JPH04219693A - バッファ回路 - Google Patents

バッファ回路

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JPH04219693A
JPH04219693A JP3046723A JP4672391A JPH04219693A JP H04219693 A JPH04219693 A JP H04219693A JP 3046723 A JP3046723 A JP 3046723A JP 4672391 A JP4672391 A JP 4672391A JP H04219693 A JPH04219693 A JP H04219693A
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JP
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transistor
channel
output voltage
circuit
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JP3046723A
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Ching-Yuh Tsay
チング − ユ ツアイ
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Texas Instruments Inc
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Texas Instruments Inc
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    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
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    • H03K23/40Gating or clocking signals applied to all stages, i.e. synchronous counters
    • H03K23/50Gating or clocking signals applied to all stages, i.e. synchronous counters using bi-stable regenerative trigger circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/4074Power supply or voltage generation circuits, e.g. bias voltage generators, substrate voltage generators, back-up power, power control circuits
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10Regulating voltage or current
    • G05F1/46Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
    • G05F1/462Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc as a function of the requirements of the load, e.g. delay, temperature, specific voltage/current characteristic
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/24Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
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    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/147Voltage reference generators, voltage or current regulators; Internally lowered supply levels; Compensation for voltage drops

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は集積回路の分野、更に詳
細にはバッファ回路に関する。
【0002】
【従来の技術】ノイズはダイナミック・ランダム・アク
セス・メモリ(DRAM)の設計に於いて常に考慮すべ
き問題であり、無効データを発生させる主要因である。 DRAMアレーのサイズが増大し、巨大記憶量を有する
DRAM(例えば単一記憶チップに1,600万ビット
以上のデータが記憶され得る16メガビットDRAM)
を形成する為により多くのメモリセルが付加されるにつ
れて、アレーへ電圧を供給する電圧線は長くなり、設計
者はそれまでにも増してよりノイズの件について関わる
ことになる。電圧線を邪魔するノイズはその線上の電圧
を振動させる原因となり得る。これはメモリ・アレーか
ら無効データが読取られる原因となり、またメモリ・ア
レーへ無効データが書込まれる原因となり得る。
【0003】VLSI回路の中には、その設計と動作に
調整電圧を用いるものがある。調整電圧の利用は、ノイ
ズ制御に於いてVLSI設計全体の強固さを増すと信じ
られている。調整電圧は外的電力供給からVLSI装置
へ供給され得るという事が知られている。また調整電圧
は、電圧調整回路を利用する事によってVLSIチップ
自体の上で発生され得るという事も知られている。
【0004】VLSI  DRAM設計の場合、装置の
ノイズ限界を増大するので調整電圧の利用は望ましい事
が判明している。しかしながら適当な電圧調整回路を設
計する事に於いて問題が生じる。例えばVLSI  D
RAM設計では、電圧調整回路の出力電圧への負荷は大
きく、且つアレーがデータを入力したり出力したりする
ときにスイッチ・オン及びオフを行うメモリ・アレーの
多くの異なるトランジスタの故に変化する。トランジス
タの切り替えはノイズを生じる。ノイズと負荷は出力調
整電圧が不安定になる原因となり得て、それによりその
意図する目的にとっては不適当になりがちとなる。従っ
て、装置は安定基準電圧をバッファする必要がある。
【0005】従来のバッファ装置は不適当であることが
分かって来ている。プッシュプル型出力ドライバは、出
力電圧が供給電圧の一つに接近している時に両方の出力
装置の閾電圧損失により適当ではない。代表的なAB級
型ドライバは、供給電圧が増加する時に待機電流が増加
するので適当ではない。(TTLロジック信号には、供
給電圧は+5vに設計されているが、しかしノイズ、負
荷、及びその他の要因により、供給電圧は典型的に+4
vと+6vの間を振動する事が知られている。)局部的
フィードバックの付加を持ってしても、代表的AB級型
ドライバは出力電圧が十分に大きく振動しない限りは応
答しない。加えて、出力ステージは幾らかの直流電流で
バイアスされなければならない。これは出力補償をする
ことをより一層困難にする。より良い安定制御は提供す
