JPH04364091A - 回路基板 - Google Patents
回路基板Info
- Publication number
- JPH04364091A JPH04364091A JP16522591A JP16522591A JPH04364091A JP H04364091 A JPH04364091 A JP H04364091A JP 16522591 A JP16522591 A JP 16522591A JP 16522591 A JP16522591 A JP 16522591A JP H04364091 A JPH04364091 A JP H04364091A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polysilazane
- base material
- copper
- circuit board
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 38
- 229920001709 polysilazane Polymers 0.000 claims abstract description 29
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims abstract description 26
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims abstract description 26
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 20
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 14
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000011282 treatment Methods 0.000 claims description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 7
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- 239000002904 solvent Substances 0.000 abstract description 6
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 abstract description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract description 3
- 238000005238 degreasing Methods 0.000 abstract description 2
- 238000005554 pickling Methods 0.000 abstract description 2
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 abstract description 2
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O Ammonium Chemical compound [NH4+] QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O 0.000 abstract 2
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 11
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 8
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 6
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 6
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 6
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N Dichloromethane Chemical compound ClCCl YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 3
- 238000007788 roughening Methods 0.000 description 3
- 229910017755 Cu-Sn Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910017827 Cu—Fe Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910017927 Cu—Sn Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BAVYZALUXZFZLV-UHFFFAOYSA-N Methylamine Chemical compound NC BAVYZALUXZFZLV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- -1 Si3N4 Chemical class 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N copper tin Chemical compound [Cu].[Sn] KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 2
