JPH04277717A - 電磁放射線情報記録装置 - Google Patents

電磁放射線情報記録装置

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JPH04277717A
JPH04277717A JP3065656A JP6565691A JPH04277717A JP H04277717 A JPH04277717 A JP H04277717A JP 3065656 A JP3065656 A JP 3065656A JP 6565691 A JP6565691 A JP 6565691A JP H04277717 A JPH04277717 A JP H04277717A
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Japan
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Pending
Application number
JP3065656A
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English (en)
Inventor
Ryoyu Takanashi
高梨 稜雄
Shintaro Nakagaki
中垣 新太郎
Tsutae Asakura
伝 浅倉
Masato Furuya
正人 古屋
Takehisa Koyama
剛久 小山
Yuji Uchiyama
裕治 内山
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Victor Company of Japan Ltd
Original Assignee
Victor Company of Japan Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は電磁放射線情報記録装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】被写体の光学像を撮像装置により撮像し
て得た映像信号は、編集、トリミング、その他の画像信
号処理が容易であるとともに、既記録信号を消去できる
可逆性を有する記録部材を使用して記録再生が容易に行
えるという特徴を有しているが、映像信号を発生するた
めに従来から一般的に使用されて来ている撮像装置は、
撮像レンズによって撮像素子における光電変換部に結像
された被写体の光学像を、撮像素子の光電変換部で被写
体の光学像に対応する電気的な画像情報に変換し、その
電気的な画像情報を時間軸上で直列的な映像信号として
出力させうるような構成形態のものであって、撮像装置
の構成に当っては前記した撮像素子として従来から各種
の撮像管や各種の固体撮像素子が使用されていることは
周知のとおりである。
【0003】そして、高画質・高解像度の再生画像を得
るようにするためには、高画質・高解像度の再生画像を
再生させうるような映像信号を発生させることのできる
撮像装置が必要とされるが、撮像素子として撮像管が使
用されている撮像装置においては、撮像管における電子
ビーム径の微小化に限界があるために、電子ビーム径の
微小化による高解像度化が望めないこと、及び、撮像管
のターゲット容量はターゲット面積と対応して増大する
ものであるために、ターゲット面積の増大による高解像
度化も実現することができないこと、また、例えば動画
の撮像装置の場合には高解像度化に伴って映像信号の周
波数帯域が数十MHz〜数百MHz以上にもなるために
S/Nの点で問題になる、等の理由によって、撮像装置
により高画質・高解像度の再生画像を再生させうるよう
な映像信号を発生させることは困難である。
【0004】また、従来の撮像装置で使用されている撮
像素子は、記録の対象にされる光情報を光電変換して発
生させた電気信号が映像信号として送出された後に、被
写体の新らたな光学像と対応する映像信号が発生されう
るような構成のものであって、順次の被写体像と対応し
て発生された電気信号を記憶しておく機能は撮像装置自
体には有していなかったから、従来、撮像によって得た
電気的な情報信号を記録しておくことが必要とされる場
合には、撮像装置によって発生された映像信号を例えば
磁気録画装置を用いるなどして記録しておくようにされ
ていたが、撮像内容が記録されていることは種々の点で
有益なために、撮像装置自体に記憶機能を有するような
装置の出現が要望された。それで本出願人会社では前記
のような要望を満たすことができるような装置の一つと
して、図9に例示してあるように第1,第2の電極Et
1,Et2との間に少なくとも光導電層部材PCLと光
変調材層部材(例えば、液晶、PLZT、高分子ー液晶
