JPH0432217A - 入射角度設定装置 - Google Patents

入射角度設定装置

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JPH0432217A
JPH0432217A JP2139185A JP13918590A JPH0432217A JP H0432217 A JPH0432217 A JP H0432217A JP 2139185 A JP2139185 A JP 2139185A JP 13918590 A JP13918590 A JP 13918590A JP H0432217 A JPH0432217 A JP H0432217A
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JP
Japan
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lens
incident angle
light beams
optical axis
incident
Prior art date
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Pending
Application number
JP2139185A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoriyuki Ishibashi
石橋 頼幸
Ryoichi Hirano
亮一 平野
Hideo Nagai
秀雄 永井
Takahiro Murata
貴比呂 村田
Toshikazu Yoshino
芳野 寿和
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Topcon Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Topcon Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Topcon Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH0432217A publication Critical patent/JPH0432217A/ja
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的コ (産業上の利用分野) この発明は、入射角度設定装置に関し、例えば、露光装
置(光ステッパ、X線ステッパ)におけるアライメント
光学系で使用される入射角度設定装置に関する。
(従来の技術) 超LSIの回路パターンの製造のため、露光装置により
パターン転写が行われる場合、露光に先立ち、マスクと
ウェハとがこれらに平行な方向に高精度位置合せされる
とともに、マスクとウェハとが平行を保持しながらこれ
らの間隙が微小間隙(〜30μm程度)に設定されてい
る。
近年、これらの位置合せ又は間隙設定のため、光ヘテロ
ダイン法が用いられている。マスク及びウェハに各々2
つの回折格子が設けられ、これらの回折格子に周波数の
異なる2つの光ビームが照射され、回折格子で回折され
干渉された光ビームの位相ずれが検出され、位置ずれ量
又は間隙量がこの位相ずれに対応することから、位置合
せ又は間隙設定が実行されている。
この位置合せ又は間隙設定が精度良く実行されるために
は、この2つの光ビームが一方の回折格子(例えば、マ
スクの回折格子)に入射されるとき、2つの光ビームは
、この回折格子に垂直な1つの仮想面に対して、対称に
且つ所定入射角度だけ斜めになるように、一方の回折格
子に入射される必要がある。
(発明が解決しようとする課題) この場合、2つの光ビームの入射角度が精度良く設定さ
れ、さらに、この入射角度が素早く調整される必要があ
るが、従来、これらを満足するような入射角度設定装置
は同等提案されていなかった。
そこで、この発明の目的は、2つの光ビームの入射角度
を精度良く設定でき、この入射角度を素早く調整できる
入射角度設定装置を提供することにある。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) この発明は、2つの光ビームを目標物に所定入射角度で
入射させるように、入射角度を設定する装置において、
前記目標物に対して、光軸が垂直に配置された第1のレ
ンズと、この光軸に対して所定距離偏心して且つこの光
軸に略平行に2つの光ビームを移行させて第1のレンズ
に入射させ、その結果、2つの光ビームを第1のレンズ
から収束させて射出させ、これにより、この2つの光ビ
ームを、光軸に対してほぼ対称に且つ光軸に所定入射角
度斜めに、前記目標物に入射させる光ビーム移行手段と
を具備することを特徴としている。