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 239000011256 inorganic filler Substances 0.000 description 2
- 229910003475 inorganic filler Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 2
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 2
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 description 1
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002482 Cu–Ni Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017824 Cu—Fe—P Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017876 Cu—Ni—Si Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910018100 Ni-Sn Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910018532 Ni—Sn Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910020941 Sn-Mn Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910008953 Sn—Mn Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000012670 alkaline solution Substances 0.000 description 1
- 125000003342 alkenyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 125000003282 alkyl amino group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000005103 alkyl silyl group Chemical group 0.000 description 1
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 1
- 125000003277 amino group Chemical group 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000007514 bases Chemical class 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000000392 cycloalkenyl group Chemical group 0.000 description 1
- 238000007865 diluting Methods 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- BXKDSDJJOVIHMX-UHFFFAOYSA-N edrophonium chloride Chemical compound [Cl-].CC[N+](C)(C)C1=CC=CC(O)=C1 BXKDSDJJOVIHMX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 239000012442 inert solvent Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N iron(III) oxide Inorganic materials O=[Fe]O[Fe]=O JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 239000004850 liquid epoxy resins (LERs) Substances 0.000 description 1
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 1
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000001247 metal acetylides Chemical class 0.000 description 1
- 238000010295 mobile communication Methods 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
- Insulated Metal Substrates For Printed Circuits (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、回路基板、詳しくは、
民生用電子機器もしくは産業用機器などに収納されるプ
リント基板として用いられる金属基材プリント配線板に
おいて、大電流回路用、発熱電子部品の取り付け用、平
滑な導体回路が必要な基板の回路用及び低熱膨張基材用
などに使用される回路基板に関する。
民生用電子機器もしくは産業用機器などに収納されるプ
リント基板として用いられる金属基材プリント配線板に
おいて、大電流回路用、発熱電子部品の取り付け用、平
滑な導体回路が必要な基板の回路用及び低熱膨張基材用
などに使用される回路基板に関する。
【0002】
【従来の技術】パワ−トランジスタ、サイリスタなどの
発熱電子部品が実装された回路基板の回路用導体として
は、絶縁層との接着性を良好にするために裏面処理を施
した電解銅箔が一般に使用されており、その銅箔の厚み
は主に35μmか18μm である。しかし電解銅箔の
製造上の制約により銅箔の厚みはせいぜい100μm
程度が限度であるので大電流回路基板には適さないとい
う問題がある。
発熱電子部品が実装された回路基板の回路用導体として
は、絶縁層との接着性を良好にするために裏面処理を施
した電解銅箔が一般に使用されており、その銅箔の厚み
は主に35μmか18μm である。しかし電解銅箔の
製造上の制約により銅箔の厚みはせいぜい100μm
程度が限度であるので大電流回路基板には適さないとい
う問題がある。
【0003】一方、例えば移動体通信分野などの高周波
で使用される導体回路においては、回路の凸凹は伝送特
性に影響を及ぼすので平滑であることが望まれ、熱伝導
性、価格、及び絶縁層との接着性などの点から、回路基
板の基材としてはアルミニウムが主に用いられている。 しかしシリコンチップなどの素子を基板表面に実装する
いわゆる表面実装基板においては、基板の熱膨張係数は
シリコンに近い方が密着信頼性が高まるので好ましいこ
とではあるが、アルミニウムではシリコンとの熱膨張係
数の差が大きいという問題がある。
で使用される導体回路においては、回路の凸凹は伝送特
性に影響を及ぼすので平滑であることが望まれ、熱伝導
性、価格、及び絶縁層との接着性などの点から、回路基
板の基材としてはアルミニウムが主に用いられている。 しかしシリコンチップなどの素子を基板表面に実装する
いわゆる表面実装基板においては、基板の熱膨張係数は
シリコンに近い方が密着信頼性が高まるので好ましいこ
とではあるが、アルミニウムではシリコンとの熱膨張係
数の差が大きいという問題がある。
【0004】以上のように、大電流を必要とする分野で
は、導体が薄いと許容電流が小さく大電流は流せないの
で、より厚みのある回路用導体を用いたプリント基板が
望まれており、また、良好な回路特性を保つために凸凹
のない平滑な導体回路が望まれていた。
は、導体が薄いと許容電流が小さく大電流は流せないの
で、より厚みのある回路用導体を用いたプリント基板が
望まれており、また、良好な回路特性を保つために凸凹
のない平滑な導体回路が望まれていた。
【0005】これに対し、圧延銅箔では厚い箔が得られ
るが、絶縁層との接着性を向上させるのに、羽布研磨、
サンドブラストなどの機械的粗面化、エッチングによる
化学的粗面化、メッキによる凸部の形成など複雑な裏面
処理が必要であり、生産性に問題があった。
るが、絶縁層との接着性を向上させるのに、羽布研磨、
サンドブラストなどの機械的粗面化、エッチングによる
化学的粗面化、メッキによる凸部の形成など複雑な裏面
処理が必要であり、生産性に問題があった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、電解
銅箔や圧延銅箔におけるような上記裏面処理を施すこと
なく絶縁層との接着性に優れ、大電流回路基板の導体回
路又は基板としても十分に対応できる回路基板を提供す
ることにある。
銅箔や圧延銅箔におけるような上記裏面処理を施すこと
なく絶縁層との接着性に優れ、大電流回路基板の導体回
路又は基板としても十分に対応できる回路基板を提供す
ることにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】すなわち、本発明は、銅
基材の一部又は全面がポリシラザンの熱分解物で被覆さ
れてなる銅部材を、メッキ処理を施して又は施さないで
導体回路及び/又は基板として使用してなることを特徴
とする回路基板である。
基材の一部又は全面がポリシラザンの熱分解物で被覆さ
れてなる銅部材を、メッキ処理を施して又は施さないで
導体回路及び/又は基板として使用してなることを特徴
とする回路基板である。
【0008】以下、さらに詳しく本発明について説明す
る。
る。
【0009】本発明で使用される銅基材としては、圧延
銅や銅箔などをあげることができ、その純度や組成には
制約を受けない。Cu−Sn 、Cu−Sn−Mnなど
のCu−Sn 系合金、Cu−Fe−P 、Cu−Fe
−SnなどのCu−Fe 系合金、Cu−Ni−Sn、
Cu−Ni−SiなどのCu−Ni 系合金及びCu−
Zn 系合金などの合金であってもよく、さらには接着
面と反対側の面を例えばアルミニウムなどの素材とした
クラッド材であってもよい。厚みには特に制限はなく、
大電流を必要とする回路基板の場合には100μm 以
上の銅板が用いられ、そうでない高周波用回路基板の場
合には35μm 以下の銅箔が適している。
