JPH04328841A - 集積回路装置の特性測定用治具 - Google Patents

集積回路装置の特性測定用治具

Info

Publication number
JPH04328841A
JPH04328841A JP9888291A JP9888291A JPH04328841A JP H04328841 A JPH04328841 A JP H04328841A JP 9888291 A JP9888291 A JP 9888291A JP 9888291 A JP9888291 A JP 9888291A JP H04328841 A JPH04328841 A JP H04328841A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
package
integrated circuit
measurement
circuit device
measuring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9888291A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuo Murata
和夫 村田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Electric Industries Ltd filed Critical Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority to JP9888291A priority Critical patent/JPH04328841A/ja
Publication of JPH04328841A publication Critical patent/JPH04328841A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、リードフレームを有す
るパッケージに集積回路が実装された集積回路装置の特
性測定用治具に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、パッケージに収められた集積回路
(IC)の特性測定は、ICソケットにアウターリード
を挿入するか、あるいは測定用基板にパッケージのアウ
ターリードをハンダ付けすることによって行われてきた
。しかし、前者の場合は高周波特性が悪くなるため測定
精度が低く、また後者の場合は、測定後アウターリード
を基板からはずさなければならないため破壊検査になる
という問題があった。
【0003】そこでこれらの問題を解決する測定用治具
を用いた装置が、特願昭63−127340号で提案さ
れている。図3は、その装置の断面図である。同図(a
)に示されているように、この測定用治具は、集積回路
装置の特性を測定するためのパターンが描かれている測
定用基板1と、この測定用基板1を収納するケース4と
、測定用基板1上の所定の領域に載置され厚み方向に導
電性を有する異方性導電ゴム5とを有している。さらに
、このケース4に締め付け固定されることにより異方性
導電ゴム5を上方から測定用基板上に固定すると共に、
異方性導電ゴム5上に載置されるパッケージ2の位置を
規制する固定板6と、パッケージ2を微調整可能に押圧
する押圧手段8と、これを有する蓋7とを備えている。
【0004】上述の構造を有する治具では、図3(b)
に示されるように、パッケージ2を異方性導電ゴム5上
に載せて蓋7を閉じると、押圧手段8がパッケージ2を
押圧する。この押圧によってパッケージ2内の集積回路
と測定用基板1が電気的に低抵抗で接続される。このと
き、測定用基板1に対するパッケージ2の位置は固定板
6により規制されるので、押圧手段8の調整を予め行っ
ておけば、パッケージ2を所定の場所に載せ、蓋7を閉
じるだけで外部接続端子と測定パターンは位置合わせさ
れて固定され、測定の準備が完了する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述の測
定用治具では、固定板でパッケージ自体の位置を規制す
ることにより、位置合わせを行っているため、測定用パ
ターンとパッケージの外部端子との位置を厳密に一致さ
せることが難しい。このような事情は、パッケージの外
部にアウターリードが突出しているタイプの集積回路に
ついても同様に発生する。即ち、パッケージ自体で位置
合わせをしたのでは、突出しているアウターリードのピ
ッチが狭い場合には、パッケージとリードフレームの間
に僅かな位置ずれがあったりするとアウターリードと測
定用パターンとの位置合わせが難しくなり、隣接する他
の測定用の導電パターンと短絡する等の問題があった。
【0006】本発明は、この問題を解決した集積回路装
置の特性測定用治具を提供するものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は特性を測定すべ
き集積回路をパッケージの内部に有し、リードフレーム
の複数のアウターリードをパッケージの外部に有する集
積回路装置の特性測定用治具において、複数のアウター
リードのピッチに対応した導電パターンと、その導電パ
ターンの間に設けられた絶縁材料からなるピンとを表面
に有する測定用基板と、絶縁材料からなるピンに対応す
る位置に、そのピンと同形かつ同サイズの穴あるいは切
り欠きが設けられた押さえ部材とを備えることを特徴と
する。
【0008】
【作用】本発明によれば、測定用基板に形成されたピン
と押さえ部材に形成された切り欠きとを互いに嵌め込む
ことによってそれらが固定されるので、ピンの間にアウ
ターリードを固定することができ、パッケージはリード
フレームを基準として位置決めされ、かつ位置ずれしな
い。
【0009】
【実施例】図1は、本発明の実施例に係る集積回路装置
の特性測定用治具を表す斜視図である。図示されている
ようにこの測定用治具は、測定すべき集積回路を内部に
有するパッケージ2のアウターリード21がセットされ
る測定用基板1と、そのアウターリード21を測定用基
板1で押圧する押さえ部材3とを備えている。
【0010】測定用基板1には、測定時にパッケージ2
を保持するための2本の突出部11が平行に設けられて
おり、この突出部11の表面には、パッケージ2の複数
のアウターリード21のピッチに対応した導電パターン
14が設けられている。さらに、この導電パターン14
の間には、絶縁材料からなるピン12が設けられている
【0011】一方、上述の測定用基板1にアウターリー
ド21を押圧する押さえ部材3は、その両端部には、測
定用基板1に設けられている複数のピン12のそれぞれ
と噛み合ってアウターリード21を挟むことができるよ
うに、複数の切り欠き31が設けられている。
【0012】上記の構造により、パッケージ2の正確な
位置決めが実現される。即ち、測定用基板1上の導電パ
ターン14の間にはピン12が設けられ、しかも、これ
らはパッケージ2の各アウターリード21間のピッチと
合致するようになっているので、パッケージ2を測定位
置にセットするだけで、複数のアウターリード21が対
応するピン12の間に嵌め込まれる。従って、アウター
リード21のピッチが極めて狭くても測定用基板1の測
定箇所との正確な位置合わせができる。さらにその上か
ら、押さえ部材3に設けられた切り欠き31とピン12
とを噛み合わせることによって、アウターリード21は
測定用基板1に形成された導電パターン14に押圧され
、パッケージ2は測定用治具に固定される。このとき、
他の導電パターン14と短絡することがない。
【0013】図2は本発明の実施例に係る測定用治具の
使用時における形態断面図である。上述したように、特
性測定をすべき集積回路を内部に有するパッケージ2の
アウターリード21は、測定用基板1のピン12の間に
それぞれ挟まれ、さらに押え部材3に形成された切り欠
き31とピン12を噛み合わせることによって測定用基
板1と押え部材3とが固定される。これによりアウター
リード21は導電パターン14上に固定され、測定が行
われる。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る集積
回路装置の特性測定用治具では、ピッチの狭いアウター
リードを有するパッケージに対しても、各アウターリー
ドが測定用基板に設けられたピンによって位置決めされ
、それぞれのアウターリードは他の測定用パターンと短
絡することなく固定される。このため、パッケージ内部
にある集積回路の特性測定を、非破壊かつ高精度で行う
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係る集積回路装置の特性測定
用治具の概略図である。
【図2】本発明に係る測定用治具の使用時における形態
断面図である。
【図3】従来の集積回路装置の特性測定用治具の概略図
である。
【符号の説明】
1…測定用プリント基板 11…突出部 12…絶縁材からなるピン 14…導電パターン 2…パッケージ 21…アウターリード 3…押え部材 31…切り欠き