(作 用) この発明では、第1のレンズの収束作用により、2つの
光ビームが光軸に対して対称に且つ光軸に所定入射角度
斜めに、目標物(例えば、回折格子)に入射されている
。即ち、入射角度が、比較的誤差の生じやすい機械的な
手段により設定されておらず、光学的な手段により設定
されている。
そのため、入射角度が精度良く設定されることができ、
且つ、入射角度が素早く調整されることができる。
従って、例えば、光ヘテロダイン法を利用した位置合せ
又は間隙設定は、精度良く実行されることができる。
(実施例) 先ず、第1図及び第2図を参照して、露光装置における
マスクとウェハとの位置合せ装置について概説する。
位置合せ方向(X方向)に移動可能に設けられたウェハ
テーブル31にウェハ33が載置され、第2図に示され
るように、このウェハ33に、反射型の2つの位置合せ
マーク21.2□ (回折格子又は反射面)が形成され
ている。一方、マスクテーブル35には、マスク34が
載置され、第2図に示されるように、このマスク34に
、透過型の2つの位置合せマーク1..1.2(回折格
子又はウィンドウ)か形成されている。
ゼーマン効果形レーザ源41から発射された光ビームは
、偏向ビームスプリッタ−42により周波数f1とf2
 (f+≠r2)との2つの光ビームに分離される。こ
れらの2つの光ビームは、多数のミラーを介して、マス
クの位置合せマーク11.12に入射され、その後、ウ
ェハの位置合せマーク21.22に移行される。これに
より、回折され且つ干渉された回折干渉光には、光ビー
トが生起されている。この回折干渉光のうち特定次数光
の先ビート、例えば、xM cO,1)次光の先ビート
には、マスクの位置ずれに対応する位相ずれφMが生起
されており、Iw  (0,1)次光の光ビートには、
ウェハの位置ずれに対応する位相ずれφいが生起されて
いる。IM (0,1)、IW (0,1)次光が光セ
ンサ5B、54により検出され、これらの位相差1φワ
ーφW1が、位相計55より測定される。この位相差か
マスクとウェハとの位置ずれに対応しているため、この
位相差の信号がCI) U 56からアクチュエータ3
2に供給されて、ウェハテーブル31が移動され、ウェ
ハがマスクに対して位置合せされる。
この位置合せにおいて、周波数f、とf、の2つの光ビ
ームは、第2図に示されるように、Z軸(若しくは、こ
のZ軸を含みマスクの位置合せマーク11.12に垂直
な仮想面61)に対称に、且つ、入射角度θ[−5in
−’ (±λ/Px)]で、マスクの位置合せマーク1
1.12上の1点に集光するように入射される必要があ
る。但し、Pxは、マスクの回折格子のX方向のピッチ
である。
この2つの光ビームの入射角度を設定する、この発明に
係る入射角度設定装置について説明する。
第3図に示されるように、金枠62が設けられ、この金
枠62の一端に、第1のレンズ63が嵌め込まれている
。この第1−のレンズ63の光軸64は、マスク及びウ
ェハの位置合せマークl112.21.22に垂直に配
置されている。即ち、光軸64は、Z軸に一致している
とともに、第2図に示される仮想面61に含まれる軸線
である。
次に、光軸64に対して所定距離ε偏心して且つこの光
軸64に平行に2つの光ビームを移行させて第1のレン
ズ63に入射させ光ビーム入射手段が設けられている。
即ち、金枠62の他端に、光軸64から所定距離ε偏心
した位置に、一対のピンホール65が設けられている。
一対の第2のレンズ66が、その光軸67が第1のレン
ズの光軸64に対して所定距離ε偏心して設けられてい
る。即ち、第2のレンズの光軸67がピンホール65を
通るように位置されている。
これらの光軸方向の位置関係は、次のようになされてい
る。即ち、第1のレンズ63の焦点距離は、foであっ
て、この第1のレンズ63の後側焦点位置は、マスクの
位置合せマーク11.12上になるように配置されてい
る。ピンホール65は、この第1のレンズ63から後側
焦点距離f。
だけ離間した位置に配置されており、且つ、第2のレン
ズ66の前側焦点位置に配置されている。
さらに、この実施例では、第2のレンズ66から出射さ
れた2つの光ビームがピンホール65に垂直になるよう
に微調整するコンペンセーター71が設けられている。
さらに、2つの光ビームがピンホール65に入射するよ
うに2つの光ビームを平行移動して微調整するプレーン
パラレル72が設けられている。
次に、この入射角度設定装置を用いて、2つの光ビーム
の入射角度を設定する手順を説明する。
尚、説明の便宜のため、先ず、1つの光ビーム(fl)
の入射角度の設定について説明する。
当初、コンペンセーター71及びブレーンバラレル72
が配置されておらず、ミラー73がピンホール65の前
に配置される。
光源から発射された平行光である光ビームが第2のレン
ズ66により収束される。この段階で、光ビームがこの
ミラー73に概略垂直になるように、光ビームの傾き(
