JPH0427265A - 写真カラ−複写装置 - Google Patents
写真カラ−複写装置Info
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- JPH0427265A JPH0427265A JP2410014A JP41001490A JPH0427265A JP H0427265 A JPH0427265 A JP H0427265A JP 2410014 A JP2410014 A JP 2410014A JP 41001490 A JP41001490 A JP 41001490A JP H0427265 A JPH0427265 A JP H0427265A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B27/00—Photographic printing apparatus
- G03B27/72—Controlling or varying light intensity, spectral composition, or exposure time in photographic printing apparatus
- G03B27/73—Controlling exposure by variation of spectral composition, e.g. multicolor printers
- G03B27/735—Controlling exposure by variation of spectral composition, e.g. multicolor printers in dependence upon automatic analysis of the original
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
- Control Of Exposure In Printing And Copying (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Facsimile Heads (AREA)
- Facsimiles In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
[0001]
本発明は、感光複写材上に複写原板を結像する映写手段
と、複写原板を複写原板の全体にわたって延びた走査線
の複数の走査区域において測定する光電測定装置と、測
定装置及び映写手段に連結され、複写材を露光する複写
光量を決定する露光制御装置とを有する写真カラー複写
装置に関する。 [0002]
と、複写原板を複写原板の全体にわたって延びた走査線
の複数の走査区域において測定する光電測定装置と、測
定装置及び映写手段に連結され、複写材を露光する複写
光量を決定する露光制御装置とを有する写真カラー複写
装置に関する。 [0002]
この形式のカラー複写装置は、例えば、ヨーロッパ特許
公開第312499号公報により公知である。そこにお
いて記述されているカラー複写装置の場合、実質的に露
光を制御する色抽出値は次のようにして得られる。即ち
、多数の各(仮想の)走査区域からなる複写原板の1本
の線が常に露光され、複写原板のすべての走査区域から
の光がプリズムによって細いスペクトル片に分光される
。スペクトル片に分割されたこの光は列と行に配置され
た光電変換器の2次元面に衝突する。この列は複写原板
上の走査線と平行して延び、行は列に直交している。変
換器面の1列は、複写原板上の露光された走査線の各走
査区域と相関しており、その列のすべての個々の受光素
子は、関連した受光区域の測定光のスペクトル片と相関
している。2次元の変換器面の各列は、複写原板上の照
明された列の関連する走査区域のレイアウトと同一に、
互いに隣接して位置している。複写原板の各走査線の走
査は、要求された解像度にあわせて選択された複写原板
を連続的に進行させることにより行われる。 [0003]
公開第312499号公報により公知である。そこにお
いて記述されているカラー複写装置の場合、実質的に露
光を制御する色抽出値は次のようにして得られる。即ち
、多数の各(仮想の)走査区域からなる複写原板の1本
の線が常に露光され、複写原板のすべての走査区域から
の光がプリズムによって細いスペクトル片に分光される
。スペクトル片に分割されたこの光は列と行に配置され
た光電変換器の2次元面に衝突する。この列は複写原板
上の走査線と平行して延び、行は列に直交している。変
換器面の1列は、複写原板上の露光された走査線の各走
