JPH04335172A - 集積回路のための直列型の動作分析装置に走査クロックを発生させるための回路 - Google Patents
集積回路のための直列型の動作分析装置に走査クロックを発生させるための回路Info
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- JPH04335172A JPH04335172A JP3336993A JP33699391A JPH04335172A JP H04335172 A JPH04335172 A JP H04335172A JP 3336993 A JP3336993 A JP 3336993A JP 33699391 A JP33699391 A JP 33699391A JP H04335172 A JPH04335172 A JP H04335172A
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- 238000010304 firing Methods 0.000 claims abstract description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000003534 oscillatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000004936 stimulating effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
- G01R31/318533—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
- G01R31/318552—Clock circuits details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31727—Clock circuits aspects, e.g. test clock circuit details, timing aspects for signal generation, circuits for testing clocks
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/13—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
- H03K5/135—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals by the use of time reference signals, e.g. clock signals
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は一般に走査路として知ら
れている集積回路に対する直列型の動作分析装置での走
査クロックを発生させるための回路に関する。
れている集積回路に対する直列型の動作分析装置での走
査クロックを発生させるための回路に関する。
【0002】
【従来の技術】本願出願人の名義で1990年10月2
2日に出願されたイタリア共和国特許出願第21820
A/90号で記述されたように、ここでの走査路は、
例えば、マイクロプロセッサのような集積回路の1つ又
はそれ以上の機能ブロックが正しく動作するかどうかを
チェックするのに広く使用されている分析の一型式であ
る。
2日に出願されたイタリア共和国特許出願第21820
A/90号で記述されたように、ここでの走査路は、
例えば、マイクロプロセッサのような集積回路の1つ又
はそれ以上の機能ブロックが正しく動作するかどうかを
チェックするのに広く使用されている分析の一型式であ
る。
【0003】それは、それ自体の動作状態を刺激して評
価する機能を持つ個々の機能ブロックの入力及び出力に
ある一連の走査セル (ラッチ) 上に作用する直列型
式の走査信号の使用に基づいている。ここでは、検査中
にある機能ブロックの動作状態を累進的に更新し、そし
てそれに対応して、入力における直列信号の各要請でそ
の同じ機能ブロックにより取られる異なる状態を示して
いる信号を出力において得ることが可能である。
価する機能を持つ個々の機能ブロックの入力及び出力に
ある一連の走査セル (ラッチ) 上に作用する直列型
式の走査信号の使用に基づいている。ここでは、検査中
