JPH0431260A - 半導体包装材料の封止構造 - Google Patents
半導体包装材料の封止構造Info
- Publication number
- JPH0431260A JPH0431260A JP2136698A JP13669890A JPH0431260A JP H0431260 A JPH0431260 A JP H0431260A JP 2136698 A JP2136698 A JP 2136698A JP 13669890 A JP13669890 A JP 13669890A JP H0431260 A JPH0431260 A JP H0431260A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tape
- semiconductor
- semiconductor device
- semiconductor devices
- carrier tape
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 52
- 239000005022 packaging material Substances 0.000 title claims description 14
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims abstract description 23
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims abstract description 23
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 8
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 abstract description 9
- 238000005452 bending Methods 0.000 abstract description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 2
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000007665 sagging Methods 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Packages (AREA)
- Packaging Frangible Articles (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的コ
(産業上の利用分野)
本発明は、半導体装材料、例えばエンボステープによっ
て半導体装置を包装する際のキャリアテープとカバーテ
ープとの封止構造に関する。
て半導体装置を包装する際のキャリアテープとカバーテ
ープとの封止構造に関する。
(従来の技術)
従来、表面実装形半導体装置の包装材料の一種であるエ
ンボステープは、例えば第6図に示すように、カバーテ
ープ1とキャリアテープ2とから構成されている。また
、第7図(a)乃至(c)に示すように、キャリアテー
プ2の一主面には、半導体装置3が挿入される複数のポ
ケット(エンボス)部4,4・・・が設けられている。
ンボステープは、例えば第6図に示すように、カバーテ
ープ1とキャリアテープ2とから構成されている。また
、第7図(a)乃至(c)に示すように、キャリアテー
プ2の一主面には、半導体装置3が挿入される複数のポ
ケット(エンボス)部4,4・・・が設けられている。
カバーテブ1は、例えば熱圧着によりキャリアテープ2
の一主面に接着されている。ここで、カバーテープlと
キャリアテープ2との熱圧着による接着部5の形状は、
キャリアテープ2の縁部の二辺にのみ存在するようにな
っている。さらに、カバーテープ1及びキャリアテープ
2からなるエンボステーブは、リール6に巻かれ、この
リール6により半導体装置の保管、輸送等が行われてい
る。
の一主面に接着されている。ここで、カバーテープlと
キャリアテープ2との熱圧着による接着部5の形状は、
キャリアテープ2の縁部の二辺にのみ存在するようにな
っている。さらに、カバーテープ1及びキャリアテープ
2からなるエンボステーブは、リール6に巻かれ、この
リール6により半導体装置の保管、輸送等が行われてい
る。
しかしながら、このようなキャリアテープ2の縁部にお
ける二辺のみの接着では、多ピン化、薄型化等された表
面実装形半導体装置の包装や、第8図に示すような幅方
向に多列化されたポケット部4a、・・・、4b、・・
・、4C2・・・を有するエンボステープでは、カバー
テープ1の非接着部におけるたわみが問題となる。即ち
、このたわみによってポケット部4a、・・・、4b、
・・・、4c、・・・から半導体装置3が飛び出し、安
定した包装ができなくなるという欠点がある。また、こ