査区域と相関しており、その列のすべての個々の受光素
子は、関連した受光区域の測定光のスペクトル片と相関
している。2次元の変換器面の各列は、複写原板上の照
明された列の関連する走査区域のレイアウトと同一に、
互いに隣接して位置している。複写原板の各走査線の走
査は、要求された解像度にあわせて選択された複写原板
を連続的に進行させることにより行われる。 [0003]
そのため、原板の1本の全走査線を同時に走査するには
2次元面の受光素子を必要とする。すなわち、その走査
線を各走査区域に空間的に分解するための一方の面と各
スペクトル片に分解するための他方の面である。全複写
原板の同時走査即ち、すべての走査線を同時に走査する
ことはそのような走査装置では不可能であり、そのため
には、他のパ次元“の受光素子が要求される。従って、
ヨーロツバ特許公開第312499号公報の複写装置に
おいては、上述したように複写原板の各線を連続して走
査せねばならない。 [0004] 本発明の目的は、上述した問題を解決し、全複写原板の
同時スペクトル走査のための条件を提供することである
。 [0005]
2次元面の受光素子を必要とする。すなわち、その走査
線を各走査区域に空間的に分解するための一方の面と各
スペクトル片に分解するための他方の面である。全複写
原板の同時走査即ち、すべての走査線を同時に走査する
ことはそのような走査装置では不可能であり、そのため
には、他のパ次元“の受光素子が要求される。従って、
ヨーロツバ特許公開第312499号公報の複写装置に
おいては、上述したように複写原板の各線を連続して走
査せねばならない。 [0004] 本発明の目的は、上述した問題を解決し、全複写原板の
同時スペクトル走査のための条件を提供することである
。 [0005]
上記目的を達成するため、本発明の構成を次の通りとし
た。即ち、複写原板を感光複写材上に結像させる映写手
段と、前記複写原板を前記複写原板にわたって伸びた走
査線内の複数の走査区域において測定する光電測定装置
と該測定装置及び複写材を露光する複写光量を決定する
前記映写手段に連結された露光制御装置とよりなる写真
複写装置であって、前記測定装置は、前記複写原板を照
明する光源と、前記複写原板の各走査区域に生じた測定
光を検出し、かつグループ状に1本の線に沿って配列さ
れた複数の受光素子を包含し、また、受光素子の前記各
グループはその受光素子列において連続して位置する、
受光素子装置と、前記複写原板の前記走査区域に生ずる
測定光を複数の細いスペクトル片に光学的に分散する手
段と、走査線の前記各走査区域に生じた測定光が、関連
する受光素子の分割されたグループに衝突し、また、走
査区域に生じた測定光の各スペクトル片が、特定の走査
区域に関連した受光素子のグループ内の分割された受光
素子に入射するようにして測定光を光学的に受光装置に
結像させる手段と、を包含することを特徴とする。 [0006]
た。即ち、複写原板を感光複写材上に結像させる映写手
段と、前記複写原板を前記複写原板にわたって伸びた走
査線内の複数の走査区域において測定する光電測定装置
と該測定装置及び複写材を露光する複写光量を決定する
前記映写手段に連結された露光制御装置とよりなる写真
複写装置であって、前記測定装置は、前記複写原板を照
明する光源と、前記複写原板の各走査区域に生じた測定
光を検出し、かつグループ状に1本の線に沿って配列さ
れた複数の受光素子を包含し、また、受光素子の前記各
グループはその受光素子列において連続して位置する、
受光素子装置と、前記複写原板の前記走査区域に生ずる
測定光を複数の細いスペクトル片に光学的に分散する手
段と、走査線の前記各走査区域に生じた測定光が、関連
する受光素子の分割されたグループに衝突し、また、走
査区域に生じた測定光の各スペクトル片が、特定の走査
区域に関連した受光素子のグループ内の分割された受光
素子に入射するようにして測定光を光学的に受光装置に
結像させる手段と、を包含することを特徴とする。 [0006]
本発明の複写装置において、空間的及びスペクトル的に
1本の走査線を解像走査するには、1つのパ 1次元″
面または1列の受光素子のみが必要なだけである。この
ように、空間的及びスペクトル的な分解はひとつの次元
でなされる。従って、第2の次元は走査線に用いられる
。更に、そのような数本の受光素子の列を隣接して配置
することにより、全走査線の同時走査が可能である。 [0007] 本発明による受光素子装置の次元の減少には、そのよう
な目的に用ν)られる電荷結合素子(CCD)の性質か
ら生じる更に重要な利点がある。経験上から見てそのよ
