JPH0430025B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

〔発明の技術分野〕 本発明は複写機等の画像形成装置に係り、特に
感光体の飽和帯電特性と現像手段による現像特性
とを関連させた画像形成方法に関する。 〔従来技術と問題点〕 光導電体材料を感光体の光導電層に用いる電子
写真複写装置においては、感光体上の静電潜像を
現像する為にトナーを前記の静電潜像に付着させ
る。この現像の場合コピー濃度等の現像特性は、
使用する感光体、現像条件等によつて異なる。し
たがつて使用する感光体と現像条件が決定された
場合には、現像特性は一義的に決るので、通常の
環境条件で標準画像濃度を維持するには、感光体
の表面電位を何ボルトに設定すべきかが明確にな
る。 また感光体表面の帯電電位は、その光導電層の
膜厚、比誘電率、及び感光体表面と感光体表面を
帯電させる為のコロナ放電装置との相対位置関係
等により決められる。 従来この感光体表面の帯電電位を一定に保つ為
に次のような方法が提案されている。すなわち、
感光体上に、露光を受ける画像部とは別に原稿の
黒紙部に相当する高電位部分と原稿の白紙部に相
当する低電位部分とによりなる基準電位部を設
け、この基準電位部の電位を検知し、各部の電位
が予め設定された適正電位となる様に帯電条件等
の複写プロセスの条件制御を行なうものである。 しかしながら上述の場合、基準電位部の電位測
定には高価な表面電位計を必要とし、露光量と帯
電量とに差異がある場合には、いずれかを補正
し、複数回複写を行ない両者を適正値に修正する
という複雑な制御機構も必要であるという欠点を
有する。 また従来の他の方法としては、感光体表面の光
導電層の膜厚と帯電電位が一定の特性を有するこ
とを利用して、光導電層の膜厚をセンサーを用い
て測定し、その膜厚に対応する電流が光導電層に
流れ込むように帯電装置の電圧を制御し、感光体
を所定の表面電位に制御するものである。 しかしながらこの場合にも、上述の光導電層の
膜厚と帯電電位が一定の特性を有するのは通常の
環境の時のみで、例えば高温高湿時と低温低湿時
では、同一の放電電流が感光体の光導電層に流れ
込む様に帯電装置の電圧を制御しても同一の帯電
電位は得られない。また感光体が疲労した場合感
光面の表面電位を一定に維持することは不可能で
ある欠点を有する。 〔発明の目的〕 本発明は上記欠点に鑑みなされたもので、その
目的とするところは、飽和帯電特性を有する感光
体を用いて該感光体の帯電電位を飽和帯電電位に
保つとともに、現像濃度飽和電位を飽和帯電電位
となるような現像特性とすることにより複写画像
の画像濃度を均一に保持することが可能な画像形
成方法を安価に提供することにある。 〔発明の要点〕 本発明は上記目的を達成するために、感光体
と、該感光体に電圧を印加して該感光体を帯電さ
せる帯電手段と、帯電された前記感光体表面に光
を照射して静電潜像を形成する手段と、前記静電
潜像を現像剤により現像する現像手段とを有する
画像形成装置において、前記感光体として、印加
される電圧の上昇に応じて帯電電位が上昇し所定
の電圧を境に前記帯電電位が飽和する飽和帯電特
性を有する感光体を用い、前記現像手段による現
像特性を、前記現像剤の現像濃度が飽和する現像
濃度飽和電位が前記飽和帯電電位とほぼ一致する
特性とし、且つ前記帯電手段に前記所定の電圧を
越える電圧を印加することを特徴とする。 〔発明の実施例〕 先ず、第１図〜第４図によつて本発明に用いる
光導電部材の飽和帯電特性を説明する。 第１図は本発明に用いる２種の有機光導電部材
Ａ，Ｂ各々を光導電層に用いた感光体の帯電特性
を示す図である。同図において横軸は印加電圧を
示し、縦軸は帯電電位を示す。また曲線Ｉは有機
光導電部材Ａを、曲線は有機光導電部材Ｂをそ
れぞれ光導電層に用いた感光体の帯電特性を示
す。 第２図は第１図の帯電特性を光導電層への流れ
込み電流Ipcと感光体表面の帯電電位とを対数値
で示した図である。Ipcは印加電圧を上げればこ
れと比例して大きくなる関係を有する。同図によ
り流れ込み電流Ipcに対する帯電電位の変化曲線
は１本の折れ線で表わされる。折れ線は有機光
導電部材Ａを光導電層に用いた感光体の帯電特性
を示し、折れ線は有機光導電部材Ｂを光導電層
に用いた感光体の帯電特性を示す。Ao，Boは
各々の変曲点電位である。この変曲点電位をわず
かに越える飽和帯電電位付近に感光体を帯電させ
る為に印加電圧を上げたとしても、帯電電位は飽
和帯電電位以上には上昇しない。したがつて飽和
帯電特性を有する光導電部材を光導電層に用いた
感光体であれば、帯電部の突入電位が何Ｖであろ
うと設定した印加電圧が所定の値より大きけれ
ば、帯電後の電位はほぼ一定の電位となる。但
し、余り印加電圧を上げ過ぎてしまうと、飽和帯
電特性を有する感光体であつても絶縁破壊を起こ
してしまうので、印加電圧の設定をラフに行える
とは言つても自ずと限度はある。 第３図は感光体としてセレン（Se）あるいは
絶縁層を積層した硫化カドミウム（CdS）を用い
た場合に印加電圧に対する帯電電位の特性を示す
図である。 この場合、曲線から明らかな様に印加電圧を
高めれば高めるほど比例して帯電電位も上昇す
る。さらに高めれば感光体ドラムの絶縁破壊電圧
まで至り、ついには絶縁破壊を起こす。 したがつてセレン、硫化カドミウム等は感光体
の光導電層の材料としては本発明では用いられな
い。 第４図は原稿濃度に対するコピー濃度曲線と感
光体表面電位に対するコピー濃度曲線を示す図で
ある。 同図において右側象限の横軸は原稿濃度を示
し、縦軸はコピー濃度を示し、右側象限の横軸は
感光体表面電位を示し、縦軸はコピー濃度を示
す。右側象限の曲線はいわゆるγ曲線で、左側
象限の曲線，はいわゆる現像曲線である。 上記現像曲線，から、ある現像条件下で
は、コピー濃度1.5を得るための現像部突入電位
は、有機光導電部材Ａを光導電層に用いた感光体
であれば500V、また有機光導電部材Ｂを光導電
層に用いた感光体であれば1000Vであることが直
ちに読み取れる。 表１は２種の有機光導電部材Ａ，Ｂをそれぞれ
光導電層に用いたときの各感光体の特性値をまと
めた表である（表１中の膜厚の単位はμｍ）。