れは包装時及び輸送時における半導体装置3のリードの
曲り等の原因ともなり、装置の品質低下を招く欠点があ
る。
ける二辺のみの接着では、多ピン化、薄型化等された表
面実装形半導体装置の包装や、第8図に示すような幅方
向に多列化されたポケット部4a、・・・、4b、・・
・、4C2・・・を有するエンボステープでは、カバー
テープ1の非接着部におけるたわみが問題となる。即ち
、このたわみによってポケット部4a、・・・、4b、
・・・、4c、・・・から半導体装置3が飛び出し、安
定した包装ができなくなるという欠点がある。また、こ
れは包装時及び輸送時における半導体装置3のリードの
曲り等の原因ともなり、装置の品質低下を招く欠点があ
る。
ところで、一般に、表面実装形半導体装置では、実装(
半田付け)前に吸湿していると、実装時の温度ストレス
により、樹脂クラック、半導体チップのクラック等の致
命的な不良を発生させることが知られている。従って、
このような事態が発生しないように、現在では、カバー
テープ1及びキャリアテープ2の材質に透湿度の低いも
のを使用し、かつ、エンボステープ及びリール6の全表
面に、透湿特性の優れたアルミラミネート袋等を覆わせ
ることが主流となっている。ところが、上記接着構造を
有するエンボステープでは、−度開封してしまうと、ポ
ケット部4間の非接着面を通して、全ての半導体装置が
吸湿してしまい、防湿包装の効果を得ることができない
。また、−度開封したエンボステープ1に、再度半導体
装置を保管等する場合には、当然にベーキング作業等が
必要となるため、ユーザ側での負担が大きくなるという
欠点がある。
半田付け)前に吸湿していると、実装時の温度ストレス
により、樹脂クラック、半導体チップのクラック等の致
命的な不良を発生させることが知られている。従って、
このような事態が発生しないように、現在では、カバー
テープ1及びキャリアテープ2の材質に透湿度の低いも
のを使用し、かつ、エンボステープ及びリール6の全表
面に、透湿特性の優れたアルミラミネート袋等を覆わせ
ることが主流となっている。ところが、上記接着構造を
有するエンボステープでは、−度開封してしまうと、ポ
ケット部4間の非接着面を通して、全ての半導体装置が
吸湿してしまい、防湿包装の効果を得ることができない
。また、−度開封したエンボステープ1に、再度半導体
装置を保管等する場合には、当然にベーキング作業等が
必要となるため、ユーザ側での負担が大きくなるという
欠点がある。
(発明が解決しようとする課題)
このように、従来は、カバーテープとキャリアテープと
の接着部の形状が、キャリアテープの縁部の二辺におい
てのみ接着される構造となっていた。このため、半導体
装置の安定した包装ができず、リードの曲り等の原因と
なっていた。また、この構造では、防湿包装の効果を得
ることができず、ユーザ側での負担を大きくする等の欠
点があった。
の接着部の形状が、キャリアテープの縁部の二辺におい
てのみ接着される構造となっていた。このため、半導体
装置の安定した包装ができず、リードの曲り等の原因と
なっていた。また、この構造では、防湿包装の効果を得
ることができず、ユーザ側での負担を大きくする等の欠
点があった。
本発明は、上記欠点を解決すべくなされたもので、包装
された半導体装置のリードの曲り等を防止することによ
り、装置の品質向上を達成し、かつ、メーカからユーザ
に至る半導体装置の管理工程及び実装工程における制約
を解消することにより、半導体装置の広範囲な使用環境
を実現することを目的とする。
された半導体装置のリードの曲り等を防止することによ
り、装置の品質向上を達成し、かつ、メーカからユーザ
に至る半導体装置の管理工程及び実装工程における制約
を解消することにより、半導体装置の広範囲な使用環境
を実現することを目的とする。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
上記目的を達成するために、本発明の半導体装材料の封
止構造は、半導体装置が挿入されるポケット部を一主面
に有する第1のテープと、前記第1のテープの一主面に
接着される第2のテープとからなり、前記第1のテープ
と前記第2のテープとの接着部が、前記ポケット部を取
り囲んでいるようなものである。
止構造は、半導体装置が挿入されるポケット部を一主面
に有する第1のテープと、前記第1のテープの一主面に
接着される第2のテープとからなり、前記第1のテープ
と前記第2のテープとの接着部が、前記ポケット部を取
り囲んでいるようなものである。
また、半導体装置を挿入する複数のポケット部が一主面
に規則的に形成される第1のテープと前記第1のテープ
の一主面に接着される第2のテープとからなり、前記第
1のテープと前記第2のテープとの接着部が、前記第1
及び第2のテープの長手方向に梯子状に形成されている
ものである。
に規則的に形成される第1のテープと前記第1のテープ
の一主面に接着される第2のテープとからなり、前記第
1のテープと前記第2のテープとの接着部が、前記第1