複合膜、その他の光変調材料)PMLとを含んで構成さ
れている構成部分と、前記した第1,第2の電極Et1
,Et2間に所定の電圧を供給する手段とを備えており
、前記の光導電層部材PCLに記録の対象にされている
電磁放射線束を入射させて、前記した光変調材層部材P
MLに記録の対象にされている電磁放射線情報を記録さ
せるようにした電磁放射線情報記録装置についての多く
の提案を行なっている。
【0005】図9においてOは被写体、Lは撮像レンズ
、BP1,BP2は基板、Et1,Et2は電極、PC
Lは光導電層部材、PMLは光変調材層部材、Rは抵抗
、Vbは電源(動作用電源)であり、前記の透明電極E
t1,Et2間に電源Vbからの電圧を印加して、基板
BP1上に積層されている電極Et1と光導電層部材P
CLにおける光導電層部材PCLに、被写体Oの光学像
を撮像レンズLによって結像させると、前記した光導電
層部材PCLのインピーダンスが被写体の光学像と対応
して変化することにより、光導電層部材PCLと光変調
材層部材PMLとの間の空隙に、被写体の光学像と対応
する強度分布を示すような気中放電が生じて、光導電層
部材PCLと対向している光変調材層部材PMLの面上
に被写体の光学像と対応する電荷像パターンが形成され
る。そして、前記した電荷像パターンと対応して生じる
電界が光変調材層部材PMLに印加されることにより、
前記した電荷像パターンによる電界強度の分布、すなわ
ち、被写体の光学像と対応して光変調材層部材PMLが
読出し光の状態を変化させうるような態様で光変調材層
部材PMLに対して記録の対象にされている電磁放射線
情報の記録が行なわれる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】前述したところから明
らかなように、光変調材層部材PMLに対して行なわれ
る電磁放射線情報の記録動作は、光導電層部材PCLと
対向している光変調材層部材PMLの面上に形成された
被写体の光学像と対応している電荷像パターンによって
生じる電界が光変調材層部材PMLに印加されることに
よって、前記の電荷像パターンによる電界強度の分布、
すなわち、被写体の光学像と対応して光変調材層部材P
MLが読出し光の状態を変化させうるような態様で光変
調材層部材PMLに対して記録の対象にされている電磁
放射線情報の記録が行なわれるのであるが、前述のよう
な記録方法が被写体からの入射光量に限界のある撮像装
置に応用されるような場合に、限りのある入射光量の範
囲内で良好な記録動作が行なわれるためには高感度の記
録が行なわれることが必要とされるが、光導電層部材P
CLの構成材料として使用される感光体自体の感度には
限界があるために、それの改善策が求められた。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は所定の動作用電
圧が印加されるようになされている第1の電極と第2の
電極との間に少なくとも光導電層部材と光変調材層部材
とを含んで構成されており、前記した光導電層部材に入
射された記録の対象にされている電磁放射線束と対応す
る記録が前記した光変調材層部材に行なわれるようにな
されている電磁放射線情報記録装置において、前記した
光変調材層部材に記録されている情報が予め定められて
いるコントラスト比を有する再生像として再生できるよ
うな厚さを備えている光変調材層部材を用いるとともに
、前記した光導電層部材として前記した光変調材層部材
よりも厚さの大きなものを用いて構成してなる電磁放射
線情報記録装置を提供する。
【0008】
【作用】所定の動作用電圧が印加されるようになされて
いる第1の電極と第2の電極との間に設けられている光
導電層部材と光変調材層部材とを含んで構成されている
構成部分において、それに記録されている情報が予め定
められているコントラスト比を有する再生像として再生
できるような厚さの光変調材層部材に比べて、厚さの大
きな光導電層部材が使用されていることにより、光変調
材層部材に印加される電圧が大きくなって高感度で、し
かも必要なコントラスト比を有する再生像が得られるよ
うな記録動作が行なわれる。
【0009】
【実施例】以下、添付図面を参照して本発明の電磁放射
線情報記録装置の具体的な内容を詳細に説明する。図1
及び図2は本発明の電磁放射線情報記録装置のそれぞれ
異なる実施例の概略構成を示すブロック図であり、また
、図3乃至図6は本発明の電磁放射線情報記録装置の構
成原理及び動作原理の説明に使用される図、図7は光変
調材層部材の電圧に対する透過率の変化特性曲線例図、
図8は露光量と光変調材層部材の電圧との関係を示す特
性曲線例図、図9は従来の電磁放射線情報記録装置のブ