【表】 表１より膜厚、比誘電率等により変曲点電位が
異なることがわかる。本発明は飽和帯電特性を有
する各光導電部材に対してその飽和帯電電位とほ
ぼ等しい現像濃度飽和電位となる現像条件を選
択・設定するものである。 以上説明した飽和帯電特性を有する有機光導電
部材Ａを感光体の光導電層に用いた場合におい
て、以下の表２に実施例を示す。但し、２成分磁
気ブラシ現像方式で、感光体の線スピード140
mm／sec、帯電印加電圧は6.2KVとし、交流コロ
ナ除電、あるいは光除電装置は用いずに実験を行
つた。

〔発明の効果〕

以上詳細に説明した様に本発明によれば、飽和
帯電特性を有する感光体を用い、帯電手段による
印加電圧を感光体の帯電電位が飽和する電圧に単
に設定し、現像剤の現像濃度が飽和する現像濃度
飽和電位が飽和帯電電位とほぼ一致する現像特性
とするだけで、高価な表面電位計や複雑な電位制
御装置を用いることなく、安価な構成で一定した
帯電電位及び画像濃度を保つことができる。 さらには通常不可欠とされてきた除電機構の交
流コロナ除電器、除電電源等の除電装置も不用と
なるという効果を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図は光導電層として有機光導電部材Ａ，Ｂ
を用いた場合の印加電圧に対する帯電電位の特性
図、第２図は有機光導電部材Ａ，Ｂを用いた場合
の流れ込み電流に対する帯電電位の特性図、第３
図は感光面としてセレン、あるいは絶縁層を積層
した硫化カドミウムを用いた場合の印加電圧に対
する帯電電位の特性図、第４図は原稿濃度及び感
光体表面電位に対するコピー濃度特性図である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 感光体と、該感光体に電圧を印加して該感光
   体を帯電させる帯電手段と、帯電された前記感光
   体表面に光を照射して静電潜像を形成する手段
   と、前記静電潜像を現像剤により現像する現像手
   段とを有する画像形成装置において、 前記感光体として、印加される電圧の上昇に応
   じて帯電電位が上昇し所定の電圧を境に前記帯電
   電位が飽和する飽和帯電特性を有する感光体を用
   い、 前記現像手段による現像特性を、前記現像剤の
   現像濃度が飽和する現像濃度飽和電位が前記飽和
   帯電電位とほぼ一致する特性とし、 且つ前記帯電手段に前記所定の電圧を越える電
   圧を印加することを特徴とする画像形成方法。