うな変換器の1次元面(列)は、2次元面よりも非常に
良好な特性を有している。特に、信号/ノイズ比はより
優れている。これによって、連続コンピュータ評価作業
(通常、信号の加重値を加えた合計)の結果を順々に改
良するものである。更に、そのような列の各変換器の電
気的な結合は、実際上複雑さが少ない。 [0008]
1本の走査線を解像走査するには、1つのパ 1次元″
面または1列の受光素子のみが必要なだけである。この
ように、空間的及びスペクトル的な分解はひとつの次元
でなされる。従って、第2の次元は走査線に用いられる
。更に、そのような数本の受光素子の列を隣接して配置
することにより、全走査線の同時走査が可能である。 [0007] 本発明による受光素子装置の次元の減少には、そのよう
な目的に用ν)られる電荷結合素子(CCD)の性質か
ら生じる更に重要な利点がある。経験上から見てそのよ
うな変換器の1次元面(列)は、2次元面よりも非常に
良好な特性を有している。特に、信号/ノイズ比はより
優れている。これによって、連続コンピュータ評価作業
(通常、信号の加重値を加えた合計)の結果を順々に改
良するものである。更に、そのような列の各変換器の電
気的な結合は、実際上複雑さが少ない。 [0008]
図1は、本発明の理解に必要な最も基本的な構成要素を
図示したものである。 この構成要素には、複写光源1.1組のサーボ制御カラ
ーシャッタ2、結像用レンズ3、測定光源と受光素子に
より象徴的に代表される光電測定装置4及び電子露出制
御装置5が含まれる。複写光源1からの光によって露光
された複写原板Nはレンズ3により感光複写材M上に再
製される。ここにおいて、個々の部分的な露光のための
複写光量は、先になされる複写原板の部分的な光電測定
と測定値分析に基づいて決定され、カラーシャッタによ
って制御される。この限りにおいてこの複写装置は、ヨ
ーロッパ特許公開312499号公報又は西独特許37
37775号公開公報において述べられている装置に相
当しており、更なる説明は不必要である。 [0009] 図2は、カラー複写装置の光電測定装置の軸方向断面を
概略的に図示したものである。この装置は、測定光源4
0.4枚のレンズ401.402.701.702.2
枚の適応フィルタ40a及び40b、スリットマスク4
2.2つの部品70a、70bからなる光学プリズム7
0、及び受光装置8からなり、電子露出制御装置5に連
結されている。測定光源40.2枚のレンズ401,4
02及び適応フィルタ40a、40bからなる露光装置
は従来通りの形状であり、複写原板Nに対して平行な光
を露光する。適応フィルタ4Qa及び40bは、 測
定光源の光電において比較的強過ぎるスペクトルの構成
要素を弱める働きをする。 複写原板Nを通過した光は、スリットマスク42に衝突
してそのスリットのみを通過し、それによって、複写原
板Nを多数の個々の、いわば、走査区域に分割する。そ
して、最後にレンズ701.プリズム70及びレンズ7
02を通り、受光素子装置上8に到達する。 [0010] 図3は、測定装置4の一部を概略的に図示したもので、
これにより、測定装置4の操作原理は更に明らかになる
。分かり易くするため、露光装置と2枚のレンズ701
及び702は省かれている。また、実際上のスリットマ
スク42は、複写原板Nの後の光路内に位置している。 しがし、これでは測定装置の操作原理について明瞭とな
らないので、本図においては、スリットマスク42がよ
く見えるように複写原板Nの前の光路内に図示されてい
る。 [0011] 実線41で示された、測定光源40がら放射された測定
光はスリットマスク42に衝突しする。スリットマスク
42は、測定光のためスリット421,422423、
〜,431の範囲のみが透明となっている。スリット4
21.422423等は、マスク42上の一点鎖線42
0で示された線に沿って位置している。この線は、複写
原板Nの進行方向Fに対して直角方向に伸びている。し
たがって、端部に移送用孔を有したネガフィル形態の複
写原板Nは、その個々の小さな走査区域が照明される。 なお、これらは分かり易くするためわずかに625−6
28が示されている。これらの走査区域は、−点鎖線6
20で示された線(走査線)に沿ったマスク42の光透
過スリット421〜431のレイアウトにもと[001
2] このように、原画Nの進行方向Fに対し直角な測定装置
4の解像度は、マスク42上の線420に沿って位置す
るスリットの数と寸法による。通常、ネガ(24x 3
6 mm)の1走査線当りの解像度は約20〜40走査
区域であり、スリットマスクは相当数のスリットを有す
