバー40内を5 X
l (] ″’[’Forr]程度の真空状態とする
。
行った後に、−旦、チャンバー40の内部を酸素雰囲気
状態とし、再び排気を行ってチャンバー40内を5 X
l (] ″’[’Forr]程度の真空状態とする
。
この真空状態の形成と並行して、又は真空状態が形成さ
れた後に、ヒーター45によってガラス基板IIを加熱
する。
れた後に、ヒーター45によってガラス基板IIを加熱
する。
誘電体15の表面温度が150°C程度に達すると、蒸
発a41を作動させてMgOを蒸発させる。
発a41を作動させてMgOを蒸発させる。
蒸発したMgOは、芸気流M Bとなってガラス21.
:板11に到達し、誘電体15の表面15a (被蒸着
面)に堆積するように蒸着する。このとき、堆積速度が
毎秒20人となるように、蒸発71!41の制御を行う
。
:板11に到達し、誘電体15の表面15a (被蒸着
面)に堆積するように蒸着する。このとき、堆積速度が
毎秒20人となるように、蒸発71!41の制御を行う
。
このようなMgOの蒸着と並行して、イオン銃48にl
O〜20 [s c crnlの流量でXeガス31
を供給し、1000〜1.500[eV]のエネルギー
をもつイオンビームIBを誘電体15の表面15aに向
けて照射する。
O〜20 [s c crnlの流量でXeガス31
を供給し、1000〜1.500[eV]のエネルギー
をもつイオンビームIBを誘電体15の表面15aに向
けて照射する。
これにより、蒸着中のMgOにXeが吸着し、保護膜1
5に予めXcがとり込まれる。
5に予めXcがとり込まれる。
MgOの膜厚が上述の所定値に達し゛ζ保護膜15の形
成が終了すると、蒸発源4】、イオン銃48、及びヒー
ター45の作動を停止し、ガラスノ吉板】1の温度があ
る程度下がるのを待ってチャンバー40内を大気圧に戻
し、ガラス基板11を取り出す。そして、取り出したガ
ラス基板11を後工程へ送る。
成が終了すると、蒸発源4】、イオン銃48、及びヒー
ター45の作動を停止し、ガラスノ吉板】1の温度があ
る程度下がるのを待ってチャンバー40内を大気圧に戻
し、ガラス基板11を取り出す。そして、取り出したガ
ラス基板11を後工程へ送る。
以」二のようにして形成された保護膜15は、放を空間
19にペニングガス30を封入した時点で、ペニングガ
ス30と接することになるが、保護膜15はその形成の
段階で既にXeの吸着が飽和状態となっているので、ペ
ニングガス30中のXeの保護膜15への吸着がほとん
ど起こらない。
19にペニングガス30を封入した時点で、ペニングガ
ス30と接することになるが、保護膜15はその形成の
段階で既にXeの吸着が飽和状態となっているので、ペ
ニングガス30中のXeの保護膜15への吸着がほとん
ど起こらない。
また、イオンビームIBの照射により、蒸着面が物理的
に清浄化されつつMgOの茄着が進行するので、保護膜
15の表面ば密となる。したがって、ペニングガス30
中のNcの保護膜15への吸着も起ごりにくい。
に清浄化されつつMgOの茄着が進行するので、保護膜
15の表面ば密となる。したがって、ペニングガス30
中のNcの保護膜15への吸着も起ごりにくい。
実際に、本実施例の保護膜15を設けたP I) Pl
の耐久試験を行ったとごろ、表示動作に伴うペニングガ
ス30のガス成分の経時変化がほとんど無いことが6M
′M忍できた。
の耐久試験を行ったとごろ、表示動作に伴うペニングガ
ス30のガス成分の経時変化がほとんど無いことが6M
′M忍できた。
上述の実施例によれば、保護膜15に予めX(!を吸着
させておくことにより、ペニングガス30の成分の内、
特に微量成分であるために、その減少がペニングガス3
0の組成変化に大きく影響するXeの保護膜15−・の
吸着を可及的に抑えるごとができ、ペニングガス30の
組成変化がなく表示IJ+作が安定であり長寿命のi)
D I) 1を得ることができる。
させておくことにより、ペニングガス30の成分の内、
特に微量成分であるために、その減少がペニングガス3
0の組成変化に大きく影響するXeの保護膜15−・の
吸着を可及的に抑えるごとができ、ペニングガス30の
組成変化がなく表示IJ+作が安定であり長寿命のi)
D I) 1を得ることができる。
上iASの実施例において、茎発源41及びイオン銃4
8の形式、構造、配置、蒸着の制御条件は適宜変更する
ごとができる。
8の形式、構造、配置、蒸着の制御条件は適宜変更する
ごとができる。
本発明によれば、発光のための混合ガスの組成変化を抑
えることができ、プラズマディスプレイパネルの表示動
作の安定化及び長寿命化を図ることができる。
えることができ、プラズマディスプレイパネルの表示動
作の安定化及び長寿命化を図ることができる。
第1図は本発明を実施するだめの蒸着装置の概略の構成
を示す図、 第2図は本発明に係るPDPの構造を示す要部断面図で
ある。 図において、 1はFDP(プラズマディスブレイバ不ル)、19は放
電空間、 21は保護膜(蒸着膜)、 30はペニングガス、 31はXeガス(気体)である。
を示す図、 第2図は本発明に係るPDPの構造を示す要部断面図で
ある。 図において、 1はFDP(プラズマディスブレイバ不ル)、19は放
電空間、 21は保護膜(蒸着膜)、 30はペニングガス、 31はXeガス(気体)である。
Claims (1)
- (1)放電空間(19)に充填されるペニングガス(3
0)に接する蒸着膜(21)を有したプラズマディスプ
レイパネル(1)の製造方法であって、 前記ペニングガス(30)の1成分である気体(31)
をイオン化して照射しつつ、前記蒸着膜(21)の蒸着
を行うことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの
製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14417590A JP3126976B2 (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | プラズマディスプレイパネルの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP14417590A JP3126976B2 (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | プラズマディスプレイパネルの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0436924A true JPH0436924A (ja) | 1992-02-06 |
JP3126976B2 JP3126976B2 (ja) | 2001-01-22 |
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ID=15355954
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
JP14417590A Expired - Fee Related JP3126976B2 (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | プラズマディスプレイパネルの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP3126976B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002358898A (ja) * | 2001-06-01 | 2002-12-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プラズマディスプレイパネルおよびその製造方法 |
US7952277B2 (en) | 2006-07-18 | 2011-05-31 | Advanced Pdp Development Center Corporation | Plasma display panel |
-
1990
- 1990-05-31 JP JP14417590A patent/JP3126976B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002358898A (ja) * | 2001-06-01 | 2002-12-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プラズマディスプレイパネルおよびその製造方法 |
JP4715037B2 (ja) * | 2001-06-01 | 2011-07-06 | パナソニック株式会社 | プラズマディスプレイパネルおよびその製造方法 |
US7952277B2 (en) | 2006-07-18 | 2011-05-31 | Advanced Pdp Development Center Corporation | Plasma display panel |
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JP3126976B2 (ja) | 2001-01-22 |
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