にある機能ブロックの動作状態を累進的に更新し、そし
てそれに対応して、入力における直列信号の各要請でそ
の同じ機能ブロックにより取られる異なる状態を示して
いる信号を出力において得ることが可能である。
【0004】こうした走査信号を得る最も自然な方法は
それら信号を、外部から、分析される予定の集積回路の
付加的なピン上に供給することである。この集積回路で
は、多くのピン数を必要とし、結果的に構造を複雑にし
て、価格を上昇させ、しかも製品標準化の概念に適合し
なくする。
それら信号を、外部から、分析される予定の集積回路の
付加的なピン上に供給することである。この集積回路で
は、多くのピン数を必要とし、結果的に構造を複雑にし
て、価格を上昇させ、しかも製品標準化の概念に適合し
なくする。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、かか
る走査信号が集積回路の動作用として既に与えられてい
る以外のピンを追加することなく得られることを可能に
する回路を達成することにある。
る走査信号が集積回路の動作用として既に与えられてい
る以外のピンを追加することなく得られることを可能に
する回路を達成することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明によると、かかる
目的は、集積回路の動作のために与えられるシステム・
クロックを入力において受信し、そのシステム・クロッ
クと実質的に一致してマシン・クロックを出力に発生す
る第1のスイッチング手段と、直列分析の点弧信号後に
マシン・クロックの状態のクランピングを決定するその
第1のスイッチング手段をクランプするための手段と、
前記システム・クロックを入力において受信しそして、
マシン・クロックがクランプされた状態に従う反転又は
非反転態様においてそのシステム・クロックを繰り返す
走査クロックを発生するために前記点弧信号により点弧
される第2のスイッチング手段とからなる回路によって
達成される。
目的は、集積回路の動作のために与えられるシステム・
クロックを入力において受信し、そのシステム・クロッ
クと実質的に一致してマシン・クロックを出力に発生す
る第1のスイッチング手段と、直列分析の点弧信号後に
マシン・クロックの状態のクランピングを決定するその
第1のスイッチング手段をクランプするための手段と、
前記システム・クロックを入力において受信しそして、
マシン・クロックがクランプされた状態に従う反転又は
非反転態様においてそのシステム・クロックを繰り返す
走査クロックを発生するために前記点弧信号により点弧
される第2のスイッチング手段とからなる回路によって
達成される。
【0007】この発明では、付加的なピンを必要とせず
、走査クロックは集積回路に既にあるシステムから簡単
に得られる。本発明の可能な実施例によると、前記第1
のスイッチング手段は、各々にそれぞれのインバータ段
が続いている、入力におけるシステム・クロックの第1
及び第2の増幅器段を含み、そして前記クランプ手段は
、マシン・クロックの発生のためにシステム・クロック
を通過させるのに適した閉成位置と、マシン・クロック
の状態のクランピングが行われる開成位置とから発展す
る直列分析の点弧信号の後縁により動作されるスイッチ
ング段によって構成されている。
、走査クロックは集積回路に既にあるシステムから簡単
に得られる。本発明の可能な実施例によると、前記第1
のスイッチング手段は、各々にそれぞれのインバータ段
が続いている、入力におけるシステム・クロックの第1
及び第2の増幅器段を含み、そして前記クランプ手段は
、マシン・クロックの発生のためにシステム・クロック
を通過させるのに適した閉成位置と、マシン・クロック
の状態のクランピングが行われる開成位置とから発展す
る直列分析の点弧信号の後縁により動作されるスイッチ
ング段によって構成されている。
【0008】更に、本発明では、前記スイッチング段の
出力と前記第2の増幅器段の入力との間にフィードバッ
ク段を設けて、開成位置への前記スイッチング段の切り
換え動作中における偽の信号の発生を防止している。最
後に、本発明では、ラッチ回路を前記第2の増幅器段の
出力と前記スイッチング段の入力との間に設けて、開成
位置への前記スイッチング段の切り換え動作中に、第2
の増幅器段がエネルギ損を生じさせる振動状態へ入るの
を防止している。
出力と前記第2の増幅器段の入力との間にフィードバッ
ク段を設けて、開成位置への前記スイッチング段の切り
換え動作中における偽の信号の発生を防止している。最
