JP2674781B2 - 治具接続装置と接続手段 - Google Patents
治具接続装置と接続手段Info
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- JP2674781B2 JP2674781B2 JP63125589A JP12558988A JP2674781B2 JP 2674781 B2 JP2674781 B2 JP 2674781B2 JP 63125589 A JP63125589 A JP 63125589A JP 12558988 A JP12558988 A JP 12558988A JP 2674781 B2 JP2674781 B2 JP 2674781B2
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- Japan
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- jig
- cam
- guide
- connecting device
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Description
【発明の詳細な説明】 ＜発明の技術分野＞ 本発明は治具と装置本体の接続装置に関わり、特に電
子部品測定用の個別の治具と測定器のテストヘッド（装
置本体と呼称する）との接続を行う場合に至便である接
続装置に関する。
子部品測定用の個別の治具と測定器のテストヘッド（装
置本体と呼称する）との接続を行う場合に至便である接
続装置に関する。
＜従来技術とその問題点＞ 近年IC（集積回路）テスタに代表される電子部品測定
装置において、主にその接続端子数の増加と機能の複雑
化による測定実施の困難さが増大している。そこでテス
タを汎用部分と被測定部品固有の部分に分割するように
なった。汎用部分は、測定を行う機能を有する部分と、
テストヘッドと呼ばれる上記固有の部分との接続部分と
から構成されている。固有の部分は治具あるいはフィク
スチャと呼称して、被測定部品に特別な付加部品や回路
を実現している。テストヘッド（本明細書では装置本体
とも呼称される）と治具の接続のうち電気的接続は、バ
ネ付勢ピンと対応する電極の組によって行われる。従来
より、最も簡便な方法として、テストヘッドと治具の機
械的接続をネジとナットで行っていた。ところが、被測
定電子部品の端子数が増加し、その各端子に略対応する
バネ付勢ピン数が増加したため、治具とテストヘッドの
接続に要する押圧が非常に大きくなった。例えば、代表
的なバネ付勢ピンのバネ圧力は200グラムである。大規
模ICの端子数を100とすれば、端子当り３本のバネ付勢
ピンを有する標準的な測定装置において、押圧は60キロ
グラムに達する。このような押圧を必要とする場合、ネ
ジ締結は非常に困難である。複数のネジを用いても、締
結作業時、選択されて締付中の１つのネジに大きな力が
集中し、相手ナットとの整列が乱れそれらの破壊や変形
が生じた。さらに、締結時に金属粉が生じ、近年要求さ
れる測定環境を汚染するという問題も生じている。一つ
の解決方法では、インテスト社において行われているよ
うに、相互に連動する大型のネジ状機構を設けて、単一
の機構に力が集中したりしないように、治具とテストヘ
ッドの整列関係を保ったまま離接できるようになってい
る。この方法では装置が大型で、操作不便であり、高価
でもある。
装置において、主にその接続端子数の増加と機能の複雑
化による測定実施の困難さが増大している。そこでテス
タを汎用部分と被測定部品固有の部分に分割するように
なった。汎用部分は、測定を行う機能を有する部分と、
テストヘッドと呼ばれる上記固有の部分との接続部分と
から構成されている。固有の部分は治具あるいはフィク
スチャと呼称して、被測定部品に特別な付加部品や回路
を実現している。テストヘッド（本明細書では装置本体
とも呼称される）と治具の接続のうち電気的接続は、バ
ネ付勢ピンと対応する電極の組によって行われる。従来
より、最も簡便な方法として、テストヘッドと治具の機
械的接続をネジとナットで行っていた。ところが、被測
定電子部品の端子数が増加し、その各端子に略対応する
バネ付勢ピン数が増加したため、治具とテストヘッドの
接続に要する押圧が非常に大きくなった。例えば、代表
的なバネ付勢ピンのバネ圧力は200グラムである。大規
模ICの端子数を100とすれば、端子当り３本のバネ付勢
