JP2540755B2 - 誤り率評価装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、誤り率評価装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】従来の公知例としては特開昭６２−２１
２５８４が知られている。

【０００３】この従来例の誤り率評価装置について図面
を参照して説明する。

【０００４】図２は従来の誤り率評価装置の第一の実施
例を示すブロック図である。

【０００５】この従来例の誤り率評価装置は、各搬送波
対雑音（Ｃ／Ｎ）点での１回の測定により誤り率特性を
算出するようにして、人手を不要とし、測定の効率化を
図るものである。

【０００６】次に、この従来例の誤り率評価装置の動作
について図面を参照して説明する。

【０００７】送信側誤り率測定器２１を単なるパルス信
号発生器として用い、パルス信号２１ａをＰＣＭ変調装
置２２に印加する。ＰＣＭ変調装置２２の変調信号２２
ａに雑音付加器２３により雑音を印加し、雑音を付加さ
れた変調波２３ａをＰＣＭ復調装置２４に印加する。Ｐ
ＣＭ復調装置２４の出力２４ａのエラー数またはエラー
レイトが受信側誤り率測定器２５で測定される。ここ
で、コンピュータ２６からの制御信号２６ａにより付加
すべき雑音レベルを変化させる。そして、コンピュータ
２６において、各Ｃ／Ｎ点に対して受信側誤り率測定器
２５より出力されるエラー数またはエラーレイトに対応
する出力値２５ａを、一定の直線を示す近似式により誤
り率特性を算出する。

【０００８】次に、他の従来の誤り率評価装置について
図面を参照して説明する。

【０００９】図３は従来の誤り率評価装置の第二の実施
例を示すブロック図である。

【００１０】この従来例の誤り率評価装置は、予め複数
個の異なる電力値が書き込まれた入力電力用メモリ１
と、パターン発生器２と、入力電力値用メモリ１用のカ
ウンタ３と、入力電力用メモリ１の情報とパターン信号
とを入力して被測定物へ出力する信号発生器４と、被測
定物の信号を測定する誤り率測定器５と、誤り率値用メ
モリ６と、入力電力値用メモリ１用のカウンタ３が示す
誤り率値用メモリ６の番地に誤り率測定器５にて測定さ
れたデータを書き込むデータ書込部７と、誤り率を判定
する誤り率判定部１６と、最後まで繰り返し測定を行っ
た後入力電力用メモリ１及び誤り率値用メモリ６内デー
タから誤り率直線を表示する誤り率直線表示部１５とか
ら構成される。

【００１１】次に、従来の第二の実施例の誤り率評価装
置の動作について図面を参照して説明する。

【００１２】予め測定点全ての入力電力値を入力電力用
メモリ１に書き込んでおく。入力電力用メモリ１のカウ
ンタ３（初期値１）が示す番地の電力値とパターン発生
器２からのパターンを信号発生器４に入力し指定された
信号を被測定物へ入力する。被測定物の出力データを誤
り率測定器５に入力し誤り率を測定する。その誤り率を
データ書込部７にて測定誤り率メモリ６のカウンタ３が
示す番地に書き込む。誤り率判定部１６で必要となる最
終誤り率以下であるかどうかを判定する。判定が＜以上
＞である場合、カウンタ３を１増加させ入力電力用メモ
リ１のカウンタ３の示す番地の電力値を信号発生器に入
力し同様に測定を行う。誤り率判定部１６での判定結果
が＜以下＞となったとき、誤り率直線表示部１５にて入
力電力値用メモリ１と測定誤り率値用メモリ６とから誤
り率直線を表示する。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の誤り率
評価装置では、誤り率評価に用いられる誤り率直線（曲
線）を作成する場合、被測定物への入力電力値を変化さ
せ各値での誤り率を測定して作成するが、高信頼性が要
求される被測定物の場合、要求される誤り率が満たされ
るまで入力電力を上げて測定するため余裕を持って達成
できる誤り率についても測定してしまい、誤り率が良く
なるにつれて測定時間が長くなり作成に時間がかかると
いう問題があった。

【００１４】

【課題を解決するための手段】本発明の誤り率評価装置
は、予め複数個の異なる入力電力データを書き込んだ入
力電力値保存用メモリと、信号に印加するパターンを作
成するパターン発生器と、初期値が１であリメモリのメ
モリ番地を指定するス第一のカウンタと、第一のカウン
タが示す入力電力値用メモリのメモリ番地のデータ（電
力値）とパターン発生器からのパターンとを入力しその
信号を発生する信号発生器と、パターン発生器と同期し
信号発生器の出力を被測定物に入力しその出力を入力す
る誤り率測定器と、誤り率測定器にて測定された誤り率
を格納する測定誤り率値用メモリと、第一のカウンタが
示す測定誤り率値用メモリのメモリ番地に誤り率測定器
にて測定されたデータを書き込む第一のデータ書込部
と、第一のデータ書込部にてデータ書き込み後に第一の
カウンタを１増加しカウント値が指定値以下であるかど
うかを判定する第一の判定部と、第一の判定部でカウン
ト値が指定値以上であると判定されたとき入力電力値用
メモリに格納されているデータと測定誤り率用メモリに
格納されているデータとから誤り率直線の近似関数を作
成する関数近似部と、初期値が０であり関数近似部にて
近似関数作成後に１増加される第二のカウンタと、予め
測定が必要な誤り率値が書き込まれている指定誤り率用
メモリと、第二のカウンタ増加後に指定誤り率用メモリ
の第二のカウンタの示す番地に書かれているデータ（誤
り率）を入力し関数近似部で作成された誤り率直線近似
関数に代入しその時の入力電力値を算出する入力電力予
測部と、入力電力予測部で算出された入力電力値を入力
電力値用メモリの第一のカウンタが示す番地に書き込む
第二のデータ書込部と、指定誤り率用メモリのデータが
なくなったかどうかを判定する第二の判定部と、第二の
判定部がデータがなくなったと判定した時に入力電力用
メモリと測定誤り率用メモリとのデータから誤り率直線
を表示する誤り率直線表示部とを含むことを特徴として
いる。

【００１５】

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。

【００１６】図１は本発明による誤り率評価装置の一実
施例を示すブロック図である。

【００１７】この実施例の誤り率評価装置は、予め複数
個の異なる電力値が書き込まれた入力電力用メモリ１
と、パターン発生器２と、入力電力値用メモリ１及び誤
り率値用メモリ６用の初期値が１であるカウンタ３と、
入力電力用メモリ１の情報とパターン信号を入力して被
測定物へ出力する信号発生器４と、被測定物の信号を測
定する誤り率測定器５と、誤り率値用メモリ６と、カウ
ンタ３が示す誤り率値用メモリ６の番地に誤り率測定器
５にて測定されたデータを書き込むデータ書込部７と、
カウンタ値判定用判定部８と、入力電力用メモリ１と誤
り率値用メモリ６とのデータから誤り率直線近似関数を
作成する関数近似部９と、必要な誤り率値が予め書き込
まれている指定誤り率値メモリ１１と、指定誤り率値メ
モリ１１用の初期値が０であるカウンタ１０と、カウン
タ１０の番地が示すデータと近似関数とからその誤り率
を実現する入力電力値を算出する入力電力予測部１３
と、入力電力予測部１１で算出された入力電力値をカウ
ンタ３が示す番地に書き込むデータ書込部１４と、指定
誤り率用メモリ１１のデータがなくなったかどうかを判
定する判定部１２と、指定誤り率値用メモリ１１のデー
タにより最後まで繰り返し測定を行った後判定部１２が
データがなくなったと判定した時に入力電力用メモリ１
及び誤り率値用メモリ６内のデータから誤り率直線を表
示する誤り率直線表示部１５とから構成される。

【００１８】次に、本実施例の誤り率評価装置の動作に
ついて図面を参照して説明する。

【００１９】予め誤り率が低い段階の異なる入力電力値
を例えば３個の入力電力用メモリ１に書き込んでおく。
また、誤り率直線を作成する上で必要となる誤り率点の
値を指定誤り値用メモリ１１に書き込んでおく。入力電
力用メモリ１のカウンタ３（初期値１）が示す番地の電
力値とパターン発生器２からのパターンを信号発生器４
に入力し指定された信号を被測定物へ入力する。被測定
物の出力データを誤り率測定器５に入力し誤り率を測定
する。その誤り率をデータ書込部７にて測定誤り率メモ
リ６のカウンタ３が示す番地に書き込む。書き込み後、
カウンタ３を１増加させそのカウント値が３を越えたか
どうかを判定部８にて判定する。３以下の場合、再び入
力電力値用メモリ１のカウンタ３が示す番地の入力電力
値を信号発生器４に入力し同様に測定を行う。判定部８
の判定が３を越えたとき関数近似部９にて入力電力値用
メモリ１と測定誤り率値用メモリ６のデータから誤り率
直線の近似関数を例えば最小２乗法を用いて作成する。
作成後、カウンタ１０（初期値０）を１増加させ、指定
誤り率値用メモリ１１のカウンタ１０の示す番地に書き
込まれている誤り率値を読み出す。その値を入力値予測
部１３に入力し、関数近似部９で作成された近似関数か
ら入力電力値を予測する。その入力電力値をデータ書込
部１４にてカウンタ３の示す番地に書き込む。そのデー
タを信号発生器４に入力し、指定誤り率値用メモリ１１
に書き込まれていたデータが全て終了するまで繰り返
す。指定誤り率値用メモリ１１のデータがなくなった
（ＮＵＬＬ）とき、誤り率直線表示部１５にて入力電力
値用メモリ１と測定誤り率値用メモリ６から誤り率直線
を表示する。

