JPH04179029A - プラズマディスプレイの特性検査装置 - Google Patents

プラズマディスプレイの特性検査装置

Info

Publication number
JPH04179029A
JPH04179029A JP30743390A JP30743390A JPH04179029A JP H04179029 A JPH04179029 A JP H04179029A JP 30743390 A JP30743390 A JP 30743390A JP 30743390 A JP30743390 A JP 30743390A JP H04179029 A JPH04179029 A JP H04179029A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
electrode portions
electrode
plasma display
contact
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP30743390A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2953039B2 (ja
Inventor
Kenichiro Miyazaki
宮崎 謙一郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP30743390A priority Critical patent/JP2953039B2/ja
Publication of JPH04179029A publication Critical patent/JPH04179029A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2953039B2 publication Critical patent/JP2953039B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はプラズマディスプレイの特性検査装置に係り、
詳しくは、プレートの側縁部に設けられた多数個の電極
部間の特性検査を、作業性よく行うための装置に関する
(従来の技術) ワープロの表示パネルなどに使用されるプラズマディス
プレイは、プレートの一方の側縁部に沿って電極部を並
設し、また他方の側縁部に沿って、複数個のこれらの電
極部に対応するブロック電極部を並設し、且つこの電極
部とブロック電極部を透明電極部により接続して構成さ
れている。そして2枚のプレートを対面接合させて、選
択された電極部に電圧を印加することにより、互いに対
向する透明電極部の交差部においてプラズマ放電を発生
させ、所望の表示を行うようになっている。
ところで、各種電気素子の特性検査は、一般に、電極部
にプローブを接触させ、電極部間を導通させることによ
り行われる。
(発明が解決しようとする課題) プラズマディスプレイの上記電極部は小ピツチできわめ
て多数(例えば640個)並設されている。したかって
上記従来手段により、その特性検査を行うためには、検
査装置は電極部に対応するきわめて多数(すなわち例え
ば640個)のプローブを備えていなければならない。
ところがこのようにきわめて多数のプローブを検査装置
に設けることは実際上困難であり、また仮に設けたとし
ても、これらのプローブを各々の電極部に一括的に確実
に接触させることは困難である。このため従来、プラズ
マディスプレイを自動検査できる装置は実現しておらず
、作業者が目視検査を行っている実情にあったそこで本
発明は、プラズマディスプレイの特性検査を作業性よく
行える装置を提供することを目的とする。
(課題を解決するための手段) 本発明は、複数個の電極部に接触するプローブを備えた
第1のプローブ部と、ブロック電極部から延出する端子
に一括して接触するプローブを備えた第2のプローブ部
と、この第1のプローブ部を、プレートの側縁部に沿っ
て相対的に横方向に移動させながら、そのプローブを上
記電極部に接離させる移動手段とからプラズマディスプ
レイの特性検査装置を構成している。
(作用) 上記構成によれば、第2のプローブ部をブロック電極部
の端子に接触させ、また移動手段を駆動して、第1のプ
ローブ部をプレートの側縁部にそって移動させながら電
極部に接触させて、画電極部間を導通させることにより
、電極部間の特性を作業よく検査できる。
(実施例) 次に図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第1図は特性検査装置の斜視図である。