ピンを有する標準的な測定装置において、押圧は60キロ
グラムに達する。このような押圧を必要とする場合、ネ
ジ締結は非常に困難である。複数のネジを用いても、締
結作業時、選択されて締付中の１つのネジに大きな力が
集中し、相手ナットとの整列が乱れそれらの破壊や変形
が生じた。さらに、締結時に金属粉が生じ、近年要求さ
れる測定環境を汚染するという問題も生じている。一つ
の解決方法では、インテスト社において行われているよ
うに、相互に連動する大型のネジ状機構を設けて、単一
の機構に力が集中したりしないように、治具とテストヘ
ッドの整列関係を保ったまま離接できるようになってい
る。この方法では装置が大型で、操作不便であり、高価
でもある。
＜発明の目的＞ 治具と装置本体の接続を容易確実にできる廉価な接続
装置を提供することが本発明の目的である。
装置を提供することが本発明の目的である。
＜発明の概要＞ 本発明の一実施例では、治具とテストヘッドの機械的
接続をカムとカムフォロワで行う。カムを治具に装置す
る。暖いけい合状態でのカムの無用の回転を避けるた
め、プラスチックスペーサをバネ付勢してカムの回転に
対しての摩擦力を与えている。また、治具はガイドと位
置決めピンを有している。テストヘッドにはガイドと位
置決めピンを受ける穴がある。治具の装着時には、まず
ガイドがガイド穴に挿入され、その後位置決めピンが位
置決め穴に挿入されるようになっている。ガイドは位置
決めピンより長く、かつ柔軟性をもっている。従って、
ガイドにより粗く位置決めした後、位置決めのピンによ
り高確度の位置決めが行われる。ガイドは治具を保管す
る場合の位置決めピンの保護機能をも有する。
接続をカムとカムフォロワで行う。カムを治具に装置す
る。暖いけい合状態でのカムの無用の回転を避けるた
め、プラスチックスペーサをバネ付勢してカムの回転に
対しての摩擦力を与えている。また、治具はガイドと位
置決めピンを有している。テストヘッドにはガイドと位
置決めピンを受ける穴がある。治具の装着時には、まず
ガイドがガイド穴に挿入され、その後位置決めピンが位
置決め穴に挿入されるようになっている。ガイドは位置
決めピンより長く、かつ柔軟性をもっている。従って、
ガイドにより粗く位置決めした後、位置決めのピンによ
り高確度の位置決めが行われる。ガイドは治具を保管す
る場合の位置決めピンの保護機能をも有する。
＜発明の実施例＞ 第３図は本発明の一実施例の治具接続装置を使用した
治具とテストヘッド31の組合わせ装置の等角図である。
治具30はさらに、治具本体32、取っ手34、蓋33、フィク
チャ35、測定端子（ソケット）40、カム36、レバー37等
から成る。
治具とテストヘッド31の組合わせ装置の等角図である。
治具30はさらに、治具本体32、取っ手34、蓋33、フィク
チャ35、測定端子（ソケット）40、カム36、レバー37等
から成る。
第４図は第３図の治具30を当接面側からみた概略の等
角図である。治具30の当接平面45上には、それに垂直に
４個のガイド43が治具の４隅に固定されている。ガイド
43の先端は先細であり、テストヘッド31にある穴への挿
入を容易にしている。ガイド43は柔軟性のあるプラスチ
ックであってもよい。
角図である。治具30の当接平面45上には、それに垂直に
４個のガイド43が治具の４隅に固定されている。ガイド
43の先端は先細であり、テストヘッド31にある穴への挿
入を容易にしている。ガイド43は柔軟性のあるプラスチ
ックであってもよい。
第４図ではフィクスチャ35は取り去られており、フィ
クスチャ35の基板のガイドピン24を挿入するための穴42
が４個フイクスチャ取付板41に設けられている。第４図
で省略されているものはこの他に以下のものがある。
クスチャ35の基板のガイドピン24を挿入するための穴42
が４個フイクスチャ取付板41に設けられている。第４図
で省略されているものはこの他に以下のものがある。
穴42に挿入されるガイドカラー25、基板20固定用のプ
レスフイット（穴42の近傍に設けられる。）位置決めピ
ン10（カム36の中心を結ぶ線を含み、当接面45に直交す
る平面と当接面45の交線上に設けられる）がある。これ
らの詳細は第１図に示される。第１図は第３図の治具の
概略断面図である。カム36のカム軸363の中心線を含む
治具の垂直平面による断面を示す。説明を容易にするた
めタブ22とガスケット23から成るプレスフィットとガイ
ド24とガイドカラー25の位置はそれが実際存在する位置