る。進行方向Fの解像度は、2本の連続する走査線の間
隔、複写原板Nの進行速度及び2本の連続する走査線の
時間の間隔の結果である。ネガ1枚当りの進行方向Fの
解像度は、約30〜50線が通例であリ、したがって、
1枚のネガ(24x36mm)は平均して約1000個
の走査区域に解像される。 [0013] 走査区域に生じた光は、図2にのみ図示されたレンズ7
01により平行にされてプリズム70 (走査線720
)に衝突する。プリズム70は、その屈折端710(図
3)が走査線620に対して光学的りこ直角に延びるよ
うにかつプリズムが走査線620の全走査区域の光によ
って露光されるように、光路内に位置している。プリズ
ムは、走査区域からの光をそのスペクトルの構成要素に
分光し、スペクトルの構成要素は図2のみに図示された
レンズ702を通過して受光素子列81に到達する。受
光素子列81において、受光素子グループは受光素子列
81に沿って互いに連続し、かつ−組の受光素子グルー
プは1走査区域のすべてのスペクトルに割り当てられる
。例えば、走査区域628からの光は、プリズムのエリ
ア728に衝突する。プリズムのエリア728に到達し
た光のスペクトルの構成要素はレンズ702を通過し、
受光素子列81の受光素子グループ828に到達する。 受光素子グループ828の各単位の受光素子8281に
は1つの細いスペクトル片が衝突する。そして、各単位
の受光素子の電気的出力信号が露光制御装置5(図1)
に発信される。この操作原理は、例えば、ヨーロッパ特
許公開第312499号公報によって公知である。同様
に、複写原板Nの他の走査区域からの光は、受光素子列
81の他の受光素子グループに衝突する。(例えば、プ
リズム70の区域731からの光は受光素子列81の受
光素子グループ831に衝突する。)各受光素子グルー
プは、複写原板の関連する走査区域と同じ順序で受光素
子列内に整列される。 [0014] 図4において、スリットマスク42と複写原板Nに関連
した位置関係が図示されている(光路の反対方向から見
た場合)。複写原板Nを透過した光はスリット421〜
431のみを通過することができる。これによって、複
写原板Nはスリット421〜431の数に相当する、走
査線620(図3)に沿った各走査区域の数に象徴的に
分割される。したがって、そのような走査線620に沿
って作成された走査区域は同時に照明される。全体の複
写原板は線毎に走査される。ヨーロッパ公開特許第31
2499号公報にて叙述された複写装置とは対照的に、
走査線の走査区域の測定に要求されるのは、2次元の受
光素子面の代わりに、単に1次元の受光素子列のみであ
る。上述されたような1次元受光素子列の特徴は、2次
元受光素子面に比較して、信号/ノイズ比が良好なこと
である。 [0015] 図5において、測定装置の他の実施例が図示されている
。スリットマスク42のスリット421′〜431′
は、走査線に対して直角に、即ち、フィルムNの移送方
向に、フィルムNの全結像面62にわたって延びている
。プリズム70(図2及び3)は特定の大きさに合わせ
て作られているので、フィルムNを通過し、続いてスリ
ットマスク42′ のスリット421′〜431“ を
通過した全部の光は、スペクトルに分光される。同様に
、レンズ701及び702は十分に大きいのでフィルム
N及びスリットマスク42′ を通過した全部の光は
、平行かつ直接に受光素子に到達する。 [0016] 受光装置8(図3)において、対応する受光素子列81
,82.83等には各走査線(即ち、走査区域の各列)
が対応する。進行方向Fに対して直角な解像度は各スリ
ッ)421’ 〜431′の数と幅によって決定される
が、進行方向Fについては、各受光素子列の間隔によっ
て決定される。図3において、受光素子列81.82及
び83は分離されて示されている。受光素子列81.8
2及び83は、受光素子の列が複写原板N上のすべての
走査線に対し別々に対応せられていることを象徴的に示
している。各受光素子の出力信号は、図3のように、ヨ
ーロッパ特許公開第312499号公報において公知の
露光制御装置5に伝達される。全体の結像面の測定後、
フィルムは次の結像面63に移行される。このような測
定装置を具備した複写装置は、ヨーロッパ特許公開第3
12499号公報において記述された装置と比較して、
2つの重要な利点を有している。まず第1に、先に述べ
たように、1次元受光素子列は、2次元受光素子面に比
較して、信号/ノイズ比が良好であること、第2に、複
写原板全体が同時に計測できることである。更に、複写
原板全体の同時走査には、単に個々の受光素子列からな
