JPH04320958A - 製品の音響による検査方法 - Google Patents
製品の音響による検査方法Info
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- JPH04320958A JPH04320958A JP3116823A JP11682391A JPH04320958A JP H04320958 A JPH04320958 A JP H04320958A JP 3116823 A JP3116823 A JP 3116823A JP 11682391 A JP11682391 A JP 11682391A JP H04320958 A JPH04320958 A JP H04320958A
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 20
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、フェライトコア等の製
品を叩くことによって発生する固有音を電気信号に変換
し、該固有音によって該製品の良否を判定する製品の音
響による検査方法に関する。
品を叩くことによって発生する固有音を電気信号に変換
し、該固有音によって該製品の良否を判定する製品の音
響による検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、フェライトコア等の製品は、製造
の過程でクラック、キズ、カケ、ピンホールあるいは巣
を作ることがあり、これらが存在すると磁気特性に影響
を生ずるので、検査して出荷している。外観にカケ、キ
ズ等がある場合には、目視検査で行うことも可能である
が、内部に巣あるいはピンホール等がある場合には、目
視では困難であり、超音波検査、Ｘ線検査、音響検査等
が行われている。これらの内で、音響検査が極めて容易
であり、人が耳で判断する方法の他に、打音をマイクロ
ホンで集音し、固有振動に相当する特定の強い波長の部
分の音量を検出し、合否を判定することも行われていた
。
の過程でクラック、キズ、カケ、ピンホールあるいは巣
を作ることがあり、これらが存在すると磁気特性に影響
を生ずるので、検査して出荷している。外観にカケ、キ
ズ等がある場合には、目視検査で行うことも可能である
が、内部に巣あるいはピンホール等がある場合には、目
視では困難であり、超音波検査、Ｘ線検査、音響検査等
が行われている。これらの内で、音響検査が極めて容易
であり、人が耳で判断する方法の他に、打音をマイクロ
ホンで集音し、固有振動に相当する特定の強い波長の部
分の音量を検出し、合否を判定することも行われていた
。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記測
定方法で検査を行うと、ピンホール、カケ等の欠陥の存
在場所によっては発見できない場合があり、多少の不良
品が良品として判断されることがあり、検査が充分でな
かった。本発明は、かかる事情に鑑みてなされたもので
、簡便に行なえる打音を利用し、より精度の高い製品の
音響による検査方法を提案することを目的とする。
定方法で検査を行うと、ピンホール、カケ等の欠陥の存
在場所によっては発見できない場合があり、多少の不良
品が良品として判断されることがあり、検査が充分でな
かった。本発明は、かかる事情に鑑みてなされたもので
、簡便に行なえる打音を利用し、より精度の高い製品の
音響による検査方法を提案することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記目的に沿う請求項第
１項記載の製品の音響による検査方法は、検査対象物で
ある製品をハンマーで叩き、その打音を電気信号に変換
し、その波形信号から製品の良否を判定する製品の音響
による非破壊検査方法であって、上記波形信号をフーリ
エ変換器に通して周波数分析を行い、該信号波形に含ま
れる各ピーク周波数信号の少なくとも２箇所が予め設定
された周波数領域に有るか否かを判断することによって
該製品の良品を判定するようにして構成されている。
１項記載の製品の音響による検査方法は、検査対象物で
ある製品をハンマーで叩き、その打音を電気信号に変換
し、その波形信号から製品の良否を判定する製品の音響
による非破壊検査方法であって、上記波形信号をフーリ
エ変換器に通して周波数分析を行い、該信号波形に含ま
れる各ピーク周波数信号の少なくとも２箇所が予め設定
された周波数領域に有るか否かを判断することによって
該製品の良品を判定するようにして構成されている。
【０００５】
【実施例】続いて、本発明の実施例について説明し、合
わせて本発明の作用についても説明する。ここに、図１
は本発明の一実施例方法を適用した検査装置の平面図、
図２は本発明方法の原理図、図３、図４は本発明を説明
するためのグラフである。図１に示すように本発明の一
実施例を適用した検査装置１０は、検査製品の一例であ
