JPH04320303A - 半導体磁器バリスタの製造方法 - Google Patents

半導体磁器バリスタの製造方法

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JPH04320303A
JPH04320303A JP3088498A JP8849891A JPH04320303A JP H04320303 A JPH04320303 A JP H04320303A JP 3088498 A JP3088498 A JP 3088498A JP 8849891 A JP8849891 A JP 8849891A JP H04320303 A JPH04320303 A JP H04320303A
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JP
Japan
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varistor
semiconductor
sio2
srtio3
heat treatment
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JP3088498A
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English (en)
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Atsushi Iga
篤志 伊賀
Masahiro Ito
昌宏 伊藤
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体磁器バリスタの製
造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のセラミック酸化物半導体
磁器の結晶粒界を絶縁化することによって、これまでの
セラミック誘電体と比較して、見かけ誘電率の非常に大
きなセラミック素体が得られることが知られている。
【0003】さらに、これら酸化物半導体磁器にNaを
含む物質を塗布し、これを熱により粒界拡散させ電極を
形成すると、しきい値電圧で急激に電流が流れるいわゆ
るバリスタが得られることも知られている。
【0004】例えば、SrTiO3を主成分とし、これ
にNb2O5およびAl2O3−SiO2系混合物を添
加して成型し、還元雰囲気中で焼結してなる多結晶セラ
ミック半導体の表面に酸化銅(CuO)および酸化ビス
マス(Bi2O3)を塗布して熱して拡散せしめ、粒界
部に高抵抗層を形成して得た粒界バリア型のセラミック
コンデンサ材料は、20,000〜100,000のご
とく大きな値の見かけ誘電率を持つ。一方において、S
rTiO3を主成分とし、これにNb2O5およびAl
2O3−SiO2系混合物を添加して成型し、還元雰囲
気中で焼結してなる多結晶セラミック半導体の表面に炭
酸ソーダを塗布し熱して拡散せしめ、電極を形成して電
圧を加えると、しきい値以上では急激に電流が流れる高
静電容量粒界バリア型セラミックバリスタが得られる。
【0005】そして、この種の粒界バリア型セラミック
バリスタやコンデンサは静電容量・対温度特性などにお
いて優れた特性をもつので、産業界で広く使用されてい
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】近年、半導体を使った
回路が多く用いられるようになってきたが、それに伴っ
てサージなどに対する半導体の保護が重要な課題となっ
てきた。バリスタはサージの吸収特性が優れているので
、しばしば電子機器の保護に用いられてきた。さらには
、SrTiO3は誘電率が高いので、これを半導体化し
粒界に高抵抗層を形成すると、コンデンサの役割とバリ
スタの役割を兼ね備えた高静電容量セラミックバリスタ
が得られるので、これがノイズとサージの両者を吸収す
る素子として、用いられるようになってきた。
【0007】しかし、従来の構成では半導体に適した低
電圧においてバリスタとしての立ち上がり電圧を持つ優
れた特性の素子を得ることは困難であった。
【0008】一般にバルク型と呼ばれる材料では、バリ
スタとしての立ち上がり電圧は磁器素体の厚さに比例し
て増減する。実用面において、経済的で扱いやすい磁器
素体の厚みは0.3〜1.0mmであるので、厚さ1m
mに対する立ち上がり電圧が6〜20Vくらいの低電圧
の磁器素体が適しているが、一般的な傾向として、低電
圧の磁器素体を得るのは難しく、立ち上がり電圧電圧が
低くなるとバリスタの非直線抵抗特性も低くなり、サー