る1つの2次元受光素子面が必要なだけであり、一方、
ヨーロッパ特許公開第31249特開平4−27265
(1の 9号公報において記述された複写装置においては、−度
に複写原板の単線を計測するには2次元の面が必要であ
る。 [0017] 実際上、マスク42または42′ は例えば透明なデ
ィスクがらなり、マスク上には蒸着がなされている。マ
スクの光学的に透明な部分は、複写原板Nの横端部64
(図3,4及び5)を越えて延びてもよい。このように
して、ある複写原板に特有な特質、例えばフィルムのD
Xコードのようなものが認識される。各フィールド61
及び62間の帯部分64(図3,4及び5)もこのよう
にして走査され、測定結果が公知の工程により評価され
る。2つ(又はそれ以上)の部品7゜a及び70bで形
成されるプリズム70の組み合わせもまた有利である、
というのは、各受光素子によって検出される波長間隔を
、色解像度も比較的一定であるように、大体等間隔にす
ることができるからである。2つの部品70a及び7゜
bの組み合わせによるプリズム70に特に適しているの
は、部品70aにはガラスBK7 (屈折率:n1=1
.65)、部品70bにはガラスSF2 (屈折率:n
2=1.52)である。第1の部品70aのプリズム角
は、α1=30−35の範囲内で選択され、特にα1=
33.6゜が選択される。又、第2の部品7゜bのプリ
ズム角は、大体α2=100であるが、特にα2=10
.03゜が選択される。 [0018] 又、この複写装置の改変も可能である。例えば、マスク
42は、測定光源の近辺の光路中に位置させてもよいし
、直接測定光源に付けてもよい。プリズム7゜は2つ以
上の部品から構成してもよい。例えば、″直接視覚プリ
ズムパを得ることができる、即ち、プリズムは、前のよ
うに大体一定の色解像度で入射光をスペクトルに分光す
るが、図2とは対照的に、光軸A(図2)を不変として
いる。又複写原板の全体が露光されたとしても、連続し
て線毎に受光線を読み取り、複写原板の全体は線毎に走
査される。明らかに、個々の1次元受光素子列は物理的
に結合されて2次元受光素子面としてもよいし、又、受
光装置は、2次元受光面のように設計しても良い。それ
でも、この複写装置は、受光素子面のたった1本の受光
線によって複写原板の走査線のスペクトルが測定される
という利点を有している。従って、複写原板の走査線の
走査区域の測定に2次元受光面を必要とする、例えば、
ヨーロッパ特許公開312499号公報の装置と比較し
て、いわば空間的次元が節約できる。 [0019] 本発明が、その意図又は基本的性質から逸脱せずに他の
特定の形態で具体化できることは明らかである。従って
、本実施例は、すべての点において実例であると共に限
定できないものとみなされる。発明の範囲は、前述され
たものより請求の範囲によって示され、その同等の意味
及び範囲に入るすべての変更は本発明に包含されるもの
である。 [0020]
図示したものである。 この構成要素には、複写光源1.1組のサーボ制御カラ
ーシャッタ2、結像用レンズ3、測定光源と受光素子に
より象徴的に代表される光電測定装置4及び電子露出制
御装置5が含まれる。複写光源1からの光によって露光
された複写原板Nはレンズ3により感光複写材M上に再
製される。ここにおいて、個々の部分的な露光のための
複写光量は、先になされる複写原板の部分的な光電測定
と測定値分析に基づいて決定され、カラーシャッタによ
って制御される。この限りにおいてこの複写装置は、ヨ
ーロッパ特許公開312499号公報又は西独特許37
37775号公開公報において述べられている装置に相
当しており、更なる説明は不必要である。 [0009] 図2は、カラー複写装置の光電測定装置の軸方向断面を
概略的に図示したものである。この装置は、測定光源4
0.4枚のレンズ401.402.701.702.2
枚の適応フィルタ40a及び40b、スリットマスク4
2.2つの部品70a、70bからなる光学プリズム7
0、及び受光装置8からなり、電子露出制御装置5に連
結されている。測定光源40.2枚のレンズ401,4
02及び適応フィルタ40a、40bからなる露光装置
は従来通りの形状であり、複写原板Nに対して平行な光
を露光する。適応フィルタ4Qa及び40bは、 測
定光源の光電において比較的強過ぎるスペクトルの構成
要素を弱める働きをする。 複写原板Nを通過した光は、スリットマスク42に衝突
してそのスリットのみを通過し、それによって、複写原
板Nを多数の個々の、いわば、走査区域に分割する。そ
して、最後にレンズ701.プリズム70及びレンズ7