図中、1はプラズマディスプレイであって、検査用のス
テージ2に載置されている。3はプラズマディスプレイ
lをこのステージ2に搬入するための搬送手段、4は検
査か終了したプラズマディスプレイIを搬出するための
搬出手段である。ステージ2には、ボールねじ5が螺合
している。モータ6が駆動すると、ステージ2はY方向
に移動し、プラズマディスプレイ1のY方向の位置を調
整する。
第2図はプラズマディスプレイlの平面図である。この
プラズマディスクプレイ1はプレート7から成っている
。このプレート7の一方の側縁部に沿って、電極部A1
〜A50が小ピツチで多数個並設されている。また他方
の側縁部に沿って、ロジック信号入出力用ブロック電極
部81〜B5が並設されている。複数個(本実施例では
10個)の電極部A1〜AIO,Al1−A20・・・
A41−A50と、1個のブロック電極部B1.B2・
・・B5は、透明電極部C1−C50により接続されて
いる。このブロック電極部B1〜B5は、ICから成っ
ている。D I −D 5は、各々のブロック電極部B
1〜B5から、プレート7の一側部に延出する端子であ
る。
第1図において、IOは第1のプローブ部であって、1
0個の電極部へに一括して接離できるように、10個の
ピン状のプローブ11を育している。このプローブ10
は、ナツト12に支持されている。13はナツトI2に
螺合する垂直なボールねしであり、モータ14か駆動す
ると、プローブ部10は上下動し、プローブ11は電極
部Aに接離する。
このナツト12は、ナツト15に支持されている。16
はナツト15に螺合する水平なボールねじてあり、モー
タ17が駆動すると、プローブ部10はX方向に移動す
る。すなわち上記各部品12〜17は、プローブ部10
の移動手段を構成している。
20は第2のプローブ部であって、ブロック電極部B 
1−85の端子D1〜D5に一括して接触できるように
、5本のプローブ21を存している。このプローブ部2
0は、ナツト22゜23、XY力方向ボールねじ24.
25,26、モータ27,28.29によりXYZ方向
にその位置を調整できるようになっている。
本装置は上記のような構成より成り、次に検査方法を説
明する。
第2のプローブ部20のプローブ2Iを、端子D1〜D
5に一括接触させる。端子DI−D5の位置は、プラズ
マディスプレイlの品種により異なっており、したかっ
てモータ27,28を駆動して、プローブ部20の位置
をXYX方向微調整したうえて、モータ29を駆動して
、プローブ21を端子D1〜D5に接触させる。
次にモータ17を駆動して、第1のプローブ部10のX
方向の位置を調整し、次いてモータ14を駆動して、プ
ローブ部10を下降させ、10本のプローブ11を10
個の電極部Al〜AIOに一括接触させるとともに、こ
の電極部Al〜AIOに対応するブロック電極部Blを
駆動し、電極部A1〜AIOとブロック電極部B1間に
通電して、電極部間の特性を検査する。
次いでモータ14.17を駆動して、プローブ部10を
次の10個の電極部Al1−A20に接触させるととも
に、この電極部AIl〜A20に対応するブロック電極
部B2を駆動し、これらの電極部間の特性を検査する。
以下、同様にして、電極部A2 +−A30.A31〜
A40、A41−A50と、ブロック電極部B3B4,
85間の特性を検査する。この間、第2のプローブ部2
0は、端子D1〜D5に接触した状態を保持する。
以上のように本装置によれば、多数の電極部A1〜A5
0とブロック電極部B1−B5を存するプラズマディス
プレイlの特性検査を、作業性よく行うことができる。
(発明の効果) 以上説明したように本発明は、複数個の電極部は接触す
るプローブを備えた第1のプローブ部と、ブロック電極
部から延出する複数個の端子に一括して接触するプロー
ブを備えた第2のプローブ部と、この第1のプローブ部
を、プレートの側縁部に沿って相対的に横方向に移動さ
せながら、そのプローブを上記電極部に接離させる移動
手段とからプラズマディスプレイの特性検査装置を構成
しているので、多数の電極部間の特性を作業性よく検査
することかできる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の実施例を示すものであって、第1図は特性
検査装置の斜視図、第2図はプラズマディスプレイの平
面図である。 7・・・プレート 10・・・第1のプローブ部 11・・・プローブ 12〜17・・・移動手段 20・・・第2のプローブ部 21・・・プローブ Al−A30・・・電極部 81〜B5・・・ブロック電極部 Cl−C50・・・透明電極部 DI−D5・・・端子 出願人  松下電器産業株式会社

