JPH04352436A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

Info

Publication number
JPH04352436A
JPH04352436A JP3127908A JP12790891A JPH04352436A JP H04352436 A JPH04352436 A JP H04352436A JP 3127908 A JP3127908 A JP 3127908A JP 12790891 A JP12790891 A JP 12790891A JP H04352436 A JPH04352436 A JP H04352436A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor element
lead frame
terminal member
frame stage
terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3127908A
Other languages
English (en)
Inventor
Junichi Kasai
純一 河西
Rikuro Sono
薗 陸郎
Toshiyuki Yoda
敏幸 誉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP3127908A priority Critical patent/JPH04352436A/ja
Priority to US07/889,954 priority patent/US5309016A/en
Publication of JPH04352436A publication Critical patent/JPH04352436A/ja
Priority to US08/187,733 priority patent/US5361970A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49517Additional leads
    • H01L23/49531Additional leads the additional leads being a wiring board
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/0555Shape
    • H01L2224/05552Shape in top view
    • H01L2224/05553Shape in top view being rectangular
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/4501Shape
    • H01L2224/45012Cross-sectional shape
    • H01L2224/45015Cross-sectional shape being circular
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45117Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
    • H01L2224/45124Aluminium (Al) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4911Disposition the connectors being bonded to at least one common bonding area, e.g. daisy chain
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L24/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01013Aluminum [Al]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01014Silicon [Si]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01028Nickel [Ni]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01029Copper [Cu]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01047Silver [Ag]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19107Disposition of discrete passive components off-chip wires