【００２０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の誤り率評
価装置は、誤り率直線の近似関数を作成することによ
り、従来のように一定の増加量で入力電力値を変化させ
ないため不要な測定点を減らすことができ、入力電力値
が大きく（誤り率が良くなる＝測定時間がかかる）なっ
た場合でも無駄な測定を繰り返す必要がないため測定時
間が短縮できるという効果がある。

【００２１】また、本発明の誤り率評価装置は、予測後
測定したデータを含めて再度関数を近似することによ
り、誤り率直線がカーブした場合でも次点が予測できる
ため測定点を減らしたことによる弊害もないという効果
がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による誤り率評価装置の一実施例を示す
ブロック図である。

【図２】従来の誤り率評価装置の第一の実施例を示すブ
ロック図である。

【図３】従来の誤り率評価装置の第二の実施例を示すブ
ロック図である。

【符号の説明】

１ 入力電力値用メモリ ２ パターン発生器 ３，１０ カウンタ ４ 信号発生器 ５ 誤り率測定器 ６ 測定誤り率値用メモリ ７，１４ データ書込部 ８，１２ 判定部 ９ 関数近似部 １１ 指定誤り率値用メモリ １３ 入力値予測部 １５ 誤り率直線表示部 １６ 誤り率判定部 ２１ 送信側誤り率測定器 ２１ａ パルス信号 ２２ ＰＣＭ変調装置 ２２ａ 変調信号 ２３ 雑音付加器 ２３ａ 変調波 ２４ ＰＣＭ復調装置 ２４ａ 出力 ２５ 受信側誤り率測定器 ２５ａ 出力値 ２６ コンピュータ ２６ａ 制御信号

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】（Ａ）予め複数個の異なる入力電力データ
   を書き込んだ入力電力値保存用メモリと、（Ｂ）信号に
   印加するパターンを作成するパターン発生器と、（Ｃ）
   初期値が１でありメモリのメモリ番地を指定する第一の
   カウンタと、（Ｄ）前記第一のカウンタが示す前記入力
   電力値用メモリのメモリ番地のデータ（電力値）と前記
   パターン発生器からのパターンとを入力しその信号を発
   生する信号発生器と、（Ｅ）前記パターン発生器と同期
   し、前記信号発生器の出力を被測定物に入力し前記被測
   定物の出力を入力する誤り率測定器と、（Ｆ）前記誤り
   率測定器にて測定された誤り率を格納する測定誤り率値
   用メモリと、（Ｇ）前記第一のカウンタが示す前記測定
   誤り率値用メモリのメモリ番地に前記誤り率測定器にて
   測定されたデータを書き込む第一のデータ書込部と、
   （Ｈ）前記第一のデータ書込部にてデータ書き込み後に
   前記第一のカウンタを１増加しカウント値が指定値以下
   であるかどうかを判定する第一の判定部と、（Ｉ）前記
   第一の判定部でカウント値が指定値以上であると判定さ
   れたとき前記入力電力値用メモリに格納されているデー
   タと前記測定誤り率用メモリに格納されているデータと
   から誤り率直線の近似関数を作成する関数近似部と、
   （Ｊ）初期値が０であり前記関数近似部にて近似関数作
   成後に１増加される第二のカウンタと、（Ｋ）予め測定
   が必要な誤り率値が書き込まれている指定誤り率用メモ
   リと、（Ｌ）前記第二のカウンタ増加後に前記指定誤り
   率用メモリの前記第二のカウンタの示す番地に書かれて
   いるデータ（誤り率）を入力し前記関数近似部で作成さ
   れた誤り率直線を近似関数に代入しその時の入力電力値
   を算出する入力電力予測部と、（Ｍ）前記入力電力予測
   部で算出された入力電力値を前記入力電力値用メモリの
   前記第一のカウンタが示す番地に書き込む第二のデータ
   書込部と、（Ｎ）前記指定誤り率用メモリのデータがな
   くなったかどうかを判定する第二の判定部と、（Ｏ）前
   記第二の判定部がデータがなくなったと判定した時に前
   記入力電力用メモリと前記測定誤り率用メモリとのデー
   タから誤り率直線を表示する誤り率直線表示部と、 を含むことを特徴とする誤り率評価装置。
2. 【請求項２】 前記関数近似部が、前記第一の判定部で
   カウント値が指定値以上であると判定されたとき前記入
   力電力値用メモリに格納されているデータと前記測定誤
   り率用メモリに格納されているデータとから最小２乗法
   により誤り率直線の近似関数を作成することを特徴とす
   る請求項１記載の誤り率評価装置。