JPH04159809A - 論理回路 - Google Patents

論理回路

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JPH04159809A
JPH04159809A JP2286105A JP28610590A JPH04159809A JP H04159809 A JPH04159809 A JP H04159809A JP 2286105 A JP2286105 A JP 2286105A JP 28610590 A JP28610590 A JP 28610590A JP H04159809 A JPH04159809 A JP H04159809A
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JP
Japan
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gate
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logic
terminal
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JP2286105A
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Makoto Murase
真 村瀬
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NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は論理回路に関し、特にラッチ回路、フリップフ
ロップ回路などのディジタル信号の保持機能を備えた論
理回路に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種の論理回路は、−例として第3図に示すよ
うに、第1及び第2の入力端をもちこの第1の入力端に
第の入力信号INIを入力しこれら第1及び第2の入力
端に対しNAND演算を行い出力する第1のNANDゲ
ー)−Glと、第1及び第2の入力端をもちこの第1の
入力端に第2の入力信号IN2を入力し第2の入力端に
NANDゲー)−G 1の出力信号を入力し出力端をN
ANDゲートG1の第2の入力端と接続しこれら第1及
び第2の入力端に入力される信号に対しNAND演算を
行い出力する第2のNANDゲートG2とを有し、これ
らNANDゲートG1.、G2の出力端から出力信号0
UTI、0UT2を出力するR−Sラッチ型の順序回路
の構成となっていた。
この論理回路は複数の状態変数を持ち、一対の入力信号
INI、IN2の組合わせに対し、複数通りの出力の組
合わせが存在する。肱な、入力信号INI、IN2を入
力する順序により状態変数が変化する。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の論理回路は、複数の状態変数をもち、こ
れら状態変数は入力信号INI、IN2の入力順により
変化する構成となっているので、この論理回路の論理テ
ストをする際には、単純な回路構成にもかかわらず、多
くの入力テストパターンを必要とするという欠点がある
また、この論理回路を多数使用して構成されるゲートア
レイやマイクロコンピュータ等の論理テストの際には、
莫大な入力テストパターンを必要とし、高い故障検出率
を得るための入力テストパターンの生成も困難であった
。さらに、大型コンピュータ等を使用して一定の故障検
出率を満たす入力テストパターンの自動発生させる場合
においても、実用的なアルゴリズムを作るのは極めて困
難であるという問題点があった。
本発明の目的は、論理テストの際の入力テストパターン
が少なくて済み、ゲートアレイやマイクロコンピュータ
等に多数使用した場合でも、高い故障検出率の入力テス
トパターンの生成、及び入力テストパターンの自動発生
のアルゴリズムの作成が容易となる論理回路を提供する
ことにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の論理回路は、第1及び第2の入力端をもちこの
第1の入力端に第1の入力信号を入力しこれら第1及び
第2の入力端に入力される信号に対し所定の論理演算を
行い出力する第1の論理ゲートと、第1及び第2の入力
端をもちこの第1の入力端に第2の入力信号を入力し第
2の入力端に前記第1の論理ゲートの出力信号を入力し
これら第1及び第2の入力端に入力される信号に対し所
定の論理演算を行い出力する第2の論理ゲートと、入力
端に前記第2の論理ゲートの出力信号を入力し出力端を
前記第1の論理ゲートの第2の入力端に接続しこの出力
端を制御信号のレベルに応じて前記第2の論理ゲートの
出力信号と対応したレベル又は所定の論理レベルとする
制御回路とを有している。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は本発明の第1の実施例を示す回路図である。
この実施例が第3図に示された従来の論理回路と相違す
る点は、第2のNANDゲートG2の出力端と第1のN
ANDゲートGlの第2の入力端との間に、第1及び第
2の入力端を備えこの第1の入力端に第2のNANDゲ
ートG2の出力信号を入力し第2の入力端に制御信号C
NTを入力してこれら第1及び第2の入力端に入力され
る信号に対しOR論理演算を行うORゲートG3がら成
る制御回路1を設け、制御信号CNTの低レベルのとき
はNANDゲートG2の出力信号をNA’NDゲートG
1の第2の入力端に供給し、制御信号CNTが高レベル
のときはNANDゲートG1の第2の入力端のレベルを
高レベルにするようにした点にある。
従って、制御信号CNTが低レベルのと°きは従来例と
同様の回路となってR−Sラッチ機能をはなし、制御信
号CNTが高レベルのときは、2人力2出力の組合せ回
路となる。
本発明による論理回路を多数使用してゲートアレイやマ
イクロコンピュータ等を構成した場合には、これらの回
路全体を組合せ回路に変形することができ、高い故障検
出率の入力テストパターンの生成、及び入力テストパタ
ーンの自動発生のアルゴリズムの作成が容易となる。
第2図は本発明の第2の実施例を示す回路図である。
この実施例は、制御回路IAを、インバータIVl、O
RゲートG3、及びANDゲートG4により構成し、2
つの制御信号CNT1.CNT2によりNANDゲー)
Glの第2の入力端に入力する信号を制御するようにし
たもので、従来例と同様のIf−Sラッチ機能と、2人
力2出力の組合せ回路との切換えに加え、2人力2出力
の組合せ回路の内容を切換えることができるという利点
がある。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、第2の論理ゲートの出力
端と第1の論理ゲートの第2の入力端どの間に、制御信
号に応じて第1の論理ゲートの第2の入力端に第2の論
理ゲートの出力信号を供給するかこの第2の入力端を所
定の論理レベルとする制御回路を設けた構成とすること
により、制御信号により従来例と同様の順序回路か組合
せ回路に切換えることができるので、論理テストの際、
組合せ回路とすることにより入力テストパターンを簡単
にするとかでき、また、ゲートアレイやマイクロコンピ
ュータ等にこの論理回路を多数使用した場合でも、高い
故障検出率の入カテス)〜パターンの生成、及び入力テ
ストパターンの自動発生のアルゴリズムの作成が容易に
なるという効果がある。この効果は、ゲートアレイやマ
イクロコンピュータの集積度が増大するに従い大きくな
り、入力テストパターン生成等の工数低減に貢献すると
ころ大である。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図はそれぞれ本発明の第1及び第2の実
施例を示す回路図、第3図は従来の論理回路の一例を示
す回路図である。 1.1^・・・制御回路、Gl、G2・・・NANDゲ
ート、G3・・・ORゲート、G4・・・ANDゲート
、IVY・・・インバータ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  第1及び第2の入力端をもちこの第1の入力端に第1
    の入力信号を入力しこれら第1及び第2の入力端に入力
    される信号に対し所定の論理演算を行い出力する第1の
    論理ゲートと、第1及び第2の入力端をもちこの第1の
    入力端に第2の入力信号を入力し第2の入力端に前記第
    1の論理ゲートの出力信号を入力しこれら第1及び第2
    の入力端に入力される信号に対し所定の論理演算を行い
    出力する第2の論理ゲートと、入力端に前記第2の論理
    ゲートの出力信号を入力し出力端を前記第1の論理ゲー
    トの第2の入力端に接続しこの出力端を制御信号のレベ
    ルに応じて前記第2の論理ゲートの出力信号と対応した
    レベル又は所定の論理レベルとする制御回路とを有する
    ことを特徴とする論理回路。
JP2286105A 1990-10-24 1990-10-24 論理回路 Expired - Lifetime JP2861364B2 (ja)

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