JPH04248424A - 波形解析装置 - Google Patents
波形解析装置Info
- Publication number
- JPH04248424A JPH04248424A JP1336991A JP1336991A JPH04248424A JP H04248424 A JPH04248424 A JP H04248424A JP 1336991 A JP1336991 A JP 1336991A JP 1336991 A JP1336991 A JP 1336991A JP H04248424 A JPH04248424 A JP H04248424A
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- JP
- Japan
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- eye pattern
- level
- cross point
- determining means
- histogram
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- Pending
Links
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- 238000013500 data storage Methods 0.000 claims description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 13
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
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- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は波形解析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の波形解析装置は、図４に示すよう
に、発光素子などの被測定物３０からの光波形データを
測定するサンプリングオシロスコープ１と、サンプリン
グオシロスコープ１により測定されたデータを保存する
データ保存部２と、データ保存部２に保存されているデ
ータをベルを基準としてヒストグラムを作成しアイパタ
ーンの上端レベル，下端レベル算出を行なうアイパター
ン上・下端レベル決定手段３と、アイパターンの立ち上
がり，立ち下がり部分を関数近似するアイパターン関数
作成手段５と、作成された関数の交点を求めてクロスポ
イントを算出するクロスポイント算出手段６とを具備す
る。
に、発光素子などの被測定物３０からの光波形データを
測定するサンプリングオシロスコープ１と、サンプリン
グオシロスコープ１により測定されたデータを保存する
データ保存部２と、データ保存部２に保存されているデ
ータをベルを基準としてヒストグラムを作成しアイパタ
ーンの上端レベル，下端レベル算出を行なうアイパター
ン上・下端レベル決定手段３と、アイパターンの立ち上
がり，立ち下がり部分を関数近似するアイパターン関数
作成手段５と、作成された関数の交点を求めてクロスポ
イントを算出するクロスポイント算出手段６とを具備す
る。
【０００３】サンプリングオシロスコープ１により測定
されたアイパターンのサンプリングデータをデータ保存
部２に保存しておく。アイパターン上・下端レベル決定
手段３を実行する。内容は、図２に示すように保存され
ているデータについてレベルに関して図２（ａ）のよう
にヒストグラムをとる。図２（ｂ）に示すように、アイ
パターン上端７の部分がピーク９に、アイパターン下端
８の部分がピーク１０に対応する。これにより、アイパ
ターンの上端，下端のレベルが決定する。アイパターン
関数作成手段５では、全サンプリングデータのマトリッ
クス分布をとり、図５の立ち下がり部分２０、立ち上が
り部分２１に対応する部分をデータの分布状態から判定
する。立ち下がり部分２０、立ち上がり部分２１に対応
する部分から立ち上がり、立ち下がり状態を示す各関数
を作成する（例えば最小二乗法）。クロスポイント算出
手段６では、立ち上がり、立ち下がり両関数曲線の交点
を求め、アイパターンのクロスポイントを算出する。
されたアイパターンのサンプリングデータをデータ保存
部２に保存しておく。アイパターン上・下端レベル決定
手段３を実行する。内容は、図２に示すように保存され
ているデータについてレベルに関して図２（ａ）のよう
にヒストグラムをとる。図２（ｂ）に示すように、アイ
パターン上端７の部分がピーク９に、アイパターン下端
８の部分がピーク１０に対応する。これにより、アイパ
ターンの上端，下端のレベルが決定する。アイパターン
関数作成手段５では、全サンプリングデータのマトリッ
クス分布をとり、図５の立ち下がり部分２０、立ち上が
り部分２１に対応する部分をデータの分布状態から判定
する。立ち下がり部分２０、立ち上がり部分２１に対応
する部分から立ち上がり、立ち下がり状態を示す各関数
を作成する（例えば最小二乗法）。クロスポイント算出
手段６では、立ち上がり、立ち下がり両関数曲線の交点
を求め、アイパターンのクロスポイントを算出する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の波形解