及び第2のテープの長手方向に梯子状に形成されている
ものである。
(作 用)
このような構造によれば、第1及び第2のテブの接着部
の形状が、前記ポケット部を取り囲むようにして形成さ
れ、又は前記第1及び第2のテープの長手方向に梯子状
に形成されている。このため、非接着部におけるたわみ
がなくなり、半導体装置のリードの曲り等を防止できる
。また、接着部形状が前記ポケット部を取り囲んでいる
ことにより、半導体装置の防湿の効果を得ることができ
る。
の形状が、前記ポケット部を取り囲むようにして形成さ
れ、又は前記第1及び第2のテープの長手方向に梯子状
に形成されている。このため、非接着部におけるたわみ
がなくなり、半導体装置のリードの曲り等を防止できる
。また、接着部形状が前記ポケット部を取り囲んでいる
ことにより、半導体装置の防湿の効果を得ることができ
る。
(実施例)
以下、図面を参照しながら本発明の一実施例について詳
細に説明する。
細に説明する。
第1図は、本発明の一実施例に係わる半導体装材料を示
すものである。
すものである。
半導体装材料1、例えばエンボステープは、キャリアテ
ープ(第1のテープ)11とカバーテ−ブ(第2のテー
プ)12とから構成されている。また、第2図(a)乃
至(c)に示すように、キャリアテープ11の一主面に
は、半導体装置13を挿入する複数のポケット(エンボ
ス)部14.14・・・が設けられている。カバへテー
プ12は、例えば熱圧着によりキャリアテープ11の一
主面に接着されている。ここで、キャリアテープ11と
カバーテープ12との熱圧着による接着部15は、ポケ
ット部14.14・・・を取り囲むような形状をしてい
る。さらに、キャリアテープ11及びカバーテープ12
からなるエンボステープは、リール16に巻かれ、この
リール1Bにより半導体装置の保管、輸送等が行われる
。
ープ(第1のテープ)11とカバーテ−ブ(第2のテー
プ)12とから構成されている。また、第2図(a)乃
至(c)に示すように、キャリアテープ11の一主面に
は、半導体装置13を挿入する複数のポケット(エンボ
ス)部14.14・・・が設けられている。カバへテー
プ12は、例えば熱圧着によりキャリアテープ11の一
主面に接着されている。ここで、キャリアテープ11と
カバーテープ12との熱圧着による接着部15は、ポケ
ット部14.14・・・を取り囲むような形状をしてい
る。さらに、キャリアテープ11及びカバーテープ12
からなるエンボステープは、リール16に巻かれ、この
リール1Bにより半導体装置の保管、輸送等が行われる
。
このような構造によれば、キャリアテープ11とカバー
テープ12との接着部15の形状が、ポケット部14.
14・・・を取り囲むような構造をしている。
テープ12との接着部15の形状が、ポケット部14.
14・・・を取り囲むような構造をしている。
このため、カバーテープ12のたわみを最小限にするこ
とが可能となり、安定した包装ができるようになる。ま
た、これに伴いリードの曲り等も減少し、半導体装置の
品質向上を達成できる。
とが可能となり、安定した包装ができるようになる。ま
た、これに伴いリードの曲り等も減少し、半導体装置の
品質向上を達成できる。
また、キャリアテープ11及びカバーテープ12に、吸
湿特性の優れた材質(例えばアルミ等)を使用すれば、
半導体装置の吸湿量が大幅に減り、半導体装置の品質向
上を可能とする。即ち、第3図(a)に示すように、本
発明に係わる封止構造と吸湿特性の優れたアルミラミネ
ート化テープを組み合わせることにより、大幅に半導体
装置の吸湿量を減らすことができる。また、同図(b)
に示すように、本発明に係わる封止構造と吸湿特性の優
れたアルミラミネート化テープを組み合わせれば、樹脂
クラック不良率もほとんどゼロにすることができる。こ
れにより、ユーザ側における製造工程、管理工程等での
制約が解消でき、広範囲な使用環境を実現することが可
能となる。
湿特性の優れた材質(例えばアルミ等)を使用すれば、
半導体装置の吸湿量が大幅に減り、半導体装置の品質向
上を可能とする。即ち、第3図(a)に示すように、本
発明に係わる封止構造と吸湿特性の優れたアルミラミネ
ート化テープを組み合わせることにより、大幅に半導体
装置の吸湿量を減らすことができる。また、同図(b)
に示すように、本発明に係わる封止構造と吸湿特性の優
れたアルミラミネート化テープを組み合わせれば、樹脂
クラック不良率もほとんどゼロにすることができる。こ
れにより、ユーザ側における製造工程、管理工程等での
制約が解消でき、広範囲な使用環境を実現することが可
能となる。
なお、本発明は上記実施例に限られるものではなく、種
々の変形が可能である。
々の変形が可能である。
例えば、第4図に示すように、多列化されたポケット部
14a、・・・ 14b、・・・ 14c、・・・
を有するエンボステープでは、キャリアテープ11とカ
バーテープ12との接着部15が、キャリアテープ11
及びカバーテープ12の長手方向に梯子状となるように
形成されている。これにより、カバーテープ12の非接