ロック図である。図1及び図2においてOは被写体、L
は撮像レンズ、PSは光学的シャッタ、BP1,BP2
は基板、Et1,Et2は第1,第2の電極(透明電極
Et1,Et2)、PCLは光導電層部材、PMLは光
変調材層部材(例えば、液晶、PLZT、高分子ー液晶
複合膜、その他の光変調材料を用いて構成させた光変調
材層部材)、Vbは電源(動作用電源)であり、また図
2においてSはスペーサである。図1に示されている電
磁放射線情報記録装置において、基板BP1に透明電極
Et1と光導電層部材PCLと光変調材層部材PMLと
透明電極Et2と基板BP2とを積層してなる構成部分
における透明電極Et1と透明電極Et2との間には動
作用電源Vbが接続されており、また、図2に示されて
いる電磁放射線情報記録装置において、基板BP1に透
明電極Et1と光導電層部材PCLとを積層してなる一
方の構成部材と、基板BP2に透明電極Et2と光変調
材層部材PMLとを積層してなる他方の構成部材とはス
ペーサSを介して前記した一方の構成部材における光導
電層部材PCLの面と前記した光変調材層PMLの面と
の間に所定の空隙が形成されるようになされていて、前
記の一方の構成部材における透明電極Et1と、前記の
他方の構成部材における透明電極Et2との間には動作
用電源Vbが接続されている。
【0010】図1及び図2に示されている各電磁放射線
情報記録装置が電磁放射線情報の記録動作を行なう場合
には、各図中に示されている透明電極Et1,Et2間
に電源Vbからの電圧が印加されている状態にしておい
て、基板BP1上に積層されている電極Et1と光導電
層部材PCLにおける光導電層部材PCLに対して、被
写体Oの光学像が撮像レンズLによって結像させる。そ
して、前記のように被写体Oの光学像が結像された光導
電層部材PCLは、それのインピーダンスが被写体の光
学像と対応して変化して、光導電層部材PCLと対向し
ている光変調材層部材PMLの面上に被写体の光学像と
対応する電荷像パターンを形成させ、前記した電荷像パ
ターンと対応して生じた電界が光変調材層部材PMLに
印加されることにより、前記した光変調材層部材PML
には電荷像パターンによる電界強度の分布、すなわち、
被写体の光学像と対応して読出し光の状態を変化させう
るような態様で光変調材層部材PMLに記録の対象にさ
れている電磁放射線情報の記録が行なわれる。前記した
光変調材層部材PMLが、例えば高分子材料における多
数の微細な孔中にネマティック液晶またはスメクテイッ
ク液晶を封入した構成態様の高分子ー液晶複合膜が使用
されていた場合には、前記した高分子ー液晶複合膜にお
ける多数の微細な孔中における液晶の配向の状態が被写
体Oの光学像と対応して変化した状態になされるために
、高分子ー液晶複合膜は被写体Oの光学像と対応して光
の透過率が変化している状態になされる。そして、前記
した液晶の配向状態が印加電界の除去後においても保持
された状態になされることにより、高分子材料中に前記
した高分子材料の融点よりも低い融点の液晶を分散させ
て構成した高分子ー液晶メモリ膜は情報記録媒体として
使用でき、また、高分子ー液晶複合膜における多数の微
細な孔中における液晶の配向の状態が被写体Oの光学像
と対応して変化した状態として記録された記録内容は、
高分子ー液晶複合膜を加熱して高分子ー液晶複合膜にお
ける多数の微細な孔中の液晶の配向の状態をランダムな
状態にすることにより消去できる。
【0011】ここで、光変調材層部材PMLとして使用
される高分子ー液晶複合膜の構成の概略と、高分子ー液
晶複合膜における多孔質の高分子材料膜中にランダムに
分布している状態で形成されている無数の微小な細孔中
に封入された状態の液晶によって情報が記録されうるこ
とについて説明する。高分子ー液晶複合膜における液晶
を封入させた状態でランダムに存在している高分子材料
膜における無数の微小な細孔は高精細度の記録再生が実
現できるように、その細孔の径は小さい方がよく、例え
ば0.5ミクロン程度以下の径のものとなされることが
望ましい。また前記した高分子ー液晶複合膜の構成のた
めに使用される液晶としては、室温でネマチック相、あ
るいはスメクティック相を形成するものの内で、体積抵
抗率が高いもの、粘度が高いものを使用すると、記録さ
れた記録情報を高いコントラスト比で再生させたり、記
録性能を高める上で良い結果が得られ、さらに、高分子
ー液晶複合膜の構成のために使用する液晶として、高分
子材料の融点よりも低い融点のものを使用すれば記録情
報の消去が容易となる。
【0012】既述のように図1及び図2における透明電
極Et1,Et2間に動作用電源Vbを接続して、透明
電極Etと電極E間に設けられている光導電層部材PC
Lと光変調材層部材PMLとを前記した動作用電源Vb
