JPH0419829A - フォーカス制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、光ビームスポットが光記録媒体上で合焦状態
を形成するように、光ビームスポットの光記録媒体上で
の収束状態を検出してこの検出結果に基づいてフォーカ
ス制御を行うフォーカス制御系のゲイン調整装置に関し
、例えば、レーザ光源を利用して光学的に記録媒体上に
信号を記録すると共にこの記録された信号を再生する光
学式記録再生装置において利用される。

従来の技術 従来のフォーカス制御系のゲイン調整装置としては、例
えば特開平１−８９０３４号公報に記載されているよう
に、制御系の中にゲイン調整手段を介在させ、一定の外
乱信号に対する応答信号により、ループゲイン或いは位
相差を直接求めてこれらが規定の値となるように調整す
るものがある第１０図はこのような従来のフォーカス制
御系のゲイン調整装置の構成を示すブロック図である。

以下これを用いて従来のフォーカス制御について説明す
る。

半導体レーザ等の光源１より発生した光ビーム８は、カ
ンプリングレンズ２で平行光にされた後、偏光ビームス
プリンタ３で反射され、λ／４板４（λは光ビームの波
長）を通過し、対物レンズ５によって集光され、モータ
６によって回転している光デイスク７上に照射される。

そして、光ディスク７にて反射された光ビームは、対物
レンズ５、λ／４板４、及び偏光ビームスプリッタ３を
通過し、集光レンズ９を介し分割ミラー１０で２方向に
分割される。分割された一方の光ビーム１１は２分割構
造の光検出器１２に入力される。光検出器１２の出力Ａ
、Ｂは各々プリアンプ１３Ａ、１３Ｂで増幅された後、
差動増幅器１４に入力され、ナイフェツジ法により、差
動増幅器１４の出力からフォーカスずれ信号（応答信号
）を得ることができる。

また分割ミラー１０で分割された他方の光ビーム１５は
、２分割構造の光検出器１６に入力されており、この光
検出器の出力Ｃ，Ｄの差出力をとるように構成すれば、
ディスク７上の光ビームスポットがトラックに追従する
ように制御するためのトラッキングずれ信号を得ること
ができるが、本発明とは直接関係しないので説明を省略
する。

フォーカスずれ信号はフォーカス制御系の位相を補償す
るための位相補償回路１７、制御系のゲインを調整する
ための合成回路１８およびゲイン調整回路１９、電力増
幅するための駆動回路２０を介し、フォーカス制御素子
２１に入力されている。フォーカス制御素子２１は、光
デイスク７上で光ビームスポットが合焦状態を形成する
ように対物レンズ５をフォーカス方向に駆動する。

次に、この従来のフォーカス制御系におけるループゲイ
ンの調整について説明する。

装置の電源が投入されたり、あるいはディスク７が交換
されると、光ディスク７が回転し、光源１から光ビーム
８が照射され、フォーカス制御及びトラッキング制御が
かかる。

外乱発生回路３０は一定周波数の外乱信号を合成回路１
８に入力し、制御系に外乱を加える。その外乱信号及び
応答信号をＡ／Ｄ変換器２２，２３を介してマイクロコ
ンピュータ２４に取り込む。

マイクロコンピュータ２４はその二つの信号を演算処理
し、入力した外乱信号とその応答信号の比（以下、ルー
プゲインと称する）或いは入力した外乱信号とその応答
信号の位相差（以下、位相差と称する）を測定する。そ
の測定したループゲイン或いは位相差に応じて、ゲイン
調整回路１９を動作させ、フォーカス制御系が所定のル
ープゲインとなるように調整を行っていた。

即ち、従来の技術においては、以上のように、外乱信号
と応答信号により直接にループゲイン或いは位相差を求
めてゲイン調整を行っていた。

発明が解決しようとする課題 ところで、ループゲイン或いは位相差を求める場合に、
ノイズの影響を小さくシ調整精度をあげるために、高速
フーリエ変換（以下、ＦＦＴと呼ぶ）を適用しおり、そ
の演算式は、以下に示す通りである。