着部におけるたわみの問題を解決できる。
14a、・・・ 14b、・・・ 14c、・・・
を有するエンボステープでは、キャリアテープ11とカ
バーテープ12との接着部15が、キャリアテープ11
及びカバーテープ12の長手方向に梯子状となるように
形成されている。これにより、カバーテープ12の非接
着部におけるたわみの問題を解決できる。
また、接着部15が長手方向に梯子状となっているため
、取扱いも容易になる。
、取扱いも容易になる。
また、例えば第5図に示すように、ポケット部14.1
4・・・間の一部に接着部15を有する形状とすれば、
たわみの問題を解決することができ、安定した包装がで
きるようになる。
4・・・間の一部に接着部15を有する形状とすれば、
たわみの問題を解決することができ、安定した包装がで
きるようになる。
[発明の効果]
以上、説明したように、本発明の半導体装材料の封止構
造によれば、次のような効果を奏する。
造によれば、次のような効果を奏する。
キャリアテープとカバーテープとの接着部が、ポケット
部を取り囲むように形成され、又はその長手方向に梯子
状となるように形成されている。
部を取り囲むように形成され、又はその長手方向に梯子
状となるように形成されている。
このため、包装された半導体装置のリードの曲り等を防
止することができ、装置の品質向上を達成することがで
きる。また、メーカからユーザに至る半導体装置の管理
工程及び実装工程における制約を解消することが可能と
なり、半導体装置の広範囲な使用環境を実現することが
できる。
止することができ、装置の品質向上を達成することがで
きる。また、メーカからユーザに至る半導体装置の管理
工程及び実装工程における制約を解消することが可能と
なり、半導体装置の広範囲な使用環境を実現することが
できる。
第1図は本発明に係わる半導体装材料を示す外観図、第
2図は本発明の一実施例に係わる半導体装材料の封止構
造を示す図、第3図は吸湿量及び樹脂クラック発生率に
ついて従来と本発明とを比較して示す図、第4図及び第
5図はそれぞれ本発明の他の実施例について示す平面図
、第6図は従来の半導体装材料を示す外観図、第7図及
び第8図はそれぞれ従来の半導体装材料の封止構造を示
す図である。 11・・・キャリアテープ、12・・・カバーテープ、
13・・・半導体装置、14・・・ポケット部、15・
・・接着部、16・・・リール。
2図は本発明の一実施例に係わる半導体装材料の封止構
造を示す図、第3図は吸湿量及び樹脂クラック発生率に
ついて従来と本発明とを比較して示す図、第4図及び第
5図はそれぞれ本発明の他の実施例について示す平面図
、第6図は従来の半導体装材料を示す外観図、第7図及
び第8図はそれぞれ従来の半導体装材料の封止構造を示
す図である。 11・・・キャリアテープ、12・・・カバーテープ、
13・・・半導体装置、14・・・ポケット部、15・
・・接着部、16・・・リール。
Claims (2)
- (1)半導体装置が挿入されるポケット部を一主面に有
する第1のテープと、前記第1のテープの一主面に接着
される第2のテープとからなる半導体包装材料において
、前記第1のテープと前記第2のテープとの接着部が、
前記ポケット部を取り囲むような形状であることを特徴
とする半導体包装材料の封止構造。 - (2)半導体装置を挿入する複数のポケット部が一主面
に規則的に形成される第1のテープと、前記第1のテー
プの一主面に接着される第2のテープとからなる半導体
包装材料において、前記第1のテープと前記第2のテー
プとの接着部が、前記第1及び第2のテープの長手方向
に梯子状に形成されていることを特徴とする半導体包装
材料の封止構造。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2136698A JPH0431260A (ja) | 1990-05-25 | 1990-05-25 | 半導体包装材料の封止構造 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2136698A JPH0431260A (ja) | 1990-05-25 | 1990-05-25 | 半導体包装材料の封止構造 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0431260A true JPH0431260A (ja) | 1992-02-03 |
Family
ID=15181387
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2136698A Pending JPH0431260A (ja) | 1990-05-25 | 1990-05-25 | 半導体包装材料の封止構造 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0431260A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06336210A (ja) * | 1993-05-31 | 1994-12-06 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 電子部品包装用キャリアテープのシール方法 |