後に、本発明では、ラッチ回路を前記第2の増幅器段の
出力と前記スイッチング段の入力との間に設けて、開成
位置への前記スイッチング段の切り換え動作中に、第2
の増幅器段がエネルギ損を生じさせる振動状態へ入るの
を防止している。
【0009】
【実施例】本発明の特長は添付図面に非限定的例として
例示されている実施例から一層明らかになろう。図1を
参照するに、そこでの回路は直列のpチャネル・トラン
ジスタM1及びnチャネル・トランジスタM2によって
構成される第1の増幅器段A1を持つ第1のスイッチン
グ段11を含んでいる。トランジスタM1及びM2のゲ
ートは一緒に接続されて、そこには、集積回路の動作の
ために普通に付与されるシステム・クロックと一致して
入力信号XTALINが供給される。トランジスタM1
のドレインは電圧Vccにあり、そのソースはトランジ
スタM2のドレインに接続されている。トランジスタM
2のソースは接地されている。
例示されている実施例から一層明らかになろう。図1を
参照するに、そこでの回路は直列のpチャネル・トラン
ジスタM1及びnチャネル・トランジスタM2によって
構成される第1の増幅器段A1を持つ第1のスイッチン
グ段11を含んでいる。トランジスタM1及びM2のゲ
ートは一緒に接続されて、そこには、集積回路の動作の
ために普通に付与されるシステム・クロックと一致して
入力信号XTALINが供給される。トランジスタM1
のドレインは電圧Vccにあり、そのソースはトランジ
スタM2のドレインに接続されている。トランジスタM
2のソースは接地されている。
【0010】インバータI1の入力はトランジスタM1
のソースとトランジスタM2のドレインとの間に接続さ
れている。インバータI1の出力は、第2の増幅器段A
2の一部を形成している2つのpチャネル及びnチャネ
ル・トランジスタM3及びM4のゲートにそれぞれ接続
され、それらトランジスタM3及びM4間には、pチャ
ネル・トランジスタM5とnチャネル・トランジスタM
6とが直列に設けられている。トランジスタM3のドレ
インは電圧Vccにあり、そのソースはトランジスタM
5のドレインに接続されている。トランジスタM5のソ
ースはトランジスタM6のドレインに接続され、トラン
ジスタM6のソースはトランジスタM4のドレインに接
続され、そしてトランジスタM4のソースは接地されて
いる。トランジスタ5及びM6のゲートはフィードバッ
ク段12の出力に接続され、フィードバック段12の目
的は後で説明されよう。
のソースとトランジスタM2のドレインとの間に接続さ
れている。インバータI1の出力は、第2の増幅器段A
2の一部を形成している2つのpチャネル及びnチャネ
ル・トランジスタM3及びM4のゲートにそれぞれ接続
され、それらトランジスタM3及びM4間には、pチャ
ネル・トランジスタM5とnチャネル・トランジスタM
6とが直列に設けられている。トランジスタM3のドレ
インは電圧Vccにあり、そのソースはトランジスタM
5のドレインに接続されている。トランジスタM5のソ
ースはトランジスタM6のドレインに接続され、トラン
ジスタM6のソースはトランジスタM4のドレインに接
続され、そしてトランジスタM4のソースは接地されて
いる。トランジスタ5及びM6のゲートはフィードバッ
ク段12の出力に接続され、フィードバック段12の目
的は後で説明されよう。
【0011】トランジスタM5のドレインとトランジス
タM6のソースとの間には第2のインバータI2の入力
が接続され、インバータI2の出力は第3のインバータ
I3の入力となっている。インバータI3の出力はスイ
ッチング段13の入力となっている。スイッチング段1
3は第1のスイッチング手段11に対するクランプ手段
として動作し、互いに並列に配列されたnチャネル・ト
ランジスタM7とpチャネル・トランジスタM8とから
なっている。トランジスタM7のゲートは直列分析、つ
まり、走査路分析の点弧信号ENSHにより制御される
が、トランジスタM8のゲートは信号ENSHに対し相
補状にある信号ENSH’ により制御される。
タM6のソースとの間には第2のインバータI2の入力
が接続され、インバータI2の出力は第3のインバータ
I3の入力となっている。インバータI3の出力はスイ
ッチング段13の入力となっている。スイッチング段1
3は第1のスイッチング手段11に対するクランプ手段
として動作し、互いに並列に配列されたnチャネル・ト
ランジスタM7とpチャネル・トランジスタM8とから
なっている。トランジスタM7のゲートは直列分析、つ