るが、入力と出力電圧範囲の両方での限界のせいで、単
一ステージ高利得バッファは適当ではない。二ステージ
・バッファは通常、大抵のデジタル処理には利用できな
い標準キャパシタを用いるミラー(Miller)補償
を必要とする。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従って、VLSI  
DRAMの電圧調整統計に於いて効果的に利用され得る
出力補償を備えたバッファを有する事が望ましい。理想
的には、そのバッファは出力電圧変化に応答して振動す
る能力を維持しながら、定電流を供給変化の間散逸すべ
きである。それは電流駆動を供給し、且つ出力で電流を
発生する(Source)事及び受け取る(Sink)
事の両方を可能にすべきである。それは出力電圧ノイズ
に応答する事ができるべきである。
【0007】本発明の一つの目的は、バッファの電圧供
給に近い出力電圧を提供するバッファを提供する事であ
る。
【0008】本発明の更なる目的は、小さく且つ一定の
直流電力を電圧供給の広範囲に散逸するバッファを提供
する事である。
【0009】本発明の更なる目的は、出力変化に応答す
るソースとシンク電流の両方を提供するバッファを提供
する事である。
【0010】本発明の更なる目的は、安定化の為に出力
補償を用いるバッファを提供する事である。
【0011】本発明のその他の目的と利益は、以下に続
く明細書を図面と伴に参照して当業者には明白となるで
あろう。
【0012】
【課題を解決するための手段及び作用】集積回路であっ
て、その出力電圧がその入力電圧に従う集積回路を開示
する。その集積回路は、入力電圧をシフトする為の入力
電圧レベル・シフト回路、及び出力電圧をシフトする為
の出力電圧レベル・シフト回路を有する。それは入力電
圧を出力電圧と比較する為の第1比較回路、及びシフト
入力電圧をシフト出力電圧と比較する為の第2比較回路
を有する。第1比較回路は第1制御信号を発生し、並び
に第2比較回路は第2制御信号を発生する。電圧ドライ
バ回路は制御信号を受信し且つ出力電圧を発生する。出
力電圧を補償する為のキャパシタは、第1比較回路及び
出力電圧シフト回路の両方へ印加される前に、出力電圧
へ接続され得る。
【0013】
【実施例】図1は16メガビット・ダイナミック・ラン
ダム・アクセス・メモリ(DRAM)のようなVLSI
回路のチップ上調整駆動システムを構成図形式で示す電
気図である。そのシステムは安定基準電圧、VREF、
を発生させる為の、従来のバンドギャップ電圧基準発生
回路15を含む。バンドギャップ基準発生回路15は、
性能を高める為に集積回路の部分に定電流を提供するの
に役立つ2つの追加電圧、BIAS1とBIAS2を発
生する。VREFは約+1.3ボルト程度であり、一方
BIAS1とBIAS2は更に大きく、各々約+4.0
vと+3.3v程度である。多くのそのようなバンドギ
ャップ電圧基準発生回路は当技術に於いてはよく知られ
ているので、バンドギャップ基準発生回路はこれ以上説
明しない。VREFはVREFの大きさを増加する電圧
増幅回路16へ送られる。電圧増幅回路16は、数多い
従来の配列の1つに従って構成され得る。それは、この
例に於いてバッファ17へ印加される入力電圧VINを
発生させる。バッファ17は増幅器16からの入力電力
VINに対し広範囲の値を有利に適応させるが、約+3
.3vと+4.0vの間のVINについて実行するよう
にシミュレートされた。
【0014】バッファ17は、入力電圧VINに値の近
い出力電圧VOUTを主要ドライバ18へ提供する。そ
の直流電力散逸は小さく且つ供給電圧の広範囲に渡って
一定している。それはソース及びシンク電流の両方を、
出力負荷が変化するにつれて主要ドライバ18へ供給し
、それ自体を安定させる為に出力補償を用いる。バッフ
ァ17は本発明の好ましい実施例であり、更に以下に説
明する。
【0015】図1の主要ドライバ18はメモリ・アレー
19へ電力を供給する。以下は図2についての説明であ
る。そのコンポーネントの特定の説明と動作は後に図3
の電気的略図の説明に関連して行う。図2は本発明の好
ましい実施例に従って図1のバッファを、部分的構成図
及び略図形式で示す電気図である。バッファ17はバイ
アス電流発生器20、比較器30、電圧シフト装置40
、電圧シフト装置50、比較器60、ドライバ70、並
びにキャパシタ80を含む。
【0016】図2のバイアス電流発生器20は、電圧B
IAS1及びBIAS2を受け取る。バイアス電流発生
器20は応答して、比較器30、電圧シフト装置40、
及び電圧シフト装置50に定バイアス電流入力を発生す
る。比較器30は入力電圧VINと出力電圧VOUTか
らのフィードバックを受け取る。比較器30は出力電圧
VOUTを入力電圧VINと比較し、応答してドライバ
70のp−チャンネル・プルアップ・トランジスタ71
へ入力される制御信号を生じる。出力電圧VOUTと比
較器30の間にはキャパシタ80が接続されている。キ
ャパシタ80は出力電圧VOUTへ依存しており、出力
電圧VOUTを安定させる働きをする。
【0017】図2の電圧シフト装置40は入力電圧VI
Nを受け取り、バイアス電流発生器20によってバイア
スされる。電圧シフト装置40は応答して、入力電圧V
INとは異なるレベルである比較器60へ入力される電
圧を生じる。電圧シフト装置40は入力レベル・シフト
装置として説明され得る。
【0018】電圧シフト装置50は出力電圧VOUTを
受け取り、バイアス電流発生器20の出力によってバイ
アスされる。電圧シフト装置50は応答して、出力電圧
VOUTとは異なるレベルである比較器60へ入力され
る電圧を生じる。電圧シフト装置50は出力レベル・シ
フト装置として説明され得る。比較器60は入力レベル
・シフト電圧と出力レベル・シフト電圧を受け取り、電
圧BIAS1によってバイアスされる。比較器60は入
力及び出力レベル・シフト電圧を比較し、応答してドラ
イバ70のn−チャンネル・プルダウン・トランジスタ
72へ入力される制御信号を生じる。
【0019】ドライバ70はp−チャンネル・プルアッ
プ・トランジスタ71で比較器30の出力を受け取り、
n−チャンネル・プルダウン・トランジスタ72で比較
器60の出力を受け取る。ドライバ70は応答して出力
電圧VOUTを生じる。後で更に詳しく説明するように
、比較器30の出力は主に出力電圧VOUTのレベルを
増大する為にドライバ70の能力を制御し、一方比較器
60の出力は主に出力電圧VOUTのレベルを減少させ
る為にドライバ70の能力を制御する。ドライバ70は
この様にプッシュ・プル型ドライバとして機能する。 ドライバ70は、VOUTで一定の負荷を伴う定常状態
条件で、直流電流をほとんど引き出さないように構成さ
れている。
【0020】キャパシタ80の一方の端は出力電圧VO
UTへ接続される。キャパシタ80の他方は地絡へ接続
される。ドライバ70によって生じる出力電圧VOUT
は次に比較器30、並びに負のフィードバックを提供す
る電圧シフト装置50へ入力される。
【0021】図3を参照すると、バッファ17の好まし
い実施例の電気的略図が説明されている。図3に於いて
、バイアス電流発生器20はp−チャンネル・トランジ
スタ21と22、及びn−チャンネル・トランジスタ2
3で形成される。p−チャンネル・トランジスタ21と
22は直列に接続される。p−チャンネル・トランジス
タ21のソースはVddへ接続される。(従来技術に於
いて知られているように、Vddはチップ上では典型的
に調整されておらず、しばしば+4.0ボルトと+6.