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置に係り、特に
多数の端子を有するため半導体素子とリードとの間に中
継部材となるターミナル部材を設けてなる半導体装置に
関する。
【0002】近年、半導体素子の高集積化、半導体装置
の多ピン化等の要求に伴い、小型半導体素子を多ピン半
導体装置に搭載した構成のものが提供されている。
【0003】この場合、インナーリードの先端をワイヤ
ーボンディング可能な位置まで半導体素子のパッドに近
づける必要がある。しかるに、端子数が多くなるとイン
ナーリードの先端の間隔が狭くなり現在のリードフレー
ム加工技術(エッチング、プレス等)ではワイヤーボン
ディングに耐え得る強度を維持しつつインナーリードの
先端を半導体素子に近づけることが不可能となってきて
いる。
【0004】そこで、このような半導体装置を現在のワ
イヤーボンディング技術で製造するため、半導体素子と
インナーリードとの間に導体パターンを有するターミナ
ル部(中継部)を設け、このターミナル部を介してイン
ナーリードと半導体素子を接続することが行われている
。具体的には、インナーリードの先端とターミナル部の
導体パターンの一端をワイヤーボンディングすると共に
、導体パターンの他端と半導体素子のパッドとをワイヤ
ーボンディングすることが行われている。
【0005】
【従来の技術】従来はリードフレームステージ上にター
ミナル部が形成されており、リードフレームステージを
製作する際に半導体素子の取付部の外方にターミナル部
を一体形成し、そしてターミナル部の上面に導体パター
ンをエッチング等により形成していた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかるに、従来はター
ミナル部がリードフレームステージと一体に設けられて
いたため、リードフレームステージの製作に手間がかか
り、特にターミナル部に複数の導体パターンを形成しな
ければならず、その分加工工数が増加して生産効率を高
めることが難しかった。
【0007】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、複数の導電パターンを有するターミナル部材をリ
ードフレームステージと別体に製作し、当該ターミナル
部材をリードフレームステージに固着してからワイヤボ
ンディングを行いうる半導体装置を提供することを目的
とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
、本発明では、半導体素子が載置固定されるリードフレ
ームステージと、該半導体素子のパッドにワイヤボンデ
ィングされる導体パターンを有し、前記半導体素子の外
方に位置するように前記リードフレームステージに載置
固定されるターミナル部材と、前記リードフレームステ
ージの周縁部より離間した位置に配設され、前記ターミ
ナル部材の導体パターンにワイヤボンディングされるイ
ンナーリードと、よりなることを特徴とするものである
【0009】又、前記ターミナル部材は前記半導体素子
と同一の材質により形成してなることを特徴とする。
【0010】
【作用】半導体素子のパッドとリードとの間を中継する
ターミナル部材をリードフレームステージと別体に製作
できるので、リードフレームステージの加工工数を減ら
して容易に加工できるようにするとともにターミナル部
材の製作も容易となる。又、ターミナル部材を半導体素
子と同一の材質により形成し、リードフレームステージ
にターミナル部材及び半導体素子を加熱して固着する際
両者の熱による歪が略同程度となるようにする。
【0011】
【実施例】次に本発明の実施例について図面と共に説明
する。図1及び図2は本発明の一実施例である半導体装
置1を示している。
【0012】両図中、2は半導体素子でありリードフレ
ームステージ3上に搭載されている。この半導体素子2
は例えば196〜256の端子を有し、この端子に対応
する数のパッド4(41 ,…,4n )が略正方形状
(図1中)とされた半導体素子2周縁部分の各辺に沿っ
て1列に配設されている。また、リードフレームステー
ジ3はFe−Ni合金又はCu合金よりなり、半導体装
置1の基板として機能するものである。
【0013】このリードフレームステージ3上には上記
の半導体素子2と共に、半導体素子1の四方を囲むよう
に細長形状のターミナル部材5が4個配設されている。 ターミナル部材5は、後述するように耐熱性及び機械的
強度を有する構造とされているため、高温のワイヤーボ
ンディングにも十分に耐えることが出来る。また、この
ターミナル部材5は、半導体素子1と同一の材質(シリ
コン)により形成されると共に、その上面には上記パッ
ド4に対応する数の導体パターン6(61 …6n )
が配設されている。
【0014】インナーリード7は半導体素子2の電極た
るパッド4をパッケージの外部へ引き出すためパッド4
の数に対応した数が設けられるものであり、半導体素子
2及びターミナル部材5が配設されたリードフレームス
テージ3を囲繞するように放射状に設けられている。ま
た、ワイヤーボンディングが行われるインナーリード先
端7aはワイヤーボンディングに耐え得る範囲で小幅、
肉薄となるよう構成されている。
【0015】インナーリード7は、これと半導体素子2
のパッド4とを直接ワイヤーボンディングしようとした
場合、インナーリード先端7aをかなり小幅、肉薄とす
る必要があるが、あまりにインナーリード先端7aを小
幅、肉薄にするとワイヤーボンディングを行うことが出
来なくなってしまう。
【0016】即ち、ワイヤーボンディングの手段として
一般に超音波ボンディングが行われているが、インナー
リード先端7aが小幅、肉薄となり機械的強度が低下す
ると、超音波の振動に伴いインナーリード先端7aも振
動してしまいワイヤーボンディングが出来なくなってし
まう。よって、インナーリード先端7aの小幅化、薄型
化には限界が生じてしまう。また、パッド4とインナー
リード先端7aとの距離を大きくとることもワイヤーボ
ンディング装置の性能上、限界がある(実用上3.0m
mが限界である)。
【0017】従って、半導体素子2のパッド数が多くな
りインナーリード先端7aとパッド4とを直接ワイヤー
ボンディングできなくなった場合には、中継部材として
導体パターン6が配設されたターミナル部材5をパッド
4とインナーリード先端7aとの間に設ける必要がある
。導体パターン6は硬度の高いターミナル部材5上に形
成されているため、小幅、肉薄としてもワイヤーボンデ
ィング時に振動してしまうようなことはない。
【0018】パッド4と導体パターン6との間にはイン
サイドワイヤ8がワイヤーボンディングされ、また導体
パターン6とインナーリード先端7aとの間にはアウト
サイドワイヤ9がワイヤーボンディングされる。この時
、ターミナル部材5は半導体素子2の四方を取り囲むよ
うに配設されているため、半導体素子2はリードフレー
ムステージ3上に直接搭載され、パッド4と導体パター
ン6の高さ位置は略同一の高さとなりワイヤーボンディ
ングの作業性が向上する。
【0019】続いて、本発明の要部となるターミナル部
材5の構造について図3を用いて説明する。同図はター
ミナル部材5の正面、側面図を示す図である。