から電圧が供給されている透明電極Etと電極E2間に
生じた電界中におき、被写体Oの光学像が撮像レンズL
によって光導電層部材PCLに結像されると、光導電層
部材PCLのインピーダンスは、被写体Oの光学像と対
応して変化している状態になり、光導電層部材PCLと
電極Eとの間の電界強度分布は前記した被写体Oの光学
像の光量分布と対応しているものとなる。それで光導電
層部材PCLと電極Eとの間の電界中に置かれている高
分子ー液晶複合膜PMLには、前記した被写体Oの光学
像に対応している強度分布を示す電界が印加されること
になるから、高分子ー液晶複合膜PMLにおける多孔質
の高分子材料膜中にランダムに分布して形成されている
無数の微小な細孔のそれぞれの中に封入された状態のネ
マティック液晶またはスメクティック液晶は、それに印
加される電界強度がある閾値を超えている状態において
、それに印加される電界強度が大きくなるのに従って高
分子ー液晶複合膜PMLの透明度が増加している状態と
なるように電界強度の大きさに従い配向の状態が変化す
るが、前記のように高分子ー液晶複合膜PMLに印加さ
れた電界によって変化した細孔中の液晶の配向の状態は
前記した電界が除去されてもそのままの状態に保持され
る。
【0013】すなわち高分子ー液晶複合膜PMLにおけ
る多孔質の高分子材料膜中にランダムに分布して形成さ
れている無数の微小な細孔のそれぞれの中に封入されて
いるネマティック液晶またはスメクティック液晶は、そ
れにある閾値以上の電界が印加される以前には、細孔壁
表面の力を大きく受けている液晶分子も含めて全体とし
てネマティック相の状態で微小な細孔中に封入された状
態になされているから細孔中に封入されている液晶分子
は細孔壁の表面の力を受けるが細孔壁に近い液晶分子に
なる程前記の力は大きく加わる。したがって径の小さな
細孔になる程細孔中に封入されている液晶分子に加わる
細孔壁の表面の力の影響が大になる。前記のように細孔
壁の表面の力を受けている状態で細孔中に封入されてい
る液晶に対して、ある閾値以上の電界強度の電界が印加
された場合には、細孔壁の表面からの力を受けている状
態で細孔中にネマティック相またはスメクティック相の
状態で封入されている液晶分子は、前記した細孔壁の表
面から加えられている力に抗して電界の方向に配向する
ように変位する。
【0014】そして電界の印加に対応して液晶分子に生
じる変位の態様は、印加される電界の強度に応じて変化
し、液晶に印加される電界が弱い状態のときは細孔壁の
表面から加えられている力が弱い液晶分子、すなわち、
主として細孔の中心部付近に位置する液晶分子だけが印
加された電界の方向に向くような傾向で変位し、液晶に
印加される電界の強度が次第に強くなるのにつれて、細
孔壁の表面から加えられている力が強い液晶分子、すな
わち、細孔壁に近くに位置する液晶分子も印加された電
界の方向に液晶の分子軸の方向が向くような傾向で変位
するという変位の態様で液晶分子が配向する。このよう
に高分子ー液晶複合膜PMLにおける多孔質の高分子材
料膜中にランダムに分布して形成されている無数の微小
な細孔中にネマティック相の状態で封入されている液晶
分子は、電界の印加時に前記した細孔壁の表面から加え
られている力に抗して液晶の分子軸の方向が電界の方向
に向くような傾向で変位するような変位の態様で配向さ
れるが、前記のように印加された電界によって配向され
た液晶の分子は、既述した細孔壁の表面の力によって、
そのままの姿態に保持されるから、前記のように電界の
印加によって変化された液晶の配向の状態は印加された
電界が除去された後においても、そのままの状態に保持
されるのであり、記録の対象にされている情報が電界強
度の変化の形で与えられることにより、その記録の対象
にされている情報を高分子ー液晶複合膜PMLにおける
多孔質の高分子材料膜中にランダムに分布して形成され
ている無数の微小な細孔中にネマティック相の状態で封
入されている液晶分子の配向の状態として記憶できるの
である。また、前記のようにして記録の対象にされてい
る情報が記録された高分子ー液晶複合膜PMLにおける
記録情報の消去は、高分子ー液晶複合膜PMLにおける
多孔質の高分子材料膜中にランダムに分布して形成され
ている無数の微小な細孔中に封入されている液晶が、そ
の液晶の融点以上で、かつ、高分子材料の融点よりも低
い温度に加熱されるようにして、液晶分子が細孔壁の表
面からの力に打勝つ活発な熱運動によって等方性相の状
態になされ、それが冷却されてネマティック相またはス
メクティック相の状態に戻されることにより高分子ー液
晶複合膜PMLは不透明状態に戻されて消去が行なわれ
る。
【0015】図1及び図2にそれぞれ示されている本発