ジ吸収能力が低下するので、低電圧用の特性の優れた材
料の開発が期待されていた。
【0009】本発明はこのような点に鑑みてなされたも
ので、半導体に適した低電圧において優れた特性を示す
半導体磁器バリスタを提供することを目的とするもので
ある。
【0010】
【課題を解決するための手段】これらの課題を解決する
ために本発明は、SrTiO3を主成分とし、これにS
iO2またはTiO2−SiO2を含む系よりなる焼結
促進剤、半導体化促進剤としてのNb2O5、およびS
rO−Ta2O5を含む系よりなるペロブスカイト構造
の組成物を添加・混合したのち高温で焼結し、還元雰囲
気中熱処理で半導体化し、しかるのちに大気中にて熱処
理を施して、サージ吸収特性の優れた低電圧用の高静電
容量チタン酸ストロンチウム半導体磁器バリスタの製造
方法を提供するものである。
【0011】また、上記の半導体化された焼結体にNa
を含有する液体を含浸し乾燥したのち、大気中850〜
1200℃にて熱処理を施す製造方法を提供するもので
ある。
【0012】
【作用】以上のように本発明は、SrTiO3を主成分
とし、これにSiO2を含む系よりなる焼結促進剤、半
導体促進剤としてのNb2O5およびSrO−Ta2O
5を含む系よりなるペロブスカイト構造の組成物を添加
・混合したのち高温で焼結し、還元雰囲気中熱処理で半
導体化することにより、焼結体の微結晶のサイズがよく
揃い、さらに微結晶の三重結合点に沿って焼結体全体に
わたって網の目のように気孔を持つ半導体磁器が得られ
、そののち大気中熱処理を施すと、あるいはNaを含有
する液体を含浸し乾燥したのち大気中熱処理を施すと、
容易に粒界が酸化され、あるいはNaが粒界に拡散する
と同時に粒界酸化も進行し、粒界に高抵抗層が形成され
るという作用によって、高い見かけ誘電率を持つと同時
に低電圧用で高い非直線抵抗特性を持ち、サージ吸収特
性の優れたチタン酸ストロンチウム半導体磁器バリスタ
が得られるというものである。
【0013】
【実施例】以下、本発明の実施例の具体例について説明
する。なお、表中、試料に*印を付けたものは比較例を
示す。
【0014】(実施例1)蓚酸チタニルストロンチウム
{SrTiO(C2O4)2・4H2O}を熱分解して
得たチタン酸ストロンチウム(SrTiO3)に、焼結
促進剤としてのTiO2−Al2O3−SiO2(20
:35:45wt%比)を0.05〜6.00wt%、
Nb2O5を0.02〜3.00wt%、SrO−Mn
O−Ta2O5系ペロブスカイト型組成物(3:1:1
mol比)を0.05〜2.00wt%添加し、よく混
合したのち、900℃にて仮焼した。湿式粉砕ののち、
乾燥,造粒,成型して、大気中1400℃にて10時間
焼結し、次に窒素(90%)と水素(10%)の還元雰
囲気中1300℃にて2時間熱処理して半導体SrTi
O3磁器を得た。
【0015】なお、焼結促進剤としてのTiO2−Al
2O3−SiO2(20:35:45wt%比)は、市
販のTiO2,Al2O3,SiO2の粉体を所定の重
量比に従って秤量・混合し、1200℃にて焼成し、粉
砕して得た。また、SrO−MnO−Ta2O5系ペロ
ブスカイト型組成物(3:1:1mol比)は、市販の
SrCO3,MnCO3,Ta2O5の粉体を所定の重
量比に従って秤量・混合し、1200℃にて焼成し、粉
砕して得た。
【0016】かくして得た半導体SrTiO3磁器に大
気中で950℃にて5時間の熱処理を施し、電極を形成
して電気特性の測定を行った。下記の(表1)には検討
を行った試料の組成比を、また(表2)にはそれらの電
気特性を示す。
【0017】
【表1】
【0018】
【表2】
【0019】(表1)および(表2)より明らかなごと
く、SrTiO3に焼結促進剤としてのTiO2−Al
2O3−SiO2系組成物を0.1〜5.0wt%、N
b2O5を0.05〜2.00wt%、SrO−MnO
−Ta2O5系ペロブスカイト型組成物(3:1:1m
ol比)を0.1〜1.5wt%添加し、焼成されて得
た5〜20vol%の開放気孔率を持つ半導体SrTi
O3磁器に大気中にて熱処理を施して粒界に高絶縁性の
粒界層を形成すれば、見かけ誘電率が高く、誘電損失が
小さく、非直線抵抗特性に優れた低電圧用半導体磁器バ
リスタ材料が得られる。これは本バリスタ材料のもとと
なった半導体SrTiO3磁器の粒径が均一で、さらに
焼結体粒子の三重結合点に形成された開放気孔が焼結体
全体にわたって均質に網の目のようにゆきわたっている
ことによると考えられる。
【0020】ここで、焼結体中の結晶粒の粒径は切断面
を研磨したのち、研磨面にBi2O3系金属石鹸を塗布