銅や銅箔などをあげることができ、その純度や組成には
制約を受けない。Cu−Sn 、Cu−Sn−Mnなど
のCu−Sn 系合金、Cu−Fe−P 、Cu−Fe
−SnなどのCu−Fe 系合金、Cu−Ni−Sn、
Cu−Ni−SiなどのCu−Ni 系合金及びCu−
Zn 系合金などの合金であってもよく、さらには接着
面と反対側の面を例えばアルミニウムなどの素材とした
クラッド材であってもよい。厚みには特に制限はなく、
大電流を必要とする回路基板の場合には100μm 以
上の銅板が用いられ、そうでない高周波用回路基板の場
合には35μm 以下の銅箔が適している。
【0010】銅基材はポリシラザンとの接着性をよくす
るために清浄しておくのが好ましく、それには脱脂・酸
洗などの前処理を行っておくのがよい。銅部材と絶縁層
との接着面には粗面化処理を施さなくとも良好な接着性
が得られるが、高度の接着強度を必要とする場合や防錆
処理などが必要な場合には、ニッケルメッキ、亜鉛メッ
キ、クロムメッキ、銅メッキ、及びこれらの合金メッキ
などを施すのがよい。
るために清浄しておくのが好ましく、それには脱脂・酸
洗などの前処理を行っておくのがよい。銅部材と絶縁層
との接着面には粗面化処理を施さなくとも良好な接着性
が得られるが、高度の接着強度を必要とする場合や防錆
処理などが必要な場合には、ニッケルメッキ、亜鉛メッ
キ、クロムメッキ、銅メッキ、及びこれらの合金メッキ
などを施すのがよい。
【0011】本発明で使用されるポリシラザンは、一般
式
式
【化1】
( 式中、R1 、R2 、R3 は、それぞれ独立に
水素原子、アルキル基、アルケニル基、シクロアルケニ
ル基、アミノ基、アルキルアミノ基、アルキルシリル基
、アルコキシ基、又はこれらの基以外で主鎖の珪素及び
窒素に直結する基が炭素である基である。ただし、R1
、R2 、R3 の少なくとも1つの基は水素原子で
ある。)で示されるポリシラザンが好ましく、分子構造
や製造方法には制限されない。また、その好ましい数平
均分子量は100〜100000である。
水素原子、アルキル基、アルケニル基、シクロアルケニ
ル基、アミノ基、アルキルアミノ基、アルキルシリル基
、アルコキシ基、又はこれらの基以外で主鎖の珪素及び
窒素に直結する基が炭素である基である。ただし、R1
、R2 、R3 の少なくとも1つの基は水素原子で
ある。)で示されるポリシラザンが好ましく、分子構造
や製造方法には制限されない。また、その好ましい数平
均分子量は100〜100000である。
【0012】上記ポリシラザンは、例えば以下の方法に
よって製造することができる。■ジハロシランとアンモ
ニアをエーテル溶媒中で反応させて得られたポリシラザ
ン(米国特許第4,397,828号明細書)。■ジハ
ロシランと塩基との反応によりアダクトを形成させた後
にアンモニアと反応させて得られたポリシラザン(特公
昭63−16325号公報)。■無機シラザンを塩基性
溶媒中又は塩基性化合物を含む溶媒中で加熱することに
よって得られたポリシラザン(特開平1−138108
号公報)。■ジハロシランとメチルアミンをエ−テル溶
媒中で反応させて得られたN−メチルポリシラザン(特
表昭64−500031号公報)。■メチルジハロシラ
ンとアンモニアをジクロロメタン溶媒中で反応させて得
られたS−メチルポリシラザン(米国特許第4,482
,669号明細書)。
よって製造することができる。■ジハロシランとアンモ
ニアをエーテル溶媒中で反応させて得られたポリシラザ
ン(米国特許第4,397,828号明細書)。■ジハ
ロシランと塩基との反応によりアダクトを形成させた後
にアンモニアと反応させて得られたポリシラザン(特公
昭63−16325号公報)。■無機シラザンを塩基性
溶媒中又は塩基性化合物を含む溶媒中で加熱することに
よって得られたポリシラザン(特開平1−138108
号公報)。■ジハロシランとメチルアミンをエ−テル溶
媒中で反応させて得られたN−メチルポリシラザン(特
表昭64−500031号公報)。■メチルジハロシラ
ンとアンモニアをジクロロメタン溶媒中で反応させて得
られたS−メチルポリシラザン(米国特許第4,482
,669号明細書)。
【0013】ポリシラザンを銅基材へ被覆するには、一
般にはポリシラザンに不活性な例えばベンゼン、トルエ
ン、キシレンなどの溶媒で希釈してから用いるが、希釈
することなくそのまま使用することもできる。被覆方法
としては、ディッピング法やスピンコート法などが可能
であり、銅基材の一部又は全面に被覆後焼成処理をして
ポリシラザンを熱分解させ、その熱分解物で被覆する。 膜厚を調整するには被覆方法に応じて溶液濃度を調節す
る。
般にはポリシラザンに不活性な例えばベンゼン、トルエ
ン、キシレンなどの溶媒で希釈してから用いるが、希釈
することなくそのまま使用することもできる。被覆方法
としては、ディッピング法やスピンコート法などが可能
であり、銅基材の一部又は全面に被覆後焼成処理をして
ポリシラザンを熱分解させ、その熱分解物で被覆する。 膜厚を調整するには被覆方法に応じて溶液濃度を調節す
る。
【0014】焼成条件は、昇温速度0.1〜50℃/m
in特に1〜10℃/min、焼成温度100〜500
℃特に300〜400℃の範囲が望ましい。熱源は、抵
抗加熱、高周波加熱などが使用できる。焼成雰囲気は、
空気などの酸化性ガス、窒素ガスなどの不活性ガス、水
素、アンモニアなどの還元性ガス、あるいはこれらの混
合ガスのいずれであってもよい。焼成前に室温程度で乾
燥することは好ましいことである。乾燥後又は焼成後に
