JPH0427265A - 写真カラ−複写装置 - Google Patents

写真カラ−複写装置

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JPH0427265A
JPH0427265A JP2410014A JP41001490A JPH0427265A JP H0427265 A JPH0427265 A JP H0427265A JP 2410014 A JP2410014 A JP 2410014A JP 41001490 A JP41001490 A JP 41001490A JP H0427265 A JPH0427265 A JP H0427265A
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    • G03B27/00Photographic printing apparatus
    • G03B27/72Controlling or varying light intensity, spectral composition, or exposure time in photographic printing apparatus
    • G03B27/73Controlling exposure by variation of spectral composition, e.g. multicolor printers
    • G03B27/735Controlling exposure by variation of spectral composition, e.g. multicolor printers in dependence upon automatic analysis of the original

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
[0001]
【産業上の利用分野】
本発明は、感光複写材上に複写原板を結像する映写手段
と、複写原板を複写原板の全体にわたって延びた走査線
の複数の走査区域において測定する光電測定装置と、測
定装置及び映写手段に連結され、複写材を露光する複写
光量を決定する露光制御装置とを有する写真カラー複写
装置に関する。 [0002]
【従来の技術】
この形式のカラー複写装置は、例えば、ヨーロッパ特許
公開第312499号公報により公知である。そこにお
いて記述されているカラー複写装置の場合、実質的に露
光を制御する色抽出値は次のようにして得られる。即ち
、多数の各(仮想の)走査区域からなる複写原板の1本
の線が常に露光され、複写原板のすべての走査区域から
の光がプリズムによって細いスペクトル片に分光される
。スペクトル片に分割されたこの光は列と行に配置され
た光電変換器の2次元面に衝突する。この列は複写原板
上の走査線と平行して延び、行は列に直交している。変
換器面の1列は、複写原板上の露光された走査線の各走
査区域と相関しており、その列のすべての個々の受光素
子は、関連した受光区域の測定光のスペクトル片と相関
している。2次元の変換器面の各列は、複写原板上の照
明された列の関連する走査区域のレイアウトと同一に、
互いに隣接して位置している。複写原板の各走査線の走
査は、要求された解像度にあわせて選択された複写原板
を連続的に進行させることにより行われる。 [0003]
【発明が解決しようとする課題】
そのため、原板の1本の全走査線を同時に走査するには
2次元面の受光素子を必要とする。すなわち、その走査
線を各走査区域に空間的に分解するための一方の面と各
スペクトル片に分解するための他方の面である。全複写
原板の同時走査即ち、すべての走査線を同時に走査する
ことはそのような走査装置では不可能であり、そのため
には、他のパ次元“の受光素子が要求される。従って、
ヨーロツバ特許公開第312499号公報の複写装置に
おいては、上述したように複写原板の各線を連続して走
査せねばならない。 [0004] 本発明の目的は、上述した問題を解決し、全複写原板の
同時スペクトル走査のための条件を提供することである
。 [0005]
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明の構成を次の通りとし
た。即ち、複写原板を感光複写材上に結像させる映写手
段と、前記複写原板を前記複写原板にわたって伸びた走
査線内の複数の走査区域において測定する光電測定装置
