JPH04262272A - 三相入力状態判定装置 - Google Patents
三相入力状態判定装置Info
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- JPH04262272A JPH04262272A JP563691A JP563691A JPH04262272A JP H04262272 A JPH04262272 A JP H04262272A JP 563691 A JP563691 A JP 563691A JP 563691 A JP563691 A JP 563691A JP H04262272 A JPH04262272 A JP H04262272A
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- 230000018199 S phase Effects 0.000 claims description 13
- 238000000819 phase cycle Methods 0.000 abstract description 4
- 229910001219 R-phase Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Phase Differences (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、三相交流の入力状態を
検出する三相入力状態判定装置に関する。
検出する三相入力状態判定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図３は従来の三相入力状態判定装置をブ
ロック図で示したものである。同図において、Ｒ、Ｓ、
Ｔは三相交流入力のＲ相、Ｓ相、Ｔ相である。１はゼロ
クロス信号発生回路であって、Ｒ、Ｓ、Ｔ三相交流入力
をパルス信号に変換する。２は位相比較回路であって、
Ｒ・Ｓ位相比較器２１、Ｓ・Ｔ位相比較器２２、Ｔ・Ｒ
位相比較器２３を有している。これらの比較器はＤフリ
ップフロップからなる。３は３入力ＮＡＮＤ素子、４は
ＣＰＵからなる判定回路である。
ロック図で示したものである。同図において、Ｒ、Ｓ、
Ｔは三相交流入力のＲ相、Ｓ相、Ｔ相である。１はゼロ
クロス信号発生回路であって、Ｒ、Ｓ、Ｔ三相交流入力
をパルス信号に変換する。２は位相比較回路であって、
Ｒ・Ｓ位相比較器２１、Ｓ・Ｔ位相比較器２２、Ｔ・Ｒ
位相比較器２３を有している。これらの比較器はＤフリ
ップフロップからなる。３は３入力ＮＡＮＤ素子、４は
ＣＰＵからなる判定回路である。
【０００３】この構成において、三相交流信号Ｒ、Ｓ、
Ｔは上記のようにゼロクロス信号発生回路１でパルス信
号に変換される。Ｄフリップフロップ２１はＲ相のパル
ス信号とＳ相のパルス信号を入力して両信号の位相比較
を行ない、Ｒ相のパルス信号の位相がＳ相のパルス信号
の位相より進んでいる場合には、そのＱ出力が「Ｈ」と
なる。Ｄフリップフロップ２２はＳ相のパルス信号とＴ
相のパルス信号を入力して両信号の位相比較を行ない、
Ｓ相のパルス信号の位相がＴ相のパルス信号の位相より
進んでいる場合には、そのＱ出力が「Ｈ」となる。Ｄフ
リップフロップ２３はＴ相のパルス信号とＲ相のパルス
信号を入力して両信号の位相比較を行ない、Ｔ相のパル
ス信号の位相がＲ相のパルス信号の位相より進んでいる
場合には、そのＱ出力が「Ｈ」となる。Ｒ相、Ｓ相、Ｔ
相の相順が正順である場合には、Ｄフリップフロップ２
１、２２、２３のＱ出力が全て「Ｈ」となり、３入力Ｎ
ＡＮＤ素子３の出力は「Ｌ」となる。また、相順が、Ｒ
相、Ｔ相、Ｓ相である場合には、Ｄフリップフロップ２
１、２２、２３のＱ出力が全て「Ｌ」となり、３入力Ｎ
ＡＮＤ素子３の出力は「Ｈ」となる。判定回路４はこの
３入力ＮＡＮＤ素子３の出力から相順が正常であるか否
かを判定する。
Ｔは上記のようにゼロクロス信号発生回路１でパルス信
号に変換される。Ｄフリップフロップ２１はＲ相のパル
