JP6752706B2 - 判定装置、及び、表面実装機 - Google Patents

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Description

本明細書で開示される技術は、判定装置、及び、表面実装機に関する。
従来、部品本体と、半田接合などによって基板に接合される電極とを有する部品の電極の異常を判定する技術が知られている(例えば、特許文献1参照)。具体的には、特許文献1に記載の電極高さ検査方法は、下面に電極が2次元的に配置された電子部品(BGA・CSP)の電極の高さの異常を判定するものである。当該検査方法では、3次元画像撮像装置によって部品を撮像して各電極の高さを求め、各電極の高さから回帰平面を算出し、電極から回帰平面までの距離が基準値以上であれば電極の高さが異常であると判定している。
特開2000−124697号公報
ところで、特許文献1に記載の部品は下面に電極が2次元的に配置されたものであるが、表面実装機によって実装される部品の中にはSOP(Small Outline Package)やQFP(Quad Flat Package)などのように部品本体の側面から電極が延出しているものもある。このような部品では部品不良によって電極の接合部(電極において基板に接合される部分)が部品本体の下面より上に浮いてしまっていることがある。接合部が部品本体の下面より上に浮いてしまうと接合部が基板に接触し難くなるので接合不良が生じてしまう虞がある。
このような部品に前述した特許文献1に記載の電極高さ検査方法を適用した場合、例えばいずれか一つの電極の接合部だけが部品本体の下面より上に浮いている場合はその浮いている接合部から回帰平面までの距離が基準値以上になることによって異常と判定することができる。
しかしながら、全ての電極の接合部が部品本体の下面より上に同程度浮いてしまっている場合は、浮きの影響を受けて回帰平面の位置も上がってしまうことにより、いずれの接合部も回帰平面からの距離が基準値未満となってしまう。このため異常と判定することができないという問題がある。
本明細書では、全ての電極の接合部が部品本体の下面より上に同程度浮いてしまっていても接合部の浮きの有無を判定することができる技術を開示する。
本明細書で開示する判定装置は、部品本体と、前記部品本体の側面から延出している複数の電極であってそれぞれ基板に接合される接合部を有する複数の電極とを備える部品の前記部品本体の下面に対する前記接合部の浮きの有無を判定する判定装置であって、前記部品上の点の3次元座標を検出する検出部と、制御部と、を備え、前記制御部は、前記部品の前記接合部以外の部分であって前記部品本体に対する位置が前記接合部の浮きの有無によらず略一定である部分上の3以上の点の3次元座標を前記検出部によって検出し、検出した3次元座標に基づいて、前記部品本体の下面に略平行な基準平面を設定する設定処理と、前記電極毎に前記接合部上の点の3次元座標を前記検出部によって検出し、検出した3次元座標と前記基準平面との相対位置に基づいて前記接合部の浮きの有無を判定する判定処理と、を実行する。
上記の判定装置によると、接合部間の相対的な位置関係ではなく、部品本体の下面に対する接合部の絶対的な位置によって接合部の浮きの有無を判定することができる。このため、全ての電極の接合部が部品本体の下面より上に同程度浮いてしまっている場合は全ての接合部について浮きが有ると判定されることになる。よって上記の判定装置によると、全ての電極の接合部が部品本体の下面より上に同程度浮いてしまっていても接合部の浮きの有無を判定することができる。
また、前記部品本体の下面に3以上のマークが付されており、前記3以上の点はそれぞれ互いに異なる前記マーク上の点であってもよい。
上記の判定装置によると、マークが付されていない場合に比べて上述した各点の特定が容易になるので、各点の3次元座標をより確実に検出することができる。