ｊ＝Ｏ 但し　Ａ　；サンプリングした信号の実数部Ｂ　＝サン
プリングした信号の虚数部 Ｎ　；サンプル数 Ｗ」；サンプリングデータ（外乱信号のサンプル値或い
は応答信号のサンプル値）この結果よりループゲイン及
び位相差を求めると、ループゲインＰは ・・・第３式 また位相差Ｑは Ｑ＝ＴＡＮ−’（Ａｙ／Ｂｙ）　　ＴＡＮ−’（ＡＸ／
ＢＸ）・・・第４式 但し、係数ｙは応答信号、係数Ｘは外乱信号を示二のよ
うに実際にループゲインＰを求める場合は、四則演算の
他に平方根および対数計算が必要であり、また位相差Ｑ
を求める場合も逆正接関数の計算が必要である。

このため、実際にマイクロコンピュータ上でこの計算を
実現するためには、数値計算用の専用ハードウェアを内
蔵するか、或いは外付けで具備するか、又は関数テーブ
ルをＲＯＭ上に作成しなければならない。ハードウェア
を具備する方法は装置のコストの点で、あるいは回路の
実装の点で制約を受けるため、容易に実現することは困
難であり、また関数テーブルを作成する場合においても
、メモリ容量が増加して実際に動作させる調整プログラ
ムが制約を受け、さらに計算を行う都度ＲＯＭにアクセ
スしなければならないため、調整時間が長くかかるとい
う欠点を有していた。

課題を解決するための手段 請求項第１項の発明に係るフォーカス制御系のゲイン調
整装置は、光ビームスポットが光記録媒体上で合焦状態
を形成するように、光ビームスポットの光記録媒体上で
の収束状態を検出してこの検出結果に基づいてフォーカ
ス制御を行うフォーカス制御系において、前記フォーカ
ス制御系に対し、当該制御系のループゲインが最適とし
た場合に外乱信号と応答信号との位相差が略−９０°と
なる周波数の外乱信号を加える外乱印加手段と、外乱信
号に対する前記フォーカス制御系の応答信号を測定する
信号測定手段と、この応答信号と前記外乱信号とに基づ
き前記制御系における伝達関数の実数部を算出する実数
部算出手段と、この算出された実数部が略Ｏになるよう
にループゲインを切替え制御する制御手段とを備えてい
ることを特徴としている。

また、請求項第２項の発明に係るフォーカス制御系のゲ
イン調整装置は、光ビームスポットが光記録媒体上で合
焦状態を形成するように、光ビームスポットの光記録媒
体上での収束状態を検出してこの検出結果に基づいてフ
ォーカス制御を行うフォーカス制御系において、前記フ
ォーカス制御系に対し、当該制御系のループゲインが最
適とした場合に外乱信号と応答信号との位相差が略−９
０°となる周波数の外乱信号を加える外乱印加手段と、
外乱信号に対する前記フォーカス制御系の応答信号を測
定する信号測定手段と、この応答信号と前記外乱信号と
に基づき前記制御系における伝達関数の虚数部を算出す
る虚数部算出手段と、この算出された虚数部が略所定値
になるよ−）にループゲインを切替え制御する制御手段
とを備えていることを特徴としている。

作　　　　用 上記の構成においては、フォーカス制御系における伝達
関数の実数部或いは虚数部を求め、その値が略Ｏ或いは
略所定値になるようにループゲイン切替手段を切り替え
て、ループゲインを調整している。即ち、ループゲイン
調整のためにループゲインや位相差を直接求めることを
しない。

ループゲインや位相差を直接求める演算式に比べると、
上記の伝達関数における実数部或いは虚数部を求める演
算式においては、演算する項目が少なくなったため、演
算速度が速くなり、ループケインの調整時間を短縮する
ことができる。また平方根、逆正接関数の演算のだめの
専用ハードウェアを具備する必要はなく、標準的なマイ
クロコンピュータを適用して容易にフォーカス制御系の
ループゲインの自動調整を実現することができる。

なお、フォーカス制御系における最適なループゲインは
、当該制御系に固有のものとして定まっている。

実施例１ 請求項第１項の発明の一実施例を第１区乃至第７図に基
づいて説明すれば、以下の通りである。

第１図はフォーカス制御系のゲイン調整装置を示す概略
構成図である。なお、フォーカス制御系については、従
来と同様の構成を有するので、説明の重複を避けるため
、同一の部材には同一の符号を付記してその説明を省略
している。また、本実施例では、反射光を検出してフォ
ーカス制御しているが、透過光を検出するようにしても
よい。