ス信号とＳ相のパルス信号を入力して両信号の位相比較
を行ない、Ｒ相のパルス信号の位相がＳ相のパルス信号
の位相より進んでいる場合には、そのＱ出力が「Ｈ」と
なる。Ｄフリップフロップ２２はＳ相のパルス信号とＴ
相のパルス信号を入力して両信号の位相比較を行ない、
Ｓ相のパルス信号の位相がＴ相のパルス信号の位相より
進んでいる場合には、そのＱ出力が「Ｈ」となる。Ｄフ
リップフロップ２３はＴ相のパルス信号とＲ相のパルス
信号を入力して両信号の位相比較を行ない、Ｔ相のパル
ス信号の位相がＲ相のパルス信号の位相より進んでいる
場合には、そのＱ出力が「Ｈ」となる。Ｒ相、Ｓ相、Ｔ
相の相順が正順である場合には、Ｄフリップフロップ２
１、２２、２３のＱ出力が全て「Ｈ」となり、３入力Ｎ
ＡＮＤ素子３の出力は「Ｌ」となる。また、相順が、Ｒ
相、Ｔ相、Ｓ相である場合には、Ｄフリップフロップ２
１、２２、２３のＱ出力が全て「Ｌ」となり、３入力Ｎ
ＡＮＤ素子３の出力は「Ｈ」となる。判定回路４はこの
３入力ＮＡＮＤ素子３の出力から相順が正常であるか否
かを判定する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】この従来の装置では、
１相が欠落している場合にも、３入力ＮＡＮＤ素子３の
出力は「Ｈ」となるので、相順誤りと判定してしまうの
で、信頼性に欠けるという問題があった。
１相が欠落している場合にも、３入力ＮＡＮＤ素子３の
出力は「Ｈ」となるので、相順誤りと判定してしまうの
で、信頼性に欠けるという問題があった。
【０００５】本発明はこの問題を解消するためになされ
たもので、相順の正常、誤りだけでなく、欠相をも検出
するとができる三相入力状態判定装置を提供することを
目的とする。
たもので、相順の正常、誤りだけでなく、欠相をも検出
するとができる三相入力状態判定装置を提供することを
目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、Ｒ・Ｓ位相比較器、Ｓ・Ｔ位相比較器、Ｔ
・Ｒ位相比較器の出力を入力される３入力ＮＯＲ素子を
追加し、判定回路が３入力ＮＡＮＤ素子の出力と上記３
入力ＮＯＲ素子の出力の組合わせから三相交流入力の正
順、相順誤り更に欠相の３つの状態を判定する構成とし
た。
するために、Ｒ・Ｓ位相比較器、Ｓ・Ｔ位相比較器、Ｔ
・Ｒ位相比較器の出力を入力される３入力ＮＯＲ素子を
追加し、判定回路が３入力ＮＡＮＤ素子の出力と上記３
入力ＮＯＲ素子の出力の組合わせから三相交流入力の正
順、相順誤り更に欠相の３つの状態を判定する構成とし
た。
【０００７】
【作用】本発明では、相順正常時の各比較器の出力が「
Ｈ」であるとすると。 （ａ）正順 ：３入力ＮＡＮＤ素子は「Ｌ」、３
入力ＮＯＲ素子は「Ｌ」 （ｂ）相順誤り：３入力ＮＡＮＤ素子は「Ｈ」、３入力
ＮＯＲ素子は「Ｈ」 （ｃ）欠相 ：３入力ＮＡＮＤ素子は「Ｈ」、３
入力ＮＯＲ素子５「Ｌ」 となる。判定回路は３入力ＮＡＮＤ素子と３入力ＮＯＲ
素子の出力の値の上記組合わせから、正順、相順誤り、
欠相を判定する。
Ｈ」であるとすると。 （ａ）正順 ：３入力ＮＡＮＤ素子は「Ｌ」、３
入力ＮＯＲ素子は「Ｌ」 （ｂ）相順誤り：３入力ＮＡＮＤ素子は「Ｈ」、３入力
ＮＯＲ素子は「Ｈ」 （ｃ）欠相 ：３入力ＮＡＮＤ素子は「Ｈ」、３
入力ＮＯＲ素子５「Ｌ」 となる。判定回路は３入力ＮＡＮＤ素子と３入力ＮＯＲ
素子の出力の値の上記組合わせから、正順、相順誤り、
欠相を判定する。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の１実施例を図面を参照して説
明する。
明する。
【０００９】図１において、５は３入力ＮＯＲ素子であ
って、Ｄフリップフロップ２１、２２、２３のＱ出力を
入力される。その出力は判定回路４に送られる。他の構
成は図３のものと同じである。
って、Ｄフリップフロップ２１、２２、２３のＱ出力を
入力される。その出力は判定回路４に送られる。他の構
