JPH04188045A - 検体測定装置 - Google Patents
検体測定装置Info
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- JPH04188045A JPH04188045A JP2318989A JP31898990A JPH04188045A JP H04188045 A JPH04188045 A JP H04188045A JP 2318989 A JP2318989 A JP 2318989A JP 31898990 A JP31898990 A JP 31898990A JP H04188045 A JPH04188045 A JP H04188045A
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- JP
- Japan
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- light
- laser
- fluorescence
- photodetector
- specimen
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は個々の検体に光を照射し光学的測定を行うこと
で検体の解析を行う検体測定の分野に関する。
で検体の解析を行う検体測定の分野に関する。
[従来の技術]
検体検査装置の一例としてフローサイトメータが従来か
ら知られており、生物学分野や医療分野などで広(用い
られている。
ら知られており、生物学分野や医療分野などで広(用い
られている。
このフローサイトメータの典型的な構成を第6図に示す
。血液等のサンプル液を前処理として蛍光試薬等で染色
処理し適切な反応時間及び希釈濃度に調整する。そして
これをサンプル液容器115に入れる。また、蒸留水や
生理食塩水等のソース液はシース液容器114に入れる
。サンプル液容器115及びシース液容器114は各々
不図示の加圧機構により加圧される。そして、シースフ
ロー原理により、フローセル104内でサンプル液がシ
ース液に包まれて細い流れに収斂され、フローセル10
4内の流通部のほぼ中央部を通過する。
。血液等のサンプル液を前処理として蛍光試薬等で染色
処理し適切な反応時間及び希釈濃度に調整する。そして
これをサンプル液容器115に入れる。また、蒸留水や
生理食塩水等のソース液はシース液容器114に入れる
。サンプル液容器115及びシース液容器114は各々
不図示の加圧機構により加圧される。そして、シースフ
ロー原理により、フローセル104内でサンプル液がシ
ース液に包まれて細い流れに収斂され、フローセル10
4内の流通部のほぼ中央部を通過する。
この時、サンプル液に含まれる個々の被検粒子(細胞、
微生物、担体粒子など)すなわち検体は分離されて1粒
或いは1塊ずつ順次流れる。この被検粒子の流れに対し
て、レーザ光源101から出射されたレーザ光が、母線
方向が各々流通部方向、流通部方向と直交したシリンド
リカルレンズ102.103の組によって任意の形状に
収斂され照射される。被検粒子に照射される光ビームの
形状は、一般には流れに対して直交する方向に長径を有
する楕円形状であることが好ましい。これは個々の被検
粒子の流れの位置が流体中で若干変動しても、被検粒子
に均一の強度で光ビームが照射されるようにするためで
ある。
微生物、担体粒子など)すなわち検体は分離されて1粒
或いは1塊ずつ順次流れる。この被検粒子の流れに対し
て、レーザ光源101から出射されたレーザ光が、母線
方向が各々流通部方向、流通部方向と直交したシリンド
リカルレンズ102.103の組によって任意の形状に
収斂され照射される。被検粒子に照射される光ビームの
形状は、一般には流れに対して直交する方向に長径を有
する楕円形状であることが好ましい。これは個々の被検
粒子の流れの位置が流体中で若干変動しても、被検粒子
に均一の強度で光ビームが照射されるようにするためで
ある。
被検粒子に光ビームが照射されると散乱光が生じる。前
記散乱光の内、光路前方方向に発する前方散乱光は集光
レンズ105、光検出器106によって測光される。な
お照射された光ビームが直接、光検出器106に入射す
るのを防ぐため、光路中葉光レンズ105の手前には光
吸収性の微小なストッパ100が設けられ、照射光源か
らの直接光、及び被検粒子を光透過した透過光を除去す
るようになっている。これにより被検粒子からの散乱光
のみを測光することができる。
記散乱光の内、光路前方方向に発する前方散乱光は集光
レンズ105、光検出器106によって測光される。な
お照射された光ビームが直接、光検出器106に入射す
るのを防ぐため、光路中葉光レンズ105の手前には光
吸収性の微小なストッパ100が設けられ、照射光源か
らの直接光、及び被検粒子を光透過した透過光を除去す
るようになっている。これにより被検粒子からの散乱光
のみを測光することができる。
また前記散乱光の内、レーザ光軸及び被検粒子の流れに
それぞれ直交する側方方向に発する光は集光レンズ10
7で集光される。集光された光はダイクロイックミラー
108で反射され、散乱光の波長即ちレーザ光の波長(
Ar+レーザであれば488nm)を選択的に透過させ
るバンドパスフィルタ121を経て光検出器111にて
側方散乱光が測光される。また被検粒子が蛍光染色され
ている場合には、散乱光と共に発生する複数色の蛍光を
測光するため、集光レンズ107によって集光され、ダ
イクロイックミラー108を通過した蛍光の内、ダイク
ロイックミラー109、緑色蛍光波長用(530nm付
近)のバンドパスフィルタ122、光検出器112の組
によって緑色蛍光が検出され、また全反射ミラ−110
1赤色蛍光波長用(57Onm付近)のバンドパスフィ
ルタ123、光検出器113の組によって赤色蛍光が検
出される。光検出器106.111.112.113の
信号は各々演算回路116に人力され、該演算回路11
6において、粒子の種類や性質等の解析、あるいは抗原
抗体反応の測定等の演算が行なわれる。
それぞれ直交する側方方向に発する光は集光レンズ10
7で集光される。集光された光はダイクロイックミラー
108で反射され、散乱光の波長即ちレーザ光の波長(
Ar+レーザであれば488nm)を選択的に透過させ
るバンドパスフィルタ121を経て光検出器111にて
側方散乱光が測光される。また被検粒子が蛍光染色され
ている場合には、散乱光と共に発生する複数色の蛍光を