し、1000℃で熱処理を施し、粒界を鮮明にして光学
顕微鏡で観察して求めた。この顕微鏡観察の結果、上記
条件のバリスタにおける焼結体の微粒子は粒径がよく揃
っていて約80μmで、また電気特性は(表2)に示す
ように、立ち上がり電圧が11〜18V、tanδは2
.0%以下、見かけ誘電率は40,000以上であり、
非直線抵抗指数αが11以上のバリスタ特性を持つもの
である。なお、焼結促進剤としてのTiO2−Al2O
3−SiO2系組成物の添加量が5%を超えると焼結体
が変形したり、付着して実用的でない。なお、図1は本
発明の一実施例によるバリスタ特性を持つ半導体磁器に
電極およびリード線を形成したバリスタを示す概略図で
ある。図1において、1は半導体磁器、2は電極、3は
リード線である。
【0021】(実施例2)市販の工業用チタン酸ストロ
ンチウム(SrTiO3)粉体に、TiO2−Al2O
3−SiO2系組成物(例えば具体例は20:35:4
5wt%比)、TiO2−MnO−SiO2系組成物(
例えば具体例は10:50:40wt%比)、TiO2
−MgO−SiO2系組成物(例えば具体例は30:3
0:40wt%比)から選ばれた焼結促進剤を0.1〜
5.0wt%、Nb2O5を0.05〜2.00wt%
、SrO−CuO−Ta2O5系ペロブスカイト型組成
物(3:1:1mol比)を、0.1〜1.5wt%を
添加しよく混合したのち、900℃にて仮焼した。湿式
粉砕ののち、乾燥,造粒し、ディスク状に成型して、大
気中1400℃にて焼成したのち、窒素−水素混合ガス
中1250℃にて還元処理ののち、大気中1000℃に
て熱処理し、ディスクの両面に銀電極を形成して図1の
高静電容量型半導体磁器バリスタを作製し、電気特性を
測定した。
【0022】その結果を、(表3)には検討を行った試
料の組成比を、また(表4)にはそれらの電気特性を示
す。なお、SrO−CuO−Ta2O5系ペロブスカイ
ト型組成物(3:1:1mol比)は市販のSrCO3
,CuO,Ta2O5の粉体を所定の重量比に従って秤
量・混合し、900℃にて焼成し、粉砕して得た。また
、焼成促進剤は、例えば、TiO2−MgO−SiO2
では、TiO2,MgO,SiO2の粉体を所定の重量
比で秤量・混合し、1200℃にて焼成し、粉砕して得
た。
【0023】
【表3】
【0024】
【表4】
【0025】上記の(表3)および(表4)より明らか
なごとく、SrTiO3にTiO2−MgO−SiO2
系などの焼結促進剤が0.1〜5.0wt%、Nb2O
5が0.05〜2.00wt%、SrO−CuO−Ta
2O5系ペロブスカイト型組成物が0.1〜1.5wt
%添加され焼成されて得た開放気孔率5〜20vol%
を持つ半導体SrTiO3磁器材料に大気中にて熱処理
を施せば、極めて優れた誘電体特性を示し、高静電容量
半導体磁器バリスタとして使用できる。これらのデバイ
スに用いられている材料の電気特性は、ほぼ実施例1の
材料と等しい。
【0026】(実施例3)市販の工業用チタン酸ストロ
ンチウム(SrTiO3)粉体に、CaO−Al2O3
−MgO−SiO2系組成物(例えば具体例は30.0
:16.5:8.5:45.0wt%比)からなる焼結
促進剤を0.1〜5.0wt%、Nb2O5を0.05
〜2.00wt%、SrO−CoO−Ta2O5系ペロ
ブスカイト型組成物(3:1:1mol比)を、0.1
〜1.5wt%を添加しよく混合したのち、900℃に
て仮焼した。湿式粉砕ののち、乾燥,造粒し、ディスク
状に成型して、大気中1400℃にて焼成したのち、窒
素−水素混合ガス中1250℃にて還元処理ののち、大
気中1000℃にて熱処理し、ディスクの両面に銀電極
を形成して図1の高静電容量型半導体磁器バリスタを作
製し、電気特性を測定した。
【0027】なお、SrO−CoO−Ta2O5系ペロ
ブスカイト型組成物(3:1:1mol比)は市販のS
rCO3,CoO,Ta2O5の粉体を所定の重量比に
従って秤量・混合し、1200℃にて焼成し、粉砕して
得た。 一方、CaO−Al2O3−MgO−SiO2系焼結促
進剤は、市販のCaCO3,Al2O3,MgO,Si
O2の粉体を所定の重量比で秤量・混合し、1200℃
にて焼成し、粉砕して得た。
【0028】下記の(表5)には検討を行った試料の組
成比を、また(表6)にはそれらの電気特性を示す。
【0029】
【表5】
【0030】
【表6】
【0031】上記の(表5)および(表6)より明らか
なごとく、SrTiO3にCaO−Al2O3−MgO
−SiO2系の焼結促進剤が0.1〜5.0wt%、N
b2O5が0.05〜2.00wt%、SrO−CoO
−Ta2O5系ペロブスカイト型組成物が0.1〜1.