成は図３のものと同じである。
【００１０】この３入力ＮＯＲ素子５は、Ｄフリップフ
ロップ２１、２２、２３のＱ出力の１つでもが「Ｈ」で
あると、その出力は「Ｌ」となる。また、３入力ＮＯＲ
素子５はＲ相、Ｓ相、Ｔ相のうちのいずれか１つが入力
されなくても、その出力は「Ｌ」となる。３入力ＮＡＮ
Ｄ素子３はＲ相、Ｓ相、Ｔ相の入力が正常であるときそ
の出力は「Ｌ」となる。従って、３入力ＮＡＮＤ素子３
の出力が「Ｌ」、３入力ＮＯＲ素子の出力が「Ｌ」であ
れば、正常である。また、相順を誤っていると、３入力
ＮＡＮＤ素子３の出力が「Ｈ」、３入力ＮＯＲ素子の出
力は「Ｈ」となる。Ｄフリップフロップ２１、２２、２
３のＱ出力の１つでもが「Ｌ」になると、図２に示すよ
うに３入力ＮＡＮＤ素子３の出力は「Ｈ」、３入力ＮＯ
Ｒ素子５の出力は「Ｌ」になる。即ち、
ロップ２１、２２、２３のＱ出力の１つでもが「Ｈ」で
あると、その出力は「Ｌ」となる。また、３入力ＮＯＲ
素子５はＲ相、Ｓ相、Ｔ相のうちのいずれか１つが入力
されなくても、その出力は「Ｌ」となる。３入力ＮＡＮ
Ｄ素子３はＲ相、Ｓ相、Ｔ相の入力が正常であるときそ
の出力は「Ｌ」となる。従って、３入力ＮＡＮＤ素子３
の出力が「Ｌ」、３入力ＮＯＲ素子の出力が「Ｌ」であ
れば、正常である。また、相順を誤っていると、３入力
ＮＡＮＤ素子３の出力が「Ｈ」、３入力ＮＯＲ素子の出
力は「Ｈ」となる。Ｄフリップフロップ２１、２２、２
３のＱ出力の１つでもが「Ｌ」になると、図２に示すよ
うに３入力ＮＡＮＤ素子３の出力は「Ｈ」、３入力ＮＯ
Ｒ素子５の出力は「Ｌ」になる。即ち、
【００１１】（
ａ）正順 ：３入力ＮＡＮＤ素子３は「Ｌ」、３
入力ＮＯＲ素子５は「Ｌ」 （ｂ）相順誤り：３入力ＮＡＮＤ素子３は「Ｈ」、３入
力ＮＯＲ素子５は「Ｈ」 （ｃ）欠相 ：３入力ＮＡＮＤ素子３は「Ｈ」、
３入力ＮＯＲ素子５は「Ｌ」 となる。判定回路４は３入力ＮＡＮＤ素子３と３入力Ｎ
ＯＲ素子５の出力の値の上記組合わせから、正順、相順
誤り、欠相を判定する。
ａ）正順 ：３入力ＮＡＮＤ素子３は「Ｌ」、３
入力ＮＯＲ素子５は「Ｌ」 （ｂ）相順誤り：３入力ＮＡＮＤ素子３は「Ｈ」、３入
力ＮＯＲ素子５は「Ｈ」 （ｃ）欠相 ：３入力ＮＡＮＤ素子３は「Ｈ」、
３入力ＮＯＲ素子５は「Ｌ」 となる。判定回路４は３入力ＮＡＮＤ素子３と３入力Ｎ
ＯＲ素子５の出力の値の上記組合わせから、正順、相順
誤り、欠相を判定する。
【００１２】
【発明の効果】本発明は以上説明した通り、３入力ＮＯ
Ｒ素子５を追加するだけであるが、三相交流の正順、相
順誤り、欠相を確実に判定することができるので、従来
に比し、信頼性を向上することができる。
Ｒ素子５を追加するだけであるが、三相交流の正順、相
順誤り、欠相を確実に判定することができるので、従来
に比し、信頼性を向上することができる。
【図１】本発明の実施例を示すブロック図である。
【図２】上記実施例の動作わ説明するための波形タイム
チャートである。
チャートである。
【図３】従来の三相交流入力状態判別装置のブロック図
である。
である。
１ ゼロクロス信号発生回路２
比較回路 ３ ３入力ＮＡＮＤ素子 ４ 判定回路 ５ ３入力ＮＯＲ素子 ２１〜２３ 比較器
比較回路 ３ ３入力ＮＡＮＤ素子 ４ 判定回路 ５ ３入力ＮＯＲ素子 ２１〜２３ 比較器
Claims (1)
- 【請求項１】 Ｒ相、Ｓ相、Ｔ相の三相交流入力の位
相比較を行なうＲ・Ｓ位相比較器、Ｓ・Ｔ位相比較器、
Ｔ・Ｒ位相比較器、この各比較器の出力を入力される３
入力ＮＡＮＤ素子、この３入力ＮＡＮＤ素子の出力を入
力される判定回路を備え、上記三相交流入力の正順、相
順誤りを判定する三相入力状態判定装置において、上記
３つの比較器の上記出力を入力される３入力ＮＯＲ素子
を有し、上記判定回路は上記３入力ＮＡＮＤ素子の出力
と上記３入力ＮＯＲ素子の出力の組合わせから上記三相
交流入力の正順、相順誤り更に欠相の３つの状態を判定