あおり)が調整される。
次に、この光ビームかピンホールに概略式るように、光
ビームの平行シフト(紙面に平行方向と垂直方向)が調
整される。
第2のレンズ66の前に、ミラー74が配置され、この
ミラー74に光ビームが垂直に且つレンズ中心を通過す
るように、第1のレンズの傾きと平行シフトが調整され
る。この調整後、第2のレンズ66が固定されるととも
に、ミラー74は、除去される。
次に、コンペンセーター71が配置され、このコンペン
セーター71が回転されることにより、光ビームがピン
ホール直前のミラー73に垂直に入るように微調整され
る。この微調整後、ミラー73が除去される。
プレーンパラレル72か配置され、このプレーンパラレ
ル72が回転され、光ビームが平行移動されてピンホー
ル65に正確に入射するよう1こ微調整される。即ち、
このブレーンノくラレル72の微調整により、光ビーム
は、紙面と垂直方向及び平行方向に微小量だけ平行移動
される。
この場合、一方のビームが遮られ、他方のビームがピン
ホールを通りマスク面で反射された後、一方が通るべき
ピンホールに戻ってくるよう番こ、プレーンパラレル7
2が微調整されても良(1゜以上で、調整作業が終了す
る。他方の光ビーム(f2)についても同様に調整され
る。
これにより、光源から射出された平行光である2つの光
ビームは、第1のレンズ66によりピンホール65に焦
点を結び、その後、拡散して第1のレンズ63に所定距
離εだけ偏心して入射する。第1のレンズ63から射出
する2つの光ビームは、この第1のレンズ63の収束作
用1こより、光軸64(仮想面61)に対称に且つ入射
角度θ[−5in−’ (±λ/Px)]で、マスクの
位置合せマーク11,1□上の1点に集光する。
このように、入射角度が精度良く設定されることができ
、且つ、入射角度が素早く調整されることができるため
、上述した光ヘテロダイン法を利用した位置合せは、精
度良く実行されることができる。
また、この発明では、光学的手段により、入射角度が設
定されているため、−旦光ビームが位置合せマークに入
射された後、反射されて戻ってくる光ビームを観察する
ことにより、入射角度が実際に正確であるか否かを確認
することができる。
さらに、例えば、偏心距離εが多少ずれていたとしても
、2つの光ビームは必ずマスクの位置合せマーク上の所
定の1点に集光されることができ、位置合せが精度良く
実行される。
この発明の入射角度設定装置は、上述した位置合せに用
いられるだけでなく、以下に述べるように、種々の場合
に用いられることができる。
第4図に示されるように、マスクに、3つの位置合せマ
ーク11,1□、1.(回折格子又はウィンドウ)が設
けられ、ウエノ1に、3つの位置合せマーク20,2□
、23 (回折格子又は反射面)が設けられ、マスクの
位置合せマークに、周波数の異なる2つの光ビームか入
射されると、マスクとウェハと位置合せだけでなく、マ
スクとウエノ1との間の間隙が所定に設定されることが
できる。
尚、図示しないが、間隙設定のみが行われる場合にも、
この発明に係る入射角度設定装置が用いられても良いこ
とは勿論である。また、位置合せ及び間隙設定における
回折格子の種類は間わな0ことも勿論である。
さらに、第5図に示されるように、テーブル81の位置
検出にも用いられることができる。即ち、水平方向に移
動可能に設けられたテーブル81に回折格子82が設け
られ、これに2つの光ビームが所定入射角度θで入射さ
れると、光ヘテロダイン法により、テーブル81の位置
が検出される。
さらに、第6図に示されるように、ロータリエンコーダ
の円板91の回転角度の検出にも用いられることができ
る。即ち、円盤91に、半径方向に延出するストライブ
を有する回折格子が設けられ、この回折格子に、2つの
光ビームが所定角度θで入射されると、光ヘテロダイン
法により回転する円板91のストライプがカウントされ
て、回転角が検出される。
その他種々の場合にも、この発明に係る入射角度設定装
置が用いられることは勿論である。
[発明の効果〕 この発明では、入射角度が、比較的誤差の生じやすい機
械的な手段により設定されておらず、光学的な手段によ
り設定されている。そのため、入射角度が精度良く設定
されることができ、且つ、入射角度が素早くR整される
ことができる。従って、特に、光ヘテロダイン法を利用
した位置合せ又は間隙設定は、精度良く実行されること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は位置合せ装置の模式図、第2図は位置合せ装置
に用いられる位置合せマークの斜視図、第3図はこの発
明に係る入射角度設定装置の模式図、第4図は位置合せ
及び間隙設定に用いられる位置合せマークの斜視図、第
5図はテーブル位置検出装置の模式図、第6図はロータ
リエンコーダの模式図である。 1+ 、12.2+ 、22・・・位置合せマーク(目
