JPH04182379A - 単結晶引上げ装置 - Google Patents

単結晶引上げ装置

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JPH04182379A
JPH04182379A JP30441490A JP30441490A JPH04182379A JP H04182379 A JPH04182379 A JP H04182379A JP 30441490 A JP30441490 A JP 30441490A JP 30441490 A JP30441490 A JP 30441490A JP H04182379 A JPH04182379 A JP H04182379A
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JP
Japan
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single crystal
crystal
raw material
pulling
product
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Pending
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JP30441490A
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English (en)
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Hideki Tominaga
冨長 英樹
Kyoji Otani
大谷 京司
Hiroshi Hagiwara
博 萩原
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SEIDENSHA ELECTRON KK
SENSOR SYST KK
Nippon Mektron KK
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SEIDENSHA ELECTRON KK
SENSOR SYST KK
Nippon Mektron KK
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は単結晶引上げ装置に関し、特に良品質の単結晶
を育成しようとするものである。
〔発明の概要〕
本発明は、単結晶引上げ装置において、結晶原料の固液
界面における粘性を制御するようにしたことにより、−
段と良質な単結晶を有する単結晶製品を引き上げること
ができる。
〔従来の技術〕
単結晶引上げ装置は、原理上、ルツボにおいて抵抗加熱
、又は高周波誘導加熱等の加熱装置によって結晶原料を
融点以上に加熱することにより融解し、この融液に種子
結晶の先端を浸した後回転させながら所定速度で上方に
引き上げて行くことにより種子結晶側に結晶原料から単
結晶を成長させるようになされいる。
ここで種子結晶の先端において融解された結晶原料は種
子結晶によって融液の界面より上方に引き上げられて行
(に従って温度が低下することにより単結晶に固化して
行く。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところが従来のこの種の単結晶引上げ装置においては、
実際上引き上げられた単結晶(これを単結晶製品と呼ぶ
)を例えばスライスして半導体ウェハを得る際に、当該
半導体ウェハの大きさを所定の大きさに揃えるために、
ルツボの加熱温度及び種子結晶の引上げ速度を制御する
方法が用いられていた。
ところが実際上ごのような制御をすることにより得られ
る単結晶製品は、結晶組成が不揃いになったり、クラッ
クや気孔を内部に含むような欠陥の多い結晶になり易か
った。
その原因としては、ルツボ内において目的物質が分解せ
ずに調和融解する必要があるにもかかわらずそのような
状態が得られていなかったり、単結晶育成の途中におい
て結晶が成長して行くに従って融液の組成が変化したり
することが原因であると考えられるが、従来の単結晶引
上げ装置においては均一組成の単結晶を育成する観点か
ら単結晶引上げ装置を全体として制御するようにはなさ
れていない点において制御手法が未だ不十分であると考
えられる。
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、種子結晶
によって引き上げられて来る結晶原料の粘性を観測ない