るディスク状のフェライトコア１１を一個ずつ搬入する
製品搬入部１２と、該製品搬入部１２からのフェライト
コア１１を受ける補助コンベア１３と、該補助コンベア
１３の載置台１４上に乗ったフェライトコア１１をかけ
る掛止棒を有するチェーンコンベア１５と、該チェーン
コンベア１５に吊下されたフェライトコア１１を叩くハ
ンマー装置１６と、該ハンマー装置１６に近接して設け
られたマイクロホン１７と、不良品であるフェライトコ
ア１１をコンベア外に排除する排除装置１８と、良品を
コンベアから分離するシュート１９と、上記マイクロホ
ン１７に連結されるＦＦＴ（高速フーリエ変換器）２０
と、該ＦＦＴ２０の出力を入力とするパソコン２１とを
有して構成されている。なお、図において２２は該検査
装置１０の全体を制御するシーケンサーを、２３、２４
はチェーンコンベアのスプロケットを、２５は架台を示
す。
わせて本発明の作用についても説明する。ここに、図１
は本発明の一実施例方法を適用した検査装置の平面図、
図２は本発明方法の原理図、図３、図４は本発明を説明
するためのグラフである。図１に示すように本発明の一
実施例を適用した検査装置１０は、検査製品の一例であ
るディスク状のフェライトコア１１を一個ずつ搬入する
製品搬入部１２と、該製品搬入部１２からのフェライト
コア１１を受ける補助コンベア１３と、該補助コンベア
１３の載置台１４上に乗ったフェライトコア１１をかけ
る掛止棒を有するチェーンコンベア１５と、該チェーン
コンベア１５に吊下されたフェライトコア１１を叩くハ
ンマー装置１６と、該ハンマー装置１６に近接して設け
られたマイクロホン１７と、不良品であるフェライトコ
ア１１をコンベア外に排除する排除装置１８と、良品を
コンベアから分離するシュート１９と、上記マイクロホ
ン１７に連結されるＦＦＴ（高速フーリエ変換器）２０
と、該ＦＦＴ２０の出力を入力とするパソコン２１とを
有して構成されている。なお、図において２２は該検査
装置１０の全体を制御するシーケンサーを、２３、２４
はチェーンコンベアのスプロケットを、２５は架台を示
す。
【０００６】従って、この検査装置１０を使用する場合
には、まず製品搬入部１２からの搬入されたフェライト
コア１１を補助コンベア１３の載置台１４上に載せて、
主コンベアとなるチェーンコンベア１５の掛止部にかけ
、ハンマー装置１６によって一定の強さで、該フェライ
トコア１１を叩く。この様子を図２に示すが、マイクロ
ホン１７によって叩いた音を集音し、ＦＦＴ２０に入力
している。なお、１７ａはハンマー単体を示す。上記Ｆ
ＦＴ２０によって入力信号をフーリエ変換して波形信号
の周波数分析を行う。該ＦＦＴ２０の出力の典型例を図
３に示す。そして、図において、該信号をパソコン２１
によって信号処理し、領域Ｐ、領域Ｑ、領域Ｒの部分の
波形を検査し、良否を判断している。この判断は予め準
備された良品の打音と、不良品の打音とを比較判定して
、周波数領域と上限、下限のレベルを決め、範囲Ｐ、Ｑ
、Ｒを決定する。そして、図４（Ａ）に示すように、信
号のピーク値が所定の周波数の領域とレベルに入った場
合に良とし、他の（Ｂ）、（Ｃ）、（Ｄ）の場合には、
不良品と判別とし、これらをＰ、Ｑ、Ｒの全ての部分に
おいて検査を行う。これによって、以前より精度の良い
製品の音響による検査を行うことができる。なお、ここ
で、周波数分析したピーク値については、ハンマーの叩
き具合によって強さは変わるので、必ずしも上限及び下
限を設ける必要はなく、図の（Ｃ）、（Ｄ）の場合は合
格とすることもできる。
には、まず製品搬入部１２からの搬入されたフェライト
コア１１を補助コンベア１３の載置台１４上に載せて、
主コンベアとなるチェーンコンベア１５の掛止部にかけ
、ハンマー装置１６によって一定の強さで、該フェライ
トコア１１を叩く。この様子を図２に示すが、マイクロ
ホン１７によって叩いた音を集音し、ＦＦＴ２０に入力
している。なお、１７ａはハンマー単体を示す。上記Ｆ
ＦＴ２０によって入力信号をフーリエ変換して波形信号
の周波数分析を行う。該ＦＦＴ２０の出力の典型例を図
３に示す。そして、図において、該信号をパソコン２１
によって信号処理し、領域Ｐ、領域Ｑ、領域Ｒの部分の
波形を検査し、良否を判断している。この判断は予め準
備された良品の打音と、不良品の打音とを比較判定して
、周波数領域と上限、下限のレベルを決め、範囲Ｐ、Ｑ
、Ｒを決定する。そして、図４（Ａ）に示すように、信
号のピーク値が所定の周波数の領域とレベルに入った場
合に良とし、他の（Ｂ）、（Ｃ）、（Ｄ）の場合には、
不良品と判別とし、これらをＰ、Ｑ、Ｒの全ての部分に
おいて検査を行う。これによって、以前より精度の良い
製品の音響による検査を行うことができる。なお、ここ
で、周波数分析したピーク値については、ハンマーの叩
き具合によって強さは変わるので、必ずしも上限及び下
限を設ける必要はなく、図の（Ｃ）、（Ｄ）の場合は合
格とすることもできる。
【０００７】次に、具体的に実験に基づいて本発明の作
用を説明する。まず、表１は５０個のサンプルに基づい
てその測定しようとする領域または近傍にあるピーク値
を測定したものである。
用を説明する。まず、表１は５０個のサンプルに基づい
てその測定しようとする領域または近傍にあるピーク値
を測定したものである。
【０００８】
【表１】
【０００９】ここで、予め上記Ｐに相当する第１次周波
数領域（１６．０２３４〜１６．０５４７ｋＨｚ）、Ｑ
に相当する第２次周波数領域（１６．４６０９〜１６．
５７８１ｋＨｚ）、Ｒに相当する第３次周波数領域（２
２．７１８７〜２２．７５００）を決定しておく。この
周波数領域の設定は、前記したように、良品である１０
サンプルを叩いて０〜５０ｋＨｚでの波形をＦＦＴ２０
に取込み、不良品である１０サンプルを叩いて０〜５０
ｋＨｚでの波形をＦＦＴ２０に取込み、これらの周波数
分析データーをパソコン２１に取込み、重合わせて色違
いの線によってグラフを書き、不良品の信号が良品の信
号から一番ずれる点を特定し、次に他の信号のずれる点
を特定する。このような操作を２〜３箇所について行い
これを上記パソコン２１に入力して低い方から上記の如
く第１次周波数領域、第２次周波数領域、第３次周波数
領域とした。
数領域（１６．０２３４〜１６．０５４７ｋＨｚ）、Ｑ
に相当する第２次周波数領域（１６．４６０９〜１６．
５７８１ｋＨｚ）、Ｒに相当する第３次周波数領域（２
２．７１８７〜２２．７５００）を決定しておく。この
周波数領域の設定は、前記したように、良品である１０
サンプルを叩いて０〜５０ｋＨｚでの波形をＦＦＴ２０
に取込み、不良品である１０サンプルを叩いて０〜５０
ｋＨｚでの波形をＦＦＴ２０に取込み、これらの周波数
分析データーをパソコン２１に取込み、重合わせて色違
いの線によってグラフを書き、不良品の信号が良品の信
号から一番ずれる点を特定し、次に他の信号のずれる点
を特定する。このような操作を２〜３箇所について行い
これを上記パソコン２１に入力して低い方から上記の如
く第１次周波数領域、第２次周波数領域、第３次周波数
領域とした。
【００１０】この表１によれば、例えばＮｏ３、Ｎｏ４
のサンプルは、第１次周波数領域から逸脱しており、Ｎ
ｏ３にはクラックがあり、Ｎｏ４はカケがあるので、不
良品となるが、Ｎｏ４においては第２次周波数領域には
入っている。また、不良品であるＮｏ２を見ると第１次
周波数領域には入っているが、第２次周波数領域からは
外れており、一つの領域のみを判断したのでは、充分で
ないことが分かる。従って、最低２つの領域について検
討した方が良いが、Ｎｏ９の不良品サンプルのように、
第１次周波数領域及び第２次周波数領域は良く、第３次
周波数領域について外れている場合もある。従って、数
多く領域を定めて検査を行うのが好ましいことが分かる
。上記実施例においては、フェライトコアについて試験
を行った例について説明したが、叩いて音のする物体（
例えば、セラミック、金属等）であれば、如何なるもの
であっても本発明方法によって検査可能である。
のサンプルは、第１次周波数領域から逸脱しており、Ｎ
ｏ３にはクラックがあり、Ｎｏ４はカケがあるので、不
良品となるが、Ｎｏ４においては第２次周波数領域には
入っている。また、不良品であるＮｏ２を見ると第１次
周波数領域には入っているが、第２次周波数領域からは
外れており、一つの領域のみを判断したのでは、充分で
ないことが分かる。従って、最低２つの領域について検
討した方が良いが、Ｎｏ９の不良品サンプルのように、
第１次周波数領域及び第２次周波数領域は良く、第３次
周波数領域について外れている場合もある。従って、数
多く領域を定めて検査を行うのが好ましいことが分かる
。上記実施例においては、フェライトコアについて試験
を行った例について説明したが、叩いて音のする物体（
例えば、セラミック、金属等）であれば、如何なるもの
であっても本発明方法によって検査可能である。
【００１１】
【発明の効果】請求項第１項記載の製品の音響による検
査方法は、以上の説明からも明らかなように、製品の打
音の信号をＦＦＴを通して周波数分析を行い、少なくと
も２個以上の領域を決定して、各ピーク周波数信号がこ
の範囲にあるか否を判断することによって、製品の良否
を判定しているので、従来の単純な音響方法より、更に
精度良く検査を行うことができる。また、打音を利用し
て検査を行うのでコンピュター処理が容易で、全体を自
動化することもでき、極めて、正確かつ効率的に製品の
検査を行うことが可能となった。
査方法は、以上の説明からも明らかなように、製品の打
音の信号をＦＦＴを通して周波数分析を行い、少なくと
も２個以上の領域を決定して、各ピーク周波数信号がこ
の範囲にあるか否を判断することによって、製品の良否
を判定しているので、従来の単純な音響方法より、更に
精度良く検査を行うことができる。また、打音を利用し
て検査を行うのでコンピュター処理が容易で、全体を自
