JPH04290227A - ドライエッチング装置 - Google Patents

ドライエッチング装置

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Publication number
JPH04290227A
JPH04290227A JP5305391A JP5305391A JPH04290227A JP H04290227 A JPH04290227 A JP H04290227A JP 5305391 A JP5305391 A JP 5305391A JP 5305391 A JP5305391 A JP 5305391A JP H04290227 A JPH04290227 A JP H04290227A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
disk
part electrode
electrode
dry etching
Prior art date
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Pending
Application number
JP5305391A
Other languages
English (en)
Inventor
Heiichiro Onuma
大沼 平一郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Yamagata Ltd
Original Assignee
NEC Yamagata Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH04290227A publication Critical patent/JPH04290227A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はドライエッチング装置に
関し、特にバッチ式ドライエッチング装置の電極構造に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来のドライエッチング装置は、図2に
示すように、円板型の上部電極1とウェーハ2を配置す
る円板型の下部電極3を有しており、高周波電源4によ
り上部電極1と下部電極3との間に、高周波電圧を印加
する構造となっていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この従来のドライエッ
チング装置では、上部電極と下部電極共に円板型であり
、ウェーハが配置されるのは下部電極の外周側である。 高周波電圧は下部電極の全面に印加されるため、ウェー
ハ上には設定された100%の高周波電圧が集中的に印
加されないため効率が悪く、しかもウェーハ面内のエッ
チングが不均一になるという問題点があった。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明のドライエッチン
グ装置は、ウェーハを載置する下部電極と、この下部電
極上に設けられた上部電極とを有するドライエッチング
装置において、少くとも前記下部電極は絶縁性円板とこ
の絶縁性円板の周囲に設けられウェーハを載置するため
の環状の導電性円板とから構成されているものである。
【0005】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明する
。図1は本発明の一実施例の電極の断面図である。
【0006】図1において、上部電極1Aと下部電極3
Aはそれぞれ、テフロン円板5とこのテフロン円板5の
周囲に設けられた環状のアルミ円板6とから構成されて
いる。このアルミ円板6はアルマイト処理され、その幅
は配置するウェーハ2の直径の1.2〜1.5倍となっ
ている。なおテフロン円板の代りにセラミック円板を用
いてもよい。
【0007】このように構成された本実施例によれば、
高周波電源4により上部電極1Aと下部電極3A間に高
周波電圧を印加した場合、アルミ円板6間に高周波電圧
を100%印加できる。この為、ウェーハ面内のエッチ
ングの不均一性を従来の25〜30%から10〜15%
に向上させることができた。
【0008】尚、上記実施例においては上部電極と下部
電極とをテフロン円板とアルミ円板で構成した場合につ
いて説明したが、上部電極は従来のものと同様のもので
あってもよい。
【0009】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、上
部電極と下部電極との間のウェーハの配置される範囲の
領域のみに高周波電圧を100%印加させることができ
るため、ウェーハ面内のエッチングの均一性を向上させ
ることができるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の電極の断面図。
【図2】従来のドライエッチング装置の電極の断面図。
【符号の説明】
1,1A    上部電極 2    ウェーハ 3,3A    下部電極 4    高周波電源 5    テフロン円板 6    アルミ円板

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  ウェーハを載置する下部電極と、この
    下部電極上に設けられた上部電極とを有するドライエッ
    チング装置において、少くとも前記下部電極は絶縁性円
    板とこの絶縁性円板の周囲に設けられウェーハを載置す
    るための環状の導電性円板とから構成されていることを
    特徴とするドライエッチング装置。
JP5305391A 1991-03-19 1991-03-19 ドライエッチング装置 Pending JPH04290227A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100502268B1 (ko) * 2000-03-01 2005-07-22 가부시끼가이샤 히다치 세이사꾸쇼 플라즈마처리장치 및 방법

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57114231A (en) * 1981-01-07 1982-07-16 Toshiba Corp Plasma etching device

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57114231A (en) * 1981-01-07 1982-07-16 Toshiba Corp Plasma etching device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100502268B1 (ko) * 2000-03-01 2005-07-22 가부시끼가이샤 히다치 세이사꾸쇼 플라즈마처리장치 및 방법

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Effective date: 19971028