測光するため、集光レンズ107によって集光され、ダ
イクロイックミラー108を通過した蛍光の内、ダイク
ロイックミラー109、緑色蛍光波長用(530nm付
近)のバンドパスフィルタ122、光検出器112の組
によって緑色蛍光が検出され、また全反射ミラ−110
1赤色蛍光波長用(57Onm付近)のバンドパスフィ
ルタ123、光検出器113の組によって赤色蛍光が検
出される。光検出器106.111.112.113の
信号は各々演算回路116に人力され、該演算回路11
6において、粒子の種類や性質等の解析、あるいは抗原
抗体反応の測定等の演算が行なわれる。
〔発明が解決しようとしている課題]
しかしながら、従来は複数色の蛍光を測光するのに各蛍
光毎に専用の光検出器を使用している。
光毎に専用の光検出器を使用している。
これまでは赤色蛍光と緑色蛍光の2色、あるいはこれに
黄色蛍光を加えた3色を同時に測光する構成が一般的で
あったが、近年、更なる多色化の要望が高まり、新たな
蛍光剤の開発も進んでいる。
黄色蛍光を加えた3色を同時に測光する構成が一般的で
あったが、近年、更なる多色化の要望が高まり、新たな
蛍光剤の開発も進んでいる。
これにより同時に使用する蛍光チャンネル数が増加する
と、それに応じて光検出器の数も増加してしまうことに
なる。即ち、光学配置が複雑化し、フォトマル等の高価
な光検出器が多数必要となってしまう問題点があった。
と、それに応じて光検出器の数も増加してしまうことに
なる。即ち、光学配置が複雑化し、フォトマル等の高価
な光検出器が多数必要となってしまう問題点があった。
そこで本願出願人は特願平1−325001号等におい
て、複数の種類の光を共通の光検出器で時系列に検出す
ることで、光検出器の数量上の測定パラメータが得られ
る装置を提案した。本発明は該提案した装置の更なる改
良を目的とする。
て、複数の種類の光を共通の光検出器で時系列に検出す
ることで、光検出器の数量上の測定パラメータが得られ
る装置を提案した。本発明は該提案した装置の更なる改
良を目的とする。
[目的を達成するための手段]
上記目的を達成する本発明の検体測定装置は、個々の検
体を順次移動させる手段と、第1の照射光を生成し、検
体が移動する第1の位置に照射する第1照射手段と、第
2の照射光を生成し、前記第1の位置とは異なる第2の
位置に照射する第2照射手段と、前記第1、第2の位置
を通過する検体から発する第11第2の光学特性の光を
同一光検出器で時系列に検出する光検出手段と、前記第
11第2のそれぞれの位置に複数の検体がほぼ同時に通
過したことを判断する判断手段と、該判断手段の判断に
基づいて、前記光検出手段での検出をキャンセルする手
段とを有することを特徴とする。
体を順次移動させる手段と、第1の照射光を生成し、検
体が移動する第1の位置に照射する第1照射手段と、第
2の照射光を生成し、前記第1の位置とは異なる第2の
位置に照射する第2照射手段と、前記第1、第2の位置
を通過する検体から発する第11第2の光学特性の光を
同一光検出器で時系列に検出する光検出手段と、前記第
11第2のそれぞれの位置に複数の検体がほぼ同時に通
過したことを判断する判断手段と、該判断手段の判断に
基づいて、前記光検出手段での検出をキャンセルする手
段とを有することを特徴とする。
[実施例]
以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に説明する。
第1図、第2図は第1の実施例の構成図を表わす。第1
図は実施例の基本的な構成図であり、前方の光学系、流
体系、制御系等を有する全体システムを表わす。同図に
おいて1はサンプル液中の被検粒子(例えば生体細胞や
担体粒子)をシース液で包み込むようにして1個ずつ分
離して順に流す、いわゆるシースフローを形成するため
のフローセルで、フローセルl内の流通部を被検粒子が
紙面上方から下方に向けて流れる。シースフローを形成
するための流体系の構成は、血液試料や免疫反応液等の
サンプル液を蓄積するサンプル液容器150、それを加
圧するためのポンプ152、サンプル液の流量を調節す
る電気式レギュレータ154、生理食塩水等のシース液
を蓄積するシース液容器151、それを加圧するポンプ
153、シース液の流量を調節する電気式レギュレータ
155、そしてこれらを流体的に接続しフローセルl内
に導(ためのチューブから成る。サンプル液容器150
内をポンプ152によって加圧してサンプル液を押出し
、一方、ンース液容器151内をポンプ153で加圧し
てシース液を押出し、レギュレータ154.155の各
々による流量調節によりフローセルl内での状態、すな
わち流れ速度や個々の粒子の流れ間隔等が設定される。
図は実施例の基本的な構成図であり、前方の光学系、流
体系、制御系等を有する全体システムを表わす。同図に
おいて1はサンプル液中の被検粒子(例えば生体細胞や
担体粒子)をシース液で包み込むようにして1個ずつ分
離して順に流す、いわゆるシースフローを形成するため
のフローセルで、フローセルl内の流通部を被検粒子が
紙面上方から下方に向けて流れる。シースフローを形成
するための流体系の構成は、血液試料や免疫反応液等の
サンプル液を蓄積するサンプル液容器150、それを加
圧するためのポンプ152、サンプル液の流量を調節す
る電気式レギュレータ154、生理食塩水等のシース液
を蓄積するシース液容器151、それを加圧するポンプ
153、シース液の流量を調節する電気式レギュレータ
155、そしてこれらを流体的に接続しフローセルl内
に導(ためのチューブから成る。サンプル液容器150
内をポンプ152によって加圧してサンプル液を押出し
、一方、ンース液容器151内をポンプ153で加圧し
てシース液を押出し、レギュレータ154.155の各
々による流量調節によりフローセルl内での状態、すな
わち流れ速度や個々の粒子の流れ間隔等が設定される。
なお上記のようなポンプとレギュレータによる加圧機構
に限らず、特開昭2−213744号公報に示されるよ
うなシリンジを用いた構成を採用して、シリンジの押出
し速度を調節するようにしても良い。
に限らず、特開昭2−213744号公報に示されるよ
うなシリンジを用いた構成を採用して、シリンジの押出
し速度を調節するようにしても良い。
さて、次に前方の光学系について説明する。2゜3は波
長の異なるレーザ光源であり、この分野では一般的なA
r+レーザ、He−Neレーザ、色素レーザ、半導体レ
ーザ等のレーザ、更にはレーザに限らず様々な光源が利