析装置は、アイパターンのクロスポイントを決定するに
当たって関数を作成する必要がある。関数作成は全サン
プリングデータの分布を調査する必要があるため大量の
データを扱うためメモリの使用量が膨大のなってしまう
ため、関数作成手段で用いられるメモリは、高価な大容
量のものが必要となる。また、算出時間も長時間にわた
るという欠点がある。
析装置は、アイパターンのクロスポイントを決定するに
当たって関数を作成する必要がある。関数作成は全サン
プリングデータの分布を調査する必要があるため大量の
データを扱うためメモリの使用量が膨大のなってしまう
ため、関数作成手段で用いられるメモリは、高価な大容
量のものが必要となる。また、算出時間も長時間にわた
るという欠点がある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の波形解析装置は
、被測定物の光出力波形を測定するサンプリングオシロ
スコープと、前記サンプリングオシロスコープの光波形
測定データを取り込むデータ保存部と、前記データ保存
部に保存されているデータをレベルを基準としてヒスト
グラムを作成しアイパターンの上端レベル，下端レベル
算出を行なうアイパターン上・下端レベル決定手段と、
前記アイパターン上・下端レベル決定手段で決定した上
端と下端レベルの間を分割しその分割範囲内で各々時間
を基準としてヒストグラムを作成しそのピークの分布に
よりクロスポイントを算出するアイパターンクロスポイ
ント決定手段とを具備すること特徴とする。
、被測定物の光出力波形を測定するサンプリングオシロ
スコープと、前記サンプリングオシロスコープの光波形
測定データを取り込むデータ保存部と、前記データ保存
部に保存されているデータをレベルを基準としてヒスト
グラムを作成しアイパターンの上端レベル，下端レベル
算出を行なうアイパターン上・下端レベル決定手段と、
前記アイパターン上・下端レベル決定手段で決定した上
端と下端レベルの間を分割しその分割範囲内で各々時間
を基準としてヒストグラムを作成しそのピークの分布に
よりクロスポイントを算出するアイパターンクロスポイ
ント決定手段とを具備すること特徴とする。
【０００６】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【０００７】図１は本発明の一実施例を示すブロック図
である。被測定物３０の光出力波形をサンプリングオシ
ロスコープ１で測定する。測定データをデータ保存部２
に保存する。アイパターン上・下端レベル決定手段３を
実行する。内容は、データ保存部２に保存されているデ
ータについてレベルに関するヒストグラムをとる（図２
（ａ））。アイパターン上端７の部分がピーク９に、ア
イパターン下端８の部分がピーク１０に対応する。これ
によりアイパターンの上端，下端のレベルが決定する。 次にアイパターンクロスポイント決定手段４の内容を説
明する。まず、図３（ａ）のように上端，下端レベル間
を分割する。分割レベル１１を、図３（ｂ） に示すよ
うに、時間に関してヒストグラムをとる。立ち下がり部
分がピーク１５、立ち上がり部分がピーク１６のように
ヒストグラム上に２つのピークが現れる。方向２２へ分
割レベルを移動して行くと、分割レベル１２で、ヒスト
グラムのピーク位置は、図３（ｃ） に示すように、ピ
ーク１７、ピーク１８となり、分割レベル１１のピーク
位置に比べ、間隔が小さくなってきている。同様に繰り
返して行くと分割レベル１３のとき、図３（ ｄ）に示
すようにピーク１９のみが現れる。ピーク１９の時間お
よびレベルがクロスポイントとなる。
である。被測定物３０の光出力波形をサンプリングオシ
ロスコープ１で測定する。測定データをデータ保存部２
に保存する。アイパターン上・下端レベル決定手段３を
実行する。内容は、データ保存部２に保存されているデ
ータについてレベルに関するヒストグラムをとる（図２
（ａ））。アイパターン上端７の部分がピーク９に、ア
イパターン下端８の部分がピーク１０に対応する。これ
によりアイパターンの上端，下端のレベルが決定する。 次にアイパターンクロスポイント決定手段４の内容を説
明する。まず、図３（ａ）のように上端，下端レベル間
を分割する。分割レベル１１を、図３（ｂ） に示すよ
うに、時間に関してヒストグラムをとる。立ち下がり部
分がピーク１５、立ち上がり部分がピーク１６のように
ヒストグラム上に２つのピークが現れる。方向２２へ分
割レベルを移動して行くと、分割レベル１２で、ヒスト
グラムのピーク位置は、図３（ｃ） に示すように、ピ
ーク１７、ピーク１８となり、分割レベル１１のピーク
位置に比べ、間隔が小さくなってきている。同様に繰り
返して行くと分割レベル１３のとき、図３（ ｄ）に示
すようにピーク１９のみが現れる。ピーク１９の時間お
よびレベルがクロスポイントとなる。
【０００８】よって、立ち上がり、立ち下がりの関数を
作成する必要がなくなるため大容量のメモリを用いる必
要はなくなり、また、サンプリング点の分布を調査する
必要がないため、測定時間の短縮も図れる。
作成する必要がなくなるため大容量のメモリを用いる必
要はなくなり、また、サンプリング点の分布を調査する
必要がないため、測定時間の短縮も図れる。
【０００９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、立ち上