02を通り、受光素子装置上8に到達する。 [0010] 図3は、測定装置4の一部を概略的に図示したもので、
これにより、測定装置4の操作原理は更に明らかになる
。分かり易くするため、露光装置と2枚のレンズ701
及び702は省かれている。また、実際上のスリットマ
スク42は、複写原板Nの後の光路内に位置している。 しがし、これでは測定装置の操作原理について明瞭とな
らないので、本図においては、スリットマスク42がよ
く見えるように複写原板Nの前の光路内に図示されてい
る。 [0011] 実線41で示された、測定光源40がら放射された測定
光はスリットマスク42に衝突しする。スリットマスク
42は、測定光のためスリット421,422423、
〜,431の範囲のみが透明となっている。スリット4
21.422423等は、マスク42上の一点鎖線42
0で示された線に沿って位置している。この線は、複写
原板Nの進行方向Fに対して直角方向に伸びている。し
たがって、端部に移送用孔を有したネガフィル形態の複
写原板Nは、その個々の小さな走査区域が照明される。 なお、これらは分かり易くするためわずかに625−6
28が示されている。これらの走査区域は、−点鎖線6
20で示された線(走査線)に沿ったマスク42の光透
過スリット421〜431のレイアウトにもと[001
2] このように、原画Nの進行方向Fに対し直角な測定装置
4の解像度は、マスク42上の線420に沿って位置す
るスリットの数と寸法による。通常、ネガ(24x 3
6 mm)の1走査線当りの解像度は約20〜40走査
区域であり、スリットマスクは相当数のスリットを有す
る。進行方向Fの解像度は、2本の連続する走査線の間
隔、複写原板Nの進行速度及び2本の連続する走査線の
時間の間隔の結果である。ネガ1枚当りの進行方向Fの
解像度は、約30〜50線が通例であリ、したがって、
1枚のネガ(24x36mm)は平均して約1000個
の走査区域に解像される。 [0013] 走査区域に生じた光は、図2にのみ図示されたレンズ7
01により平行にされてプリズム70 (走査線720
)に衝突する。プリズム70は、その屈折端710(図
3)が走査線620に対して光学的りこ直角に延びるよ
うにかつプリズムが走査線620の全走査区域の光によ
って露光されるように、光路内に位置している。プリズ
ムは、走査区域からの光をそのスペクトルの構成要素に
分光し、スペクトルの構成要素は図2のみに図示された
レンズ702を通過して受光素子列81に到達する。受
光素子列81において、受光素子グループは受光素子列
81に沿って互いに連続し、かつ−組の受光素子グルー
プは1走査区域のすべてのスペクトルに割り当てられる
。例えば、走査区域628からの光は、プリズムのエリ
ア728に衝突する。プリズムのエリア728に到達し
た光のスペクトルの構成要素はレンズ702を通過し、
受光素子列81の受光素子グループ828に到達する。 受光素子グループ828の各単位の受光素子8281に
は1つの細いスペクトル片が衝突する。そして、各単位
の受光素子の電気的出力信号が露光制御装置5(図1)
に発信される。この操作原理は、例えば、ヨーロッパ特
許公開第312499号公報によって公知である。同様
に、複写原板Nの他の走査区域からの光は、受光素子列
81の他の受光素子グループに衝突する。(例えば、プ
リズム70の区域731からの光は受光素子列81の受
光素子グループ831に衝突する。)各受光素子グルー
プは、複写原板の関連する走査区域と同じ順序で受光素
子列内に整列される。 [0014] 図4において、スリットマスク42と複写原板Nに関連
した位置関係が図示されている(光路の反対方向から見
た場合)。複写原板Nを透過した光はスリット421〜
431のみを通過することができる。これによって、複
写原板Nはスリット421〜431の数に相当する、走
査線620(図3)に沿った各走査区域の数に象徴的に
分割される。したがって、そのような走査線620に沿
って作成された走査区域は同時に照明される。全体の複
写原板は線毎に走査される。ヨーロッパ公開特許第31
2499号公報にて叙述された複写装置とは対照的に、
走査線の走査区域の測定に要求されるのは、2次元の受
光素子面の代わりに、単に1次元の受光素子列のみであ
る。上述されたような1次元受光素子列の特徴は、2次
元受光素子面に比較して、信号/ノイズ比が良好なこと
である。 [0015] 図5において、測定装置の他の実施例が図示されている
。スリットマスク42のスリット421′〜431′
は、走査線に対して直角に、即ち、フィルムNの移送方
向に、フィルムNの全結像面62にわたって延びている