さらに、光ディスク７は、光磁気記録型や相変化型等を
問わず、光学的に信号の記録再生ができる光記録媒体で
あればよい。

マイクロコンビ１−夕２４“は、外乱印加手段２４′ａ
を内蔵し、そのポートＡよりフォーカス制御系のループ
ゲインが最適とした場合に外乱信号と応答信号との位相
差が略−９０°となる周波数ｆＡＯ外乱信号を合成回路
１８を介してフォーカス制御系に印加すると共に、前記
の外乱信号に対する前記フォーカス制御系の応答信号を
Ａ／Ｄ変換器２２によりサンプリング測定する。そして
、この応答信号と前記外乱信号とに基づき前記制御系に
おける伝達関数の実数部を算出し、この算出された実数
部が略Ｏとなるようにゲイン切替回路２５におけるスイ
ッチ群２５ａ・・・を切り替えて所定の抵抗値を選択し
てループゲインを切り替えるようになっている。

フォーカス制御系に入力された外乱信号とその応答信号
によって求められるフォーカス制御系の閉ループ伝達関
数の周波数特性を、ボード線図上に表すと第２図のよう
になる。またこれをナイキスト線図上に表すと第３図の
ようになる。フォーカス制御系が最適なループゲインの
とき、所定の周波数ｆＡで一９０’の位相になるので、
周波数ｆＡの信号を入力したとき、第２図上及び第３図
上の点Ａに位置するようにゲインを調整すればよい。

ここで、−９０６の位相の点Ａは、第３図のナイキスト
線図上では実数部は０となり、虚数部は所定値となる。

この関係より実際にループゲインあるいは位相差を求め
なくても簡単に調整点を見つけることができる。

先に述べたように、外乱信号および応答信号の実数部及
び虚数部は下記に示すＦＦＴの演算式より求めることが
できる。

但し ：サンプリングした信号の実数部 Ｂ　：サンプリングした信号の虚数部 Ｎ　：サンプル数 Ｚｊ：サンプリングデータ（外乱信号Ｘ或いは応答信号
Ｙｊのサンプル値） ここで、外乱信号をＡＸ＋ＢＸｉ、応答信号をＡＶ十Ｂ
Ｙｉで表すと閉ループの伝達関数ＧはＧ＝　（ＡＶ＋Ｂ
Ｙｌ　）／　（Ａｘ十Ｂｘｉ　）−（ＡＸＡ、十ＢＸＢ
、　＋（ＡＸＢＶ　　ＢＸＡＩ　）１　）／　（ＡＸ”
−ＢＸ”　）・・・第７式と展開できる。

但し、係数ｙは応答信号、係数Ｘは外乱信号を、またｉ
は虚数（ｉ２＝−１）示す。

先に述べたように位相が一９０°となるＡ点においては
、伝達関数の実数部は０となるので、マイクロコンピュ
ータ２４’によってＡｘ　、Ｂｘ、Ａｖ　、Ｂｖの各々
の値を第５式及び第６式を用いて求め、Ａｘ　Ａｙ　十
Ｂｘ　Ｂｙ　”＝０となるようにフォーカス制御系のル
ープゲインを変化させて調整する。

第７図は、フォーカス制御系のループケインを変化させ
て調整する処理を示すフローチャートであり、第４圓、
第５図はループゲインの調整を完了するまでのフォーカ
ス制御系の伝達関数の周波数特性の変化をボード線図及
びナイキスト線図でそれぞれ示したものである。また、
第６図は、最適なループゲインの状態で一９０°の位相
となる周波数でのループゲイン変化に対する実数部の値
の変化を示したものである。これらの図面を用いて、ル
ープゲイン調整の手順についてさらに詳しく説明する。