がり、立ち下がりの関数を作成する必要がなくなるため
大容量のメモリを用いる必要がなくなり、またサンプリ
ング点の分布を調査する必要はないため、測定時間の短
縮が図れるとともに、光波形の片端からクロスポイント
を検索して行くことにより、全データを検索する場合に
比べ、半分の時間でクロスポイントを決定できるという
効果を奏する。
がり、立ち下がりの関数を作成する必要がなくなるため
大容量のメモリを用いる必要がなくなり、またサンプリ
ング点の分布を調査する必要はないため、測定時間の短
縮が図れるとともに、光波形の片端からクロスポイント
を検索して行くことにより、全データを検索する場合に
比べ、半分の時間でクロスポイントを決定できるという
効果を奏する。
【図１】本発明の一実施例のブロック図である。
【図２】図１の実施例におけるアイパターン上・下端レ
ベル決定ヒストグラムを示す図である。
ベル決定ヒストグラムを示す図である。
【図３】図１の実施例におけるクロスポイント決定ヒス
トグラムを示す図である。
トグラムを示す図である。
【図４】従来例のブロック図である。
【図５】アイパターンを例示する図である。
１ サンプリングオシロスコープ２ デー
タ保存部 ３ アイパターン上・下端レベル決定手段４
アイパターンクロスポイント決定手段５ ア
イパターン関数作成手段 ６ クロスポイント算出手段 ７ アイパターン上端 ８ アイパターン下端 ９ ピーク １０ ピーク １１ 分割レベル １２ 分割レベル １３ 分割レベル １４ クロスポイント １５ ピーク １６ ピーク １７ ピーク １８ ピーク １９ ピーク ２０ 立ち下がり部分 ２１ 立ち上がり部分 ２２ 方向
タ保存部 ３ アイパターン上・下端レベル決定手段４
アイパターンクロスポイント決定手段５ ア
イパターン関数作成手段 ６ クロスポイント算出手段 ７ アイパターン上端 ８ アイパターン下端 ９ ピーク １０ ピーク １１ 分割レベル １２ 分割レベル １３ 分割レベル １４ クロスポイント １５ ピーク １６ ピーク １７ ピーク １８ ピーク １９ ピーク ２０ 立ち下がり部分 ２１ 立ち上がり部分 ２２ 方向
Claims (1)
- 【請求項１】 被測定物の光出力波形を測定するサン
プリングオシロスコープと、前記サンプリングオシロス
コープの光波形測定データを取り込むデータ保存部と、
前記データ保存部に保存されているデータをレベルを基
準としてヒストグラムを作成しアイパターンの上端レベ
ル，下端レベル算出を行なうアイパターン上・下端レベ
ル決定手段と、前記アイパターン上・下端レベル決定手
段で決定した上端と下端レベルの間を分割しその分割範
囲内で各々時間を基準としてヒストグラムを作成しその
ピークの分布によりクロスポイントを算出するアイパタ
ーンクロスポイント決定手段とを具備すること特徴とす
る波形解析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1336991A JPH04248424A (ja) | 1991-02-04 | 1991-02-04 | 波形解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1336991A JPH04248424A (ja) | 1991-02-04 | 1991-02-04 | 波形解析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04248424A true JPH04248424A (ja) | 1992-09-03 |
Family
ID=11831177
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1336991A Pending JPH04248424A (ja) | 1991-02-04 | 1991-02-04 | 波形解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04248424A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007218737A (ja) * | 2006-02-16 | 2007-08-30 | Yokogawa Electric Corp | アイパターン測定方法およびその装置 |
| JP2021110688A (ja) * | 2020-01-15 | 2021-08-02 | 株式会社明電舎 | 半導体素子診断装置および半導体素子診断方法 |
-
1991
- 1991-02-04 JP JP1336991A patent/JPH04248424A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007218737A (ja) * | 2006-02-16 | 2007-08-30 | Yokogawa Electric Corp | アイパターン測定方法およびその装置 |
| JP2021110688A (ja) * | 2020-01-15 | 2021-08-02 | 株式会社明電舎 | 半導体素子診断装置および半導体素子診断方法 |
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