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 プレートの一方の側縁部と他方の側縁部に電極部とブロ
    ック電極部が設けられ、複数個の電極部と1個のブロッ
    ク電極部を透明電極部で接続して成るプラズマディスプ
    レイの特性検査装置であって、 上記複数個の電極部に接触するプローブを備えた第1の
    プローブ部と、上記ブロック電極部から延出する端子に
    一括して接触するプローブを備えた第2のプローブ部と
    、この第1のプローブ部を、上記プレートの側縁部に沿
    って相対的に横方向に移動させながら、そのプローブを
    上記電極部に接離させる移動手段とから成ることを特徴
    とするプラズマディスプレイの特性検査装置。
JP30743390A 1990-11-13 1990-11-13 プラズマディスプレイの特性検査装置 Expired - Fee Related JP2953039B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30743390A JP2953039B2 (ja) 1990-11-13 1990-11-13 プラズマディスプレイの特性検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30743390A JP2953039B2 (ja) 1990-11-13 1990-11-13 プラズマディスプレイの特性検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04179029A true JPH04179029A (ja) 1992-06-25
JP2953039B2 JP2953039B2 (ja) 1999-09-27

Family

ID=17969015

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30743390A Expired - Fee Related JP2953039B2 (ja) 1990-11-13 1990-11-13 プラズマディスプレイの特性検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2953039B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10177844A (ja) * 1996-12-19 1998-06-30 Hitachi Ltd 平面ディスプレイパネルの製造方法およびプラズマディスプレイパネルの製造方法
KR20010106963A (ko) * 2000-05-24 2001-12-07 은탁 타이머ic에 의한 비접촉식 프로브를 이용한 비접촉스캔방식의 pdp전극패턴 검사장치 및 방법
KR100358484B1 (ko) * 2000-07-04 2002-10-30 마이크로 인스펙션 주식회사 플라즈마 디스플레이 패널의 전극패턴 검사장치 및 그작동방법
KR100472918B1 (ko) * 2002-06-27 2005-03-10 대한민국(서울대학총장) 주파수 특성을 이용한 분기선 및 pdp 전극 검사 방법
JP2008122145A (ja) * 2006-11-09 2008-05-29 Micronics Japan Co Ltd プローブ位置合わせ方法及び可動式プローブユニット機構並びに検査装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7355434B2 (en) 2003-10-01 2008-04-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Lighting inspection device for plasma display panel and display panel producing method

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10177844A (ja) * 1996-12-19 1998-06-30 Hitachi Ltd 平面ディスプレイパネルの製造方法およびプラズマディスプレイパネルの製造方法
KR20010106963A (ko) * 2000-05-24 2001-12-07 은탁 타이머ic에 의한 비접촉식 프로브를 이용한 비접촉스캔방식의 pdp전극패턴 검사장치 및 방법
KR100358484B1 (ko) * 2000-07-04 2002-10-30 마이크로 인스펙션 주식회사 플라즈마 디스플레이 패널의 전극패턴 검사장치 및 그작동방법
KR100472918B1 (ko) * 2002-06-27 2005-03-10 대한민국(서울대학총장) 주파수 특성을 이용한 분기선 및 pdp 전극 검사 방법
JP2008122145A (ja) * 2006-11-09 2008-05-29 Micronics Japan Co Ltd プローブ位置合わせ方法及び可動式プローブユニット機構並びに検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2953039B2 (ja) 1999-09-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH05240901A (ja) 液晶表示装置用基板の粒子線式試験方法
JPH04179029A (ja) プラズマディスプレイの特性検査装置
JPH06347813A (ja) 表示装置の検査装置および検査方法
JP2834935B2 (ja) アクティブマトリクス型表示素子及びその製造方法
JPH05333370A (ja) アクティブマトリクス型液晶表示素子
JP2001013892A (ja) 表示装置
JPH0769676B2 (ja) アクティブマトリックスアレイおよびその検査方法
JP2507085B2 (ja) アクティブマトリクス基板の検査方法
JP3458947B2 (ja) 液晶表示素子の検査装置、及び検査方法
JPH04314032A (ja) 薄膜トランジスタの欠陥検査方法
JP3177330B2 (ja) アクティブマトリクス表示装置の検査装置及び検査方法
JPH0648551Y2 (ja) アクテイブマトリクス表示装置
JPH02198425A (ja) アクティブマトリクス基板
JP2629213B2 (ja) アクティブマトリックスアレイの検査方法および検査装置
JPH1090359A (ja) 波形プローブ装置およびこれを用いる検査方法
JPH02198424A (ja) アクティブマトリクス基板
JPH0194391A (ja) 検査方法
JPH03259184A (ja) 薄膜トランジスタ基板の検査装置
JP2001272643A (ja) 液晶表示パネルの検査方法および検査装置
JPH087349B2 (ja) 液晶表示パネルの検査装置およびその検査方法
JPH02165066A (ja) 液晶表示パネル検査装置および検査方法
JP2623024B2 (ja) 液晶表示装置の検査方法及びその装置
JP2002299460A (ja) 半導体集積回路
JPH04219790A (ja) 短絡欠陥位置検出方法および短絡欠陥修繕装置
JPH10239654A (ja) 液晶表示素子の検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees