JPH0415507A - 電子部品のリード浮きの検出方法 - Google Patents

電子部品のリード浮きの検出方法

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JPH0415507A
JPH0415507A JP2120222A JP12022290A JPH0415507A JP H0415507 A JPH0415507 A JP H0415507A JP 2120222 A JP2120222 A JP 2120222A JP 12022290 A JP12022290 A JP 12022290A JP H0415507 A JPH0415507 A JP H0415507A
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Hiroyuki Sakaguchi
博幸 坂口
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08—Monitoring manufacture of assemblages
    • H05K13/081—Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
    • H05K13/0813—Controlling of single components prior to mounting, e.g. orientation, component geometry

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Operations Research (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は電子部品のリード浮きの検出方法に関し、レー
ザ装置からリードに向ってレーザ光を照射して、リード
を含む仮想平面を算出し、この仮想平面に対する各々の
リードの高低差を求めることにより、リードの浮きを検
出するようにしたものである。
（従来の技術） ＱＦＰのようなリードを有する電子部品を基板に実装す
る場合、リードが浮きを有していると、リードを基板の
電極部にボンディングできないことから、従来、第５図
に示すように、ノズル１００に吸着された電子部品１０
１のリード１０２に向って、レーザ装置１０３からレー
ザ光を照射し、各々のり一ド１０２０基準面Ｓからの高
さＺｌ、Ｚ２・・・を求めることにより、リード１０２
の浮きを検出することが知られている。
（発明が解決しようとする課題） ところで、リードの浮きの原因としては、リードの屈曲
変形の他、ノズルの軸心の傾斜誤差△θ１、電子部品を
吸着するノズルの下面の傾斜誤差△θ２、更には電子部
品のモールド体の上面の傾斜誤差や移載ヘッドをｘｙ力
方向移動させるＸＹ子テーブル位置誤差等がある。この
ような機械誤差若しくば定誤差があると、電子部品１０
１ば、水平面しに対して角度△θ傾斜し、△Ｚの高さ誤
差が生じて、リード１０２の浮きを誤判断する問題があ
る。
そこで本発明は、上記のような機械誤差を排除し、リー
ドの浮きを正確に検出することができる手段を提供する
ことを目的とする。
（課題を解決するための手段） このために本発明は、移載ヘッドのノズルに電子部品を
吸着して基板に移送する途中において、この電子部品を
レーザ装置の上方に位置せしめ、このレーザ装置から電
子部品のリードに向ってレーザ光を照射することにより
、リードの３点の高さを検出し、次いでこの３点を含む
仮想平面を算出して、各々のリードのこの仮想平面に対
する高低差を求めるようにしたものである。
（作用） 上記構成によれば、リードを含む仮想平面を求め、この
仮想平面に対する各々のリードの高低差を求めるように
しているので、上記のような機械誤差に基づく高さ誤差
を排除し、各々のリードの浮きを正確に検出することが
できる。
（実施例） 次に図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第３図は電子部品実装装置の平面図であって、１は電子
部品２の供給部としてのトレイ、３ばクランプ手段４に
位置決めされた基板である。
この装置は、サブ移載ヘッド５により、トレイの電子部
品２をテーブル６上に移載し、このテーブル６上で、電
子部品２の位置ずれの認識や荒補正を行った後、移載ヘ
ッド７のノズル８にこの電子部品２を吸着してティクア
ップする。
