JPH04290227A - ドライエッチング装置 - Google Patents
ドライエッチング装置Info
- Publication number
- JPH04290227A JPH04290227A JP5305391A JP5305391A JPH04290227A JP H04290227 A JPH04290227 A JP H04290227A JP 5305391 A JP5305391 A JP 5305391A JP 5305391 A JP5305391 A JP 5305391A JP H04290227 A JPH04290227 A JP H04290227A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- disk
- part electrode
- electrode
- dry etching
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 title claims description 9
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 8
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 abstract description 8
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 abstract description 7
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 abstract description 7
- 238000005530 etching Methods 0.000 abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はドライエッチング装置に
関し、特にバッチ式ドライエッチング装置の電極構造に
関する。
関し、特にバッチ式ドライエッチング装置の電極構造に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来のドライエッチング装置は、図2に
示すように、円板型の上部電極1とウェーハ2を配置す
る円板型の下部電極3を有しており、高周波電源4によ
り上部電極1と下部電極3との間に、高周波電圧を印加
する構造となっていた。
示すように、円板型の上部電極1とウェーハ2を配置す
る円板型の下部電極3を有しており、高周波電源4によ
り上部電極1と下部電極3との間に、高周波電圧を印加
する構造となっていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この従来のドライエッ
チング装置では、上部電極と下部電極共に円板型であり
、ウェーハが配置されるのは下部電極の外周側である。 高周波電圧は下部電極の全面に印加されるため、ウェー
ハ上には設定された100%の高周波電圧が集中的に印
加されないため効率が悪く、しかもウェーハ面内のエッ
チングが不均一になるという問題点があった。
チング装置では、上部電極と下部電極共に円板型であり
、ウェーハが配置されるのは下部電極の外周側である。 高周波電圧は下部電極の全面に印加されるため、ウェー
ハ上には設定された100%の高周波電圧が集中的に印
加されないため効率が悪く、しかもウェーハ面内のエッ
チングが不均一になるという問題点があった。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明のドライエッチン
グ装置は、ウェーハを載置する下部電極と、この下部電
極上に設けられた上部電極とを有するドライエッチング
装置において、少くとも前記下部電極は絶縁性円板とこ
の絶縁性円板の周囲に設けられウェーハを載置するため
の環状の導電性円板とから構成されているものである。
グ装置は、ウェーハを載置する下部電極と、この下部電
極上に設けられた上部電極とを有するドライエッチング
装置において、少くとも前記下部電極は絶縁性円板とこ
の絶縁性円板の周囲に設けられウェーハを載置するため
の環状の導電性円板とから構成されているものである。
【0005】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明する
。図1は本発明の一実施例の電極の断面図である。
。図1は本発明の一実施例の電極の断面図である。
【0006】図1において、上部電極1Aと下部電極3
Aはそれぞれ、テフロン円板5とこのテフロン円板5の
周囲に設けられた環状のアルミ円板6とから構成されて
いる。このアルミ円板6はアルマイト処理され、その幅
は配置するウェーハ2の直径の1.2〜1.5倍となっ
ている。なおテフロン円板の代りにセラミック円板を用
いてもよい。
Aはそれぞれ、テフロン円板5とこのテフロン円板5の
周囲に設けられた環状のアルミ円板6とから構成されて
いる。このアルミ円板6はアルマイト処理され、その幅
は配置するウェーハ2の直径の1.2〜1.5倍となっ
ている。なおテフロン円板の代りにセラミック円板を用
いてもよい。
【0007】このように構成された本実施例によれば、
高周波電源4により上部電極1Aと下部電極3A間に高
周波電圧を印加した場合、アルミ円板6間に高周波電圧
を100%印加できる。この為、ウェーハ面内のエッチ
ングの不均一性を従来の25〜30%から10〜15%
に向上させることができた。
高周波電源4により上部電極1Aと下部電極3A間に高
周波電圧を印加した場合、アルミ円板6間に高周波電圧
を100%印加できる。この為、ウェーハ面内のエッチ
ングの不均一性を従来の25〜30%から10〜15%
に向上させることができた。
【0008】尚、上記実施例においては上部電極と下部
電極とをテフロン円板とアルミ円板で構成した場合につ
いて説明したが、上部電極は従来のものと同様のもので
あってもよい。
電極とをテフロン円板とアルミ円板で構成した場合につ
いて説明したが、上部電極は従来のものと同様のもので
あってもよい。
【0009】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、上
部電極と下部電極との間のウェーハの配置される範囲の
領域のみに高周波電圧を100%印加させることができ
るため、ウェーハ面内のエッチングの均一性を向上させ
ることができるという効果を有する。
部電極と下部電極との間のウェーハの配置される範囲の
領域のみに高周波電圧を100%印加させることができ
るため、ウェーハ面内のエッチングの均一性を向上させ
ることができるという効果を有する。
【図1】本発明の一実施例の電極の断面図。
【図2】従来のドライエッチング装置の電極の断面図。
1,1A 上部電極
2 ウェーハ
3,3A 下部電極
4 高周波電源
5 テフロン円板
6 アルミ円板
Claims (1)
- 【請求項1】 ウェーハを載置する下部電極と、この
下部電極上に設けられた上部電極とを有するドライエッ
チング装置において、少くとも前記下部電極は絶縁性円
板とこの絶縁性円板の周囲に設けられウェーハを載置す
るための環状の導電性円板とから構成されていることを
特徴とするドライエッチング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5305391A JPH04290227A (ja) | 1991-03-19 | 1991-03-19 | ドライエッチング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5305391A JPH04290227A (ja) | 1991-03-19 | 1991-03-19 | ドライエッチング装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04290227A true JPH04290227A (ja) | 1992-10-14 |
Family
ID=12932118
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5305391A Pending JPH04290227A (ja) | 1991-03-19 | 1991-03-19 | ドライエッチング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04290227A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100502268B1 (ko) * | 2000-03-01 | 2005-07-22 | 가부시끼가이샤 히다치 세이사꾸쇼 | 플라즈마처리장치 및 방법 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57114231A (en) * | 1981-01-07 | 1982-07-16 | Toshiba Corp | Plasma etching device |
-
1991
- 1991-03-19 JP JP5305391A patent/JPH04290227A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57114231A (en) * | 1981-01-07 | 1982-07-16 | Toshiba Corp | Plasma etching device |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100502268B1 (ko) * | 2000-03-01 | 2005-07-22 | 가부시끼가이샤 히다치 세이사꾸쇼 | 플라즈마처리장치 및 방법 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19971028 |