5wt%添加され、焼成されて得た開放気孔率5〜20
vol%を持つ半導体SrTiO3磁器材料に大気中に
て熱処理を施せば、極めて優れた誘電体特性を示し、高
静電容量半導体磁器バリスタとして使用できる。これら
のデバイスに用いられている材料の電気特性は、ほぼ実
施例1の材料と等しい。
【0032】(実施例4)実施例1,2および3で得ら
れた半導体化された焼結体に、0.5規定の水酸化ナト
リウムの水溶液を含浸し、乾燥したのち、大気中950
℃にて4時間の熱処理を施し、電極を形成して高静電容
量半導体磁器バリスタを得た。この水酸化ナトリウムの
含浸・熱処理によって焼結体の微結晶界面にNaを含ん
だ層が形成され、この処理により焼結体のεの値はやや
低下するが、バリスタの立ち上がり電圧は高くなる。上
記の(表2),(表4),(表6)に示した実施例の試
料に対応して,Na処理を施した半導体磁器バリスタの
電気特性を下記の(表7),(表8),(表9)に示す
。なお、(表7)では(表2)中において比較例として
示した試料に対応するものは省略している。
【0033】
【表7】
【0034】
【表8】
【0035】
【表9】
【0036】上記の(表7),(表8),(表9)に示
すように、ナトリウムの含浸・熱処理によってバリスタ
の立ち上がり電圧が高くなる結果、バリスタが立ち上が
るまでに貯えられる電気量は、ナトリウムの含浸・熱処
理の前に比べて40〜60%くらい増加することになり
、好ましい特性の向上といえる。
【0037】なお、上記の各実施例では、SrTiO3
に各種の添加物を添加する場合について説明したが、本
発明はSrTiO3の一部をCaなどで置換してなるも
のを主成分として用いる場合にも適用可能なことはもち
ろんである。
【0038】
【発明の効果】以上のように本発明は、SrTiO3に
対する添加物の種類,量,添加法など製造工程を検討し
た結果、静電容量が大きく、特性の優れた低電圧のチタ
ン酸ストロンチウム半導体磁器バリスタが得られるよう
になったものである。
【0039】なお、SrTiO3に添加されるSiO2
を含有する系よりなる焼結促進剤として、Nb2O5−
ZnO−SiO2(例えば46.5:48.0:5.5
wt%比)、MnO−ZrO2−SiO2(例えば56
.0:8.0:36.0wt%比)などにおいて良特性
のものが得られた。
【0040】また、実施例4では示されなかったが、開
放気孔を持つSrTiO3系焼結体に含浸されるNaを
含有する液体としては、水酸化ナトリウムの水溶液以外
の液体においても、例えばアルミン酸ソーダの水溶液に
おいても同様の効果が認められた。昨今、半導体を使っ
た回路などにおいて、サージなどに対する半導体の保護
が重要な課題となってきたが、本発明は誘電率が高いS
rTiO3を半導体化し粒界に高抵抗層を形成して、コ
ンデンサの役割とバリスタの役割を兼ね備えた高静電容
量の半導体磁器バリスタが得られることを可能とし、ノ
イズとサージの両者を吸収する素子を製造する新しい方
法を提供するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例による半導体磁器に電極および
リード線を形成した半導体磁器バリスタを示す概略図
【符号の説明】
1  半導体磁器 2  電極 3  リード線

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】チタン酸ストロンチウム(SrTiO3)
    を主成分とし、これにNb2O5を0.05〜2.00
    wt%と、SrO−Ta2O5を含有する系よりなるペ
    ロブスカイト構造の組成物を0.1〜1.5wt%と、
    SiO2を含有する系よりなる焼結促進剤を0.1〜5
    .0wt%とを添加し、混合・加圧成型したのち、大気
    中1350〜1500℃にて焼結したのち、還元雰囲気
    中1000〜1400℃にて還元を施し、しかるのちに
    大気中850〜1200℃にて熱処理を施すことを特徴
    とする半導体磁器バリスタの製造方法。
  2. 【請求項2】チタン酸ストロンチウム(SrTiO3)
    を主成分とし、これにNb2O5を0.05〜2.00
    wt%と、SrO−Ta2O5を含有する系よりなるペ
    ロブスカイト構造の組成物を0.1〜1.5wt%と、
    TiO2−SiO2を含有する系よりなる焼結促進剤を
    0.1〜5.0wt%とを添加し、混合・加圧成型した
    のち、大気中1350〜1500℃にて焼結したのち、
    還元雰囲気中1000〜1400℃にて還元を施し、し
    かるのちに大気中850〜1200℃にて熱処理を施す
    ことを特徴とする半導体磁器バリスタの製造方法。
  3. 【請求項3】チタン酸ストロンチウム(SrTiO3)
    を主成分とし、これにNb2O5を0.05〜2.00
    wt%と、SrO−Ta2O5を含有する系よりなるペ
    ロブスカイト構造の組成物を0.1〜1.5wt%と、
    SiO2またはTiO2−SiO2を含有する系よりな
    る焼結促進剤を0.1〜5.0wt%とを添加し、混合
    ・加圧成型したのち、大気中1350〜1500℃にて
    焼結したのち、還元雰囲気中1000〜1400℃にて
    還元を施し、次いで、この半導体化された焼結体にNa
    を含有する液体を含浸し乾燥したのち、大気中850〜
    1200℃にて熱処理を施すことを特徴とする半導体磁
    器バリスタの製造方法。
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