被覆は繰り返し行ってもよい。
in特に1〜10℃/min、焼成温度100〜500
℃特に300〜400℃の範囲が望ましい。熱源は、抵
抗加熱、高周波加熱などが使用できる。焼成雰囲気は、
空気などの酸化性ガス、窒素ガスなどの不活性ガス、水
素、アンモニアなどの還元性ガス、あるいはこれらの混
合ガスのいずれであってもよい。焼成前に室温程度で乾
燥することは好ましいことである。乾燥後又は焼成後に
被覆は繰り返し行ってもよい。
【0015】ポリシラザンの熱分解物は、上記焼成雰囲
気によって生成する主成分は異なる。例えば、不活性ガ
スや還元性ガスの場合はSi3N4 、SiC 及びそ
れらの混合物又は混晶などの窒化物や炭化物であり、酸
化性ガスの場合はSiO2、Si2ON2及びそれらの
混合物又は混晶などの酸化物、酸窒化物、並びにSiC
を含む酸炭化物である。
気によって生成する主成分は異なる。例えば、不活性ガ
スや還元性ガスの場合はSi3N4 、SiC 及びそ
れらの混合物又は混晶などの窒化物や炭化物であり、酸
化性ガスの場合はSiO2、Si2ON2及びそれらの
混合物又は混晶などの酸化物、酸窒化物、並びにSiC
を含む酸炭化物である。
【0016】本発明の回路基板の基本構成は、上記ポリ
シラザンの熱分解物で被覆された銅部材で構成されてな
る基板、絶縁層及び上記ポリシラザンの熱分解物で被覆
された銅部材で構成されてなる導体回路の積層体からな
る。この場合において、上記ポリシラザンの熱分解物で
被覆された銅部材で構成される基板又は導体回路は上記
のメッキ処理が施されたものであってもよい。また、上
記ポリシラザンの熱分解物で被覆された本発明に係る銅
部材は、上記基板と上記導体回路のうち、いずれか一方
に使用されたものであってもよい。なお、本発明にいう
回路基板には、フレキシブルプリント基板も含まれる。
シラザンの熱分解物で被覆された銅部材で構成されてな
る基板、絶縁層及び上記ポリシラザンの熱分解物で被覆
された銅部材で構成されてなる導体回路の積層体からな
る。この場合において、上記ポリシラザンの熱分解物で
被覆された銅部材で構成される基板又は導体回路は上記
のメッキ処理が施されたものであってもよい。また、上
記ポリシラザンの熱分解物で被覆された本発明に係る銅
部材は、上記基板と上記導体回路のうち、いずれか一方
に使用されたものであってもよい。なお、本発明にいう
回路基板には、フレキシブルプリント基板も含まれる。
【0017】基板と絶縁層とは、プレスやラミネートな
どによって容易に強固に接着させることができる。絶縁
層としては、通常の回路基板として使用されている絶縁
層のような、エポキシ樹脂、フェノ−ル樹脂、ポリイミ
ド樹脂、アクリル樹脂などの樹脂、さらには熱伝導性を
高めるために、これらの樹脂に酸化アルミニウム、窒化
アルミニウム、酸化マグネシウム、窒化ホウ素などの高
熱伝導性無機充填剤を充填したものが使用される。
どによって容易に強固に接着させることができる。絶縁
層としては、通常の回路基板として使用されている絶縁
層のような、エポキシ樹脂、フェノ−ル樹脂、ポリイミ
ド樹脂、アクリル樹脂などの樹脂、さらには熱伝導性を
高めるために、これらの樹脂に酸化アルミニウム、窒化
アルミニウム、酸化マグネシウム、窒化ホウ素などの高
熱伝導性無機充填剤を充填したものが使用される。
【0018】導体回路を形成するには、通常の銅張り回
路積層板で採用されているようなサブトラクティブ法と
同様にエッチングを行うか、又は本発明に係る上記の銅
部材を用いる場合にはあらかじめパタ−ン形成を行う。 導体回路と絶縁層との接着はプレスなどにより行う。
路積層板で採用されているようなサブトラクティブ法と
同様にエッチングを行うか、又は本発明に係る上記の銅
部材を用いる場合にはあらかじめパタ−ン形成を行う。 導体回路と絶縁層との接着はプレスなどにより行う。
【0019】
【実施例】以下,実施例と比較例をあげてさらに具体的
に本発明を説明する。 実施例1 基板用として厚さ5mmの市販圧延銅板及び導体回路用
として厚さ0.3mmの市販圧延銅箔を250mm×2
50mmの大きさに加工し、それぞれの両面を市販の弱
アルカリ性溶液で脱脂・水洗しさらに酸洗・水洗・乾燥
を行った後、ポリシラザンを被覆した。
に本発明を説明する。 実施例1 基板用として厚さ5mmの市販圧延銅板及び導体回路用
として厚さ0.3mmの市販圧延銅箔を250mm×2
50mmの大きさに加工し、それぞれの両面を市販の弱
アルカリ性溶液で脱脂・水洗しさらに酸洗・水洗・乾燥
を行った後、ポリシラザンを被覆した。
【0020】ポリシラザンとしては、上記一般式で示さ
れたもののうち、R1 、R2 、R3がいずれも水素
であるペルヒドロポリシラザンを用い、そのキシレン溶
液をディッピング法により被覆後、窒素雰囲気下、昇温
速度10℃/minで350℃に昇温後30分間焼成し
た。 焼成後の膜厚は0.5μm であり、その膜成分は非晶
質窒化珪素であることをX線回折により確かめた。
れたもののうち、R1 、R2 、R3がいずれも水素
であるペルヒドロポリシラザンを用い、そのキシレン溶
液をディッピング法により被覆後、窒素雰囲気下、昇温
速度10℃/minで350℃に昇温後30分間焼成し
た。 焼成後の膜厚は0.5μm であり、その膜成分は非晶
質窒化珪素であることをX線回折により確かめた。
【0021】上記ポリシラザンの熱分解物で被覆された
基板に、無機充填剤として平均粒径2μm の酸化アル
ミニウムを47体積%含む液状エポキシ樹脂(油化シェ
ル社製「エピコ−ト828」)にアミン系硬化剤(アク
メックス社製「H−84B」)をエポキシ当量相当分混
合し、厚み150μm で塗布して絶縁層を形成した。 絶縁層を加熱し半硬化させた状態で室温に戻し、その上
に、上記ポリシラザンの熱分解物で被覆された導体回路
を空気が入らないようにラミネ−トし加圧・加熱してエ
ポキシを完全に硬化させて回路基板を製作した。
基板に、無機充填剤として平均粒径2μm の酸化アル
ミニウムを47体積%含む液状エポキシ樹脂(油化シェ
ル社製「エピコ−ト828」)にアミン系硬化剤(アク
メックス社製「H−84B」)をエポキシ当量相当分混
合し、厚み150μm で塗布して絶縁層を形成した。 絶縁層を加熱し半硬化させた状態で室温に戻し、その上
に、上記ポリシラザンの熱分解物で被覆された導体回路
を空気が入らないようにラミネ−トし加圧・加熱してエ
ポキシを完全に硬化させて回路基板を製作した。
【0022】得られた回路基板について、導体回路と絶
縁層とのピ−ル強度を測定したところ、6.6kg/c
mであった。なお、ピ−ル強度の測定中には基板と絶縁
層との剥離は起こらず良好な接着性を示した。
縁層とのピ−ル強度を測定したところ、6.6kg/c
mであった。なお、ピ−ル強度の測定中には基板と絶縁
層との剥離は起こらず良好な接着性を示した。
【0023】ピ−ル強度は、パタ−ン幅10mmで60
mm長による90゜T字剥離法により測定した。測定器
として、オリエンテック社製「テンシロン VCT−
1T」を用いた。
mm長による90゜T字剥離法により測定した。測定器
として、オリエンテック社製「テンシロン VCT−
1T」を用いた。
【0024】
【実施例2】実施例1で得られたポリシラザンの熱分解
物で被覆された基板用圧延銅板及び同じく導体回路用圧
延銅箔にそれぞれニッケルメッキ処理を行ったこと以外
は実施例1と同様にして回路基板を作製した。そのピ−
ル強度は7kg/cmであった。なお、ピ−ル強度の測
定中には基板と絶縁層との間では剥離は起こらず良好な
接着性を示した。
物で被覆された基板用圧延銅板及び同じく導体回路用圧
延銅箔にそれぞれニッケルメッキ処理を行ったこと以外
は実施例1と同様にして回路基板を作製した。そのピ−
ル強度は7kg/cmであった。なお、ピ−ル強度の測
定中には基板と絶縁層との間では剥離は起こらず良好な
接着性を示した。
【0025】
【比較例1】ポリシラザンの熱分解物で被覆されていな
い基板用圧延銅板及び導体回路用圧延銅箔を用い、その
表面洗浄のみを行ったこと以外は実施例1と同様にして
回路基板を作製した。ピ−ル強度を測定しようとしたが
、導体回路と絶縁層が剥離し測定することができなかっ
た。
い基板用圧延銅板及び導体回路用圧延銅箔を用い、その
表面洗浄のみを行ったこと以外は実施例1と同様にして
回路基板を作製した。ピ−ル強度を測定しようとしたが
、導体回路と絶縁層が剥離し測定することができなかっ
た。
【0026】
【発明の効果】本発明の回路基板は、エポキシ樹脂など
の絶縁層との接着性が良好な銅部材を導体回路及び/又
は基板として使用しているため、大電流回路基板、高周
波用回路、低熱膨張基板などを容易に製造することがで
きる。
の絶縁層との接着性が良好な銅部材を導体回路及び/又
は基板として使用しているため、大電流回路基板、高周
波用回路、低熱膨張基板などを容易に製造することがで
きる。
Claims (1)
- 【請求項1】 銅基材の一部又は全面がポリシラザン
の熱分解物で被覆されてなる銅部材を、メッキ処理を施
して又は施さないで導体回路及び/又は基板として使用
してなることを特徴とする回路基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16522591A JPH04364091A (ja) | 1991-06-11 | 1991-06-11 | 回路基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16522591A JPH04364091A (ja) | 1991-06-11 | 1991-06-11 | 回路基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04364091A true JPH04364091A (ja) | 1992-12-16 |
Family
ID=15808238
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16522591A Pending JPH04364091A (ja) | 1991-06-11 | 1991-06-11 | 回路基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04364091A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09148696A (ja) * | 1995-11-16 | 1997-06-06 | Gunze Ltd | プリント配線用基板 |
JP2004014746A (ja) * | 2002-06-06 | 2004-01-15 | Denki Kagaku Kogyo Kk | モジュール構造体とその製造方法 |
JP2006316300A (ja) * | 2005-05-11 | 2006-11-24 | Hitachi Chem Co Ltd | 銅の表面処理方法及び銅表面 |