用できる。なお第5図(D)のように、レーザ光源を3
つ以上用意して各光源からのレーザビームを測定条件に
応じて選択的に照射光路に導くようにすれば、更に多目
的な測定が可能な汎用性の高いシステムとなる。第5図
(D)において、74は全反射ミラー、75はハーフミ
ラ−176は光シャッタである。
長の異なるレーザ光源であり、この分野では一般的なA
r+レーザ、He−Neレーザ、色素レーザ、半導体レ
ーザ等のレーザ、更にはレーザに限らず様々な光源が利
用できる。なお第5図(D)のように、レーザ光源を3
つ以上用意して各光源からのレーザビームを測定条件に
応じて選択的に照射光路に導くようにすれば、更に多目
的な測定が可能な汎用性の高いシステムとなる。第5図
(D)において、74は全反射ミラー、75はハーフミ
ラ−176は光シャッタである。
第1図、第2図に戻って、4a、4bは照射光ビームを
フローセル部の被検領域に結像する集光レンズであり、
レーザ光源2及び3からのレーザビームをそれぞれフロ
ーセル中のla、lbの位置に結像する。結像ビームの
形状としては流れに直交する方向に長径を持つ楕円形状
が好ましい。
フローセル部の被検領域に結像する集光レンズであり、
レーザ光源2及び3からのレーザビームをそれぞれフロ
ーセル中のla、lbの位置に結像する。結像ビームの
形状としては流れに直交する方向に長径を持つ楕円形状
が好ましい。
ここで両照射位置1a、Ibの間の距離は100μm程
度であり、これは測定する粒子のサイズよりは大きく、
順次流れる粒子の流れ間隔よりは十分に短いものである
。ビーム直進方向に配置される部材5a、5bはレーザ
光源2.3からのレーザビームをそれぞれ遮断し暗視野
光学系を形成するための光ストッパであり、6は前方散
乱光を集光する集光レンズ、7は視野絞りで、la、l
bの位置に対応する共役位置にそれぞれ開ロアa。
度であり、これは測定する粒子のサイズよりは大きく、
順次流れる粒子の流れ間隔よりは十分に短いものである
。ビーム直進方向に配置される部材5a、5bはレーザ
光源2.3からのレーザビームをそれぞれ遮断し暗視野
光学系を形成するための光ストッパであり、6は前方散
乱光を集光する集光レンズ、7は視野絞りで、la、l
bの位置に対応する共役位置にそれぞれ開ロアa。
7bが設けられる。8a、8bはla、lb位位置らの
前方散乱光を検知する光検出器である。
前方散乱光を検知する光検出器である。
なお2本のレーザビームを形成するのに必ずしも2個の
レーザ光源を用意する必要はない。例えば第5図(A)
(B)(C)のように単一レーザ光源からのビームを、
ミラ一部材によって2本に分岐しても良い。この時、第
5図(B)(C)ような形態を取れば波長の異なる複数
のビームが得られる。第5図(A)は短波長のシングル
モードレーザからのレーザビームをハーフミラ−71と
全反射ミラー72によって同−波長の2光束を作り出す
光学系である。又、第5図(B)はレーザビームをハー
フミラ−71と全反射ミラー72によって2光束に分岐
して、それぞれの分岐ビームを波長変換部材772.7
7b (非線形光学素子やAOなど)によって波長変換
することにより異なる波長の2光束を作り出す光学系で
ある。更に第5図(C)は複数波長のマルチモードレー
ザがらのレーザビームをダイクロイックミラー73で興
なる波長の2光束に分岐して、異なる波長の2光束を作
り出す光学系である。
レーザ光源を用意する必要はない。例えば第5図(A)
(B)(C)のように単一レーザ光源からのビームを、
ミラ一部材によって2本に分岐しても良い。この時、第
5図(B)(C)ような形態を取れば波長の異なる複数
のビームが得られる。第5図(A)は短波長のシングル
モードレーザからのレーザビームをハーフミラ−71と
全反射ミラー72によって同−波長の2光束を作り出す
光学系である。又、第5図(B)はレーザビームをハー
フミラ−71と全反射ミラー72によって2光束に分岐
して、それぞれの分岐ビームを波長変換部材772.7
7b (非線形光学素子やAOなど)によって波長変換
することにより異なる波長の2光束を作り出す光学系で
ある。更に第5図(C)は複数波長のマルチモードレー
ザがらのレーザビームをダイクロイックミラー73で興
なる波長の2光束に分岐して、異なる波長の2光束を作
り出す光学系である。
第1図の構成において、レーザ光源2より出射されたレ
ーザ光は集光レンズ4aにより集光され被検領域1aに
照射される。この被検領域1aに被検粒子が通過すると
該被検粒子によって光散乱が起き、この時、被検粒子が
蛍光染色されていれば蛍光も励起されて散乱光と共に発
生する。前記発生する散乱光の内の一部は光路前方方向
に進み前方散乱光となる。この前方散乱光は集光レンズ
6、及び視野絞り7の開口部7aを経て、光検出器8a
により強度検出され第1の前方散乱信号が得られる。同
様にして、レーザ光源3より出射されたレーザ光は集光
レンズ4bにより集光され被検領域1bに照射される。
ーザ光は集光レンズ4aにより集光され被検領域1aに
照射される。この被検領域1aに被検粒子が通過すると
該被検粒子によって光散乱が起き、この時、被検粒子が
蛍光染色されていれば蛍光も励起されて散乱光と共に発
生する。前記発生する散乱光の内の一部は光路前方方向
に進み前方散乱光となる。この前方散乱光は集光レンズ
6、及び視野絞り7の開口部7aを経て、光検出器8a
により強度検出され第1の前方散乱信号が得られる。同
様にして、レーザ光源3より出射されたレーザ光は集光
レンズ4bにより集光され被検領域1bに照射される。
この被検領域1bに被検粒子が通過すると、前方散乱光
は開口部7bを経て、光検出器8bにより強度検出され
第2の前方散乱信号が得られる。
は開口部7bを経て、光検出器8bにより強度検出され
第2の前方散乱信号が得られる。
又、160は入力設定手段であり、システムの各種モー
ド、被検粒子の流速や通過間隔、使用する蛍光剤の種類
、測定項目等、様々な測定条件を入力設定する。161
は記憶演算回路であり、光検出器8a、8bの出力、お
よび後述の側方の光学系の光検出器25.23の出力が
、ゲイン切換え可能な増幅アンプ、ピークホールド回路
、積分回路、A/Dコンバータ等を介して取込まれ、ピ
ーク値や積分値のデジタルデータが記憶手段に記憶され
る。このデータを基に後に粒子解析の演算がなされ、こ
の結果はCRTやプリンタ等の出力手段に出力される。
ド、被検粒子の流速や通過間隔、使用する蛍光剤の種類
、測定項目等、様々な測定条件を入力設定する。161
は記憶演算回路であり、光検出器8a、8bの出力、お
よび後述の側方の光学系の光検出器25.23の出力が
、ゲイン切換え可能な増幅アンプ、ピークホールド回路
、積分回路、A/Dコンバータ等を介して取込まれ、ピ
ーク値や積分値のデジタルデータが記憶手段に記憶され
る。このデータを基に後に粒子解析の演算がなされ、こ
の結果はCRTやプリンタ等の出力手段に出力される。
解析方法に関してはヒストグラムやサイトグラムを用い
た統計的処理が一般的であるが、詳細な説明はここでは
省略する。又、該記憶演算手段161は2つの前方散乱
光の検出出力タイミングから流速の算出、誤測定データ
の取込みキャンセル等を行なう機能も備えている。16
2はコントロール手段でありシステムの各種動作手段の
総合的なコントロールを行なう。具体的には、ポンプ1
52,153の駆動、電気式レギュレータ154,15
5の調節、レーザ光源2,3の各々の0N10FF制御
、後述する蛍光検出レベルの切換え等である。
た統計的処理が一般的であるが、詳細な説明はここでは
省略する。又、該記憶演算手段161は2つの前方散乱
光の検出出力タイミングから流速の算出、誤測定データ
の取込みキャンセル等を行なう機能も備えている。16
2はコントロール手段でありシステムの各種動作手段の
総合的なコントロールを行なう。具体的には、ポンプ1
52,153の駆動、電気式レギュレータ154,15
5の調節、レーザ光源2,3の各々の0N10FF制御
、後述する蛍光検出レベルの切換え等である。
次に第2図を用いて側方の光学系の説明を行なう。第2
図は第1図を側方から見た図であり側方の光学系を詳細
に表わしている。図中、11は集光レンズであり、レー
ザ光源2,3からの照射レーザビーム直進方向と直交す
る側方方向に発する光を集光する。13は視野絞りで、
la、lbの両位置に対応した共役位置に開口部13a
、13bが設けられる。14a、14bは平行平板、1
5a。
図は第1図を側方から見た図であり側方の光学系を詳細
に表わしている。図中、11は集光レンズであり、レー
ザ光源2,3からの照射レーザビーム直進方向と直交す
る側方方向に発する光を集光する。13は視野絞りで、
la、lbの両位置に対応した共役位置に開口部13a
、13bが設けられる。14a、14bは平行平板、1
5a。
15はレンズであり、両部材の組によってlal。
1bからのそれぞれの光が平行光束に変換される。
21a、21b、31a、31bは被検粒子より生じた
側方散乱光及び蛍光を色分解するためのダイクロイック
ミラー、22a、22b、32a。
側方散乱光及び蛍光を色分解するためのダイクロイック
ミラー、22a、22b、32a。
32bはそれぞれの蛍光の波長を選択するバンドパスフ
ィルタであり、このダイクロイックミラーとバンドパス
フィルタの組合わせによりそれぞれの検出光波長が選択
される。26a、26b、36a。
ィルタであり、このダイクロイックミラーとバンドパス
フィルタの組合わせによりそれぞれの検出光波長が選択
される。26a、26b、36a。
36bはそれぞれ所定の透過率を有するNDフィルタで
ある。24.34はレンズ、25.35は側方散乱光及
び蛍光を検知するための光検出器であり、該光検出器と
しては検出感度の高いフォトマルチプライヤが好適であ
る。該光検出器25゜35は記憶演算手段61に接続さ
れている。ここで位置1aから発した光は開口部13a
で一旦結像し、ダイクロイックミラー21a、31a、
バンドパスフィルタ22 a、32 aSNDフィルタ
26a、36aの光路を通って光検出器25.25に導
かれてここで再結像する。一方、1トから発した光は開
口部13bで一旦結像し、ダイクロイックミラー21b
、31b、バンドパスフィルタ22b、32b、NDフ
ィルタ26b、36bの光路を通って光検出器25.2
5に導かれて再結像する。
ある。24.34はレンズ、25.35は側方散乱光及
び蛍光を検知するための光検出器であり、該光検出器と
しては検出感度の高いフォトマルチプライヤが好適であ
る。該光検出器25゜35は記憶演算手段61に接続さ
れている。ここで位置1aから発した光は開口部13a
で一旦結像し、ダイクロイックミラー21a、31a、
バンドパスフィルタ22 a、32 aSNDフィルタ
26a、36aの光路を通って光検出器25.25に導
かれてここで再結像する。一方、1トから発した光は開
口部13bで一旦結像し、ダイクロイックミラー21b
、31b、バンドパスフィルタ22b、32b、NDフ
ィルタ26b、36bの光路を通って光検出器25.2
5に導かれて再結像する。
第3図は上記側方光学系の変形例であり、第1図を上方
から見た図である。なお、前方光学系は図では省略しで
ある。図中、先の図と同一の符号は同一あるいは同等の
部材を表わす。
から見た図である。なお、前方光学系は図では省略しで
ある。図中、先の図と同一の符号は同一あるいは同等の
部材を表わす。
レーザ光源2からのレーザの照射位置1aから側方に発
する光は一旦、図中上方の光路に引き回され、コーナー
キューブやポロプリズム等の反射部材99を経て、開口
絞り13aで一旦結像し、光検出器25.35で再結像
して入射する。一方レーザ光源3からのレーザの照射位
置1bから側方に発する光は図中下方の光路に導かれ、
開口絞り13bで一旦結像し、共通の光検出器25.3
5で再結像して検出される。本例は基本的には先の第2
図の光学系と同等であるが、1aからの蛍光と1bから
の蛍光を検出する光路とを明確に分離して光学配置した
ところに特徴がある。
する光は一旦、図中上方の光路に引き回され、コーナー
キューブやポロプリズム等の反射部材99を経て、開口
絞り13aで一旦結像し、光検出器25.35で再結像
して入射する。一方レーザ光源3からのレーザの照射位
置1bから側方に発する光は図中下方の光路に導かれ、
開口絞り13bで一旦結像し、共通の光検出器25.3
5で再結像して検出される。本例は基本的には先の第2
図の光学系と同等であるが、1aからの蛍光と1bから
の蛍光を検出する光路とを明確に分離して光学配置した
ところに特徴がある。
第4図は被検粒子の通過に際して各光検出器で得られる
検出パルスの一例である。第4図(A)、第4図(B)
はそれぞれ光検出器8a、8bで得れれる前方散乱光の
検出出力、第4図(C)、第4図(F)はそれらを所定
閾値と比較して作り出したタイミングパルス、第4図(
E)、第4図(F)はそれぞれ光検出器25.35で得