0ボルトの間を動く。)p−チャンネル・トランジスタ
21のドレインはp−チャンネル・トランジスタ22の
ソースへ接続される。p−チャンネル・トランジスタ2
2のドレインはn−チャンネル・トランジスタ23のド
レイン及びゲートへノード1で接続される。電流バイア
ス発生器20の出力はノード1で得られる。n−チャン
ネル・トランジスタ23のソースは地絡へ接続される。 電圧BIAS1はp−チャンネル・トランジスタ21の
ゲートへ接続され、電圧BIAS2はp−チャンネル・
トランジスタ22のゲートへ接続される。より良い電流
ミラー効果を保証する為に、n−チャンネル・トランジ
スタ23のトランジスタの長さが比較的長いこと、例え
ば約6ミクロン程度、が好ましい。
【0022】図3の比較器30はp−チャンネル・トラ
ンジスタ31と32、並びにn−チャンネル・トランジ
スタ33,34,及び35で形成される。比較器30は
従来技術に従って配置されており、p−チャンネル・ト
ランジスタ31及び32の電流ミラー能動負荷を有する
トランジスタ33及び34のn−チャンネルMOS差動
増幅器を備える。入力電圧VINは、n−チャンネル・
トランジスタ34のゲートへの接続を介して比較器30
へ接続される。出力電圧VOUTは、n−チャンネル・
トランジスタ33のゲートへの接続を介して比較器30
へ接続され、フィードバックを提供する。n−チャンネ
ル・トランジスタ35のゲートはノード1へ接続される
。n−チャンネル・トランジスタ35のソースは地絡へ
接続され、一方そのドレインはn−チャンネル・トラン
ジスタ33及び34のソースへ接続される。p−チャン
ネル・トランジスタ31はそのソースをVddでバイア
スされ、且つそのドレインはn−チャンネル・トランジ
スタ33のドレインへ接続される。同様に、p−チャン
ネル・トランジスタ32はそのソースをVddでバイア
スされ、且つそのドレインはn−チャンネル・トランジ
スタ34のドレインへ接続される。p−チャンネル・ト
ランジスタ31及び32のゲートは共にノード2で接続
される。また、ノード2での接続は、p−チャンネル・
トランジスタ31及びn−チャンネル・トランジスタ3
3のドレイン/ドレイン接続である。p−チャンネル・
トランジスタ32及びn−チャンネル・トランジスタ3
4のドレインは、ドライバ70のp−チャンネル・プル
アップ・トランジスタ71のゲートを制御するノード4
へ接続される。
【0023】比較器30に於いて、一定の対になってい
るトランジスタのサイズは、後で述べるようにその性能
を高める為に、良く整合される方が良い。p−チャンネ
ル・トランジスタ31及び32の幅対長さの比率は整合
する事が望ましい。n−チャンネル・トランジスタ33
及び34のその比率は整合する事が望ましい。n−チャ
ンネル・トランジスタ35は、バイアス電流発生器20
のn−チャンネル・トランジスタ23と比例したサイズ
であるので、電流発生器20の中に最小の待機電流を保
ちながら、比較器30は充分なバイアス電流で作動する
【0024】図3の電圧シフト装置40はn−チャンネ
ル・トランジスタ41,42,43,及びヒューズ44
で形成される。n−チャンネル・トランジスタ41のソ
ースはVddでバイアスされる。n−チャンネル・トラ
ンジスタ41のドレインはn−チャンネル・トランジス
タ42のドレインへノード5で接続される。n−チャン
ネル・トランジスタ43のソースは地絡でバイアスされ
、且つそのドレインはn−チャンネル・トランジスタ4
2のソースへノード6で接続される。またノード5へ接
続されるのはn−チャンネル・トランジスタ42のゲー
ト及びヒューズ44の片側である。ヒューズ44の他側
はノード6へ接続される。n−チャンネル・トランジス
タ41のゲートを駆動するのは入力電圧VINである。 n−チャンネル・トランジスタ43のゲートはバイアス
電流発生器20の出力をノード1で接続する。ノード6
から得られる電圧シフト装置40の出力は、比較器60
のp−チャンネル・トランジスタ64へ接続される。
【0025】n−チャンネル・トランジスタ41及び4
2の装置サイズは、各々が大体同じ閾電圧Vtを有する
ようにほぼ同じであることが好ましい。約10程度のト
ランジスタの大きさが適当である。またn−チャンネル
・トランジスタ43の幅対長さの比率は、後で説明する
ように、バイアス電流発生器20のn−チャンネル・ト
ランジスタ23と同じであることが好ましい。
【0026】図3の電圧シフト装置50は電圧シフト装
置40と同様に形成され、且つn−チャンネル・トラン
ジスタ51,52,53,及びヒューズ54を含む。n
−チャンネル・トランジスタ51のソースはVddでバ
イアスされる。n−チャンネル・トランジスタ51のド
レインは、n−チャンネル・トランジスタ52のドレイ
ンヘノード7で接続される。n−チャンネル・トランジ
スタ53のソースは地絡でバイアスされ、且つそのドレ
インはn−チャンネル・トランジスタ52のソースへノ
ード8で接続される。またノード7へ接続されるのは、
n−チャンネル・トランジスタ52のゲート、及びヒュ
ーズ54の片側である。ヒューズ54の他側はノード8
へ接続される。n−チャンネル・トランジスタ51のゲ
ートを駆動するのは出力電圧VOUTである。n−チャ
ンネル・トランジスタ53のゲートはバイアス電流発生
器20の出力へノード1で接続される。シフト装置50
のシフトされた出力電圧はノード8から引き出され、比
較器60のp−チャンネル・トランジスタ63へ接続さ
れる。
【0027】また、図3の電圧シフト装置50の、n−
チャンネル・トランジスタ51,52,及び53の装置
サイズと閾電圧は、電圧シフト装置40のn−チャンネ
ル・トランジスタ41,42,及び43のそれらに各々
対応することが好ましい。
【0028】図3の比較器60はn−チャンネル・トラ
ンジスタ61と62、並びにp−チャンネル・トランジ
スタ63,64,及び65で形成される。比較器60は