また、前記3以上の点はそれぞれ互いに異なる前記電極の前記接合部以外の部分上の点であってもよい。
電極の接合部以外の部分は部品本体に対する位置が接合部の浮きの有無によらず略一定であるので、電極の接合部以外の部分上の点の3次元座標を検出して基準平面を設定すると、部品本体の下面にマークが付されていない部品であっても接合部の浮きの影響を受けずに(あるいは浮きの影響が小さい)基準平面を設定することができる。このため、マークが付されていない部品であっても、全ての電極の接合部が部品本体の下面より上に同程度浮いてしまっていても接合部の浮きの有無を判定することができる。
また、本明細書で開示する表面実装機は、請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の判定装置を備える。
上記の表面実装機によると、全ての電極の接合部が部品本体の下面より上に同程度浮いてしまっていても接合部の浮きの有無を判定することができる。
本明細書で開示される技術によれば、全ての電極の接合部が部品本体の下面より上に同程度浮いてしまっていても接合部の浮きの有無を判定することができる。
実施形態1に係る表面実装機の上面図 ヘッドユニット及びヘッド搬送部を前側から見た側面図 検出部の構成を示す模式図 表面実装機の電気的構成を示すブロック図 部品の下面図 部品本体の下面に対していずれの電極の接合部も浮いていない部品の側面図 部品本体の下面に対して一部の電極の接合部が浮いてしまっている部品の側面図 部品本体の下面に対して全ての電極の接合部が同程度浮いてしまっている部品の側面図 平坦度及び浮き判定処理のフローチャート 実施形態2に係る部品の下面図 部品の側面図 平坦度及び浮き判定処理のフローチャート
<実施形態1>
実施形態1を図1ないし図9によって説明する。以降の説明では図1に示す左右方向をX軸方向、前後方向をY軸方向、紙面に垂直な方向(上下方向)をZ軸方向という。また、以降の説明では図1に示す右側を上流側、左側を下流側という。また、以降の説明では同一の構成部材には一部を除いて図面の符号を省略している場合がある。
(1)表面実装機の全体構成
図1を参照して、実施形態1に係る表面実装機1の全体構成について説明する。表面実装機1は図示しないプリント基板(基板の一例)に部品を実装するものであり、基台10、搬送コンベア11、図示しないバックアップ機構、4つの部品供給装置12、ヘッドユニット13、ヘッド搬送部14、2台の部品撮像カメラ15、制御部31(図4参照)などを備えている。
ここで、2台の部品撮像カメラ15と制御部31とは実施形態1に係る判定装置の一例である。また、部品撮像カメラ15と制御部31とは検出部の一例である。すなわち、本実施形態に係る検出部は部品撮像カメラ15単体ではなく部品撮像カメラ15と制御部31とで構成されている。
基台10は平面視長方形状をなすとともに上面が平坦とされている。図1において二点鎖線で示す矩形枠Aは部品が実装されるときにプリント基板が位置する作業位置を示している。
搬送コンベア11はプリント基板をX軸方向の上流側から作業位置Aに搬入し、作業位置Aで部品が実装されたプリント基板を下流側に搬出するものである。搬送コンベア11はX軸方向に循環駆動する一対のコンベアベルト11A及び11Bと、コンベアベルト11A及び11Bを駆動するコンベア駆動モータ43(図4参照)とを備えている。なお、搬送コンベア11はプリント基板を下流側から上流側に搬送することもできる。
図示しないバックアップ機構は作業位置Aの下方に配されており、作業位置Aで停止したプリント基板を複数のバックアップピンによって下から支持する。
部品供給装置12は搬送コンベア11のY軸方向の両側においてX軸方向に並んで2箇所ずつ、計4箇所に配されている。これらの部品供給装置12には複数のフィーダ16がX軸方向に横並び状に整列して取り付けられている。