と該測定装置及び複写材を露光する複写光量を決定する
前記映写手段に連結された露光制御装置とよりなる写真
複写装置であって、前記測定装置は、前記複写原板を照
明する光源と、前記複写原板の各走査区域に生じた測定
光を検出し、かつグループ状に1本の線に沿って配列さ
れた複数の受光素子を包含し、また、受光素子の前記各
グループはその受光素子列において連続して位置する、
受光素子装置と、前記複写原板の前記走査区域に生ずる
測定光を複数の細いスペクトル片に光学的に分散する手
段と、走査線の前記各走査区域に生じた測定光が、関連
する受光素子の分割されたグループに衝突し、また、走
査区域に生じた測定光の各スペクトル片が、特定の走査
区域に関連した受光素子のグループ内の分割された受光
素子に入射するようにして測定光を光学的に受光装置に
結像させる手段と、を包含することを特徴とする。 [0006]
【作用】
本発明の複写装置において、空間的及びスペクトル的に
1本の走査線を解像走査するには、1つのパ 1次元″
面または1列の受光素子のみが必要なだけである。この
ように、空間的及びスペクトル的な分解はひとつの次元
でなされる。従って、第2の次元は走査線に用いられる
。更に、そのような数本の受光素子の列を隣接して配置
することにより、全走査線の同時走査が可能である。 [0007] 本発明による受光素子装置の次元の減少には、そのよう
な目的に用ν)られる電荷結合素子(CCD)の性質か
ら生じる更に重要な利点がある。経験上から見てそのよ
うな変換器の1次元面(列)は、2次元面よりも非常に
良好な特性を有している。特に、信号/ノイズ比はより
優れている。これによって、連続コンピュータ評価作業
(通常、信号の加重値を加えた合計)の結果を順々に改
良するものである。更に、そのような列の各変換器の電
気的な結合は、実際上複雑さが少ない。 [0008]
【実施例】
図1は、本発明の理解に必要な最も基本的な構成要素を
図示したものである。 この構成要素には、複写光源1.1組のサーボ制御カラ
ーシャッタ2、結像用レンズ3、測定光源と受光素子に
より象徴的に代表される光電測定装置4及び電子露出制
御装置5が含まれる。複写光源1からの光によって露光
された複写原板Nはレンズ3により感光複写材M上に再
製される。ここにおいて、個々の部分的な露光のための
複写光量は、先になされる複写原板の部分的な光電測定
と測定値分析に基づいて決定され、カラーシャッタによ
って制御される。この限りにおいてこの複写装置は、ヨ
ーロッパ特許公開312499号公報又は西独特許37
37775号公開公報において述べられている装置に相
当しており、更なる説明は不必要である。 [0009] 図2は、カラー複写装置の光電測定装置の軸方向断面を
概略的に図示したものである。この装置は、測定光源4
0.4枚のレンズ401.402.701.702.2
枚の適応フィルタ40a及び40b、スリットマスク4
2.2つの部品70a、70bからなる光学プリズム7
0、及び受光装置8からなり、電子露出制御装置5に連
結されている。測定光源40.2枚のレンズ401,4
02及び適応フィルタ40a、40bからなる露光装置
は従来通りの形状であり、複写原板Nに対して平行な光
を露光する。適応フィルタ4Qa及び40bは、  測
定光源の光電において比較的強過ぎるスペクトルの構成
要素を弱める働きをする。 複写原板Nを通過した光は、スリットマスク42に衝突
してそのスリットのみを通過し、それによって、複写原
板Nを多数の個々の、いわば、走査区域に分割する。そ
して、最後にレンズ701.プリズム70及びレンズ7
02を通り、受光素子装置上8に到達する。 [0010] 図3は、測定装置4の一部を概略的に図示したもので、
これにより、測定装置4の操作原理は更に明らかになる
。分かり易くするため、露光装置と2枚のレンズ701
及び702は省かれている。また、実際上のスリットマ
スク42は、複写原板Nの後の光路内に位置している。 しがし、これでは測定装置の操作原理について明瞭とな
らないので、本図においては、スリットマスク42がよ
く見えるように複写原板Nの前の光路内に図示されてい
る。 [0011] 実線41で示された、測定光源40がら放射された測定
光はスリットマスク42に衝突しする。スリットマスク
42は、測定光のためスリット421,422423、
〜,431の範囲のみが透明となっている。スリット4
21.422423等は、マスク42上の一点鎖線42