明の電磁放射線情報記録装置においては、光変調材層部
材PMLに対して被写体の光学像と対応して読出し光の
状態を変化させうるような態様で光変調材層部材PML
に対して行なわれる記録の対象にされている電磁放射線
情報の記録が高感度の状態で行なわれるようにするため
に、被写体像の結像によって光導電層部材PCL中に発
生した電子ー正孔対における電子と正孔とが電界に方向
で互に反対の向きに大きく移動することにより被写体像
と対応して光導電層部材PCLに大きな電位変化が生じ
るように、それの厚さが大きくなされているのであり、
また、光変調材層部材PMLはそれの厚さを光変調材層
部材PMLに記録されている情報が予め定められている
コントラスト比を有する再生像として再生できるような
厚さのものとされている。図4乃至図6は前記した光導
電層部材PCLと光変調材層部材PMLなどの各構成部
分が密着した状態で構成されている場合に、光導電層部
材PCLの厚さdcと光変調材層部材PMLの厚さdm
との和の厚さd(ただしd=dc+dm)を一定にした
状態において、図4に示されているように光導電層部材
PCLの厚さdcと光変調材層部材PMLの厚さdmと
がdc>dmの関係になされている場合(本発明の電磁
放射線情報記録装置で採用している光導電層部材PCL
の厚さdcと光変調材層部材PMLの厚さdmとの関係
)と、図5に示されているように光導電層部材PCLの
厚さdcと光変調材層部材PMLの厚さdmとがdc=
dmのように等しい関係になされている場合と、図6に
示されているように光導電層部材PCLの厚さdcと光
変調材層部材PMLの厚さdmとがdc<dmのような
関係になされている場合とのそれぞれの場合を示してい
る図である。
【0016】図4乃至図6に示されているように、光導
電層部材PCLの厚さdcと光変調材層部材PMLの厚
さdmとの和の厚さd(ただしd=dc+dm)を一定
にした状態において、光導電層部材PCLの厚さdcを
次第に大きくして行くと、同じ露光量の状態において光
導電層部材PCLに発生する電位変化は大きくなる。図
8は光導電層部材PCLの厚さを変化させたときに、そ
の光導電層部材PCLと直列的に設けられている光変調
材層部材PMLの両端に印加される電圧(光変調材層間
電圧)Vmが、露光量の変化につれてどのように変化す
るのかを示している特性曲線図であり、図8において光
導電層部材PCLの厚さが薄い場合の実線図示の曲線と
、光導電層部材PCLの厚さが厚い場合の一点鎖線図示
の曲線とを比べてみると、光導電層部材PCLの厚さが
薄い場合と厚い場合とにおいて、光変調材層部材PML
の両端に印加される電圧(光変調材層間電圧)Vmを同
じにするために必要な露光量は、光導電層部材PCLの
厚さが厚い場合の露光量P2の方が光導電層部材PCL
の厚さが厚い場合の露光量P1に比べて大きい、すなわ
ち、光導電層部材PCLの厚さが厚い場合の方が光導電
層部材PCLの厚さが薄い場合に比べて高い感度を有し
ていることが判かる。
【0017】次に、図7は光変調材層部材PMLの厚さ
を変化させたときに、光変調材層部材PMLにおける閾
値電圧と動作電圧範囲とが変化していることを示してい
る特性曲線であり、図7において光変調材層部材PML
の厚さが厚い場合の実線図示の曲線と、光変調材層部材
PMLの厚さが薄い場合の一点鎖線図示の曲線とを比べ
てみると、光変調材層部材PMLの厚さが薄い場合には
光変調材層部材PMLの厚さが厚い場合に比べて閾値が
低下するとともに、動作電圧範囲についても光変調材層
部材PMLの厚さが厚い場合の動作電圧範囲Vm2に比
べて、光変調材層部材PMLの厚さが薄い場合の動作電
圧範囲Vm1が小さく、したがって、光変調材層部材P
MLの厚さが薄い場合には、小さな動作電圧によって被
写体の光学像と対応して読出し光の状態を変化させうる
ような態様とすることができる、すなわち光変調材層部
材PMLの厚さを薄くした方が感度を向上させることが
できることになる。
【0018】それで、図6に例示されている構成例のよ
うに光導電層部材PCLの厚さdcと光変調材層部材P
MLの厚さdmとがdc<dmのような関係になされて
いる場合には解像度の点において有利であるが、光導電
層部材PCLの厚さdcが小さなために感度が低く、ま
た、図5に示されているように光導電層部材PCLの厚
さdcと光変調材層部材PMLの厚さdmとがdc=d
mのように等しい関係になされている場合には解像度が
最も低くなる。本発明の電磁放射線情報記録装置では、
再生像において必要なコントラスト比が得られるような
厚さdmを有する光変調材層部材PMLを用いた上で、
前記した光変調材層部材PMLの厚さdmよりも大きな
厚さdcを有する光導電層部材PCLを用いた図4に示