られる蛍光の検出出力を示す。各光検出器25.35に
よる蛍光の検出出力は被検粒子がla、Ib位置を通過
する際に時系列的に得られ、これを先のタイミングパル
スを利用してそれぞれ別々に時系列に取込む。
検出パルスの一例である。第4図(A)、第4図(B)
はそれぞれ光検出器8a、8bで得れれる前方散乱光の
検出出力、第4図(C)、第4図(F)はそれらを所定
閾値と比較して作り出したタイミングパルス、第4図(
E)、第4図(F)はそれぞれ光検出器25.35で得
られる蛍光の検出出力を示す。各光検出器25.35に
よる蛍光の検出出力は被検粒子がla、Ib位置を通過
する際に時系列的に得られ、これを先のタイミングパル
スを利用してそれぞれ別々に時系列に取込む。
以上のように本実施例では側方2個の検出器で4チヤン
ネル検出が可能で、これに2つの前方散乱光を加えた計
6種類の異なる光学特性の光が検出可能となる。
ネル検出が可能で、これに2つの前方散乱光を加えた計
6種類の異なる光学特性の光が検出可能となる。
なお、以上の説明では側方の光検出器の数が2個の実施
例を示したが、検出器の個数はこれに限定されるもので
は無い。1個であれば一般的な従来例と同様、2色の蛍
光を単一の光検出器で得ることができ
−一装置構成が非常に簡略なものとな る。又、光検出器の数が3個以上であれば更に多くのパ
ラメータを得ることができる。又、側方の光検出器で検
出するのは蛍光には限らず側方散乱光を検出するように
しても良い。
例を示したが、検出器の個数はこれに限定されるもので
は無い。1個であれば一般的な従来例と同様、2色の蛍
光を単一の光検出器で得ることができ
−一装置構成が非常に簡略なものとな る。又、光検出器の数が3個以上であれば更に多くのパ
ラメータを得ることができる。又、側方の光検出器で検
出するのは蛍光には限らず側方散乱光を検出するように
しても良い。
さて以上はシステムの基本的な形態の説明であるが、次
に実施例のシステムの特徴的な機能についてそれぞれ説
明する。
に実施例のシステムの特徴的な機能についてそれぞれ説
明する。
(1)1 に、じたレーザ
本実施例のシステムを多目的に使用する場合、測定目的
や使用する蛍光剤の種類によっては、必ずしも2つのレ
ーザ光波長は必要ではなく片方だけで事足りる場合もあ
る。あるいは第11図(D)のように3種類以上の光源
からのレーザービームを選択的に照射する形態を取った
場合は、使用しないレーザ光波長は不必要である。
や使用する蛍光剤の種類によっては、必ずしも2つのレ
ーザ光波長は必要ではなく片方だけで事足りる場合もあ
る。あるいは第11図(D)のように3種類以上の光源
からのレーザービームを選択的に照射する形態を取った
場合は、使用しないレーザ光波長は不必要である。
そこで本実施例のシステムでは、使用用途に応じて複数
の測定モードを切換え、使用しないレーザ光源をOFF
にする機能を有している。具体的には2本のレーザ光を
同時に照射して時系列的な測定を行なう第1のモードと
、どちらが一方のレーザ光を照射して他方を非作動にす
る第2のモードとに切換えることができる。これは入力
設定手段160において設定された測定条件に応じて、
コントロール手段162が各レーザ光源の照射の0N1
0FFを独立して行ない、非使用のレーザ光源をスリー
ブモードにするか、あるいはレーザ光源の電源を遮断す
る。これによってシステムの低電力消費化およびレーザ
寿命の延長を達成している。
の測定モードを切換え、使用しないレーザ光源をOFF
にする機能を有している。具体的には2本のレーザ光を
同時に照射して時系列的な測定を行なう第1のモードと
、どちらが一方のレーザ光を照射して他方を非作動にす
る第2のモードとに切換えることができる。これは入力
設定手段160において設定された測定条件に応じて、
コントロール手段162が各レーザ光源の照射の0N1
0FFを独立して行ない、非使用のレーザ光源をスリー
ブモードにするか、あるいはレーザ光源の電源を遮断す
る。これによってシステムの低電力消費化およびレーザ
寿命の延長を達成している。
(2)流]し2二つ【化
2つのレーザ照射位fil 1 aと1bの両地点間の
距離は一定値(約100μm)であるので、前方散乱光
検出器8a、8bの出力から作られる第4図(C)、第
4図(D)に示す両タイミングパルスの発生タイミング
を比較し、その時間差から被検粒子の通過速度すなわち
流速を求めることができる。このタイミングの比較と流
速の算出は記憶演算回路161で行ない、コントロール
手段162ではこの流速を常時フィードバックして、入
力設定手段160で設定された流速となるように電気式
レギュレータ154,155の調節を行なう。
距離は一定値(約100μm)であるので、前方散乱光
検出器8a、8bの出力から作られる第4図(C)、第
4図(D)に示す両タイミングパルスの発生タイミング
を比較し、その時間差から被検粒子の通過速度すなわち
流速を求めることができる。このタイミングの比較と流
速の算出は記憶演算回路161で行ない、コントロール
手段162ではこの流速を常時フィードバックして、入
力設定手段160で設定された流速となるように電気式
レギュレータ154,155の調節を行なう。
これにより設定された流速に常に正確に保つことができ
、安定性及び測定精度を向上させることができる。
、安定性及び測定精度を向上させることができる。
なおポンプと電気式レギュレータとによる加圧機構には
限らず、シリンジを用いた加圧機構を用いても良い。そ
の場合シリンジの押出し速度を調節するようにする。
限らず、シリンジを用いた加圧機構を用いても良い。そ
の場合シリンジの押出し速度を調節するようにする。
(3);データの ゛みキャンセル
次々と流れる被検粒子の流れ間隔は、2か所の照射位置
1a、lbの間隔(100μm程度)よりは十分に大き
く設定されているが、稀にあまり間隔を置かずに流れて
くる場合もあり、両位置にほぼ同時にそれぞれの粒子が
差し掛かることもあり得る。この場合には両位置からそ
れぞれ散乱光及び蛍光が発生して共通の光検出器に混在
して入射し混在データ検出されてしまう。
1a、lbの間隔(100μm程度)よりは十分に大き
く設定されているが、稀にあまり間隔を置かずに流れて
くる場合もあり、両位置にほぼ同時にそれぞれの粒子が
差し掛かることもあり得る。この場合には両位置からそ
れぞれ散乱光及び蛍光が発生して共通の光検出器に混在
して入射し混在データ検出されてしまう。
そこでこれを防ぐために本実施例では、la。