。プリズム70(図2及び3)は特定の大きさに合わせ
て作られているので、フィルムNを通過し、続いてスリ
ットマスク42′ のスリット421′〜431“ を
通過した全部の光は、スペクトルに分光される。同様に
、レンズ701及び702は十分に大きいのでフィルム
N及びスリットマスク42′ を通過した全部の光は
、平行かつ直接に受光素子に到達する。 [0016] 受光装置8(図3)において、対応する受光素子列81
,82.83等には各走査線(即ち、走査区域の各列)
が対応する。進行方向Fに対して直角な解像度は各スリ
ッ)421’ 〜431′の数と幅によって決定される
が、進行方向Fについては、各受光素子列の間隔によっ
て決定される。図3において、受光素子列81.82及
び83は分離されて示されている。受光素子列81.8
2及び83は、受光素子の列が複写原板N上のすべての
走査線に対し別々に対応せられていることを象徴的に示
している。各受光素子の出力信号は、図3のように、ヨ
ーロッパ特許公開第312499号公報において公知の
露光制御装置5に伝達される。全体の結像面の測定後、
フィルムは次の結像面63に移行される。このような測
定装置を具備した複写装置は、ヨーロッパ特許公開第3
12499号公報において記述された装置と比較して、
2つの重要な利点を有している。まず第1に、先に述べ
たように、1次元受光素子列は、2次元受光素子面に比
較して、信号/ノイズ比が良好であること、第2に、複
写原板全体が同時に計測できることである。更に、複写
原板全体の同時走査には、単に個々の受光素子列からな
る1つの2次元受光素子面が必要なだけであり、一方、
ヨーロッパ特許公開第31249特開平4−27265
(1の 9号公報において記述された複写装置においては、−度
に複写原板の単線を計測するには2次元の面が必要であ
る。 [0017] 実際上、マスク42または42′ は例えば透明なデ
ィスクがらなり、マスク上には蒸着がなされている。マ
スクの光学的に透明な部分は、複写原板Nの横端部64
(図3,4及び5)を越えて延びてもよい。このように
して、ある複写原板に特有な特質、例えばフィルムのD
Xコードのようなものが認識される。各フィールド61
及び62間の帯部分64(図3,4及び5)もこのよう
にして走査され、測定結果が公知の工程により評価され
る。2つ(又はそれ以上)の部品7゜a及び70bで形
成されるプリズム70の組み合わせもまた有利である、
というのは、各受光素子によって検出される波長間隔を
、色解像度も比較的一定であるように、大体等間隔にす
ることができるからである。2つの部品70a及び7゜
bの組み合わせによるプリズム70に特に適しているの
は、部品70aにはガラスBK7 (屈折率:n1=1
.65)、部品70bにはガラスSF2 (屈折率:n
2=1.52)である。第1の部品70aのプリズム角
は、α1=30−35の範囲内で選択され、特にα1=
33.6゜が選択される。又、第2の部品7゜bのプリ
ズム角は、大体α2=100であるが、特にα2=10
.03゜が選択される。 [0018] 又、この複写装置の改変も可能である。例えば、マスク
42は、測定光源の近辺の光路中に位置させてもよいし
、直接測定光源に付けてもよい。プリズム7゜は2つ以
上の部品から構成してもよい。例えば、″直接視覚プリ
ズムパを得ることができる、即ち、プリズムは、前のよ
うに大体一定の色解像度で入射光をスペクトルに分光す
るが、図2とは対照的に、光軸A(図2)を不変として
いる。又複写原板の全体が露光されたとしても、連続し
て線毎に受光線を読み取り、複写原板の全体は線毎に走
査される。明らかに、個々の1次元受光素子列は物理的
に結合されて2次元受光素子面としてもよいし、又、受
光装置は、2次元受光面のように設計しても良い。それ
でも、この複写装置は、受光素子面のたった1本の受光
線によって複写原板の走査線のスペクトルが測定される
という利点を有している。従って、複写原板の走査線の
走査区域の測定に2次元受光面を必要とする、例えば、
ヨーロッパ特許公開312499号公報の装置と比較し
て、いわば空間的次元が節約できる。 [0019] 本発明が、その意図又は基本的性質から逸脱せずに他の
特定の形態で具体化できることは明らかである。従って
、本実施例は、すべての点において実例であると共に限
定できないものとみなされる。発明の範囲は、前述され
たものより請求の範囲によって示され、その同等の意味
及び範囲に入るすべての変更は本発明に包含されるもの
である。 [0020]
本発明は、以上の説明から明らかなように、1列の受光