KR19980078228A (ko) * | 1997-04-25 | 1998-11-16 | 윤종용 | 캐리어 및 그를 이용한 반도체 칩 패키지 포장용 캐리어 테이프 |
US8205766B2 (en) | 2009-05-20 | 2012-06-26 | The Bergquist Company | Method for packaging thermal interface materials |
US8430264B2 (en) | 2009-05-20 | 2013-04-30 | The Bergquist Company | Method for packaging thermal interface materials |
JP2020006975A (ja) * | 2018-07-04 | 2020-01-16 | 信越ポリマー株式会社 | エンボスキャリアテープ |
-
1990
- 1990-05-25 JP JP2136698A patent/JPH0431260A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06336210A (ja) * | 1993-05-31 | 1994-12-06 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 電子部品包装用キャリアテープのシール方法 |
KR19980078228A (ko) * | 1997-04-25 | 1998-11-16 | 윤종용 | 캐리어 및 그를 이용한 반도체 칩 패키지 포장용 캐리어 테이프 |
US8205766B2 (en) | 2009-05-20 | 2012-06-26 | The Bergquist Company | Method for packaging thermal interface materials |
US8430264B2 (en) | 2009-05-20 | 2013-04-30 | The Bergquist Company | Method for packaging thermal interface materials |
JP2020006975A (ja) * | 2018-07-04 | 2020-01-16 | 信越ポリマー株式会社 | エンボスキャリアテープ |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2000203630A (ja) | エンボスキャリアテ―プおよびエンボスキャリアテ―ピング方法 | |
JPH0431260A (ja) | 半導体包装材料の封止構造 | |
US8912636B2 (en) | Semiconductor device | |
JPS5845186B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPS5927549A (ja) | 半導体装置 | |
JP2002145381A (ja) | 電子部品連 | |
KR20210068807A (ko) | 에어캡 구조체 | |
JPH01139370A (ja) | 半導体装置の出荷包装方法 | |
JPS63203573A (ja) | 半導体素子接続用リ−ドフレ−ムの梱包方法 | |
JP2022169064A5 (ja) | ||
JPS6056297B2 (ja) | 集積回路素子の気密実装構造 | |
KR100210329B1 (ko) | 반도체 패키지의 적재용 튜브 | |
JPH10157767A (ja) | エンボスキャリアテープとエンボステーピング梱包体及びエンボステーピング梱包体の出荷包装箱 | |
JP2002009107A (ja) | 半導体キャリヤテープに生じた変形を矯正するための治具 | |
JPH06183455A (ja) | 電子部品用キャリアテープ | |
JPH01130547A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPS639657B2 (ja) | ||
JPS61160956A (ja) | 半導体装置 | |
JPH02109883A (ja) | 半導体装置の包装装置 | |
JPS5996751A (ja) | 半導体装置 | |
JPS63281968A (ja) | レジンモ−ルド部品のテ−ピング形態 | |
JPS61244775A (ja) | プリント基板の包装方法 | |
WO1995023062A3 (en) | Barrier package | |
JPS62249443A (ja) | 半導体装置用キヤリアテ−プ | |
JPH0685094A (ja) | 半導体装置 |