【0020】同図に示されるように、ターミナル部材5
は予めリードフレームステージ3とは別に製作され、製
造工程途中にリードフレームステージ3上に取付けられ
る。ターミナル部材5は半導体素子2と同一な材質(シ
リコン基板)により形成されており、その上面には銅箔
等よりなる導体パターン6(61 …6n )がパッド
4に対応する数形成されている。即ち、ターミナル部材
5は、半導体素子2に使用されるシリコン基板と同一の
材料を使用し、その表面に先ず導体パターン4に対して
絶縁性を保証するために、シリコンを熱酸化して酸化膜
を形成するか、又は所謂CVD法等によりガラス膜等を
形成する。その後、ターミナル部材5の上面にAl、A
u等のワイヤボンディングに適した金属により導体パタ
ーン4を形成する。
【0021】このように形成されたターミナル部材5は
1個のチップ部品として扱うことができ、しかも簡単な
構成であるので、従来のようにリードフレームステージ
3と一体形成されるよりも多量生産により安価に製作す
ることができる。
【0022】尚、本実施例ではリードフレームステージ
3上に取付けられた各ターミナル部材5は夫々同一形状
であり、導体パターン6の数も同一である。しかし、半
導体素子2のパッド4数が各辺によって異なる場合もあ
る。その場合、各辺の中でもっともパッド数の多い数に
対応させて導体パターン6を形成する。
【0023】又、上記ターミナル部材5がリードフレー
ムステージ3と別体に製作されるため、従来のようにリ
ードフレームステージ3にターミナル部を一体形成する
必要がなく、その分工程数が減るためリードフレームス
テージ3の製作が容易となり、安価に製作しうる。しか
も、リードフレームステージ3を異なる形状の半導体素
子2に対して共用化することができる。
【0024】半導体素子2及びターミナル部材5はダイ
ボンディングによりリードフレームステージ3に固着さ
れる。その際リードフレームステージ3が約400℃位
まで加熱され半導体素子2及びターミナル部材5のシリ
コンの一部がリードフレームステージ3と溶け合って半
田付けのように固着される。
【0025】しかるに、半導体素子2及びターミナル部
材5がシリコン基板よりなるため、ダイボンディングの
加熱による歪が両者に略均一に発生する。そのため、タ
ーミナル部材5だけにクラックが発生することがなく、
ダイボンディング時両者の耐えうる温度まで加熱するこ
とが可能となる。
【0026】図4乃至図6に本発明の変形例を示す。
【0027】上記実施例ではターミナル部材5を半導体
素子2を取り囲むよう構成したが、図4に示されるよう
に、上記4個のターミナル部材5を一体化してなる板状
のターミナル部材10上に半導体素子2を搭載した構成
としてもよい。この場合、四方向の各周縁部に導体パタ
ーン6が形成された板状のターミナル部材10をリード
フレームステージ3にダイボンディングにより固着し、
その後ターミナル部材10の上面中央に半導体素子2を
ダイボンディングする。
【0028】そして、半導体素子2のパッド4と導体パ
ターン6との間にインサイドワイヤ8がワイヤボンディ
ングされ、さらに導体パターン6とインナーリード先端
7aとの間にアウトサイドワイヤ9がワイヤボンディン
グされる。
【0029】ターミナル部材10は半導体素子2と同一
材(シリコン基板)により形成されており、その上面の
各辺の周縁部には半導体素子2のパッド4(41 …4
n )数に対応するように各導体パターン6(61…6
n )が形成されている。従って、上記実施例では半導
体素子2の周囲に4個のターミナル部材5を配設したが
、ターミナル部材10の場合1個の部品にすべての導体
パターン6が形成されるため、部品点数が削減されると
ともに扱いやすい大きさとなり組付工程における位置決
め及びダイボンディングが容易となり組付工程の能率を
高めることが可能となる。
【0030】
【発明の効果】上述したように、本発明によれば、リー
ドフレームステージと別体のターミナル部材を製作する
ことにより、リードフレームステージの製作が容易とな
り、各半導体素子の形状に拘わらず共用化することがで
き、生産能率を高めることができる。又、ターミナル部
材の材質を半導体素子と同一にすることにより、リード
フレームステージにダイボンディングする際の加熱によ
りターミナル部材にクラックが発生することを防止でき
る等の特長を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明になる半導体装置の一実施例の平面図で
ある。
【図2】図1に示す半導体装置の縦断面図である。
【図3】ターミナル部材を説明するための図である。
【図4】本発明の変形例を示す平面図である。
【図5】図4に示す半導体装置の縦断面図である。
【図6】ターミナル部材を説明するための縦断面図であ
る。
【符号の説明】
1  半導体装置 2  半導体素子 3  リードフレームステージ 4  パッド 5,10  ターミナル部材 6  導体パターン 7  インナーリード 8  インサイドワイヤ 9  アウトサイドワイヤ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  半導体素子(2)が載置固定されるリ
    ードフレームステージ(3)と、該半導体素子(2)の
    パッド(4)にワイヤボンディングされる導体パターン
    (6)を有し、前記半導体素子(2)の外方に位置する
    ように前記リードフレームステージ(3)に載置固定さ
    れるターミナル部材(5,10)と、前記リードフレー
    ムステージ(3)の周縁部より離間した位置に配設され
    、前記ターミナル部材(5,10)の導体パターン(6
    )にワイヤボンディングされるインナーリード(7)と
    、よりなることを特徴とした半導体装置。
  2. 【請求項2】  前記ターミナル部材(5,10)は前
    記半導体素子(2)と同一の材質により形成してなるこ
    とを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
JP3127908A 1991-05-30 1991-05-30 半導体装置 Pending JPH04352436A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3127908A JPH04352436A (ja) 1991-05-30 1991-05-30 半導体装置
US07/889,954 US5309016A (en) 1991-05-30 1992-05-29 Semiconductor integrated circuit device having terminal members provided between semiconductor element and leads
US08/187,733 US5361970A (en) 1991-05-30 1994-01-28 Method of producing a semiconductor integrated circuit device having terminal members provided between semiconductor element and leads