0で示された線に沿って位置している。この線は、複写
原板Nの進行方向Fに対して直角方向に伸びている。し
たがって、端部に移送用孔を有したネガフィル形態の複
写原板Nは、その個々の小さな走査区域が照明される。 なお、これらは分かり易くするためわずかに625−6
28が示されている。これらの走査区域は、−点鎖線6
20で示された線(走査線)に沿ったマスク42の光透
過スリット421〜431のレイアウトにもと[001
2] このように、原画Nの進行方向Fに対し直角な測定装置
4の解像度は、マスク42上の線420に沿って位置す
るスリットの数と寸法による。通常、ネガ(24x 3
6 mm)の1走査線当りの解像度は約20〜40走査
区域であり、スリットマスクは相当数のスリットを有す
る。進行方向Fの解像度は、2本の連続する走査線の間
隔、複写原板Nの進行速度及び2本の連続する走査線の
時間の間隔の結果である。ネガ1枚当りの進行方向Fの
解像度は、約30〜50線が通例であリ、したがって、
1枚のネガ(24x36mm)は平均して約1000個
の走査区域に解像される。 [0013] 走査区域に生じた光は、図2にのみ図示されたレンズ7
01により平行にされてプリズム70 (走査線720
)に衝突する。プリズム70は、その屈折端710(図
3)が走査線620に対して光学的りこ直角に延びるよ
うにかつプリズムが走査線620の全走査区域の光によ
って露光されるように、光路内に位置している。プリズ
ムは、走査区域からの光をそのスペクトルの構成要素に
分光し、スペクトルの構成要素は図2のみに図示された
レンズ702を通過して受光素子列81に到達する。受
光素子列81において、受光素子グループは受光素子列
81に沿って互いに連続し、かつ−組の受光素子グルー
プは1走査区域のすべてのスペクトルに割り当てられる
。例えば、走査区域628からの光は、プリズムのエリ
ア728に衝突する。プリズムのエリア728に到達し
た光のスペクトルの構成要素はレンズ702を通過し、
受光素子列81の受光素子グループ828に到達する。 受光素子グループ828の各単位の受光素子8281に
は1つの細いスペクトル片が衝突する。そして、各単位
の受光素子の電気的出力信号が露光制御装置5(図1)
に発信される。この操作原理は、例えば、ヨーロッパ特
許公開第312499号公報によって公知である。同様
に、複写原板Nの他の走査区域からの光は、受光素子列
81の他の受光素子グループに衝突する。(例えば、プ
リズム70の区域731からの光は受光素子列81の受
光素子グループ831に衝突する。)各受光素子グルー
プは、複写原板の関連する走査区域と同じ順序で受光素
子列内に整列される。 [0014] 図4において、スリットマスク42と複写原板Nに関連
した位置関係が図示されている(光路の反対方向から見
た場合)。複写原板Nを透過した光はスリット421〜
431のみを通過することができる。これによって、複
写原板Nはスリット421〜431の数に相当する、走
査線620(図3)に沿った各走査区域の数に象徴的に
分割される。したがって、そのような走査線620に沿
って作成された走査区域は同時に照明される。全体の複
写原板は線毎に走査される。ヨーロッパ公開特許第31
2499号公報にて叙述された複写装置とは対照的に、
走査線の走査区域の測定に要求されるのは、2次元の受
光素子面の代わりに、単に1次元の受光素子列のみであ
る。上述されたような1次元受光素子列の特徴は、2次
元受光素子面に比較して、信号/ノイズ比が良好なこと
である。 [0015] 図5において、測定装置の他の実施例が図示されている
。スリットマスク42のスリット421′〜431′ 
は、走査線に対して直角に、即ち、フィルムNの移送方
向に、フィルムNの全結像面62にわたって延びている
。プリズム70(図2及び3)は特定の大きさに合わせ
て作られているので、フィルムNを通過し、続いてスリ
ットマスク42′ のスリット421′〜431“ を
通過した全部の光は、スペクトルに分光される。同様に
、レンズ701及び702は十分に大きいのでフィルム
N及びスリットマスク42′  を通過した全部の光は
、平行かつ直接に受光素子に到達する。 [0016] 受光装置8(図3)において、対応する受光素子列81
,82.83等には各走査線(即ち、走査区域の各列)
が対応する。進行方向Fに対して直角な解像度は各スリ
ッ)421’ 〜431′の数と幅によって決定される