例えば、電源投入時、或いは光ディスク７の交換時にフ
ォーカス制御系のゲインを調整するようプログラムされ
ているとする。この電源投入時若しくは光ディスク７の
交換時、マイクロコンピュータ２４“は先ず初期設定を
行う（Ｓｌ）。マイクロコンピュータ２４′は、周波数
ｆＡＯ外乱信号を合成回路１８を介してフォーカス制御
系に印加すると共に、この外乱信号をサンプリングする
（Ｓ２）。印加された信号はフォーカス制御系を一巡し
、差動増幅器１４の出力よりフォーカスずれ信号として
応答があられれる。この応答信号は、位相余裕を確保し
てフォーカス制御系を安定させるための位相補償回路１
７を通過し、Ａ／Ｄ変換器２２によってサンプリングさ
れる（Ｓ３）。サンプリングされた各々のデータはマイ
クロコンピュータ２４“に入力され、マイクロコンピュ
ータ２４′は前記の外乱信号における第５式および第６
弐の演算を実行すると共に、前記入力した応答信号にお
ける第５式および第６式の演算を実行する（３４〜３７
）。次に、サンプリング回数であるｊをインクリメント
しくＳ８）、ｊがＮ−１になるまでステップ２〜７を繰
り返す（Ｓ９）。そして、ステップ１０において、伝達
関数Ｇの実数部を求める演算を実行する。この演算結果
において、例えば、フォーカス制御系のループゲインが
最適な状態から小さい方にずれているとする。このとき
周波数特性は、例えば、第４図及び第５図上のａのよう
な特性を示している。その結果よりマイクロコンピュー
タ２４′は周波数ｆＡに対応する点がＡ１点の位置にあ
ることを認識する。

演算を実行した後、マイクロコンピュータ２４゜は、求
めた実数部の値が略０より小さいので、その差に応じた
信号をゲイン切替手段２５に出力し、フォーカス制御系
のループゲインを大きくなる方向に変化させる（Ｓｌｌ
）。この操作は、ゲイン切替回路２５の抵抗値を選択す
ることで行うことができる。

その後再度、マイクロコンピュータ２４°は、応答信号
をＡ／Ｄ変換器２２によってサンプリングし、同様の演
算を実行し、伝達関数Ｃの実数部を求める。このとき周
波数口に対応する点は今度は例えばＡ２点の位置にあり
、第５図中のｂのような周波数特性となり、求めた実数
部の値は０より大きいので、その差に応じた信号をゲイ
ン切替手段２５に出力し、フォーカス制御系のループゲ
インが小さくなる方向に変化させる（Ｓ１２）。

この処理を繰り返すことで、フォーカス制御系のゲイン
を変化させ、周波数ｆＡに対応する点はＡ３、Ａ４、Ａ
５と移動していき、目標位置であるＡ５点に達する。Ａ
５点は、伝達関数Ｇの実数部の値が略Ｏに等しくなった
点である。このとき周波数特性は、第５図上のｅのよう
な特性を示しており、周波数ｆＡで位相は略−９０°に
等しくなるので、調整を完了する。

ところで、ループゲインの変化に対する実数部の値の変
化は、第６図に示すように調整の目標点であるＡ５点付
近ではＡ５点を通る直線にはぼ近位できる。したがって
略０になる点を、前記のステップを何回も繰り返すこと
で捜し出さなくとも、実数部の絶対値の等しい２点Ａ３
、Ａ４の中点を求めれば、その中点は実数部の値が０に
なる点に略一致する。よってその中点に対応するループ
ゲインを設定し調整するようにすれば、速やかに精度良
く調整点を算出することができる。

実施例２ 請求項第２項の発明に係る実施例を第８図および第９図
に基づいて説明する。なお、第１実施例で用いた第１図
乃至第５図をここで再び用いることとする。

本発明に係るフォーカス制御系のゲイン調整装置は、伝
達関数Ｇにおける虚数部を演算し、その値が所定値にと
なるように制御するものであり、マイクロコンピュータ
２４°内部での演算において、第１実施例で示したＡＸ
　ＢＹ　ＢＸ　Ａｖを算出するようになっている。

第２図に示す一９０°の位相の点Ａは、ナイキスト線図
上では、前述の通り実数部は０となり、一方、虚数部は
所定値にとなる。また、最適なループゲインの状態で一
９０°の位相となる周波数でのゲイン変化に対する虚数
部の値の変化は第８図のようになる。