、n−チャンネル・トランジスタ61及び62の電流ミ
ラー能動負荷を有するトランジスタ63及び64のp−
チャンネルMOS差動増幅器を備え、従来技術に従って
比較器30と同様に配列されている。電圧シフト装置5
0の出力は、p−チャンネル・トランジスタ63のゲー
トへの接続を介して比較器60へ接続される。電圧シフ
ト装置40の出力は、p−チャンネル・トランジスタ6
4のゲートへの接続を介して比較器60へ接続される。 p−チャンネル・トランジスタ65のゲートは電圧VI
AS1へ接続される。p−チャンネル・トランジスタ6
5のソースVddへ接続され、一方そのドレインはp−
チャンネル・トランジスタ63及び64のソースへ接続
される。n−チャンネル・トランジスタ61はそのソー
スを地絡でバイアスされ、且つそのドレインをp−チャ
ンネル・トランジスタ63のドレインへ接続される。 同様に、n−チャンネル・トランジスタ62はそのソー
スを地絡でバイアスされ、及びそのドレインをp−チャ
ンネル・トランジスタ64のドレインへ接続される。n
−チャンネル・トランジスタ61及び62のゲートは共
にノード9で接続される。またノード9への接続は、n
−チャンネル・トランジスタ61及びp−チャンネル・
トランジスタ63のドレイン/ドレイン接続である。n
−チャンネル・トランジスタ62及びp−チャンネル・
トランジスタ64のドレインは、ドライバ70のn−チ
ャンネル・プルダウン・トランジスタ72のゲートを制
御するノード11へ接続される。
【0029】比較器60に於いて、比較器30に於ける
ように、一定のサイズは良く整合される方が良い。n−
チャンネル・トランジスタ61及び62の比率は約10
程度であることが望ましい。p−チャンネル・トランジ
スタ63及び64の比率は約20程度であることが望ま
しい。p−チャンネル・トランジスタ65は、電流発生
器20に最小の待機電流を保ちながら比較器60が充分
なバイアス電流で作動するように、バイアス電流発生器
20のp−チャンネル・トランジスタ21と比例したサ
イズになっている。
【0030】図3のドライバ70は、p−チャンネル・
プルアップ・トランジスタ71及びn−チャンネル・プ
ルダウン・トランジスタ72で形成されている。p−チ
ャンネル・プルアップ・トランジスタ71及びn−チャ
ンネル・プルダウン・トランジスタ72は、Vddでバ
イアスされているp−チャンネル・プルアップ・トラン
ジスタ71のソース、及び地絡でバイアスされているn
−チャンネル・プルダウン・トランジスタ72のソース
と直列に接続される。比較器30の出力はp−チャンネ
ル・プルアップ・トランジスタ71のゲートを駆動し、
並びに、比較器60の出力はn−チャンネル・プルダウ
ン・トランジスタ72のゲートを駆動する。出力電圧V
OUTは、ドライバ70のトランジスタ71及び72の
ドレインの間のノード12で得られる。
【0031】p−チャンネル・プルアップ・トランジス
タ71及びn−チャンネル・プルダウン・トランジスタ
72の装置サイズは、p−チャンネル・プルアップ・ト
ランジスタ71がn−チャンネル・トランジスタ72よ
りもずっと大きい位が好ましい。これはn−チャンネル
・プルダウン・トランジスタ72のチャンネルの長さを
増加する(例えば6ミクロン程度に)事によって達成さ
れ得る。これはまた閾電圧Vtを増加し、従ってその結
果、n−チャンネル・プルダウン・トランジスタ72に
おいて実質上ゼロ直流バイアスになる。
【0032】図3に於いてキャパシタ80は、比較器3
0のn−チャンネル・トランジスタ33のゲートへ送ら
れる前に、且つ電圧シフト装置50のn−チャンネル・
トランジスタ51のゲートへ送られる前に、出力電圧V
OUTへ接続される。キャパシタ80は約100ピコフ
ァラドである。
【0033】トランジスタ21,22,23,35,4
3,53,及び65のトランジスタのサイズの比率(チ
ャンネル幅対チャンネルの長さ)は、これらのトランジ
スタが飽和領域で作動するような比率である。
【0034】次に図2及び3を参照してバッファ17の
動作について説明する。電流発生器20については、V
ddが変化するときに、電圧BIAS1およびBIAS
2は僅かに変化するが、一方トランジスタ21及び22
を流れる電流を一定に保つ。この定電流はノード1へ接
続される装置に反映(ミラー)される。ノード1へ接続
される装置のサイズ間の比率及びトランジスタ23のサ
イズは、それらが受け取る電流ミラーの量を決定する。 トランジスタ43及び53のトランジスタ幅対長さ比を
トランジスタ23のそれと同じにすると、夫々はトラン
ジスタ23の電流と同じ電流を反映する。トランジスタ
35はトランジスタ43及び53の約5倍大きく、大体
5倍の電流を受け取る。上記のようなバッファ17の装
置サイズで、ノード1を流れる定電流は約0.5マイク
ロアンプである。トランジスタ65のトランジスタ・チ
ャンネルの長さは電流変化を最小にするに役立つような
、且つより良い電流ミラーとして機能するような長さで
ある。電圧シフト装置40及び50は、トランジスタ6
3及び64のゲートの電圧を低下させる助けをし、それ
故にトランジスタ65のドレイン電圧を低下させ、トラ
ンジスタ65が飽和状態にあることをより保証する助け
をする。
【0035】電圧シフト装置40のヒューズ44は、入
力電圧VINの異なる値に対してバッファ17を作動す
る能力を有利に提供する。電圧シフト装置40のほぼ同
じサイズのn−チャンネル・トランジスタ41及び42
では、各々ほぼ同じ閾電圧Vtを有する。ヒューズ44
が閉じられている時、それは入力電圧VINが+3.3
vの値を有するような場合であるが、ノード5及び6は
共にショートされる。n−チャンネル・トランジスタ4
2全体について電圧降下は無い。ノード6での電圧はn
−チャンネル・トランジスタ41のVtを減じたVIN
、即ち+3.3vマイナスVt  T41、に等しい。 入力電圧VINが+4.0vのより大きい値を有する場