とは異なるが、本発明の要旨に影響を与えるものではな
い。
レスフイット（穴42の近傍に設けられる。）位置決めピ
ン10（カム36の中心を結ぶ線を含み、当接面45に直交す
る平面と当接面45の交線上に設けられる）がある。これ
らの詳細は第１図に示される。第１図は第３図の治具の
概略断面図である。カム36のカム軸363の中心線を含む
治具の垂直平面による断面を示す。説明を容易にするた
めタブ22とガスケット23から成るプレスフィットとガイ
ド24とガイドカラー25の位置はそれが実際存在する位置
とは異なるが、本発明の要旨に影響を与えるものではな
い。
第１図のＡ−Ａ断面は第２図に示すとおりである。第
２図はカム36のカムカバー361を除去した断面を示すも
のでカバー32が参考のために背面に示されている。カム
本体362はカム軸363とともに回転し、カム本体364の係
合面362Aとカムフォロワ365と接触し、カムフォロワ365
の固定されたテストヘッド31と治具30を相互に引き寄せ
る。レバー37はレバー取りつけ部390にネジ込んでカム
に取りつけられる。３個のネジ穴392はカムカバー361を
取りつけるためのもので、カムカバー361はカムの補強
を行う役割をも持っている。第２図にはカム軸363の前
面外周400、スペーサ366、カバー32の穴402、カム本体
をカム軸にネジ取めするためのネジ穴364の位置も示さ
れている。第１図において、カム軸363にカム本体362、
カムカバー361が固定され、さらにストッパ380が割りピ
ン382によって同じくカム軸363に止められる。スプリン
グ384はストッパ380とボス369の間に挿入され、ストッ
パ380をボス369から離れるように付勢するので、樹脂性
スペーサ366はカム支持板367とカム本体362に狭持圧縮
される。従ってカム36の回転に対し摩擦力を発生でき
る。ボス369はカム支持板367にネジ止めされる。カム支
持板367の下面、位置決めピン10が植え込まれている面
が当接面45である。カム支持板367には補強板368が挿入
される溝が設けられる。補強板368はフイクスチャ取付
板41と結合され、フイクスチャ取付板41は当接面45側で
カム支持板367に固定されるので、これらの板による治
具の主要構造は十分強固である。被測定部品用の基板
（あるいはその取付板）20はフイクスチャ取付板41に設
けられたガスケット23とガイドカラー25に該基板20上の
タブ22とガイドピン24を挿入して取りつける。電気的接
続のための３個の別々の電極21が基板に設けられてお
り、テストヘッドの電子回路105から電極106、108、109
とプローブ本体109を介してガード電位と電気信号がバ
ネ付勢ピン111、112、113のそれぞれと接触する。位置
決定ピン10の挿入穴は隣青銅等のカラー102に設けられ
支柱100に埋め込まれる。カムフォロワ365、支柱100は
機械的に一体化されており、電子回路105、プローブ本
体109バネ付勢ピン111、112、113等も本質的に支柱100
に一体化される。治具30とテストヘッド31の接続を行う
にはまずレバー37を図示しない手前のストッパに接触す
るまで回転させ、第２図の状態として、ガイド43を対応
するテストヘッドの穴に挿入する。このとき、位置決定
ピン10はその挿入穴に１部挿入されている。レバー37を
回転して反対側のストッパまで移動させると位置決定ピ
ン10はその挿入穴に差し込まれて、治具とテストヘッド
は正確に位置決めされて接続される。レバー37の回転に
よる治具の移動量は、本実施例では約3mmである。この
ように移動量が小さいときは、２つのカムを連動せず、
順次に行っても支障がないことがわかっている。従来技
術の同様に、ベルトやワイアを用いたりリンク機構を用
いて、２つのカムを連動させることも可能である。第５
図はベルトを用いた例を示す。図においてカム１とカム
２は中継ホイール３を介して連動している。ベルトＡ、
ベルトＢはそれぞれカム１と中継ホイール３、カム２と
中継ホイール３にそれぞれ固定されている。ベルトの代
りにリンクを用いることも可能なことは当業者に周知で
ある。
２図はカム36のカムカバー361を除去した断面を示すも
のでカバー32が参考のために背面に示されている。カム
本体362はカム軸363とともに回転し、カム本体364の係
合面362Aとカムフォロワ365と接触し、カムフォロワ365
の固定されたテストヘッド31と治具30を相互に引き寄せ