まり、走査路分析の点弧信号ENSHにより制御される
が、トランジスタM8のゲートは信号ENSHに対し相
補状にある信号ENSH’ により制御される。
【0012】スイッチング段M7, M8の出力は第3
の増幅器段A3の入力となり、その出力では、マシン・
クロックCKが得られる。前記第3の増幅器段A3は、
直列の2つのnチャネル及びpチャネル抵抗性トランジ
スタM9, M10と、インバータI4と、トランジス
タM9及びM10に並列にそれぞれ接続されている別な
直列の2つのnチャネル及びpチャネル抵抗性トランジ
スタM11, M12とから成っている。トランジスタ
M10のドレインは電圧Vccにあり、そのソースはト
ランジスタM9のドレインに連続され、トランジスタM
9のソースは接地されている。インバータI4の入力は
トランジスタM10のソースとトランジスタM9のドレ
インとの間に接続されている。インバータI4の出力は
トランジスタM10, M9, M12及びM11の相
互接続されたゲートに接続されている。トランジスタM
12のドレインは電圧Vccにあり、そのソースはトラ
ンジスタM11のドレインに接続され、トランジスタM
11のソースは接地されている。マシン・クロックCK
として利用される第1のスイッチング手段11の出力U
’ はトランジスタM12のソースとトランジスタM1
1のドレインとの間から得られる。
の増幅器段A3の入力となり、その出力では、マシン・
クロックCKが得られる。前記第3の増幅器段A3は、
直列の2つのnチャネル及びpチャネル抵抗性トランジ
スタM9, M10と、インバータI4と、トランジス
タM9及びM10に並列にそれぞれ接続されている別な
直列の2つのnチャネル及びpチャネル抵抗性トランジ
スタM11, M12とから成っている。トランジスタ
M10のドレインは電圧Vccにあり、そのソースはト
ランジスタM9のドレインに連続され、トランジスタM
9のソースは接地されている。インバータI4の入力は
トランジスタM10のソースとトランジスタM9のドレ
インとの間に接続されている。インバータI4の出力は
トランジスタM10, M9, M12及びM11の相
互接続されたゲートに接続されている。トランジスタM
12のドレインは電圧Vccにあり、そのソースはトラ
ンジスタM11のドレインに接続され、トランジスタM
11のソースは接地されている。マシン・クロックCK
として利用される第1のスイッチング手段11の出力U
’ はトランジスタM12のソースとトランジスタM1
1のドレインとの間から得られる。
【0013】インバータI3の出力及び端子ENSH’
は、フィードバック段12に含まれている論理NAN
DゲートN4の入力として使用される。また、フィード
バック段12はインバータI5を含んでいる。インバー
タI5の入力は増幅器段A3の出力に接続され、その出
力は論理NANDゲートN1の入力に接続され、ゲート
N1の出力は論理NANDゲートN2の一方の入力に接
続され、そしてゲートN2の他方の入力には直列にある
インバータI6, I7の出力が接続され、インバータ
I6の入力には、マシン・クロックCKが供給されてい
る。 論理ゲートN1の他の入力は論理ゲートN2の出力に接
続されている。論理NANDゲートN2の出力は論理N
ANDゲートN3の2つの入力の1つを表わし、他方の
入力には信号ENSHが供給されている。論理ゲートN
3の出力及び論理ゲートN4の出力は論理ゲートN5の
入力となっている。フィードバック段12の出力を表わ
している論理ゲートN5の出力は第2の増幅器段A2に
あるトランジスタM5及びM6のゲートに接続されてい
る。
は、フィードバック段12に含まれている論理NAN
DゲートN4の入力として使用される。また、フィード
バック段12はインバータI5を含んでいる。インバー
タI5の入力は増幅器段A3の出力に接続され、その出
力は論理NANDゲートN1の入力に接続され、ゲート
N1の出力は論理NANDゲートN2の一方の入力に接
続され、そしてゲートN2の他方の入力には直列にある
インバータI6, I7の出力が接続され、インバータ
I6の入力には、マシン・クロックCKが供給されてい
る。 論理ゲートN1の他の入力は論理ゲートN2の出力に接
続されている。論理NANDゲートN2の出力は論理N
ANDゲートN3の2つの入力の1つを表わし、他方の
入力には信号ENSHが供給されている。論理ゲートN
3の出力及び論理ゲートN4の出力は論理ゲートN5の
入力となっている。フィードバック段12の出力を表わ