合、ヒューズ44は開かれている。(ヒューズ44がレ
ーザーを利用することによって開かれ得るという事は、
集積回路技術に於いてよく知られている。)ノード5及
び6は分離されており、n−チャンネル・トランジスタ
42全体にVt電圧降下が存在する。ノード6での電圧
はn−チャンネル・トランジスタ41及び42のVtを
減じたVIN、即ち、+4.0vマイナス(Vt  T
41  プラスVt  T42)、に等しい。ほぼ等し
い閾電圧を有するトランジスタでは、+4.0vのVI
Nのノード6に於ける電圧は、+3.3vのVINのノ
ード6に於ける電圧にほぼ等しい。この様に入力電圧V
INは、一つまたは二つのVt低いレベルへ、ヒューズ
44が開かれているか閉じられているかに依って有利に
シフトされる事ができ、一方比較器60への入力は再設
計や再サイズ化なしに一定にそして供給電圧Vdd以下
に保持される。
【0036】電圧レベル  シフト装置50は、n−チ
ャンネル・トランジスタ52に渡って接続されているヒ
ューズ54が開かれているか閉じられているかに依って
、n−チャンネル・トランジスタ51のゲートへ印加さ
れる出力電圧VOUTが二つまたは一つのVt低いレベ
ルへシフトされる事以外は、電圧レベル・シフト装置4
0と同様に作動する。電圧シフト装置40に関する説明
と同様の事項が、ヒューズ54が開かれるか閉じられる
かを決定する。
【0037】次に比較器30に移るが、比較器30はn
−チャンネル・トランジスタ35から定電流バイアスを
受け取る。n−チャンネル・トランジスタ35は地絡へ
の電流ソースとしての役割を果たす。n−チャンネル・
トランジスタ33及び34のソースは、n−チャンネル
・トランジスタ33及び34のゲートへ印加される電圧
以下のn−チャンネル閾電圧である電圧へn−チャンネ
ル・トランジスタ35によって引き寄せられる。(入力
電圧VINはトランジスタ34のゲートへ印加され、出
力電圧VOUTはトランジスタ33のゲートへ印加され
る。)これはトランジスタ33及び34を各々のゲート
へ印加される電圧に応答する伝導性であらしめ、比較器
30の作動が電圧VINと出力電圧VOUTの間の差異
に基づくノード4への電圧を印加する事を可能にする。
【0038】上記で説明したように、トランジスタ33
及び34は相互に密に整合され、トランジスタ31及び
32は相互に密に整合され、そしてトランジスタ35が
飽和領域で作動する事が好ましい。トランジスタ対の適
格な整合で、比較器30の動作は、トランジスタ31及
び32のゲート・ソース電圧を等しくし、トランジスタ
32及び34を流れる電流がトランジスタ31及び33
を流れる電流と釣り合う点に向かう。従って、比較器3
0は定常状態に於いて、出力電圧VOUTが入力電圧V
INと等しい動作状態に達する。
【0039】例えば出力電圧VOUTが、負荷あるいは
ノイズの変化に応答して突然減少し、入力電圧VINよ
りも少なくなるとする。トランジスタ34は、トランジ
スタ34のゲート上の電圧つまり出力電圧VOUTより
も大きいそのゲート上の電圧つまり入力電圧VINのせ
いで、トランジスタ33より伝導性になる。従って電流
ソース・トランジスタ35を通る電流のバルクは、トラ
ンジスタ31及び33によってよりは、むしろトランジ
スタ32及び34によって引張られる。トランジスタ電
流・電圧関係を満たす為に、トランジスタ31に関連す
るトランジスタ32を流れる高電流が、トランジスタ3
1のドレインでの電圧をVddに向かって上昇させ、ト
ランジスタ32のドレインでの電圧を地絡に向かって下
降させる。トランジスタ34及び32のドレインがノー
ド4で下降する事により、ドライバ70のp−チャンネ
ル・プルアップ・トランジスタ71はより強く駆動され
る。それはより伝導性になり出力電圧VOUTをVdd
方向へ引き寄せ、よってそれを増加する。
【0040】次に比較器60に移るが、比較器60はp
−チャンネル・トランジスタ65から定電流バイアスを
受け取る。p−チャンネル・トランジスタ65は、その
ソースで供給電圧Vddからの電流ソースとしての役割
を果たす。p−チャンネル・トランジスタ63及び64
のソースは、p−チャンネル・トランジスタ65によっ
て、p−チャンネル・トランジスタ63及び64のゲー
トへ印加される電圧を上回るp−チャンネル閾電圧であ
る電圧へ引き寄せられる。(出力電圧VOUTよりも一
つまたは二つのVtが少ないレベル・シフト装置50の
出力が、トランジスタ63のゲートへ印加され、入力電
圧VINよりも一つまたは二つのVtが少ないレベル・
シフト装置40の出力が、トランジスタ64のゲートへ
印加される。)これはトランジスタ63及び64が各々
のゲートへ印加された電圧に応答する伝導性であらしめ
、比較器60の作動がレベル・シフト入力電圧とレベル
・シフト出力電圧VOUTの間の差異に基づくノード1
1への電圧を印加する事を可能にする。
【0041】上記で説明したように、トランジスタ63
及び64は相互に密に整合され、トランジスタ61及び
62は相互に密に整合されている事が好ましい。トラン
ジスタ対の適格な整合により、比較器60の作動は、ト
ランジスタ61及び62のゲート・ソース電圧を等しく
し、トランジスタ62及び64を流れる電流がトランジ
スタ61及び63を流れる電流と釣り合う点に向かう。
【0042】出力電圧VOUTが負荷の変化に応答して
突然増加すると、トランジスタ64のゲート上の電圧つ
まりレベル・シフト入力電圧VINよりも大きいそのゲ
ートの電圧、つまりレベル・シフト出力電圧VOUTの
せいで、トランジスタ63はトランジスタ64よりも伝
導性は小さくなる。従って、電流ソース・トランジスタ
65を通る電流のバルクは、トランジスタ61及び63
によってよりもむしろトランジスタ62及び64によっ
て引張られる。トランジスタ電流・電圧関係を満たす為
に、トランジスタ64に関連するトランジスタ63を流
れる低電流は、トランジスタ63のドレインで電圧を地
絡に向かって下降させ、並びにトランジスタ64のドレ
インで電圧をVddに向かって上昇させる。トランジス
タ62及び64のドレインが増加する事により、ドライ
バ70のn−チャンネル・プルダウン・トランジスタ7
2はより強く駆動される。それはより伝導性になり、且
つ出力電圧VOUTを地絡に向けて引き寄せ、困ってそ
れを減少させる。
【0043】ドライバ70のp−チャンネル・プルアッ
プ・トランジスタ71を制御する比較器30、及びドラ
イバ70のn−チャンネル・プルダウン・トランジスタ
72を制御する比較器60で、ドライバ70はプッシュ
・プル・ドライバとして機能する。出力電圧が減少する
時、ノード4及びノード11の両方は下がって来る。ノ
ード4はp−チャンネル・プルアップ・トランジスタ7
1からのソース電流を増加し、一方ノード11はn−チ
ャンネル・プルダウン・トランジスタ72のシンク電流
を減少させる。その半面、出力電圧が上昇する時、出力
電圧VOUTからの負のフィードバックはノード4及び
ノード11の両方を押し上げる。ノード4はp−チャン
ネル・プルアップ・トランジスタ71内のソース電流を
減少させ、及びノード11はn−チャンネル・プルダウ
ン・トランジスタ72内のシンク電流を増加させる。
【0044】バッファ17はB級型増幅器として説明さ
れ得る。定常状態ではドライバ70によってはほとんど
直流電流は流されない。トランジスタ62よりも長いチ
ャンネルの長さを有するトランジスタ72を選ぶ事によ
り、トランジスタ72の閾電圧はトランジスタ62の閾
電圧よりも大きく作られる。定常状態ではトランジスタ
72は非接続、トランジスタ71は接続されている。
【0045】バッファ17のノード12での電流は、広
範囲の動作条件に於いて本質的に一定のままであるがシ
ミュレーションによって明らかになる。表1は+3.3
vの入力電圧に関するシミュレーション・データを含む
。表2は+4.0vの入力電圧VINに関するシミュレ
ーション・データを含む。
【0046】
【表1】
【0047】
【表2】
【0048】図4は、バッファ17の動作を示すタイミ
ング図である。+6.0vのVdd用の1本、及び+4
.0vのVdd用の1本、の2本のタイミング線を示す
。両方のタイミング線について、VINは+4.0vに
等しい。回路の応答時間は水平軸上に示されており、マ
イクロ秒の約10分の1である。
【0049】Vddが+4.0vに等しい図4のタイミ
ング線を参照すると、時間t0とt1の間で負荷は増加
しより多い電流を流し、その結果出力電圧VOUTはバ
ッファ17がより多い電流を発生する(Source)
につれて減少する。時間t1とt2の間でバッファ17
は応答する。ドライバ70のp−チャンネル・プルアッ
プ・トランジスタ71はより強く駆動され、出力電圧V
OUTはVINまで引き上げられる。しかし時間t2と
t3の間で負荷は減少し、より少ない電流を流し、その
結果出力電圧VOUTはバッファがより多い電流を受け
取る(Sink)につれて増加する。時間t3とt4の
間でバッファは応答する。ドライバ70のn−チャンネ
ル・プルダウン・トランジスタ72はより強く駆動され
、出力電圧VOUTはVINまで引き下げられる。
【0050】このように本発明は、DRAMのようなV
LSI装置がノイズ制御に於いて調整電圧の降下的利用
を可能にする。それは出力補償を有し、且つ出力電圧ノ
イズに応答し得る。それは定電流を供給電圧の変化全体
にわたり散逸する。
【0051】本発明をその好ましい実施例について詳細
に説明したが、この説明は例としてのみであり、限定的
な意味に解釈されてはならない事を理解されなければな
らない。更に本発明の実施例の詳細に於ける多くの変更
、及び本発明の追加実施例は、本説明を参照して当業者
には明白であろうし且つ成され得る事を理解されなけれ
ばならない。そのような変更、及び追加実施例は特許請
求の範囲に記されるように本発明の精神と正しい範囲内
に在る事を意図するものである。以上の説明に関連して
更に下記の項を開示する。
【0052】(1)集積回路であって、第1制御信号及
び第2制御信号を受信し、並びに出力電圧を発生する為
の電圧発生回路と;出力電圧及び入力電圧を受け取り、
第1制御信号を発生する為の第1制御回路と;出力電圧
及び入力電圧を受け取り、第2制御信号を発生する為の
第2制御回路と;を含む集積回路。
【0053】(2)(1)項の集積回路に於いて、電圧
発生回路は電圧ドライバを含む。 (3)(2)項の集積回路に於いて、第1制御回路は第
1比較回路を含む。
【0054】(4)(3)項の集積回路に於いて、第2
制御回路が、入力電圧をシフトする為の入力電圧シフト
回路と;出力電圧をシフトする為の出力電圧シフト回路
と;並びにシフト入力電圧をシフトされた出力電圧と比
較する為の第2電圧比較回路と;を含む集積回路。
【0055】(5)(1)項の集積回路であって、更に
、第1及び第2制御回路によって受け取られる前に出力
電圧へ接続されるキャパシタを含む集積回路。 (6)(4)項の集積回路であって、更に、第1及び第
2制御回路によって受けとられる前に出力電圧へ接続さ
れるキャパシタを含む集積回路。
【0056】(7)(6)項の集積回路であって、更に
、バイアス電圧を受けとり、第1比較回路、第1電圧シ
フト回路、及び第2電圧シフト回路をバイアスする為に
電流を発生するバイアス電流発生回路を含む集積回路。 (8)(7)項の集積回路に於いて、第2比較器はバイ
アス電圧を受け取る。
【0057】(9)(6)項の集積回路に於いて、電圧
ドライバが、直列に接続されるプルアップ・トランジス
タ及びプルダウン・トランジスタと、プルダウン・トラ
ンジスタよりも高い電位でバイアスされるプルアップ・
トランジスタと、第1制御信号を受け取るプルアップ・
トランジスタと、並びに第2制御信号を受け取るプルダ
ウン・トランジスタと、を含む集積回路。
【0058】(10)(9)項の集積回路に於いて、第
1比較器が、n−チャンネルMOS差動増幅器と;n−