各フィーダ16は所謂テープフィーダであり、複数の部品Eが収容された部品テープ(不図示)が巻回されたリール(不図示)、及び、リールから部品テープを引き出す電動式の送出装置(不図示)等を備えており、搬送コンベア11側に位置する端部に設けられた部品供給位置から部品Eを一つずつ供給する。なお、フィーダ16はテープフィーダに限定されるものではなく、例えばトレイフィーダであってもよい。
ヘッドユニット13は複数(ここでは5個)の実装ヘッド17を昇降可能に且つ軸周りに回転可能に支持するものである。本実施形態に係るヘッドユニット13は所謂インライン型であり、複数の実装ヘッド17がX軸方向に並んで配列されている。また、ヘッドユニット13にはこれらの実装ヘッド17を個別に昇降させる複数のZ軸サーボモータ41(図4参照)、及び、各実装ヘッド17を一斉に軸周りに回転させるR軸サーボモータ42(図4参照)が設けられている。
図2に示すように、各実装ヘッド17はノズルシャフト18と、ノズルシャフト18の下端に着脱可能に取り付けられている吸着ノズル19とを有している。吸着ノズル19にはノズルシャフト18を介して外部の空気供給装置から負圧及び正圧が供給される。吸着ノズル19は負圧が供給されることによって部品Eを吸着し、正圧が供給されることによってその部品Eを開放する。
図1に示すヘッド搬送部14はヘッドユニット13を所定の可動範囲内でX軸方向及びY軸方向に搬送するものである。ヘッド搬送部14はヘッドユニット13をX軸方向に往復移動可能に支持しているビーム20、ビーム20をY軸方向に往復移動可能に支持している一対のY軸ガイドレール21、ヘッドユニット13をX軸方向に往復移動させるX軸サーボモータ39、ビーム20をY軸方向に往復移動させるY軸サーボモータ40などを備えている。
2つの部品撮像カメラ15は吸着ノズル19に吸着されている部品Eを下から2角度ステレオ撮像するものであり、搬送コンベア11の両側(図1においてY軸方向の両側)においてX軸方向に並んだ2つの部品供給装置12の間にそれぞれ配置されている。
図3に示すように、部品撮像カメラ15は基台10に対して固定されるベースプレート22を備えている。ベースプレート22の上端部には、吸着ノズル19に吸着された部品Eの下面に鉛直方向(Z軸方向)下側から光を照射する鉛直方向ライトL1と、部品Eの下面に斜め方向から光を照射する斜め方向ライトL2とが固定されている。斜め方向ライトL2はその照射方向が鉛直線に対して略40°の角度をなすように配置されている。
鉛直方向ライトL1及び斜め方向ライトL2は複数個のLED23を並べた光源である。鉛直方向ライトL1及び斜め方向ライトL2においてLED23からの光の照射経路上にはそれぞれ屈折レンズ24が設けられている。屈折レンズ24は各LED23から照射された光を所定の平面に略直交する平行光又は略平行光になるように屈折させる。
各屈折レンズ24から出射される光はY軸方向に平行又は略平行を維持したまま屈曲されて平面状屈曲光となり、Y軸方向の直線状の集光位置SIに集光される。部品Eは下面が集光位置SIに一致するようにヘッドユニット13によってZ軸方向の位置が調整される。
また、屈折レンズ24と部品Eとの間には、平面状屈曲光をY軸方向にのみ拡散させるディフューザ25が配設されている。各平面状屈曲光はディフューザ25によって部品E側へ向かうにつれてY軸方向で扇状に広がり、Y軸方向において略均一な明るさとなる。
鉛直方向ライトL1からの光は部品Eの下面によって下方へ反射する。一方、斜め方向ライトL2から集光位置SIへ照射された平面状屈曲光は、集光位置SIを基準とするYZ平面の面対象となる左側へ反射し、この反射光はミラー26により下方側へ反射されることとなる。
鉛直方向ライトL1からの光は部品Eによって下方へ反射した後に鉛直方向カメラC1によって受光される。また、ミラー26によって反射された光は斜め方向カメラC2によって受光される。鉛直方向カメラC1及び斜め方向カメラC2はいずれも多数のCCD素子をY方向に沿って並べたラインセンサを光電変換素子として備えており、部品EをX軸方向に搬送しながら時系列で撮像することによって部品E全体が撮像される。
(2)表面実装機の電気的構成
図4に示すように、表面実装機1は制御部31及び操作部32を備えている。制御部31は演算処理部33、モータ制御部34、記憶部35、画像処理部36、外部入出力部37、フィーダ通信部38などを備えている。
演算処理部33はCPU、ROM、RAMなどを備えており、記憶部35に記憶されている制御プログラムを実行することによって表面実装機1の各部を制御する。
モータ制御部34は演算処理部33の制御の下でX軸サーボモータ39、Y軸サーボモータ40、Z軸サーボモータ41、R軸サーボモータ42、コンベア駆動モータ43などの各モータを回転させる。
記憶部35には制御プログラムや各種のデータなどが記憶されている。各種のデータには、生産が予定されているプリント基板の生産枚数や品種に関する情報、プリント基板に実装される部品Eの個数や種類等を含む情報、プリント基板上の部品Eの搭載位置に関する情報、部品供給装置12に保持された部品Eの数や種類に関する情報等が含まれている。
画像処理部36は部品撮像カメラ15から出力される画像信号が取り込まれるように構成されており、出力された画像信号に基づいてデジタル画像を生成する。
外部入出力部37はいわゆるインターフェースであり、表面実装機1の本体に設けられる各種センサ類44から出力される検出信号が取り込まれるように構成されている。また、外部入出力部37は演算処理部33から出力される制御信号に基づいて各種アクチュエータ類45に対する動作制御を行うように構成されている。
フィーダ通信部38はフィーダ16に接続されており、フィーダ16を統括して制御する。
操作部32は液晶ディスプレイなどの表示装置、タッチパネル、キーボード、マウスなどの入力装置を備えており、オペレータから各種の操作を受け付ける。
(3)部品の一例
次に、図5及び図6を参照して、部品Eの一例について説明する。部品Eは半導体パッケージの一種であるSOPであり、平面視略矩形の部品本体50と、部品本体50の側面から延出している複数のリード51(電極の一例)とを備えている。なお、図6では部品本体50の下面50Aが水平面に対して傾いている場合を示しているが、ここでは傾いていないと仮定して説明する。
図6に示すように、リード51は部品本体50の側面から水平方向に延びる基端部51Aと、基端部51Aの先端から下に傾斜している傾斜部51Bと、傾斜部51Bの先端から水平方向に延びる接合部51Cとを有している。接合部51Cはプリント基板に接合される部分である。
ここで、本実施形態では表面実装機1の上流側に図示しない塗布装置が配置されており、プリント基板において接合部51Cが接合される位置には塗布装置によって半田が塗布される。このため、表面実装機1によって部品Eがプリント基板に搭載されると接合部51C(より具体的には接合部51Cの下面53)が半田によってプリント基板に接合される。
また、図5に示すように、部品本体50の下面50Aの四隅の近傍には円形のマーク52が下面50Aの色とは異なる色で付されている。詳しくは後述するが、これらのマーク52は接合部51Cの平坦度の良否及び接合部51Cの浮きの有無を判定するためのものである。部品本体50の下面50Aは「部品の接合部以外の部分であって部品本体に対する位置が接合部の浮きの有無によらず略一定である部分」の一例である。
(4)接合部の平坦度の良否及び接合部の浮きの有無を判定する処理
ここでは先ず、図6、図7及び図8を参照して、接合部51Cの平坦度(所謂コプラナリティ)の良否及び接合部51Cの浮きの有無を判定する処理(以下、単に「平坦度及び浮き判定処理」という)の概略について説明する。
図6に示すように、部品Eは必ずしも部品本体50の下面50Aが水平になる姿勢で吸着ノズル19に吸着されているとは限らず、傾いた姿勢で吸着されている場合もある。このため、ここでは傾いた姿勢で吸着されている部品Eを例に説明する。