上述したように位相が一９０°となるＡ点においては、
伝達関数の虚数部はＫとなるので、Ａｘ、Ｂｘ　、Ａｖ
　、Ｂｖの各々の値を第５式及び第６式を用いて求め、
ＡＸ　ＢＹ　　ＢＸ　ＡＹ　＝にとなるようにフォーカ
ス制御系のゲインを変化させて調整する。

第４図、第５図、第８図、第９図を用いて、この実施例
におけるゲイン調整の手順についてさらに詳しく説明す
る。

第１実施例と同様、電源投入時、或いは光ディスク７の
交換時にフォーカス制御系のゲインを調整するようプロ
グラムされているとする。この電源投入時、或いは光デ
ィスク７の交換時、マイクロコンピュータ２４゛は先ず
初期設定を行う（Ｓ２１）。マイクロコンピュータ２４
゛は、周波数ｆへ〇外乱信号を合成回路１８を介してフ
ォーカス制御系に印加すると共に、この外乱信号をサン
プリングする（Ｓ２２）。印加された信号はフォーカス
制御系を一巡し、差動増幅器１４の出力よりフォーカス
ずれ信号として応答があられれる。

この応答信号は、位相補償回路１７を通過し、Ａ／Ｄ変
換器２２によってサンプリングされる（Ｓ２３）。サン
プリングされた各々のデータはマイクロコンピュータ２
４゛に入力され、マイクロコンピュータ２４゛は前記の
外乱信号における第５式および第６式の演算を実行する
と共に、前記人力した応答信号における第５式および第
６式の演算を実行する（３２４〜２７）。次に、サンプ
リング回数であるｊをインクリメントしく３２Ｂ）、ｊ
がＮ−１になるまでステップ２２〜２７を繰り返す（Ｓ
２９）。そして、ステップ３０において、伝達関数Ｇの
虚数部を求める演算を実行する。この演算結果において
、例えば、フォーカス制御系のループゲインが最適な状
態から小さい方にずれているとする。このとき周波数特
性は、例えば、第４図及び第５図上のａのような特性を
示している。その結果よりマイクロコンピュータ２４′
は周波数ｆＡに対応する点がＡ１点の位置にあることを
認識する。

演算を実行した後、マイクロコンピュータ２４゛は、求
めた虚数部の値が略により大きいので、その差に応じた
信号をゲイン切替回路２５に出力し、フォーカス制御系
のループゲインを大きくなる方向に変化させる（Ｓ３１
）。

その後再度、マイクロコンピュータ２４７は、応答信号
をＡ／Ｄ変換器２２によってサンプリングし、同様の演
算を実行し、伝達関数Ｇの虚数部を求める。このとき周
波数［Ａに対応する点は今度は例えばＡ２点の位置にあ
り、第５図中のｂのような周波数特性となり、求めた虚
数部の値はＫより小さいので、その差に応じた信号をゲ
イン切替回路２５に出力し、フォーカス制御系のループ
ゲインを小さくなる方向に変化させる（Ｓ３２）。

この処理を繰り返すことで、フォーカス制御系のゲイン
を変化させ、周波数ｆＡに対応する点はＡ３、Ａ４、Ａ
５と移動していき、目標位置であるＡ５点に達する。Ａ
５点は、伝達関数Ｇの虚数部の値が略Ｋに等しくなった
点である。このとき周波数特性は、第５図上のｅのよう
な特性を示しており、周波数ｆＡで位相は略−９０°に
等しくなるので、調整を完了する。

なお、第１・第２の実施例においては、マイクロコンピ
ュータ２４゛自体がその外乱印加手段２４“ａにてその
ボートから外乱信号を制御系に加えるように構成してい
るので、外乱信号のデータはマイクロコンピュータ２４
゛が認識してお・す、従来例で示したＡ／Ｄ変換器２３
で取り込まなくてもマイクロコンピュータ２４“内部で
処理することで演算を実行できる。また、フォーカス制
御系に加える外乱信号のデータをマイクロコンピュータ
２４°の内部に、実数部、虚数部の値でテーブル状に格
納しておけば、外乱信号０ＦＦＴの演算を省略すること
ができるので、ループゲイン調整時間を一層短縮するこ
とができる。