している論理ゲートN5の出力は第2の増幅器段A2に
あるトランジスタM5及びM6のゲートに接続されてい
る。
【0014】電圧Vccでもってバイアスされているラ
ッチ回路L1はインバータI2の入力に接続されている
。 インバータI1の出力は2つのインバータI8, I9
を通して論理NANDゲートN6の一方の入力に接続さ
れている。論理ゲートN6の他の入力には直列の試験設
定信号TEST1が供給される。
ッチ回路L1はインバータI2の入力に接続されている
。 インバータI1の出力は2つのインバータI8, I9
を通して論理NANDゲートN6の一方の入力に接続さ
れている。論理ゲートN6の他の入力には直列の試験設
定信号TEST1が供給される。
【0015】論理ゲートN6の出力は、トランジスタM
13及びM14を含んでいる第2のスイッチング手段1
4の入力を表わしている。論理ゲートN6の出力は、一
方ではトランジスタM13のドレインにじかに接続され
、他方ではトランジスタM14のドレインにインバータ
I10を通して接続され、トランジスタM13及びM1
4のソースは共通の結節Fを通してインバータI11の
入力に接続され、その出力U” では、走査信号SCK
が得られる。
13及びM14を含んでいる第2のスイッチング手段1
4の入力を表わしている。論理ゲートN6の出力は、一
方ではトランジスタM13のドレインにじかに接続され
、他方ではトランジスタM14のドレインにインバータ
I10を通して接続され、トランジスタM13及びM1
4のソースは共通の結節Fを通してインバータI11の
入力に接続され、その出力U” では、走査信号SCK
が得られる。
【0016】トランジスタM13及びM14のゲートは
論理NORゲートNo1及びNo2の出力により駆動さ
れる。論理ゲートNo1の入力にはマシン・クロックC
K及び点弧信号ENSHが供給され、そして論理ゲート
No2の入力には信号ENSH及びインバータI12の
出力が供給され、インバータI12の入力にはマシン・
クロックCKが与えられている。
論理NORゲートNo1及びNo2の出力により駆動さ
れる。論理ゲートNo1の入力にはマシン・クロックC
K及び点弧信号ENSHが供給され、そして論理ゲート
No2の入力には信号ENSH及びインバータI12の
出力が供給され、インバータI12の入力にはマシン・
クロックCKが与えられている。
【0017】プルアップ・トランジスタM15のソース
はトランジスタM14のソースに接続されている。トラ
ンジスタM15のゲートは信号ENSHにより駆動され
、そのドレインは電圧Vccに接続されている。抵抗性
トランジスタM16のソースはインバータI11の入力
に接続されている。トランジスタM16のドレインは電
圧Vccに接続され、そのゲートは出力U” に接続さ
れている。
はトランジスタM14のソースに接続されている。トラ
ンジスタM15のゲートは信号ENSHにより駆動され
、そのドレインは電圧Vccに接続されている。抵抗性
トランジスタM16のソースはインバータI11の入力
に接続されている。トランジスタM16のドレインは電
圧Vccに接続され、そのゲートは出力U” に接続さ
れている。
【0018】前に詳細に記述した回路配列における動作
波形を例示している図2及び図3から見られるように、
直列分析の点弧信号が論理レベル1にある限り、スイッ
チング段M7, M8は閉成された位置に置かれる。第
1の増幅器段A1、引き続くインバータI1、第2の増
幅器段A2及び引き続くインバータI2, I3を通過
した後の入力信号XTALINはスイッチング段M7,
M8を通過し、それから、増幅器段A3を通して、第
1のスイッチング手段11の出力U’ に送られて、シ
ステム・クロックXTALINの振動を繰り返すマシン
・クロックCKとして取り出される。
波形を例示している図2及び図3から見られるように、
直列分析の点弧信号が論理レベル1にある限り、スイッ
チング段M7, M8は閉成された位置に置かれる。第
1の増幅器段A1、引き続くインバータI1、第2の増
幅器段A2及び引き続くインバータI2, I3を通過
した後の入力信号XTALINはスイッチング段M7,
M8を通過し、それから、増幅器段A3を通して、第
1のスイッチング手段11の出力U’ に送られて、シ
ステム・クロックXTALINの振動を繰り返すマシン
・クロックCKとして取り出される。
【0019】走査路動作に対してその回路を準備させる
のに適している直列の試験設定信号TEST1が論理ゲ