Ibの位置に検体がほぼ同時に通過したことを検知して
、はぼ同時に通過したと判断されたら、検出手段からの
データをキャンセルして取込まないような手段を設けて
いる。具体的には、記憶演算手段161において、第4
図(C)、第4図(D)に示すタイミングパルスの発生
タイミングがもし一致あるいは非常に接近している場合
は、la。
、はぼ同時に通過したと判断されたら、検出手段からの
データをキャンセルして取込まないような手段を設けて
いる。具体的には、記憶演算手段161において、第4
図(C)、第4図(D)に示すタイミングパルスの発生
タイミングがもし一致あるいは非常に接近している場合
は、la。
Ibの両位置に2個の被検粒子がほぼ同時に通過したと
判断して、この時の各光検出器のデータはキャンセルし
て取込まないようにしている。
判断して、この時の各光検出器のデータはキャンセルし
て取込まないようにしている。
あるいは別法として次のような方法でも良い。
粒子が1aからibに移行するまでの時間はほぼ一定と
考えられる。そこで粒子が1aを通過する時の検出パル
ス(光検出器8aの出力)が発生してから、その粒子が
1bに移行して通過するだけの所定期間の間に、再びl
a(光検出器8aの出力)から検出パルスが発生したら
、粒子が続けて流れてきたと判断して、データ取込みを
キャンセルする。
考えられる。そこで粒子が1aを通過する時の検出パル
ス(光検出器8aの出力)が発生してから、その粒子が
1bに移行して通過するだけの所定期間の間に、再びl
a(光検出器8aの出力)から検出パルスが発生したら
、粒子が続けて流れてきたと判断して、データ取込みを
キャンセルする。
以上のような手段を設けることにより、誤データの取込
みが無いため、より確実な測定が行なえる。
みが無いため、より確実な測定が行なえる。
(4) レベルの −1
一般に蛍光と散乱光の強度レベルは大きく異なり、又、
蛍光色素の種類によっても発生する蛍光光量が太き(異
なる。よって、これらを共通の光検出器で時系列に検出
するためには非常にダイナミックレンジの広い検出器が
必要になってしまう。
蛍光色素の種類によっても発生する蛍光光量が太き(異
なる。よって、これらを共通の光検出器で時系列に検出
するためには非常にダイナミックレンジの広い検出器が
必要になってしまう。
そこで本実施例では光検出器に至る各光路中に、使用す
る蛍光の発光量に応じて通過光量を調節する通過光量調
節手段(NDフィルタ26a、26b。
る蛍光の発光量に応じて通過光量を調節する通過光量調
節手段(NDフィルタ26a、26b。
36 a、 36 b)をそれぞれ設け、光検出器に
入射するそれぞれの光量の差が小さ(なるようにしてい
る。これにより大きなダイナミックレンジを有する高価
な光検出器を使用する必要がなくなり、よりローコスト
なシステムとすることができる。
入射するそれぞれの光量の差が小さ(なるようにしてい
る。これにより大きなダイナミックレンジを有する高価
な光検出器を使用する必要がなくなり、よりローコスト
なシステムとすることができる。
なお、NDフィルタには限らず、光路の遮光面積を制限
する光マスクによって通過光量を調節するようにしても
良い。
する光マスクによって通過光量を調節するようにしても
良い。
又、NDフィルタを交換できる機構を設けるかあるいは
通過光量を自由に可変調節できる機構を用い、使用する
蛍光色素に応じてこれを調節するようにすればより汎用
性の高いシステムとなる。
通過光量を自由に可変調節できる機構を用い、使用する
蛍光色素に応じてこれを調節するようにすればより汎用
性の高いシステムとなる。
(5) レベルの え 2
本実施例では上記強度レベルの切換えに関し、NDフィ
ルタの他に更に光検出器の増幅率を測定光の種類によっ
て切換える回路も有している。これは記憶演算回路16
1に光検出器25.35の出力を取込む際に、増幅アン
プのゲインをla。
ルタの他に更に光検出器の増幅率を測定光の種類によっ
て切換える回路も有している。これは記憶演算回路16
1に光検出器25.35の出力を取込む際に、増幅アン
プのゲインをla。
1bの粒子の通過に同期して切換える回路を設は光の発
光量に応じて検出感変を切換えるようにしている。この
ゲインは自由に調節することによって幅広い測定に対応
することができ、入力設定手段160から入力される測
定条件に応じて増幅のゲインを決定するようになってい
る。
光量に応じて検出感変を切換えるようにしている。この
ゲインは自由に調節することによって幅広い測定に対応
することができ、入力設定手段160から入力される測
定条件に応じて増幅のゲインを決定するようになってい
る。
さて、以上の2つの実施例は本発明の基本的構成の例で
あるが、より具体的な幾つかの使用例を以下説明する。
あるが、より具体的な幾つかの使用例を以下説明する。
なお、使用できる蛍光色素の種類及び組合わせがこれら
に限定されるものではないことは言うまでもない。
に限定されるものではないことは言うまでもない。
使」L皿」工
本例では、検体を3種類の蛍光色素で同時染色して、側
方光学系の2個の光検出器で4チヤンネル検出するもの
である。
方光学系の2個の光検出器で4チヤンネル検出するもの
である。
第1図、第2図において、レーザ光源2及び3に波長4
88nmの2個の同−Ar+レーザ光源を用いる。なお
、レーザ光源を2個用意せずに第11図(A)のように
単一の光源からのレーザビームをハーフミラ−と全反射
ミラーを用いて光学的に2光束に分けるような構成とし
ても良い。この時、2本のレーザビームの強度比を変え
て各蛍光剤の励起効率に適した強度とすると更に好まし
い。
88nmの2個の同−Ar+レーザ光源を用いる。なお
、レーザ光源を2個用意せずに第11図(A)のように
単一の光源からのレーザビームをハーフミラ−と全反射
ミラーを用いて光学的に2光束に分けるような構成とし
ても良い。この時、2本のレーザビームの強度比を変え
て各蛍光剤の励起効率に適した強度とすると更に好まし
い。
被検粒子を染色する蛍光色素の種類は波長488nmの
励起光で励起される蛍光を選択する。例えばFITC(
530n”)・PE(570°″)・D0虫1=−((
610Jm)の3種類の蛍光で染色するものとすると、
被検粒子からは488Jm、530Jm。
励起光で励起される蛍光を選択する。例えばFITC(
530n”)・PE(570°″)・D0虫1=−((
610Jm)の3種類の蛍光で染色するものとすると、
被検粒子からは488Jm、530Jm。