が、進行方向Fについては、各受光素子列の間隔によっ
て決定される。図3において、受光素子列81.82及
び83は分離されて示されている。受光素子列81.8
2及び83は、受光素子の列が複写原板N上のすべての
走査線に対し別々に対応せられていることを象徴的に示
している。各受光素子の出力信号は、図3のように、ヨ
ーロッパ特許公開第312499号公報において公知の
露光制御装置5に伝達される。全体の結像面の測定後、
フィルムは次の結像面63に移行される。このような測
定装置を具備した複写装置は、ヨーロッパ特許公開第3
12499号公報において記述された装置と比較して、
2つの重要な利点を有している。まず第1に、先に述べ
たように、1次元受光素子列は、2次元受光素子面に比
較して、信号/ノイズ比が良好であること、第2に、複
写原板全体が同時に計測できることである。更に、複写
原板全体の同時走査には、単に個々の受光素子列からな
る1つの2次元受光素子面が必要なだけであり、一方、
ヨーロッパ特許公開第31249特開平4−27265
 (1の 9号公報において記述された複写装置においては、−度
に複写原板の単線を計測するには2次元の面が必要であ
る。 [0017] 実際上、マスク42または42′  は例えば透明なデ
ィスクがらなり、マスク上には蒸着がなされている。マ
スクの光学的に透明な部分は、複写原板Nの横端部64
(図3,4及び5)を越えて延びてもよい。このように
して、ある複写原板に特有な特質、例えばフィルムのD
Xコードのようなものが認識される。各フィールド61
及び62間の帯部分64(図3,4及び5)もこのよう
にして走査され、測定結果が公知の工程により評価され
る。2つ(又はそれ以上)の部品7゜a及び70bで形
成されるプリズム70の組み合わせもまた有利である、
というのは、各受光素子によって検出される波長間隔を
、色解像度も比較的一定であるように、大体等間隔にす
ることができるからである。2つの部品70a及び7゜
bの組み合わせによるプリズム70に特に適しているの
は、部品70aにはガラスBK7 (屈折率:n1=1
.65)、部品70bにはガラスSF2 (屈折率:n
2=1.52)である。第1の部品70aのプリズム角
は、α1=30−35の範囲内で選択され、特にα1=
33.6゜が選択される。又、第2の部品7゜bのプリ
ズム角は、大体α2=100であるが、特にα2=10
.03゜が選択される。 [0018] 又、この複写装置の改変も可能である。例えば、マスク
42は、測定光源の近辺の光路中に位置させてもよいし
、直接測定光源に付けてもよい。プリズム7゜は2つ以
上の部品から構成してもよい。例えば、″直接視覚プリ
ズムパを得ることができる、即ち、プリズムは、前のよ
うに大体一定の色解像度で入射光をスペクトルに分光す
るが、図2とは対照的に、光軸A(図2)を不変として
いる。又複写原板の全体が露光されたとしても、連続し
て線毎に受光線を読み取り、複写原板の全体は線毎に走
査される。明らかに、個々の1次元受光素子列は物理的
に結合されて2次元受光素子面としてもよいし、又、受
光装置は、2次元受光面のように設計しても良い。それ
でも、この複写装置は、受光素子面のたった1本の受光
線によって複写原板の走査線のスペクトルが測定される
という利点を有している。従って、複写原板の走査線の
走査区域の測定に2次元受光面を必要とする、例えば、
ヨーロッパ特許公開312499号公報の装置と比較し
て、いわば空間的次元が節約できる。 [0019] 本発明が、その意図又は基本的性質から逸脱せずに他の
特定の形態で具体化できることは明らかである。従って
、本実施例は、すべての点において実例であると共に限
定できないものとみなされる。発明の範囲は、前述され
たものより請求の範囲によって示され、その同等の意味
及び範囲に入るすべての変更は本発明に包含されるもの
である。 [0020]
【発明の効果】
本発明は、以上の説明から明らかなように、1列の受光
素子のみで空間的及びスペクトル的に1本の走査線を走
査できると共に、数列の受光素子を隣接して配置するこ
とにより、全複写原板の同時走査が可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のカラー複写装置を示す概略全体図である。
【図2】 図1のカラー複写装置の全測定装置の概略軸方向断面図
である。
【図3】 図1のカラー複写装置の全測定装置の要素を示す概略図