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3127908A JPH04352436A (ja) 1991-05-30 1991-05-30 半導体装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04352436A true JPH04352436A (ja) 1992-12-07

Family

ID=14971635

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3127908A Pending JPH04352436A (ja) 1991-05-30 1991-05-30 半導体装置

Country Status (2)

Country Link
US (2) US5309016A (ja)
JP (1) JPH04352436A (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6734545B1 (en) 1995-11-29 2004-05-11 Hitachi, Ltd. BGA type semiconductor device and electronic equipment using the same
JP3294490B2 (ja) * 1995-11-29 2002-06-24 株式会社日立製作所 Bga型半導体装置
US5914529A (en) * 1998-02-20 1999-06-22 Micron Technology, Inc. Bus bar structure on lead frame of semiconductor device package
US6225685B1 (en) 2000-04-05 2001-05-01 Advanced Micro Devices, Inc. Lead frame design for reduced wire sweep having a defined gap between tie bars and lead pins
JP3631120B2 (ja) * 2000-09-28 2005-03-23 沖電気工業株式会社 半導体装置
TWI226122B (en) * 2003-05-08 2005-01-01 Advanced Semiconductor Eng Multi-chip package with electrical interconnection
WO2012144070A1 (ja) * 2011-04-22 2012-10-26 三菱電機株式会社 半導体装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54140483A (en) * 1978-04-21 1979-10-31 Nec Corp Semiconductor device
JPS60234335A (ja) * 1984-05-08 1985-11-21 Toshiba Corp 半導体装置
US4612564A (en) * 1984-06-04 1986-09-16 At&T Bell Laboratories Plastic integrated circuit package
JPS61108160A (ja) * 1984-11-01 1986-05-26 Nec Corp コンデンサ内蔵型半導体装置及びその製造方法
JPS6290953A (ja) * 1985-10-01 1987-04-25 Fujitsu Ltd 樹脂封止型半導体装置
JPH039540A (ja) * 1989-06-07 1991-01-17 Shinkawa Ltd ワイヤボンデイング方法
JP2841126B2 (ja) * 1991-04-19 1998-12-24 株式会社新川 ワイヤボンデイング方法及び装置

Also Published As

Publication number Publication date
US5361970A (en) 1994-11-08
US5309016A (en) 1994-05-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3205235B2 (ja) リードフレーム、樹脂封止型半導体装置、その製造方法及び該製造方法で用いる半導体装置製造用金型
KR950000205B1 (ko) 리이드 프레임 및 이를 사용한 반도체 장치
US6780679B2 (en) Semiconductor device and method of manufacturing the same
JP4547086B2 (ja) 半導体装置
JP2586835B2 (ja) 半導体集積回路
JPS60167454A (ja) 半導体装置
JPH04352436A (ja) 半導体装置
CN109087903B (zh) 电子装置、用于电子装置的引线框架以及制造电子装置和引线框架的方法
JP2569400B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JPH11177007A (ja) トランジスタパッケージ
JP5585352B2 (ja) リードフレーム、半導体装置及びその製造方法
JPH0817870A (ja) 半導体装置
JP3691790B2 (ja) 半導体装置の製造方法及び該方法によって製造された半導体装置
JP3234614B2 (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP2001177007A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP2954108B2 (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP2528192B2 (ja) 半導体装置
JPH07193180A (ja) 樹脂封止型半導体装置
JPH07249708A (ja) 半導体装置及びその実装構造
JP2700434B2 (ja) 半導体装置
JP2010153676A (ja) 半導体装置および半導体装置の製造方法
JPH09246451A (ja) リードフレームおよびそれを用いた半導体装置
JPH04280439A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP2000077598A (ja) 半導体装置
JP2004200719A (ja) 半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19990817