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  特性を測定すべき集積回路をパッケー
    ジの内部に有し、リードフレームの複数のアウターリー
    ドをパッケージの外部に有する集積回路装置の特性測定
    用治具において、前記複数のアウターリードのピッチに
    対応した導電パターンと、その導電パターンの間に設け
    られた絶縁材料からなるピンとを表面に有する測定用基
    板と、前記絶縁材料からなるピンに対応する位置に、当
    該ピンと同形かつ同サイズの穴、あるいは切り欠きが設
    けられた押さえ部材とを備えることを特徴とする、集積
    回路装置の特性測定用治具。
JP9888291A 1991-04-30 1991-04-30 集積回路装置の特性測定用治具 Pending JPH04328841A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9888291A JPH04328841A (ja) 1991-04-30 1991-04-30 集積回路装置の特性測定用治具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9888291A JPH04328841A (ja) 1991-04-30 1991-04-30 集積回路装置の特性測定用治具

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04328841A true JPH04328841A (ja) 1992-11-17

Family

ID=14231525

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9888291A Pending JPH04328841A (ja) 1991-04-30 1991-04-30 集積回路装置の特性測定用治具

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04328841A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109219246A (zh) * 2017-07-07 2019-01-15 Tdk-迈克纳斯有限责任公司 封装的集成电路构件

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109219246A (zh) * 2017-07-07 2019-01-15 Tdk-迈克纳斯有限责任公司 封装的集成电路构件
CN109219246B (zh) * 2017-07-07 2021-07-06 Tdk-迈克纳斯有限责任公司 封装的集成电路构件

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002164136A (ja) Bga用icソケット
KR20050114215A (ko) 칩 실장용 테이프의 검사 방법 및 검사에 이용하는 프로브유닛
JP2000031222A (ja) バーンイン検査治具
JPH04328841A (ja) 集積回路装置の特性測定用治具
JP3095807B2 (ja) 半導体デバイスの検査装置
TW564508B (en) Burn-in board having a guide for accurately positioning a semiconductor device to be mounted thereon and a method for testing a semiconductor device
JPH11271392A (ja) キャリアソケット構造体
JP3735404B2 (ja) 半導体デバイス測定用基板
JPH0619403B2 (ja) 導電性パタ−ンに対する電気的接続装置
JPH09321392A (ja) プリント回路基板
JP2674781B2 (ja) 治具接続装置と接続手段
JPH04161866A (ja) 集積回路装置の特性測定用治具
JP3042035B2 (ja) 回路基板検査装置
JP2001085128A (ja) 集積回路測定用ソケット
JP3022679B2 (ja) 測定治具の校正部品
JPH0922764A (ja) ベアチップテスト用ソケット
JPS6324453Y2 (ja)
JPH10239389A (ja) 半導体装置の測定用ソケットおよび半導体装置の 測定方法
JP2759451B2 (ja) プリント基板検査治具
JPH04364054A (ja) 検査装置およびその方法
KR100252860B1 (ko) 테이프 캐리어 패키지용 테이프의 패턴 치수 측정용 지그
JP2503922B2 (ja) 混成集積回路
JPH0548133Y2 (ja)
JPS63268285A (ja) 面実装部品
JP2636877B2 (ja) プローブカード及びこのプローブカードを用いた試験方法