ートN6の対応する入力を横切って作り出されると仮定
すると、それからの出力では、論理レベル1においてク
ランプされるまで、反転された信号XTALINが得ら
れる。また、この状態の下で、通常では論理レベル1に
ある直列分析の点弧信号ENSHが論理レベル0になる
と仮定すると、ENSH’ も論理レベル0になる。こ
れはスイッチング段13を開成させて、マシン・クロッ
クCKの信号の振動クランプすることになる。
のに適している直列の試験設定信号TEST1が論理ゲ
ートN6の対応する入力を横切って作り出されると仮定
すると、それからの出力では、論理レベル1においてク
ランプされるまで、反転された信号XTALINが得ら
れる。また、この状態の下で、通常では論理レベル1に
ある直列分析の点弧信号ENSHが論理レベル0になる
と仮定すると、ENSH’ も論理レベル0になる。こ
れはスイッチング段13を開成させて、マシン・クロッ
クCKの信号の振動クランプすることになる。
【0020】この時点でのクランピング動作は、そのマ
シン・クロックが図2に例示されているような高い状態
にあるのか又は図3に例示されているような低い状態に
あるかに従って実施される。この状態の下で、ラッチ回
路L1はエネルギ損を生じてさせる増幅器2の振動の発
生を防止する。これと同時に、トランジスタM5及びM
6は、フィードバック段12を通してエネルギを節約す
ると共に、偽の信号を回避することを目的として、遮断
つまりオフされる。
シン・クロックが図2に例示されているような高い状態
にあるのか又は図3に例示されているような低い状態に
あるかに従って実施される。この状態の下で、ラッチ回
路L1はエネルギ損を生じてさせる増幅器2の振動の発
生を防止する。これと同時に、トランジスタM5及びM
6は、フィードバック段12を通してエネルギを節約す
ると共に、偽の信号を回避することを目的として、遮断
つまりオフされる。
【0021】直列分析の点弧信号ENSHが低レベルに
あってそしてマシン・クロックCKが高レベル (図2
) においてか又は低レベル (図3) においてクラ
ンプされる場合、第2のスイッチング手段14のNOR
ゲートNo1及びNo2はトランジスタM13及びM1
4に作用して、NANDゲートN6の出力における信号
XTALINを、じかに又は反転して、出力U” へ転
送される。
あってそしてマシン・クロックCKが高レベル (図2
) においてか又は低レベル (図3) においてクラ
ンプされる場合、第2のスイッチング手段14のNOR
ゲートNo1及びNo2はトランジスタM13及びM1
4に作用して、NANDゲートN6の出力における信号
XTALINを、じかに又は反転して、出力U” へ転
送される。
【0022】この様に、走査クロックSCKはその回路
の出力U” において得られ、図2及び図3での対応す
る波形図からも見られるように、所定の遅延をもって、
システム・クロックXTALINを非反転態様でか又は
反転態様においてそれぞれ繰り返す。図2及び図3から
見られるように、走査クロックSCKはシステム・クロ
ックXTALINの初めの縁部へとロックするのに適し
ているので、すべての状態の下で、その初めの縁部は前
縁である。これは、前述のイタリア特許出願第2182
0 A/90に開示されているように、そのシステムの
通常の動作中、その走査セルのマスター部からスレーブ
部へのデータの通過をじかに制御するために使用される
ようになっているSCKが常に論理レベル0にあると云
う事実に依存している。
の出力U” において得られ、図2及び図3での対応す
る波形図からも見られるように、所定の遅延をもって、
システム・クロックXTALINを非反転態様でか又は
反転態様においてそれぞれ繰り返す。図2及び図3から
見られるように、走査クロックSCKはシステム・クロ
ックXTALINの初めの縁部へとロックするのに適し
ているので、すべての状態の下で、その初めの縁部は前
縁である。これは、前述のイタリア特許出願第2182
0 A/90に開示されているように、そのシステムの
通常の動作中、その走査セルのマスター部からスレーブ
部へのデータの通過をじかに制御するために使用される
ようになっているSCKが常に論理レベル0にあると云
う事実に依存している。
【図1】本発明による回路の実施例を示す回路である。
【図2】回路を通した信号の波形図である。
【図3】回路を通した信号の別の波形図である。
XTALIN システム・クロック CK
マシン・クロック ENSH 点弧信号
SCK 走査クロック 11 第1のスイッチング手段