さらに、第１・第２の実施例において、マイクロコンピ
ュータ２４゛に入力される各々のサンプリング点の振幅
値の平均、あるいは演算後の実数部或いは虚数部の値の
平均をとり、その平均値によって調整を行うことにより
調整精度を向上させることができる。また、マイクロコ
ンピュータ２４゛のポートより外乱信号を制御系に入力
するように構成したが、ＦＦＴの演算を実行することに
よって矩形波状の外乱信号を入力しても、求める実数部
あるいは虚数部の値は正弦波状の外乱信号を入力した場
合と略等しく、精度良く調整を実現できる。

そして、第１・第２の実施例では、電源投入直後或いは
、光ディスク７の交換時にフォーカス制御系のループゲ
インの調整を実行するように構成したが、マイクロコン
ピュータ２４“の持つ時間計測機能を用いて、装置が起
動した後の所定の時間毎に、または所定の時間、図示し
ないホストＣＰＵより記録再生の命令が送られてこなか
ったとき、ループゲインの調整を実行するように構成し
てもよい。

また、ホストｃｐｕから記録或いは再生の指令が発生し
たときに、或いは記録媒体上に記録すべき信号を正しく
記録できなかったり、又は記録されている信号を再生で
きなかったときに、ループゲインの調整を実行し、この
ループゲインの調整後に、再度信号の記録又は再生を行
うように構成すれば、より安定した記録、再生を行うこ
とが可能となる。

さらに、圧電素子等を用いた加速度センサやサーミスタ
等の温度センサを、光デイスク装置に取り付け、上記セ
ンサによって当該装置に振動、衝撃が加わったことを検
出した時に、又は装置内の温度が変化したことを検出し
た時に、ループゲインの調整を実行するように構成すれ
ば、装置の使用時の温度変化、外部からの振動や衝撃等
により調整の状態がずれても速やかに対応することがで
きる。

また、本装置におけるフォーカス制御系のループゲイン
の切替えは、ゲイン切替回路２５によって実現している
が、デジタル制御系においては演算結果に応じてデジタ
ルフィルタの係数を変えることで、さらに容易にループ
ゲインの切替えが行なえる。即ち、他のループゲイン切
替手段を用いる場合でも、本発明は適用できる。

発明の詳細 な説明したように本発明によれば、容易にフォーカス制
御系のループゲインの調整を行うことができ、調整のた
めの専用の演算回路あるいはメモリ等のハードウェアを
削減することができる。