し制御できるようにすることにより、−段と良品質の単
結晶を育成できるようにした単結晶引上げ装置を提案し
ようとするものである。
〔課題を解決するための手段〕
かかる課題を解決するため第1の発明においては、加熱
装置13によって加熱されるルツボ12において融解さ
せた結晶原料14に浸した種子結晶17を引上げ軸21
により回転させながら引き上げることにより、種子結晶
17の先端に結晶原料14を固化させてなる単結晶製品
18を育成させる単結晶引上げ装置1において、引上げ
軸21に対して単結晶製品18の重量を検出する重量検
出素子41と、固化している単結晶製品18及び融解し
ている結晶原料14間に生ずる粘性トルクを検出するト
ルク検出素子46とを設け、重量検出素子41及びトル
ク検出素子46の検出出力S1及びS2に基づいて単結
晶製品18及び結晶原料14間の固液界面の状態を観測
できるようにする。
第2の発明は、第1の発明に加えて、重量検出素子41
及びトルク検出素子46の検出出力S1及びS2に基づ
いて固液界面における結晶原料14の粘度を求める演算
手段53を設け、この演算手段53の演算結果に基づい
て、結晶原料14の粘度が所定の値になるように、加熱
装置13の加熱量を制御するようにする。
〔作用〕
重量検出素子41及びトルク検出素子46の検出出力S
1及びS2は育成されている単結晶製品18の直径と、
単結晶製品18及び結晶原料14間に生ずる粘性トルク
とを表わしており、これにより単結晶製品18及び結晶
原料14間の固液界面の粘性を観測することができ、か
くして固液界面に異常が生じたときこれを確実に観測し
て対処することができる。
これに加えて重量検出素子41及びトルク検出素子46
の検出出力S1及びS2に基づいて単結晶製品18及び
結晶原料14間の固液界面における粘度を演算手段53
によって演算して加熱装置13の加熱量を制御すること
により固液界面の粘度を所定値に制御することができ、
これにより一段と良質な単結晶を育成させることができ
る。
6一 〔実施例] 以下図面について、本発明の一実施例を詳述する。
第1図において、1は全体として単結晶引上げ装置を示
し、単結晶引上げ部2と引上げ制御部3とで構成されて
いる。
単結晶引上げ部2はルツボチャンバ11内に配設された
ルツボ12を例えば高周波コイルでなる加熱装置13に
よって加熱することによりルツボ12内部の結晶原料1
4を融解し、引上げ棒15の先端のシードホルダ16に
取付けられた種子結晶17を結晶原料14に浸した後引
き上げて行くことにより単結晶製品18を育成して行く
引上げ棒15は円筒状引上げ軸21を通って当該引上げ
軸21の上部に設けられたロードセル22に連結されて
いる。
ロードセル22は引上げ軸21と一体に回転するように
固着されたハウジング23を有し、引上げ棒15を順次
重量センサ部24、トルクセンサ部25及び連結部材2
6を介してハウジング23に機械的に連結されている。
引上げ軸21は昇降板32に回転自在に保持され、これ
により昇降板32と一体に上下方向に移動すると共に、
昇降板32に取付けられた回転駆動モータ33によって
その出力軸33Aに取付けられたプーリ34、ヘルド3
5、引上げ軸21に取付げられたプーリ36を介して回
転駆動される。
この実施例の場合、昇降板32は上下方向に延長する円
柱状ガイドレール37によって上下方向に案内されると
共に、引上げ駆動モータ38の出力軸38Aに歯合する
ウオームギヤ39及び40によって回転する送りねじ4
1に係合することにより上下方向に送られるようになさ
れている。
ロードセル22の重量センサ部24は、引上げ棒15、
シードホルダ16及び種子結晶17と、その先端に育成
される単結晶製品18の重量に応じて機械的に変形歪み
を生じるような形状を有し、当該変形歪みを例えば電歪
素子でなる重量検出素子45(第2図)によって電気信
号に変換する。
またI・ルクセンザ部25は引上げ軸21及びロードセ
ル22が回転駆動モータ33によって一方向に回転され
たとき、ハウジング23及び連結部26が引上げ軸21
と一体に回転することにより重量センサ部24、引上げ
棒15、シードホルダ16、種子結晶17及び単結晶製
品18に対して連結部材26から与えられる回転トルク
を伝達しようとするのに対して、固化した単結晶製品1
8と溶解している結晶原料14との間の固液界面部分に
生じる粘性によって単結晶製品18に粘性トルクが作用
することにより当該駆動トルクと粘性トルクとの差を例
えば電歪素子でなるトルク検出素子46(第2図)によ
って電気信号に変換するようになされている。
かくして第2図に示すように、ロードセル22のトルク