図6に示す部品Eは、傾いてはいるものの、部品本体50の下面50Aに直交する方向(図6に示すH方向)における各接合部51Cの位置はほぼ同じである。このため、当該方向における各接合部51Cの位置のばらつきは小さい。本実施形態では部品本体50の下面50Aに直交する方向(H方向)における各接合部51Cの位置のばらつきを接合部51Cの平坦度といい、ばらつきが小さい場合を平坦度が良好であるという。
これに対し、図7に示す部品Eは部品本体50の下面50Aに直交する方向(H方向)における各接合部51Cの位置のばらつきが大きい。このため図7に示す部品Eは平坦度が不良である。平坦度が不良の場合は一部の接合部51Cがプリント基板に十分に接触せず、接合不良が生じる虞がある。
そこで、制御部31は、吸着ノズル19によって部品Eを吸着してプリント基板に搭載するとき、吸着した部品Eを部品撮像カメラ15の上方に搬送し、部品撮像カメラ15によって部品Eを撮像する。そして、制御部31は部品Eを撮像して生成した画像に基づいて接合部51Cの平坦度の良否を判定し、平坦度が不良の部品Eについては不良部品として廃棄ボックスに廃棄するなどの所定のエラー処理を実行する。
また、前述した図6に示す部品Eではいずれの接合部51Cも下面53が部品本体50の下面50Aより下にある。すなわち、図6に示す部品Eではいずれの接合部51Cも部品本体50の下面50Aより上に浮いていない。
これに対し、図8に示すように、平坦度は良好であるものの(すなわち部品本体50の下面50Aに直交する方向における各接合部51Cの位置のばらつきは小さいものの)、全てのリード51の接合部51Cが部品本体50の下面50Aより上に同程度浮いてしまっている場合もある。接合部51Cが浮いているとプリント基板に十分に接触せず、接合不良が生じる虞がある。
そこで、制御部31は、平坦度が良好であると判断した場合は、更に、各接合部51Cの浮きの有無を判定し、浮きが有る接合部51Cが一つでもある場合はエラー処理を実行する。ここで、詳しくは後述するが、制御部31は浮きの有無を判定するとき、接合部51C間の相対関係ではなく、部品本体50の下面50Aに対する接合部51Cの絶対的な位置によって浮きの有無を判定する。
以下、図9を参照して、平坦度及び浮き判定処理について具体的に説明する。本処理は前述した制御プログラムを実行する制御部31によって実行されるものであり、吸着ノズル19によって吸着された部品Eが部品撮像カメラ15の上方に搬送されると開始される。
S101では、制御部31は鉛直方向カメラC1によって部品Eを撮像し、部品Eを表す画像(以下「鉛直画像」という)を生成する。
S102では、制御部31は、リード51毎に、鉛直画像に基づいて接合部51Cの下面53の中心点53A(図5参照)のXY座標を検出する。以降の説明では接合部51Cの下面53の中心点53Aのことを浮き判定点という。
なお、浮き判定点は接合部51Cの下面53の中心点53Aに限定されない。例えば、図7に示すように接合部51Cの下面53は傾斜している場合があるので、接合部51Cの下面53の最下端の点あるいは接合部51Cの下面53の最上端の点を浮き判定点としてもよい。
例えば、接合部51Cの下面53の最下端の点を浮き判定点とした場合、図7に示すように接合部51Cの下面53が右上がりに傾斜している場合は接合部51Cの下面53の左辺上にある点53B(例えば左辺の中心点)が浮き判定点となる。これに対し、図では示していないが、接合部51Cの下面53が右下がりに傾斜している場合は接合部51Cの下面53の右辺上にある点53C(例えば右辺の中心点)が浮き判定点となる。
すなわち、浮き判定点は、接合部51Cの下面53の中心点53Aといったように予め決定されている点であってもよいし、接合部51Cの下面53の最下端の点といったように予め設定されている規則に従って動的に決定される点であってもよい。