またソフトによる演算の負担が軽減され、調整時間を短
くすることができる。これにより標準のマイクロコンピ
ュータによって簡単に自動調整を実４゜ 現することが可能となり、低コストで信顛性の高い装置
を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図ないし第７図は本発明の一実施例を示すものであ
って、第１図はフォーカス制御系のゲイン調整装置の構
成を示すプロ・ツク図、第２図は第１図のフォーカス制
御系の閉ループの伝達関数の周波数特性を示すボード線
図、第３図はフォーカス制御系の閉ループの伝達関数の
周波数特性を示すナイキスト線図、第４図は調整による
周波数特性の推移を説明するためのボード線図、第５図
は調整による周波数特性の推移を説明するためのナイキ
スト線図、第６図は調整による実数部の値の推移を示す
特性図、第７図はゲイン調整装置における処理の流れを
示すフローチャート、第８図および第９図は本発明の他
の実施例を示すものであって、第８図は調整による虚数
部の値の推移を示す特性図、第９図はゲイン調整装置に
おける処理の流れを示すフローチャート、第１０図は従
来のゲイン調整装置の構成を示すブロック図である。 １・・・光源、２・・・カップリングレンズ、３・・・
偏光ビームスプリンタ、４・・・ヌ／４仮、５・・・対
物レンズ、６・・・モータ、７・・・光ディスク、９・
・・集光レンズ、１０・・・分割ミラー　１２．１６・
・・光検出器、１３Ａ・・・プリアンプ、１３Ｂ・・・
プリアンプ、１４・・・差動増幅器、１７・・・位相補
償回路、１８・・・合成回路、２０・・・駆動回路、２
２・・・Ａ／Ｄ変換器、２４′・・・マイクロコンピュ
ータ、２５・・・ゲイン切替回路。 代理人　：　弁理士　　　中島　司朗 第 図 ３Ｂ ２１４’ａ 第２ 図 へ 第３図 第４図 ｒ牧詐 第６ 図 第８ 図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）光ビームスポットが光記録媒体上で合焦状態を形
   成するように、光ビームスポットの光記録媒体上での収
   束状態を検出してこの検出結果に基づいてフォーカス制
   御を行うフォーカス制御系において、 前記フォーカス制御系に対し、当該制御系のループゲイ
   ンが最適とした場合に外乱信号と応答信号との位相差が
   略−９０゜となる周波数の外乱信号を加える外乱印加手
   段と、 外乱信号に対する前記フォーカス制御系の応答信号を測
   定する信号測定手段と、 この応答信号と前記外乱信号とに基づき前記制御系にお
   ける伝達関数の実数部を算出する実数部算出手段と、 この算出された実数部が略０になるようにループゲイン
   を切替え制御する制御手段と、 を備えていることを特徴とするフォーカス制御系のゲイ
   ン調整装置。 （２）光ビームスポットが光記録媒体上で合焦状態を形
   成するように、光ビームスポットの光記録媒体上での収
   束状態を検出してこの検出結果に基づいてフォーカス制
   御を行うフォーカス制御系において、 前記フォーカス制御系に対し、当該制御系のループゲイ
   ンが最適とした場合に外乱信号と応答信号との位相差が
   略−９０゜となる周波数の外乱信号を加える外乱印加手
   段と、 外乱信号に対する前記フォーカス制御系の応答信号を測
   定する信号測定手段と、 この応答信号と前記外乱信号とに基づき前記制御系にお
   ける伝達関数の虚数部を算出する虚数部算出手段と、 この算出された虚数部が略所定値になるようにループゲ
   インを切替え制御する制御手段と、を備えていることを
   特徴とするフォーカス制御系のゲイン調整装置。 （３）フォーカス制御系を具備した装置の電源投入時或
   いは光記録媒体の交換時に、フォーカス制御系のループ
   ゲインを調整することを特徴とした請求項第１項又は請
   求項第２項に記載のフォーカス制御系のゲイン調整装置
   。 （４）時間測定手段を有し、所定の時間毎にフォーカス
   制御系のループゲインを調整することを特徴とした請求
   項第１項又は請求項第２項に記載のフォーカス制御系の
   ゲイン調整装置。 （５）時間測定手段を有し、信号の記録あるいは再生を
   行わない時間が所定時間を越えたときにフォーカス制御
   系のループゲインを調整することを特徴とした請求項第
   １項又は請求項第２項に記載のフォーカス制御系のゲイ
   ン調整装置。 （６）光記録媒体上に記録されている信号を再生できな
   かったときにフォーカス制御系のループゲインを調整し
   た後、前記の記録されている信号の再生を再度行うよう
   にしたことを特徴とした請求項第１項又は請求項第２項
   に記載のフォーカス制御系のゲイン調整装置。 （７）光記録媒体上に記録すべき信号を正しく記録でき
   なかったときにフォーカス制御系のループゲインを調整
   した後、前記の記録すべき信号の記録を再度行うように
   したことを特徴とした請求項第１項又は請求項第２項に
   記載のフォーカス制御系のゲイン調整装置。（８）フォ
   ーカス制御系を具備した装置に加わる振動、衝撃を検出
   する加速度検出手段を有し、加速度検出手段の加速度信
   号が所定の大きさをこえたときにフォーカス制御系のル
   ープゲインを調整することを特徴とした請求項第１項又
   は請求項第２項に記載のフォーカス制御系のゲイン調整
   装置。 （９）フォーカス制御系を具備した装置内部の温度を検
   出する温度検出手段を有し、温度検出手段により温度が
   所定値を上回ったことを検出したときにフォーカス制御
   系のゲインを調整することを特徴とした請求項第１項又
   は請求項第２項に記載のフォーカス制御系のゲイン調整
   装置。