12 フィードバック手段 13 スイッチング手段11のクランプ手段14
第2のスイッチング手段 A1,A
2 増幅器 I1,I2,I3 インバータ
L1 ラッチ回路 M7,M8 スイッチング段
マシン・クロック ENSH 点弧信号
SCK 走査クロック 11 第1のスイッチング手段
12 フィードバック手段 13 スイッチング手段11のクランプ手段14
第2のスイッチング手段 A1,A
2 増幅器 I1,I2,I3 インバータ
L1 ラッチ回路 M7,M8 スイッチング段
Claims (4)
- 【請求項1】 集積回路のための直列型の動作分析装
置に走査クロックを発生させるための回路であって、集
積回路の動作のために与えられるシステム・クロック
(XTALIN) を入力において受信し、前記システ
ム・クロック (XTALIN) と実質的に一致して
マシン・クロック (CK) を出力に発生する第1の
スイッチング手段 (11) と、直列分析の点弧信号
(ENSH) 後に前記マシン・クロック (CK)
の状態のクランピングを決定する前記第1のスイッチ
ング手段 (11) をクランプするための手段 (1
3) と、前記システム・クロック (XTALIN)
を入力において受信し、マシン・クロック (CK)
がクランプされた状態に従う反転又は非反転態様にお
いてシステム・クロック (XTALIN) を繰り返
す走査クロック (SCK)を発生させるために前記点
弧信号 (ENSH) により点弧される第2のスイッ
チング手段 (14) とを備えていることを特徴とす
る回路。 - 【請求項2】 前記第1のスイッチング手段 (11
) が、各々にそれぞれのインバータ段 (I1; I
2−I3) が続いている前記システム・クロック (
XTALIN) の第1及び第2の増幅器段 (A1,
A2) を含み、前記クランプ手段(13) は、マ
シン・クロック (CK) の発生のためにシステム・
クロック (XTALIN) を通過させるのに適した
閉成位置と、マシン・クロック (CK) の状態のク
ランピングが行われる開成位置とから発展する直列分析
の点弧信号 (ENSH) の後縁により動作されるス
イッチング段 (M7, M8) によって構成されて
いることを特徴とする請求項1の回路。 - 【請求項3】 前記スイッチング段 (M7, M8
) の出力と前記第2の増幅器段 (A2) の入力と
の間には、開成位置への前記スイッチング段 (M7−
M8) の切り換え動作中に偽の信号の発生を防止する
のに適しているフィードバック段 (12) が設けら
れていることを特徴とする請求項2の回路。 - 【請求項4】 前記第2の増幅器段 (A2) の出
力と、前記スイッチング段(M7, M8) の入力と
の間には、開成位置への前記スイッチング段 (M7,
M8) の切り換え動作中に、前記第2の増幅器段
(A2) がエネルギ損を生じさせる振動状態へと入る
のを防止するラッチ回路 (L1) が設けられている
ことを特徴とする請求項2の回路。
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1990
- 1990-12-19 IT IT02243790A patent/IT1244205B/it active IP Right Grant
-
1991
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- 1991-12-11 DE DE69125256T patent/DE69125256T2/de not_active Expired - Fee Related
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- 1991-12-19 KR KR1019910023404A patent/KR920013908A/ko not_active Application Discontinuation
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-
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- 1995-06-15 US US08/492,462 patent/USRE36123E/en not_active Expired - Lifetime
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