WO2017130373A1 (ja) * | 2016-01-29 | 2017-08-03 | 株式会社Jcu | 基板上への回路形成方法 |
JP2018037679A (ja) * | 2015-12-25 | 2018-03-08 | 太陽誘電株式会社 | プリント配線板、及びカメラモジュール |
-
1991
- 1991-06-11 JP JP16522591A patent/JPH04364091A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09148696A (ja) * | 1995-11-16 | 1997-06-06 | Gunze Ltd | プリント配線用基板 |
JP2004014746A (ja) * | 2002-06-06 | 2004-01-15 | Denki Kagaku Kogyo Kk | モジュール構造体とその製造方法 |
JP2006316300A (ja) * | 2005-05-11 | 2006-11-24 | Hitachi Chem Co Ltd | 銅の表面処理方法及び銅表面 |
JP2018037679A (ja) * | 2015-12-25 | 2018-03-08 | 太陽誘電株式会社 | プリント配線板、及びカメラモジュール |
WO2017130373A1 (ja) * | 2016-01-29 | 2017-08-03 | 株式会社Jcu | 基板上への回路形成方法 |
US10966327B2 (en) | 2016-01-29 | 2021-03-30 | Jcu Corporation | Method for forming circuit on substrate |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6475629B1 (en) | Adhesive film formed of a siloxane-modified polyamideimide resin composition, adhesive sheet and semiconductor device | |
US5599582A (en) | Adhesive layer in multi-level packaging and organic material as a metal diffusion barrier | |
US8419918B2 (en) | Method of surface modification of polyimide film using ethyleneimines coupling agent, manufacturing method of flexible copper clad laminate and its product thereby | |
WO2006059845A1 (en) | Method of surface modification of polyimide film using silanes coupling agent, manufacturing method of flexible copper clad laminate and its product thereby | |
KR100955552B1 (ko) | 폴리이미드 필름, 폴리이미드 금속 적층체 및 그의제조방법 | |
US5527621A (en) | Method for surface treatment of polyimide resin molded articles | |
US4964923A (en) | Method of forming a copper film on a ceramic body | |
US4615945A (en) | Copper-foiled laminate for base plate | |
JPH04364091A (ja) | 回路基板 | |
CA1187352A (en) | Polymer coatings and methods of applying same | |
JPH0739161B2 (ja) | 両面導体ポリイミド積層体及びその製造法 | |
JP2005116745A (ja) | 導体被覆ポリイミドフィルムの製造方法及び導体被覆ポリイミドフィルム | |
JPH1149880A (ja) | 表面処理法及びその接着剤 | |
JP2729063B2 (ja) | フレキシブル金属箔積層板の製造方法 | |
JPH06104542A (ja) | 金属ベース配線基板 | |
KR102041676B1 (ko) | 반도체 패키지의 제조방법 | |
JP2708821B2 (ja) | 電気用積層板 | |
JP2621729B2 (ja) | 多層配線基板用絶縁膜の製造方法 | |
JP2797044B2 (ja) | 接着方法及び接着性部材 | |
TWI825562B (zh) | 覆銅層壓膜、包括其的電子元件以及所述覆銅層壓膜的製造方法 | |
JP2003064430A (ja) | 積層板用銅合金箔 | |
KR101099397B1 (ko) | 초음파 접합용 적층판 및 이것을 사용한 초음파 접합 방법 | |
JPS61116531A (ja) | 金属コアポリイミド樹脂銅張積層板の製造方法 | |
JP2016160517A (ja) | 金属表面処理液、配線構造、及び配線構造の製造方法 | |
JPH0851280A (ja) | 多層プリント配線板 |