動化することもでき、極めて、正確かつ効率的に製品の
検査を行うことが可能となった。
【図１】本発明の一実施例方法を適用した検査装置の概
略平面図である。
略平面図である。
【図２】同方法を説明するための斜視図である。
【図３】周波数分析の波形図である。
【図４】同部分拡大図である。
【符号の説明】
１０ 検査装置
１１ フェライトコア
１２ 製品搬入部
１３ 補助コンベア
１４ 載置台
１５ チェーンコンベア
１６ ハンマー装置
１７ マイクロホン
１８ 排除装置
１９ シュート
２０ ＦＦＴ（高速フーリエ変換器）２１ パソコ
ン ２２ シーケンサー ２３ スプロケット ２４ スプロケット ２５ 架台
ン ２２ シーケンサー ２３ スプロケット ２４ スプロケット ２５ 架台
Claims (1)
- 【請求項１】 検査対象物である製品をハンマーで叩
き、その打音を電気信号に変換し、その波形信号から製
品の良否を判定する製品の音響による非破壊検査方法で
あって、上記波形信号をフーリエ変換器に通して周波数
分析を行い、該信号波形に含まれる各ピーク周波数信号
の少なくとも２箇所が予め設定された周波数領域に有る
か否かを判断することによって該製品の良品を判定する
製品の音響による検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3116823A JPH04320958A (ja) | 1991-04-19 | 1991-04-19 | 製品の音響による検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3116823A JPH04320958A (ja) | 1991-04-19 | 1991-04-19 | 製品の音響による検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04320958A true JPH04320958A (ja) | 1992-11-11 |
Family
ID=14696514
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3116823A Pending JPH04320958A (ja) | 1991-04-19 | 1991-04-19 | 製品の音響による検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04320958A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001272385A (ja) * | 2000-03-28 | 2001-10-05 | Toyo Seikan Kaisha Ltd | 線形予測係数法を用いた打検方法および打検装置 |
| JP2002350409A (ja) * | 2001-05-29 | 2002-12-04 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 打撃点検装置 |
| JP2008051516A (ja) * | 2006-08-22 | 2008-03-06 | Olympus Corp | 触覚検出装置 |
| JP2011007646A (ja) * | 2009-06-26 | 2011-01-13 | Ono Sokki Co Ltd | 測定装置 |
| JP2018146409A (ja) * | 2017-03-06 | 2018-09-20 | Ｊｒ東日本ビルテック株式会社 | 構造体の劣化探査装置と劣化探査方法 |
| US11570545B2 (en) | 2020-11-12 | 2023-01-31 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Acoustic inspection apparatus and acoustic inspection method |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5120892A (ja) * | 1974-08-12 | 1976-02-19 | Nissan Motor | |
| JPH0254167A (ja) * | 1988-08-18 | 1990-02-23 | Kawasaki Steel Corp | 鋼帯コイルの変形予知方法 |
| JPH02240561A (ja) * | 1989-03-14 | 1990-09-25 | Furuno Electric Co Ltd | 西瓜の空洞有無判定装置 |
-
1991
- 1991-04-19 JP JP3116823A patent/JPH04320958A/ja active Pending
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