る。レバー37はレバー取りつけ部390にネジ込んでカム
に取りつけられる。３個のネジ穴392はカムカバー361を
取りつけるためのもので、カムカバー361はカムの補強
を行う役割をも持っている。第２図にはカム軸363の前
面外周400、スペーサ366、カバー32の穴402、カム本体
をカム軸にネジ取めするためのネジ穴364の位置も示さ
れている。第１図において、カム軸363にカム本体362、
カムカバー361が固定され、さらにストッパ380が割りピ
ン382によって同じくカム軸363に止められる。スプリン
グ384はストッパ380とボス369の間に挿入され、ストッ
パ380をボス369から離れるように付勢するので、樹脂性
スペーサ366はカム支持板367とカム本体362に狭持圧縮
される。従ってカム36の回転に対し摩擦力を発生でき
る。ボス369はカム支持板367にネジ止めされる。カム支
持板367の下面、位置決めピン10が植え込まれている面
が当接面45である。カム支持板367には補強板368が挿入
される溝が設けられる。補強板368はフイクスチャ取付
板41と結合され、フイクスチャ取付板41は当接面45側で
カム支持板367に固定されるので、これらの板による治
具の主要構造は十分強固である。被測定部品用の基板
（あるいはその取付板）20はフイクスチャ取付板41に設
けられたガスケット23とガイドカラー25に該基板20上の
タブ22とガイドピン24を挿入して取りつける。電気的接
続のための３個の別々の電極21が基板に設けられてお
り、テストヘッドの電子回路105から電極106、108、109
とプローブ本体109を介してガード電位と電気信号がバ
ネ付勢ピン111、112、113のそれぞれと接触する。位置
決定ピン10の挿入穴は隣青銅等のカラー102に設けられ
支柱100に埋め込まれる。カムフォロワ365、支柱100は
機械的に一体化されており、電子回路105、プローブ本
体109バネ付勢ピン111、112、113等も本質的に支柱100
に一体化される。治具30とテストヘッド31の接続を行う
にはまずレバー37を図示しない手前のストッパに接触す
るまで回転させ、第２図の状態として、ガイド43を対応
するテストヘッドの穴に挿入する。このとき、位置決定
ピン10はその挿入穴に１部挿入されている。レバー37を
回転して反対側のストッパまで移動させると位置決定ピ
ン10はその挿入穴に差し込まれて、治具とテストヘッド
は正確に位置決めされて接続される。レバー37の回転に
よる治具の移動量は、本実施例では約3mmである。この
ように移動量が小さいときは、２つのカムを連動せず、
順次に行っても支障がないことがわかっている。従来技
術の同様に、ベルトやワイアを用いたりリンク機構を用
いて、２つのカムを連動させることも可能である。第５
図はベルトを用いた例を示す。図においてカム１とカム
２は中継ホイール３を介して連動している。ベルトＡ、
ベルトＢはそれぞれカム１と中継ホイール３、カム２と
中継ホイール３にそれぞれ固定されている。ベルトの代
りにリンクを用いることも可能なことは当業者に周知で
ある。
＜発明の効果＞ 以上詳述したように、本発明によれば、正確な位置決
めで、容易に治具とテストヘッドの接続が可能である。
さらに、簡単な構造のカムを使用するのみであり廉価で
ある。ガイドは正確な位置決めのための位置決めピンが
他の物と触れないようにするので、位置決めピンの損傷
が防げる。
めで、容易に治具とテストヘッドの接続が可能である。
さらに、簡単な構造のカムを使用するのみであり廉価で
ある。ガイドは正確な位置決めのための位置決めピンが
他の物と触れないようにするので、位置決めピンの損傷
が防げる。
第１図は本発明の実施例の治具接続装置の断面図、第２
図は本発明の一実施例に含まれるカムとカムフォロワー
を示す図、第３図は本発明の一実施例の治具接続装置の
等角図、第４図は第３図の治具を当接面側からみた等角
図、第５図はベルトを用いてカムを連動する方法を説明
するための図である。 １、２、36……カム ３……中継ホイール 10……位置決めピン 20……基板 30……治具 31……装置本体（テストヘッド） 35……フイクスチャ 37……レバー 363……カム軸 365……カムフオロワ
図は本発明の一実施例に含まれるカムとカムフォロワー
を示す図、第３図は本発明の一実施例の治具接続装置の
等角図、第４図は第３図の治具を当接面側からみた等角
図、第５図はベルトを用いてカムを連動する方法を説明