であり、測定装置の基本的な動作原理を説明するもので
ある。
【図4】 図2のI V−I Vの矢印方向から見た平面図で、−
片のネガフィルムの1区画にかかるスリットマスクを示
すものである。
【図5】 他の実施例の測定装置を示す平面図である。
【符号の説明】
N  複写原板 M  感光複写材 40  測定光源 41  測定光 42   スリットマスク 421〜431  スリット 620   走査線 625、628  走査区域 8    受光装置 81、82.83受光素子列 828、831  受光素子グループ 8281   受光素子
【書類基】
【図1】 図面
【図2】
【図5】

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複写原板を感光複写材上に結像させる映写手段と、前記
    複写原板を前記複写原板にわたって伸びた走査線内の複
    数の走査区域において測定する光電測定装置と 該測定装置及び複写材を露光する複写光量を決定する前
    記映写手段に連結された露光制御装置とよりなる写真複
    写装置であって、前記測定装置は、前記複写原板を照明
    する光源と、前記複写原板の各走査区域に生じた測定光
    を検出し、かつグループ状に1本の線に沿って配列され
    た複数の受光素子を包含し、また、受光素子の前記各グ
    ループはその受光素子列において連続して位置する、受
    光素子装置と、前記複写原板の前記走査区域に生ずる測
    定光を複数の細いスペクトル片に光学的に分散する手段
    と、 走査線の前記各走査区域に生じた測定光が、関連する受
    光素子の分割されたグループに衝突し、また、走査区域
    に生じた測定光の各スペクトル片が、特定の走査区域に
    関連した受光素子のグループ内の分割された受光素子に
    入射するようにして測定光を光学的に受光装置に結像さ
    せる手段と、を包含することを特徴とする写真複写装置
  2. 【請求項2】 光学的に散乱させる前記手段が前記走査区域に生じた前
    記測定光を前記走査線に対し光学的に平行に分割し、か
    つ前記受光素子列が前記走査線に対して平行に伸びてい
    ることを特徴とする前記請求項1の複写装置。
  3. 【請求項3】 複数の前記受光素子と同様に他の走査線の走査区域に生
    じた測定光に露光される少なくとも1本の追加された受
    光素子列が設けられたことを特徴とする前記請求項2の
    複写装置。
  4. 【請求項4】 前記複写原板の各走査線に対し1本の受光素子列が設け
    られたことを特徴とする前記請求項3の複写装置。
  5. 【請求項5】 前記受光素子列が1つの受光素子面において結合される
    かそのような1つの面に形成されることを特徴とする前
    記請求項4の複写装置。
  6. 【請求項6】 前記受光素子が電荷結合光電変換器であることを特徴と
    する前記請求項2記載の複写装置。
  7. 【請求項7】 光学的に散乱させる前記手段が更に少なくとも一個の光
    学プリズムを包含し、該プリズムが有する屈折端は前記
    走査線に対し直角に位置し、かつ走査線のすべての走査
    区域に生ずる測定光に関連して同時に露光されることを
    特徴とする前記請求項2の複写装置。
  8. 【請求項8】 前記複写原板に極く近接してマスク装置が設けられ、該
    マスクは1本の走査線内において前記複写原板の各走査
    区域の位置を決定することを特徴とする前記請求項7の
    複写装置。
  9. 【請求項9】 前記マスク装置は多数のスリットを有するスリットマス
    クであり、該スリットの数は1本の走査線の走査区域の
    数に相当することを特徴とする前記請求項8の複写装置
  10. 【請求項10】 前記スリットマスクは前記複写原板全体に伸び、かつ前
    記走査線に対し直交して伸びるスリットを包含すること
    を特徴とする前記請求項9の複写装置。
  11. 【請求項11】 前記少なくとも1個の光学プリズムが2つのプリズムか
    らなり、そのうちの一方のプリズムのプリズム角が30
    〜35゜かつ屈折率が1.52であり、他方のプリズム
    のプリズム角が10゜かつ屈折率が1.65であること
    を特徴とする前記請求項7の複写装置。
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