されているような構成とすることにより、高感度を有す
るとともに解像度の低下もなく、しかも必要とされるコ
ントラスト比を有する再生像が得られるような電磁放射
線情報記録装置が容易に提供できるようにしたのである
。 図4中に示されている光導電層部材PCLは単層型のも
のであるが、本発明の電磁放射線情報記録装置の実施に
当って使用される光導電層部材PCLとしては、図3に
例示してあるように電荷発生層1と電荷輸送層2を有す
る機能分離型の光導電層部材PCLが使用されてもよい
【0019】
【発明の効果】以上、詳細に説明したところから明らか
なように本発明の電磁放射線情報記録装置では、所定の
動作用電圧が印加されるようになされている第1の電極
と第2の電極との間に設けられている光導電層部材と光
変調材層部材とを含んで構成されている構成部分におい
て、それに記録されている情報が予め定められているコ
ントラスト比を有する再生像として再生できるような厚
さの光変調材層部材に比べて、厚さの大きな光導電層部
材が使用されていることにより、光変調材層部材に印加
される電圧が大きくなって高感度で、しかも必要なコン
トラスト比を有する再生像が得られるような記録動作を
行なうことができるのであり、本発明によれば既述した
従来の問題点は良好に解決できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の電磁放射線情報記録装置ブロック図で
ある。
【図2】本発明の電磁放射線情報記録装置ブロック図で
ある。
【図3】本発明の電磁放射線情報記録装置の構成原理及
び動作原理の説明に使用される図である。
【図4】本発明の電磁放射線情報記録装置の構成原理及
び動作原理の説明に使用される図である。
【図5】本発明の電磁放射線情報記録装置の構成原理及
び動作原理の説明に使用される図である。
【図6】本発明の電磁放射線情報記録装置の構成原理及
び動作原理の説明に使用される図である。
【図7】光変調材層部材の電圧に対する透過率の変化特
性曲線例図である。
【図8】露光量と光変調材層部材の電圧との関係を示す
特性曲線例図である。
【図9】従来の電磁放射線情報記録装置ブロック図であ
る。
【符号の説明】
O…被写体、L…撮像レンズ、PS…光学的シャッタ、
BP1,BP2…基板、Et1,Et2…第1,第2の
電極(透明電極Et1,Et2)、PCL…光導電層部
材、PML…光変調材層部材、S…スペーサ、

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  所定の動作用電圧が印加されるように
    なされている第1の電極と第2の電極との間に少なくと
    も光導電層部材と光変調材層部材とを含んで構成されて
    おり、前記した光導電層部材に入射された記録の対象に
    されている電磁放射線束と対応する記録が前記した光変
    調材層部材に行なわれるようになされている電磁放射線
    情報記録装置において、前記した光変調材層部材に記録
    されている情報が予め定められているコントラスト比を
    有する再生像として再生できるような厚さを備えている
    光変調材層部材を用いるとともに、前記した光導電層部
    材として前記した光変調材層部材よりも厚さの大きなも
    のを用いて構成してなる電磁放射線情報記録装置。
  2. 【請求項2】  光変調材層部材として高分子ー液晶複
    合膜を用いてなる電磁放射線情報記録装置。
JP3065656A 1991-03-06 1991-03-06 電磁放射線情報記録装置 Pending JPH04277717A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005512142A (ja) * 2001-12-13 2005-04-28 ソニー インターナショナル (ヨーロッパ) ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 複合材の形成方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2005512142A (ja) * 2001-12-13 2005-04-28 ソニー インターナショナル (ヨーロッパ) ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 複合材の形成方法
US8153192B2 (en) 2001-12-13 2012-04-10 Sony Deutschland Gmbh Method of forming a composite

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