センサ部25に設けられている重量検出素子45から得
られる重量検出信号Slと、トルクセンサ部25に設け
られている固液界面l・ルク検出素子46から得られる
トルク検出信号S2とが、スリップリング47を介しさ
らに出カケープル48を介して引上げ制御部3に供給さ
れる。
引上げ制御部3は重量検出信号S1を増幅回路51を介
してアナログ/ディジタル変換回路52においてディジ
タル信号に変換して重量検出ディジタルデータS3とし
てマイクロコンピュータ構成の中央処理ユニツ) (C
PU)53に取り込まれる。
また固液界面トルク検出信号S2は増幅回路54を介し
てアナログ/ディジタル変換回路55においてディジタ
ル信号に変換されて固液界面トルク検出データS4とし
てCPU53に取り込まれる。
CPU53は、重量検出データS3と、入力装置56か
らオペレータによって入力される回転速度データ(引上
げ軸210回転速度を表す)とに基づいて、単結晶製品
18の重量増加率と当該単結晶製品18の回転速度とに
基づいて単結晶製品18の直径を演算し、当該直径演算
結果と予め入力されている目標直径データとの偏差分を
PID演算することにより直径制御データS5を直径制
御信号出力回路57に送出する。
直径制御信号出力回路57は直径制御データS5に基づ
いて、当該基準直径からの偏差をなくすような第1の加
熱制御信号S6、回転制御信号S7及び引上げ制御信号
S8を送出する。
ここで第1の加熱制御信号S6は合成回路58を通じて
合成加熱制御信号311として加熱制御回路59に供給
され、かくして加熱装置13の発熱量を加熱制御回路5
9から送出される加熱駆動出力S12によって制御する
また回転制御信号S7は回転駆動回路60に供給され、
これにより回転駆動モータ33の回転速度、従って単結
晶製品18の回転速度を回転駆動回路60の回転駆動出
力S13によって制御する。
さらに引上げ制御信号S8は引上げ駆動回路60に供給
され、これにより引上げ駆動モータ38の回転数、従っ
て種子結晶18の引上げ速度を引上げ駆動回路61の引
上げ駆動出力S14によって制御する。
かくして単結晶製品18の直径が基準直径より大きくな
ったときには、単結晶製品18の回転速度を速めると共
に当該単結晶製品18の引上げ速度を速めると同時に加
熱装置13による加熱量を大きくすることにより、単結
晶製品18の直径を細くする。
これに対して単結晶製品18が基準直径より細(なった
場合には、単結晶製品18の回転速度を速くすると共に
引上げ速度を遅くすると同時に加熱装置13の加熱量を
低下させることにより、単結晶製品18の直径を太らせ
るように制御する。
このような単結晶製品18の直径の制御に加えてCPU
53は固液界面トルク検出データS4に基づいて原料融
液の粘性を観測する。
すなわちCPU53は上述したように重量検出データS
3及び入力装置56から入力される回転速度基準値に基
づいて演算した単結晶製品18の直径と、単結晶製品1
8の回転速度及び固液界面トルク検出データとに基づい
て結晶原料14の融液の粘度を算出する。
CPU53は当該結晶原料14の融液粘度の算出結果出
力S20を観測出力装置62に送出し、これによりオペ
レータが観測し得るような表示させる。この実施例の場
合観測出力装置62は陰極線管表示装置及びプリンタを
有し、融液粘度の算出結果を陰極線管表示装置に管面表
示すると共に、必要に応じたタイミングでプリンタにプ
リントアウトできるようになされている。
かくしてオペレータは陰極線管表示装置の表示面上に時
々刻々表示される融液粘度を目視することにより現在ル
ツボチャンバ11において引上げ処理されている結晶原
料14の粘度の変化を確認することができ、従ってオペ
レータは粘度に異常が発生したか否かを観測して異常が
発生したとき必要に応じて単結晶製品の品質を劣化させ
ないような処理をなし得る。
これに加えて、CPU53は、当該結晶原料14の融液
粘度の算出結果を、予め入力装置56から入力された目
標値と比較してその偏差分に基づいてPID演算して粘
度制御データS21を求め、この粘度制御データS21
を粘度制御信号出力回路63に与える。
ここで粘度制御信号出力回路63は、当該粘度制御デー
タS21に基づいて第2の加熱制御信号S22を発生し
、これを合成回路58において第1の加熱制御信号S6
に加算して合成加熱制御信号Sllを得るようにする。
かくしてCPU53は固液界面トルク制御データS4に
基づいて、硬化した単結晶製品18と、融解している結
晶原料14との界面における粘性トルクが変化したとき
これを結晶原料14の粘度が変化したものと判断し、結
晶原料14の粘度が大きくなったとき加熱装置13の発
熱量を増大させるような第2の加熱制御信号S22を発
生させ、これに対して結晶原料14の粘度が小さくなっ
たときこれに応じて加熱装置13の発熱量を減少させる
ような第2の加熱制御信号S22を発生させる。
その結果CPU53は結晶原料14が所定の基準値から
変化したとき当該変化を打ち消すように加熱装置13の
加熱量をフィードバック制御する。
以上の構成によれば、CPU53は単結晶製品18の直
径の制御に加えて、結晶原料14の粘度を所定の基準値
になるように制御できる。
その結果硬化している単結晶製品18と、融解している
結晶原料14との間の固液界面における粘性を一段と安
定化できることにより、単結晶製品18に結晶上組成が
不均一になったり、クラックや気孔が入ったりするおそ
れを有効に軽減できる。
因にある種の原料(LINBO,など)は、融点付近で
粘性に急激な変化を生じさせるような特性をもっており
、この急激な変化はクラスタリングと呼ばれ、当該クラ
スタ密度を制御すれば良質な単結晶育成条件を保持でき
ると考えられる。
この点において上述の構成によれば、結晶原料14の固
液界面における粘性を有効に制御できることにより、こ
れに応じてクラスタ密度を細かく制御し得、かくして単
結晶製品18として一段と良質な単結晶を育成できる。
〔発明の効果〕
上述のように本発明によれば、結晶原料の固液界面の粘
性を観測ないし制御するようにしたことにより、−段と
良質な単結晶でなる単結晶製品を引き上げることができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による単結晶引上げ装置の一実施例を示
ず路線的系統図、第2図はその引上げ制御部の詳細構成
を示すブロック図である。 1・・・・・・単結晶引上げ装置、2・・・・・・単結
晶引上げ部、3・・・・・・引上げ制御部、12・・・
・・・ルツボ、13・・・・・・加熱装置、14・・・
・・・結晶原料、15・・・・・・引上げ棒、17・・
・・・・種子結晶、18・・・・・・単結晶製品、24
・・・・・・重量センサ部、25・・・・・・トルクセ
ンサ部、33・・・・・・回転駆動モータ、38・・・
・・・引上げ駆動モータ、53・・・・・・CPU、5
8・・・・・・合成回路、59・・・・・・加熱制御回
路、63・・・・・・粘度制御信号出力回路。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)加熱装置によつて加熱されるルツボにおいて融解
    させた結晶原料に浸した種子結晶を引上げ軸により回転
    させながら引き上げることにより、上記種子結晶の先端
    に上記結晶原料を固化させてなる単結晶製品を育成させ
    る単結晶引上げ装置において、 上記引上げ軸に対して、上記単結晶製品の重量を検出す
    る重量検出素子と、固化している上記単結晶製品及び融
    解している上記結晶原料間に生ずる粘性トルクを検出す
    るトルク検出素子とを設け、上記重量検出素子及び上記
    トルク検出素子の検出出力に基づいて上記単結晶製品及
    び上記結晶原料間の固液界面の状態を観測できるように
    したことを特徴とする単結晶引上げ装置。
  2. (2)上記重量検出素子及び上記トルク検出素子の検出
    出力に基づいて上記固液界面における上記結晶原料の粘
    度を求める演算手段を設け、 上記演算手段の演算結果に基づいて、上記結晶原料の粘
    度が所定の値になるように、上記加熱装置の加熱量を制
    御することを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の
    単結晶引上げ装置。
JP30441490A 1990-11-10 1990-11-10 単結晶引上げ装置 Pending JPH04182379A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012082087A (ja) * 2010-10-08 2012-04-26 Sumitomo Metal Fine Technology Co Ltd 単結晶引上装置および坩堝支持装置
JP2012225738A (ja) * 2011-04-19 2012-11-15 Teac Corp ロードセルユニット
JP2012233868A (ja) * 2011-04-19 2012-11-29 Teac Corp ロードセルユニット

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