チャンネルMOS差動増幅器へ接続されるp−チャンネ
ル・トランジスタの電流ミラー能動負荷と;並びにn−
チャンネルMOS差動増幅器へ接続されるn−チャンネ
ル電流ソース・トランジスタと;を含む集積回路。
【0059】(11)(10)項の集積回路に於いて、
第2比較器が、p−チャンネルMOS差動増幅器と;p
−チャンネルMOS差動増幅器へ接続されるn−チャン
ネル・トランジスタの電流ミラー能動負荷と;並びにp
−チャンネルMOS差動増幅器へ接続されるp−チャン
ネル電流ソース・トランジスタと;を含む集積回路。
【0060】(12)バッファ回路であって、入力電圧
をシフトする為の入力電圧シフト回路と;出力電圧をシ
フトする為の出力電圧シフト回路と;入力電圧を出力電
圧と比較し、第1制御信号を発生する為の第1比較回路
と;シフト入力電圧をシフト出力電圧と比較し、第2制
御信号を発生する為の第2制御比較回路と;並びに上記
第1制御信号と上記第2制御信号を受け取り、出力電圧
を発生する為の電圧ドライバ回路と;を含むバッファ回
路。
【0061】(13)(12)項のバッファであって、
更に、出力電圧、第1比較器、及び出力電圧シフト回路
へ接続されるキャパシタを含むバッファ。
【0062】(14)(13)項のバッファに於いて、
入力電圧シフト装置は、シフト入力電圧を減少するため
にとび得るヒューズを有し、並びに出力電圧シフト装置
は、シフト出力電圧を減少するためにとび得るヒューズ
を有する。
【0063】(15)バッファとして有用な集積回路を
開示する。この集積回路は入力電圧をシフトする為の入
力電圧シフト回路40、及び出力電圧をシフトする為の
出力電圧シフト回路50を有する。それは入力電圧を出
力電圧と比較する為の第1比較回路30、及びシフト入
力電圧をシフト出力電圧と比較する為の第2比較回路6
0を有する。第1比較回路30は第1制御信号を発生し
、第2比較回路は第2制御信号を発生する。電圧ドライ
バ回路70は制御信号を受け取り出力電圧を発生する。 出力電圧を補償する為のキャパシタ80は第1比較回路
30及び出力電圧シフト回路50へ印加される前に出力
電圧へ接続され得る。
【図面の簡単な説明】
【図1】集積回路のチップ上調整駆動システム(on−
chip−regulateddriver  sys
tem)をブロック形式で示す電気図。
【図2】本発明の好ましい実施例に従って、バッファを
部分的ブロック及び部分的略図形式で示す電気図。
【図3】本発明の好ましい実施例に従って、バッファを
略図形式で示す電気図。
【図4】図2乃至3のバッファ動作を例証するタイミン
グ図。
【符号の説明】
20  バイアス電流発生器 30,60  比較器 40,50  電圧シフト装置 70  ドライバ 80  キャパシタ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  集積回路であって、第1制御信号及び
    第2制御信号を受信し、並びに出力電圧を発生する為の
    電圧発生回路と;出力電圧及び入力電圧を受け取り、第
    1制御信号を発生する為の第1制御回路と;出力電圧及
    び入力電圧を受け取り、第2制御信号を発生する為の第
    2制御回路と;を含む集積回路。
JP3046723A 1990-03-12 1991-03-12 バッファ回路 Pending JPH04219693A (ja)

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US07/493,085 US5087834A (en) 1990-03-12 1990-03-12 Buffer circuit including comparison of voltage-shifted references
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TW (1) TW198125B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH076587A (ja) * 1992-12-16 1995-01-10 Hyundai Electron Ind Co Ltd データ出力バッファー回路
JP2008104063A (ja) * 2006-10-20 2008-05-01 Canon Inc バッファ回路

Families Citing this family (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0496277B1 (en) * 1991-01-23 1997-12-29 Texas Instruments Deutschland Gmbh Output stage for a digital circuit
KR960006112Y1 (ko) * 1991-04-30 1996-07-20 강진구 잡음제거회로
KR940004408B1 (ko) * 1991-08-23 1994-05-25 삼성전자 주식회사 반도체 메모리 장치의 자동 스트레스 모드 테스트장치
US5202590A (en) * 1991-11-06 1993-04-13 Intel Corporation Subthreshold sense circuit for clamping an injected current
US5345195A (en) * 1992-10-22 1994-09-06 United Memories, Inc. Low power Vcc and temperature independent oscillator
EP0609009A3 (en) * 1993-01-28 1994-11-02 Nat Semiconductor Corp Double gate JFET circuit for controlling threshold voltages.