570Jm、610Jmの4種類の波長の光が同時に発
生することになる。なお、DCは直接488nmの波長
では励起されないが、−旦PEが励起されて発生する蛍
光(570Jm)でDCが励起されるという段階的な励
起過程を有する。
生することになる。なお、DCは直接488nmの波長
では励起されないが、−旦PEが励起されて発生する蛍
光(570Jm)でDCが励起されるという段階的な励
起過程を有する。
前処理として検体を上記3種の蛍光で染色した後に、本
実施例の装置で測定を行う。ここでダイクロイックミラ
ー21a、21b、31a、31bの光分側波長をそれ
ぞれ、510Jm、590Jm。
実施例の装置で測定を行う。ここでダイクロイックミラ
ー21a、21b、31a、31bの光分側波長をそれ
ぞれ、510Jm、590Jm。
450Jm、650Jm程度に設定し、バンドパスフィ
ルタ22 a、 22 b、 32 a、 32
bとしてそれぞれ530Jm、488Jm、570Jm
。
ルタ22 a、 22 b、 32 a、 32
bとしてそれぞれ530Jm、488Jm、570Jm
。
610Jm付近の波長の光を選択的に透過させる特性の
ものを用いて、それぞれの光学系でFITC。
ものを用いて、それぞれの光学系でFITC。
SS(側方散乱光)、PE、DCの強度検出を行なう。
被検粒子がlaの位置を通過する時、上記4種類の光が
発生するが、この時910T亨4□ 。
発生するが、この時910T亨4□ 。
−−1−、検
出器25においてはバンドパスフィルタ22aで選択さ
れたFITCの蛍光強度が検出され、検出器35におい
てはバンドパスフィルタ32aで選択されたPEの蛍光
強度が検出される。次に同一被検粒子がlbの位置を通
過する時には2==;−一番−−−−閉−じ7J−”2
3 b 、−−° 、検出器25におい
てはバンドパスフィルタ22bで選択されたSS強度が
検出され、検出器35においてはバンドパスフィルタ3
2bで選択されたDCの蛍光強度が検出される。
れたFITCの蛍光強度が検出され、検出器35におい
てはバンドパスフィルタ32aで選択されたPEの蛍光
強度が検出される。次に同一被検粒子がlbの位置を通
過する時には2==;−一番−−−−閉−じ7J−”2
3 b 、−−° 、検出器25におい
てはバンドパスフィルタ22bで選択されたSS強度が
検出され、検出器35においてはバンドパスフィルタ3
2bで選択されたDCの蛍光強度が検出される。
こうして2個の検出器で4種類の異なる光学特性の光の
測定値を得ることができる。これに光検出器8a、8b
で得られる2種類の前方散乱光強度を加えて、計6種類
の測定パラメータが得られる。
測定値を得ることができる。これに光検出器8a、8b
で得られる2種類の前方散乱光強度を加えて、計6種類
の測定パラメータが得られる。
【見丘遣
次に側方光学系で4種類の蛍光色素で同時染色した検体
を測定できる、6チヤンネル検出が可能な使用例を説明
する。
を測定できる、6チヤンネル検出が可能な使用例を説明
する。
第2図の構成に側方検出系をもう一つ付加して3個の光
検出器を有する光学系において、第2図でレーザ光源2
として波長488nmのAr+レーザ光源を、またレー
ザ光源3として波長600nmの色素レーザ光源を用い
る。なお、第5図(B)あるいは第5図(C)のような
形態をとれば一層簡略な装置になる。
検出器を有する光学系において、第2図でレーザ光源2
として波長488nmのAr+レーザ光源を、またレー
ザ光源3として波長600nmの色素レーザ光源を用い
る。なお、第5図(B)あるいは第5図(C)のような
形態をとれば一層簡略な装置になる。
被検粒子を染色する蛍光色素の種類は、波長488nm
の励起光で励起される蛍光、及び波長600nmで励起
される蛍光を選択する。例えば488Jmに適したもの
としてFITC(530Jm)、PE(570Jm)を
用い、600Jmに適したものとしてTR(610Jm
)、APC(660Jm)を用い、計4種類の蛍光で染
色する。
の励起光で励起される蛍光、及び波長600nmで励起
される蛍光を選択する。例えば488Jmに適したもの
としてFITC(530Jm)、PE(570Jm)を
用い、600Jmに適したものとしてTR(610Jm
)、APC(660Jm)を用い、計4種類の蛍光で染
色する。
前処理として検体を上記4種の蛍光で染色した後に、本
実施例の装置で測定を行う。ここで、ダイクロイックミ
ラー21a、21b、31a、31bの光分側波長をそ
れぞれ、570Jm、605Jm。
実施例の装置で測定を行う。ここで、ダイクロイックミ
ラー21a、21b、31a、31bの光分側波長をそ
れぞれ、570Jm、605Jm。
550Jm、630Jm程度に設定し、バンドパスフィ
ルタ22a、22b、32a、32b、42a。
ルタ22a、22b、32a、32b、42a。
42bとしてそれぞれ488Jm、600Jm。
530Jm、610Jm、570Jm、660Jm付近
の波長の光を選択的に透過させる特性のもの選択する。
の波長の光を選択的に透過させる特性のもの選択する。
被検粒子がAr+レーザ光が照射される1aの位置を通
過する時、488Jmの照射光でFITC。
過する時、488Jmの照射光でFITC。
PEが励起され、488Jm、530Jm、570Jm
の3種類の光が発生する。この時 −−コ−てτ=ど2−b。
の3種類の光が発生する。この時 −−コ−てτ=ど2−b。
゛ 、検出器25にてSS(488Jm)が、
検出器35でFITCが、検出器45でPEがそれぞれ
検出される。次に所定時間の後に同一の被検粒子が色素
レーザ光が照射される1bの位置を通過する時は、60
0 nmの照射光でTR。
検出器35でFITCが、検出器45でPEがそれぞれ
検出される。次に所定時間の後に同一の被検粒子が色素
レーザ光が照射される1bの位置を通過する時は、60
0 nmの照射光でTR。
APCが励起され、600Jm、610Jm、660n
mの3種類の光が発生する。この時点では、書各4検出
器25にてSS(600nm)が、検出器35でTRが
、検出器45でAPCがそれぞれ検出される。 以上の
ように本実施例では側方3個の検出器で側方散乱光2チ
ヤンネル、蛍光4チヤンネルの計6チヤンネル検出が可
能で、これに前方散乱光を加えた計7種類の異なる光学
特性の光が検出可能となる。
mの3種類の光が発生する。この時点では、書各4検出
器25にてSS(600nm)が、検出器35でTRが