次いでこの電子部品２をレーザ装置９の」二方に移送し
、移載ヘッド７をＸＹ力方向移動させながら、電子部品
２の各々のり一ド２ａに向ってレーザ光を照射して、リ
ード２ａのＸＹθ方向の位置ずれを検出する。次いで移
載ヘッド７のＸＹ方向ストロークを補正したり、ノズル
８を軸心を中心にθ回転させるなどして、検出されたＸ
Ｙθ方向の位置ずれを補正したうえで、この電子部品２
を基板３に移送搭載する。
第１図及び第２図は、リード２ａのＸＹθ方向の位置ず
れの検出と共に、リード２ａの浮き（Ｚ方向の誤差）を
計測している様子を示すものである。２ｂはモールド体
であり、これからり一ド２ａは４方に多数本延出してい
る。またレーザ装置９は、発光部１０の両側部に受光部
１１．１２を有しており、両受光部１１．１２の計測値
を平均することにより、計測精度を上げるようになって
いる。このリード２ａは、リードフレームやフィルムキ
ャリアを打ち抜くなどして形成されている。
さて、電子部品２をレーザ装置９の上方に位置せしめ、
移載ヘッド７をｘｙ力方向水平移動させながら、各々の
り一ド２ａにレーザ光を照射し、その反射光を受光部１
１．１２に受光することにより、各々のり一ド２ａの基
準面Ｓからの高さＺｉを検出する。
次いで、３本のり一ド２ａを適当に選択し、これらのり
一ド２ａの反射点ＰＬ、Ｐ２．Ｐ３の高さＺＬ　　Ｚ２
．Ｚ３から、この３点ＰＩＰ２．Ｐ３を含む仮想平面に
の高さＺＯを算出する。この仮想平面にの高さＺＯは、
平面方程式 ％式％ から、簡単に算出することができる。
次いで、上記のようにして予め検出された各々のリード
２ａの高さｚｉと、仮想平面にの高さ２０の高低差 △Ｚ＝Ｚｉ−２０ を求めることにより、各々のり一ド２ａの浮きを検出す
る。
以上のように上記方法は、３本のり一ド２ａを含む仮想
平面にの高さＺＯを求め、この高さＺＯに対する各々の
り一ド２ａの高低差△Ｚを求めるようにしているので、
上記した機械誤差に起因する誤差を排除して、リード２
ａの浮きを正確に検出できる。また仮想平面の決定手段
は様々考えられるのであって、例えば第４図に示すよう
に、モールド体２ｂの３辺について、各々の辺から突出
する複数本のり一ド２ａ１〜２ａｎの高さの平均値Ｐ１
ｍ、Ｐ２ｍ、Ｐ３ｍを算出し、これらの３点Ｐ１ｍ、Ｐ
２ｍ、Ｐ３ｍを含む平面を仮想平面としてもよい。なお
許容値以上の高低差△Ｚが検出された場合には、その電
子部品２の基板３への実装は中止する。
（発明の効果） 以上説明したように本発明は、移載ヘッドのノズルに電
子部品を吸着して基板に移送する途中において、この電
子部品をレーザ装置の上方に位置せしめ、このレーザ装
置から電子部品のリードに向ってレーザ光を照射するこ
とにより、リードの３点の高さを検出し、次いでこの３
点を含む仮想平面を算出して、各々のリードのこの仮想
平面に対する高低差を求めるようにしているので、各々
のリードの浮きを正確に求めることができる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の実施例を示すものであって、第１図は計測
中の側面図、第２図は同斜視図、第３図は電子部品実装
装置の平面図、第４図は他の実施例の平面図、第５図は
従来手段の側面図である。 ２・・・電子部品 ２ａ・・・リード ３・・・基板 ７・・・移載ヘッド ８・・・ノズル ９・・・レーザ装置 Ｋ・・・仮想平面

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 　移載ヘッドのノズルに電子部品を吸着して基板に移送
    する途中において、この電子部品をレーザ装置の上方に
    位置せしめ、このレーザ装置から電子部品のリードに向
    ってレーザ光を照射することにより、リードの３点の高
    さを検出し、次いでこの３点を含む仮想平面を算出して
    、各々のリードのこの仮想平面に対する高低差を求める
    ようにしたことを特徴とする電子部品のリード浮きの検
    出方法。
JP2120222A 1990-05-10 1990-05-10 電子部品のリード浮きの検出方法 Expired - Lifetime JPH0794976B2 (ja)

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Date Code Title Description
RVTR Cancellation due to determination of trial for invalidation