US5528192A (en) * 1993-11-12 1996-06-18 Linfinity Microelectronics, Inc. Bi-mode circuit for driving an output load
US5459427A (en) * 1994-05-06 1995-10-17 Motorola, Inc. DC level shifting circuit for analog circuits
US6204701B1 (en) 1994-05-31 2001-03-20 Texas Instruments Incorporated Power up detection circuit
US6060945A (en) * 1994-05-31 2000-05-09 Texas Instruments Incorporated Burn-in reference voltage generation
US5497348A (en) * 1994-05-31 1996-03-05 Texas Instruments Incorporated Burn-in detection circuit
US6127881A (en) * 1994-05-31 2000-10-03 Texas Insruments Incorporated Multiplier circuit
JP3523718B2 (ja) * 1995-02-06 2004-04-26 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
WO1999001936A1 (fr) * 1997-07-04 1999-01-14 Sukuld Enterprise Yuugen Kaisha Circuit numerique
JP3460519B2 (ja) * 1997-07-18 2003-10-27 株式会社デンソー バッファ回路
US6031389A (en) * 1997-10-16 2000-02-29 Exar Corporation Slew rate limited output driver
US6157178A (en) * 1998-05-19 2000-12-05 Cypress Semiconductor Corp. Voltage conversion/regulator circuit and method
JP3364154B2 (ja) * 1998-05-22 2003-01-08 三菱電機株式会社 感熱式流量計
KR100498437B1 (ko) * 1998-09-28 2005-09-09 삼성전자주식회사 종단회로를구비하는반도체장치및스윙전압매칭방법
JP2000196435A (ja) * 1998-12-25 2000-07-14 Nec Corp 出力バッファ回路
GB2349996A (en) * 1999-05-12 2000-11-15 Sharp Kk Voltage level converter for an active matrix LCD
JP3781924B2 (ja) * 1999-08-30 2006-06-07 ローム株式会社 電源回路
US6275178B1 (en) 2000-01-27 2001-08-14 Motorola, Inc. Variable capacitance voltage shifter and amplifier and a method for amplifying and shifting voltage
US6353335B1 (en) * 2000-02-09 2002-03-05 Conexant Systems, Inc. Negative feedback, self-biasing PECL receivers
US6381182B1 (en) * 2000-09-13 2002-04-30 Infineon Technologies Ag Combined tracking of WLL and VPP low threshold voltage in DRAM array
US6288577B1 (en) 2001-03-02 2001-09-11 Pericom Semiconductor Corp. Active fail-safe detect circuit for differential receiver
US6535054B1 (en) * 2001-12-20 2003-03-18 National Semiconductor Corporation Band-gap reference circuit with offset cancellation
US6677804B2 (en) * 2002-02-11 2004-01-13 Micron Technology, Inc. Dual bandgap voltage reference system and method for reducing current consumption during a standby mode of operation and for providing reference stability during an active mode of operation
EP1369762A1 (en) * 2002-05-29 2003-12-10 Dialog Semiconductor GmbH Active subscriber information module
US6650149B1 (en) 2002-08-15 2003-11-18 Pericom Semiconductor Corp. Latched active fail-safe circuit for protecting a differential receiver
JP2004166039A (ja) * 2002-11-14 2004-06-10 Alps Electric Co Ltd 容量素子駆動回路
KR100635167B1 (ko) * 2005-08-08 2006-10-17 삼성전기주식회사 온도 보상 바이어스 소스회로
US7521963B1 (en) * 2006-03-27 2009-04-21 National Semiconductor Corporation System and method for providing a low standby power interface for a low voltage I2C compatible bus
US7859240B1 (en) 2007-05-22 2010-12-28 Cypress Semiconductor Corporation Circuit and method for preventing reverse current flow into a voltage regulator from an output thereof
US20090051418A1 (en) * 2007-08-21 2009-02-26 Dietmar Gogl Distributed voltage regulator
CN101867364A (zh) * 2009-04-16 2010-10-20 皓威科技有限公司 用于电容性负载的驱动器的输出级电路及其控制方法
US8786324B1 (en) * 2013-05-13 2014-07-22 Via Technologies, Inc. Mixed voltage driving circuit
US8836382B1 (en) * 2013-05-13 2014-09-16 Via Technologies, Inc. Mixed voltage driving circuit
KR102313384B1 (ko) * 2015-08-13 2021-10-15 삼성전자주식회사 버퍼 회로 및 이를 포함하는 전자 회로
TWI573115B (zh) * 2016-03-11 2017-03-01 奕力科技股份有限公司 具強化迴轉率的緩衝電路及具有該緩衝電路的源極驅動電路
US20230122789A1 (en) * 2021-10-18 2023-04-20 Texas Instruments Incorporated Driver circuitry and power systems

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1185935B (it) * 1985-09-18 1987-11-18 Sgs Microelettronica Spa Stradio di uscita cmos a grande escursione di tensione e con stabilizzazione della corrente di rifoso
JP2509596B2 (ja) * 1987-01-14 1996-06-19 株式会社東芝 中間電位生成回路
US4859871A (en) * 1987-02-13 1989-08-22 Fujitsu Limited Voltage level setting circuit
JPH0690655B2 (ja) * 1987-12-18 1994-11-14 株式会社東芝 中間電位発生回路

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH076587A (ja) * 1992-12-16 1995-01-10 Hyundai Electron Ind Co Ltd データ出力バッファー回路
US5929668A (en) * 1992-12-16 1999-07-27 Hyundai Electronice Industries Co., Ltd. Data output buffer circuit
JP2008104063A (ja) * 2006-10-20 2008-05-01 Canon Inc バッファ回路

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