素子のみで空間的及びスペクトル的に1本の走査線を走
査できると共に、数列の受光素子を隣接して配置するこ
とにより、全複写原板の同時走査が可能である。
素子のみで空間的及びスペクトル的に1本の走査線を走
査できると共に、数列の受光素子を隣接して配置するこ
とにより、全複写原板の同時走査が可能である。
【図1】
本発明のカラー複写装置を示す概略全体図である。
【図2】
図1のカラー複写装置の全測定装置の概略軸方向断面図
である。
である。
【図3】
図1のカラー複写装置の全測定装置の要素を示す概略図
であり、測定装置の基本的な動作原理を説明するもので
ある。
であり、測定装置の基本的な動作原理を説明するもので
ある。
【図4】
図2のI V−I Vの矢印方向から見た平面図で、−
片のネガフィルムの1区画にかかるスリットマスクを示
すものである。
片のネガフィルムの1区画にかかるスリットマスクを示
すものである。
【図5】
他の実施例の測定装置を示す平面図である。
N 複写原板
M 感光複写材
40 測定光源
41 測定光
42 スリットマスク
421〜431 スリット
620 走査線
625、628 走査区域
8 受光装置
81、82.83受光素子列
828、831 受光素子グループ
8281 受光素子
【図1】
図面
【図2】
【図5】
Claims (11)
- 【請求項1】 複写原板を感光複写材上に結像させる映写手段と、前記
複写原板を前記複写原板にわたって伸びた走査線内の複
数の走査区域において測定する光電測定装置と 該測定装置及び複写材を露光する複写光量を決定する前
記映写手段に連結された露光制御装置とよりなる写真複
写装置であって、前記測定装置は、前記複写原板を照明
する光源と、前記複写原板の各走査区域に生じた測定光
を検出し、かつグループ状に1本の線に沿って配列され
た複数の受光素子を包含し、また、受光素子の前記各グ
ループはその受光素子列において連続して位置する、受
光素子装置と、前記複写原板の前記走査区域に生ずる測
定光を複数の細いスペクトル片に光学的に分散する手段
と、 走査線の前記各走査区域に生じた測定光が、関連する受
光素子の分割されたグループに衝突し、また、走査区域
に生じた測定光の各スペクトル片が、特定の走査区域に
関連した受光素子のグループ内の分割された受光素子に
入射するようにして測定光を光学的に受光装置に結像さ
せる手段と、を包含することを特徴とする写真複写装置
。 - 【請求項2】 光学的に散乱させる前記手段が前記走査区域に生じた前
記測定光を前記走査線に対し光学的に平行に分割し、か
つ前記受光素子列が前記走査線に対して平行に伸びてい
ることを特徴とする前記請求項1の複写装置。 - 【請求項3】 複数の前記受光素子と同様に他の走査線の走査区域に生
じた測定光に露光される少なくとも1本の追加された受
光素子列が設けられたことを特徴とする前記請求項2の
複写装置。 - 【請求項4】 前記複写原板の各走査線に対し1本の受光素子列が設け
られたことを特徴とする前記請求項3の複写装置。 - 【請求項5】 前記受光素子列が1つの受光素子面において結合される
かそのような1つの面に形成されることを特徴とする前
記請求項4の複写装置。 - 【請求項6】 前記受光素子が電荷結合光電変換器であることを特徴と
する前記請求項2記載の複写装置。 - 【請求項7】 光学的に散乱させる前記手段が更に少なくとも一個の光
学プリズムを包含し、該プリズムが有する屈折端は前記
走査線に対し直角に位置し、かつ走査線のすべての走査
区域に生ずる測定光に関連して同時に露光されることを
特徴とする前記請求項2の複写装置。 - 【請求項8】 前記複写原板に極く近接してマスク装置が設けられ、該
マスクは1本の走査線内において前記複写原板の各走査
区域の位置を決定することを特徴とする前記請求項7の
複写装置。 - 【請求項9】 前記マスク装置は多数のスリットを有するスリットマス
クであり、該スリットの数は1本の走査線の走査区域の
数に相当することを特徴とする前記請求項8の複写装置
。 - 【請求項10】 前記スリットマスクは前記複写原板全体に伸び、かつ前
記走査線に対し直交して伸びるスリットを包含すること
を特徴とする前記請求項9の複写装置。 - 【請求項11】 前記少なくとも1個の光学プリズムが2つのプリズムか
らなり、そのうちの一方のプリズムのプリズム角が30
〜35゜かつ屈折率が1.52であり、他方のプリズム
のプリズム角が10゜かつ屈折率が1.65であること
を特徴とする前記請求項7の複写装置。
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