積物)、82・・・回折格子(目積物)、63・・・第
1のレンズ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第 図 第 図 第 図

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)2つの光ビームを目標物に所定入射角度で入射さ
    せるように、入射角度を設定する装置において、前記目
    標物に対して、光軸が垂直に配置された第1のレンズと
    、この光軸に対して所定距離偏心して且つこの光軸に略
    平行に2つの光ビームを移行させて第1のレンズに入射
    させ、その結果、2つの光ビームを第1のレンズから収
    束させて射出させ、これにより、この2つの光ビームを
    、光軸に対してほぼ対称に且つ光軸に所定入射角度斜め
    に、前記目標物に入射させる光ビーム移行手段とを具備
    してなることを特徴とする入射角度設定装置。
  2. (2)前記目標物は、2つの物体に各々設けられた2つ
    の回折格子の一方であり、この一方の回折格子に入射さ
    れた光ビームは、その後、他方の回折格子に照射され、
    その結果、2つの物体の相対位置又は間隙が検出されて
    、2つの物体が位置合せ又は間隙設定される、請求項1
    に記載の入射角度設定装置。
  3. (3)前記目標物は、1つの物体に設けられた回折格子
    であり、この回折格子に前記2つの光ビームが照射され
    て、この物体の位置が検出される請求項1に記載の入射
    角度設定装置。
  4. (4)前記目標物は、回転可能な円板に設けられた回折
    格子であり、この回折格子に前記2つの光ビームが照射
    されて、円板の回転角が検出される、請求項1に記載の
    入射角度設定装置。
  5. (5)前記光ビーム移行手段は、各々の光軸が第1のレ
    ンズの光軸に所定距離偏心し且つ各々の前側焦点位置が
    第1のレンズの後側焦点距離だけ第1のレンズから後側
    に離間した位置に配置され、光源から射出され平行光で
    ある2つの光ビームを収束して各々の焦点位置に結像す
    る2つの第2のレンズと、2つの第2のレンズの前側焦
    点位置に配置され、第1のレンズに案内する2つのピン
    ホールとを備えている請求項1に記載の入射角度設定装
    置。
  6. (6)前記光ビーム移行手段は、2つの第2のレンズと
    2つのピンホールとの間に配置され、第2のレンズから
    ピンホールに移行する2つの光ビームがピンホールに垂
    直になるように微調整するコンペンセーターを備えてい
    る請求項5に記載の入射角度設定装置。
  7. (7)前記光ビーム移行手段は、2つの第2のレンズと
    2つのピンホールとの間に配置され、第2のレンズから
    ピンホールに移行する2つの光ビームがピンホールに入
    射するように2つの光ビームを平行移動して微調整する
    プレーンパラレルを備えている請求項5に記載の入射角
    度設定装置。
JP2139185A 1990-05-29 1990-05-29 入射角度設定装置 Pending JPH0432217A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04237114A (ja) * 1991-01-21 1992-08-25 Soltec:Kk アライメント光透過率制御方法及びその装置
JPH06326002A (ja) * 1993-03-15 1994-11-25 Toshiba Corp 位置合せ装置
JP2001518606A (ja) * 1997-09-29 2001-10-16 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング 2つの対象物の位置を検出するための装置
JP2009509156A (ja) * 2005-09-21 2009-03-05 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 物体の運動を検出するシステム

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JPH06326002A (ja) * 1993-03-15 1994-11-25 Toshiba Corp 位置合せ装置
JP2001518606A (ja) * 1997-09-29 2001-10-16 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング 2つの対象物の位置を検出するための装置
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