、検出器45でAPCがそれぞれ検出される。 以上の
ように本実施例では側方3個の検出器で側方散乱光2チ
ヤンネル、蛍光4チヤンネルの計6チヤンネル検出が可
能で、これに前方散乱光を加えた計7種類の異なる光学
特性の光が検出可能となる。
【1丘l
上記使用例2と同様に、側方光学系で4種類の蛍光色素
で同時染色した検体を測定できる、6チヤンネル検出が
可能な別の使用例を説明する。
で同時染色した検体を測定できる、6チヤンネル検出が
可能な別の使用例を説明する。
レーザ光源2として波長633nmのHe−Neレーザ
光源、また光源3として波長488nmのAr+レーザ
光源を用い、被検粒子を染色する蛍光色素の種類は、6
33nmの励起光に適したものとしてAPC(660n
m)、UL=キニ=ヰ絆(695nm)を選択し、48
8nmの励起光に適したものとしてFITC(530n
m)、PI(620nm)を選択して、これら4種の蛍
光色素で検体を多重染色する。
光源、また光源3として波長488nmのAr+レーザ
光源を用い、被検粒子を染色する蛍光色素の種類は、6
33nmの励起光に適したものとしてAPC(660n
m)、UL=キニ=ヰ絆(695nm)を選択し、48
8nmの励起光に適したものとしてFITC(530n
m)、PI(620nm)を選択して、これら4種の蛍
光色素で検体を多重染色する。
そしてダイクロイックミラー21a、21b。
31a、31bの光分割波長をそれぞれ、640nm。
500nm、670nm、550nm程度に設定し、バ
ンドパスフィルタ22a、22b、32a。
ンドパスフィルタ22a、22b、32a。
32b、42a、42bとしてそれぞれ633nm。
488nm、660nm、520nm、695nm。
620nm付近の波長の光を選択的に透過させる特性の
もの用いる。
もの用いる。
これにより、上記使用例2と同様に、3個の光検出器を
有する側方光学系で6チヤンネルの検出が行える。
有する側方光学系で6チヤンネルの検出が行える。
[発明の効果]
以上本発明によれば、複数の光照射位置に複数の検体が
ほぼ同時に通過した場合には、検出をキャンセルして取
り込まないため、誤測定データの取り込みが無く、安定
性の高い測定が行える装置を提供することができる。
ほぼ同時に通過した場合には、検出をキャンセルして取
り込まないため、誤測定データの取り込みが無く、安定
性の高い測定が行える装置を提供することができる。
第1図は本発明の実施例の構成図、
第2図は実施例の側方の光学系の構成図、第3図は側方
の光学系の変形例の図、 第4図は実施例の信号波形図、 第5図は照射光学系の変形例の図、 第6図は従来例の構成図、 であり、図中の主な符号は、 1・・・・フローセル、 2.3・・・・レーザ光源、 8・・・・光検出器、 22.32・・・・バンドパスフィルタ、25.35・
・・・光検出器、 26.36・・・・NDフィルタ、 ¥九(35) 喘5図
の光学系の変形例の図、 第4図は実施例の信号波形図、 第5図は照射光学系の変形例の図、 第6図は従来例の構成図、 であり、図中の主な符号は、 1・・・・フローセル、 2.3・・・・レーザ光源、 8・・・・光検出器、 22.32・・・・バンドパスフィルタ、25.35・
・・・光検出器、 26.36・・・・NDフィルタ、 ¥九(35) 喘5図
Claims (3)
- (1)個々の検体を順次移動させる手段と、第1の照射
光を生成し、検体が移動する第1の位置に照射する第1
照射手段と、 第2の照射光を生成し、前記第1の位置とは異なる第2
の位置に照射する第2照射手段と、前記第1、第2の位
置を通過する検体から発する第1、第2の光学特性の光
を同一光検出器で時系列に検出する光検出手段と、 前記第1、第2のそれぞれの位置に複数の検体がほぼ同
時に通過したことを判断する判断手段と、 該判断手段の判断に基づいて、前記光検出手段での検出
をキャンセルする手段と、を有することを特徴とする検
体測定装置。 - (2)前記判断手段は、検体が前記第1の位置を通過す
るタイミングおよび前記第2の位置を通過するタイミン
グを独立に検出し、両者の発生タイミングを比較する手
段を有する請求項(1)記載の検体測定装置。 - (3)前記判断手段は、検体が前記第1の位置を通過す
るタイミングを検出する手段と、該タイミングの発生か
ら所定期間内に再び前記第1の位置に検体が通過するか
否かを検出する手段を有する請求項(1)記載の検体測
定装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2318989A JPH04188045A (ja) | 1990-11-21 | 1990-11-21 | 検体測定装置 |
EP19900124242 EP0435111B1 (en) | 1989-12-15 | 1990-12-14 | Apparatus for optically measuring specimen |
DE1990628687 DE69028687T2 (de) | 1989-12-15 | 1990-12-14 | Vorrichtung zur optischen Messung einer Probe |
US08/008,993 US5760900A (en) | 1989-03-18 | 1993-01-26 | Method and apparatus for optically measuring specimen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2318989A JPH04188045A (ja) | 1990-11-21 | 1990-11-21 | 検体測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04188045A true JPH04188045A (ja) | 1992-07-06 |
Family
ID=18105252
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2318989A Pending JPH04188045A (ja) | 1989-03-18 | 1990-11-21 | 検体測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04188045A (ja) |
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