するための図である。 １、２、36……カム ３……中継ホイール 10……位置決めピン 20……基板 30……治具 31……装置本体（テストヘッド） 35……フイクスチャ 37……レバー 363……カム軸 365……カムフオロワ
Claims (5)
- 【請求項１】治具と装置本体の接続のために、前記治具
は複数のガイドと前記ガイドより短い複数の位置決めピ
ンを備え、前記装置本体は前記ガイドと前記位置決めピ
ンをそれぞれ挿入するためのガイド穴と位置決め穴とを
備え、前記治具と前記装置本体を接続手段により当接接
続するようにした治具接続装置。 - 【請求項２】前記ガイドが柔軟性を有するプラスチック
よりなる請求項１記載の治具接続装置。 - 【請求項３】前記接続手段を前記治具に装着したカムと
前記装置本体に装着したカムフォロワより構成した請求
項１記載の治具接続装置。 - 【請求項４】前記治具と前記装置本体の一方が他方の有
する電極に接続時当接するバネ付勢ピンを有する請求項
１記載の治具接続装置。 - 【請求項５】前記カムが該カムを固定した回転軸を有
し、カム支持体とカム間に弾性スペーサを挟持し、前記
回転軸を軸方向に索引して前記弾性スペーサに圧縮力を
生ぜしめて前記カムに回転摩擦を与えるようにした請求
項３記載の治具接続装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63125589A JP2674781B2 (ja) | 1988-05-23 | 1988-05-23 | 治具接続装置と接続手段 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63125589A JP2674781B2 (ja) | 1988-05-23 | 1988-05-23 | 治具接続装置と接続手段 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01295183A JPH01295183A (ja) | 1989-11-28 |
| JP2674781B2 true JP2674781B2 (ja) | 1997-11-12 |
Family
ID=14913912
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63125589A Expired - Fee Related JP2674781B2 (ja) | 1988-05-23 | 1988-05-23 | 治具接続装置と接続手段 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2674781B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003130919A (ja) | 2001-10-25 | 2003-05-08 | Agilent Technologies Japan Ltd | コネクションボックス及びｄｕｔボード評価システム及びその評価方法 |
| US7235964B2 (en) * | 2003-03-31 | 2007-06-26 | Intest Corporation | Test head positioning system and method |
| DE602004021469D1 (de) * | 2004-04-05 | 2009-07-23 | Verigy Pte Ltd Singapore | Vorrichtung zum lösbaren Verbinden eines Interfaces an einer Testeinrichtung |
-
1988
- 1988-05-23 JP JP63125589A patent/JP2674781B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01295183A (ja) | 1989-11-28 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
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| R350 | Written notification of registration of transfer |
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