することを特徴とする三相入力状態判定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP563691A JPH04262272A (ja) | 1991-01-22 | 1991-01-22 | 三相入力状態判定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP563691A JPH04262272A (ja) | 1991-01-22 | 1991-01-22 | 三相入力状態判定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04262272A true JPH04262272A (ja) | 1992-09-17 |
Family
ID=11616631
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP563691A Pending JPH04262272A (ja) | 1991-01-22 | 1991-01-22 | 三相入力状態判定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04262272A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006030149A (ja) * | 2004-07-22 | 2006-02-02 | Hioki Ee Corp | 三相交流検査装置 |
| JP2011053108A (ja) * | 2009-09-02 | 2011-03-17 | Kyoritsu Keiki Co Ltd | 逆相欠相検出器 |
| CN102854404A (zh) * | 2012-08-31 | 2013-01-02 | 南车株洲电力机车研究所有限公司 | 变流器主电路中同步信号相序判断方法与控制器 |
| CN106018985A (zh) * | 2016-05-17 | 2016-10-12 | 深圳市思达仪表有限公司 | 三相电能表电压逆相序的检测方法及其系统 |
| US10018664B2 (en) | 2013-08-06 | 2018-07-10 | Mitsubishi Electric Corporation | Phase control device |
-
1991
- 1991-01-22 JP JP563691A patent/JPH04262272A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006030149A (ja) * | 2004-07-22 | 2006-02-02 | Hioki Ee Corp | 三相交流検査装置 |
| JP4641750B2 (ja) * | 2004-07-22 | 2011-03-02 | 日置電機株式会社 | 三相交流検査装置 |
| JP2011053108A (ja) * | 2009-09-02 | 2011-03-17 | Kyoritsu Keiki Co Ltd | 逆相欠相検出器 |
| CN102854404A (zh) * | 2012-08-31 | 2013-01-02 | 南车株洲电力机车研究所有限公司 | 变流器主电路中同步信号相序判断方法与控制器 |
| US10018664B2 (en) | 2013-08-06 | 2018-07-10 | Mitsubishi Electric Corporation | Phase control device |
| CN106018985A (zh) * | 2016-05-17 | 2016-10-12 | 深圳市思达仪表有限公司 | 三相电能表电压逆相序的检测方法及其系统 |
| WO2017197823A1 (zh) * | 2016-05-17 | 2017-11-23 | 深圳市思达仪表有限公司 | 三相电能表电压逆相序的检测方法及其系统 |
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