なお、接合部51Cの下面53の中心点53Aを浮き判定点とした場合は、接合部51Cの下面53の半分以上が部品本体50の下面50Aより下にある場合に浮きが無いと判定されることになる。
また、接合部51Cの下面53の最下端の点を浮き判定点とした場合は接合部51Cの下面53が少しでも部品本体50の下面50Aより下にあれば浮きが無いと判定されることになる。
これに対し、接合部51Cの下面53の最上端の点を浮き判定点とした場合は、接合部51Cの下面53全体が部品本体50の下面50Aより下になければ浮きが無いとは判定されないことになる。
S103では、制御部31は、マーク52毎に、鉛直画像に基づいて中心点(マーク上の点の一例)のXY座標を検出する。以降の説明において単にマーク52の座標というときはマーク52の中心点の座標のことをいう。
S104では、制御部31は斜め方向カメラC2によって部品Eを撮像し、部品Eを表す画像(以下「斜め画像」という)を生成する。なお、斜め方向カメラC2による撮像は前述したS101において鉛直方向カメラC1による撮像と同時に行われてもよい。
S105では、制御部31は、リード51毎に、斜め画像に基づいて浮き判定点53AのXY座標を検出する。
S106では、制御部31は、マーク52毎に、斜め画像に基づいて中心点のXY座標を検出する。
S107では、制御部31は、リード51毎に、鉛直画像に基づいて検出された浮き判定点53AのXY座標と斜め画像に基づいて検出された浮き判定点53AのXY座標との差に基づいて浮き判定点53AのZ座標を算出する。
具体的には、制御部31は、鉛直画像及び斜め画像の2つの画像に関し、浮き判定点53Aについての2つの画像における相対的なズレ量と、鉛直方向カメラC1と斜め方向カメラC2との相対角度の正接(本実施形態ではtan(90°−40°))とから、各浮き判定点53AのZ座標を算出する。これにより各リード51の浮き判定点53AのXYZ座標(3次元座標の一例)が検出される。
S108では、制御部31は、マーク52毎に、鉛直画像に基づいて検出されたマーク52のXY座標と斜め画像に基づいて検出されたマーク52のXY座標との差に基づいて中心点のZ座標を算出する。これにより各マーク52のXYZ座標(3次元座標の一例)が検出される。
S109では、制御部31は各マーク52のXYZ座標から部品本体50の下面50Aに略平行な基準平面56(図6、図7及び図8参照)を設定する。具体的には、制御部31は各マーク52のXYZ座標から最小二乗平面を算出し、算出した最小二乗平面を基準平面56として設定する。すなわち、本実施形態では部品本体50の下面50Aと基準平面56とが略一致する。
上述したS101、S103、S104、S106及びS109は設定処理の一例である。
S110では、制御部31は、リード51毎に、浮き判定点53Aと基準平面56との距離を算出する。この距離は点と平面との距離を求める公知の公式から算出することができる。この距離は前述した「部品本体50に対する接合部51Cの絶対的な位置」に相当する。
ここで、本実施形態では、浮き判定点53Aが鉛直方向において基準平面56より上側にある場合は算出した距離に負号(すなわちマイナス)を付すものとする。つまり、本実施形態でいうところの距離にはプラスの距離とマイナスの距離とがあるものとする。
S111では、制御部31は接合部51Cの平坦度の良否を判定する。
具体的には、制御部31はS110でリード51毎に算出した距離の最大値と最小値との差(=|最大値−最小値|)が閾値より大きいか否か(言い換えると部品本体50の下面50Aに直交する方向における各接合部51Cの位置のばらつきが大きいか否か)を判断する。制御部31は、差が閾値以下である場合(すなわち各接合部51Cの位置のばらつきが小さい場合)は平坦度が良好であると判定し、差が閾値より大きい場合(すなわち各接合部51Cの位置のばらつきが大きい場合)は平坦度が不良であると判定する。
S112では、制御部31はS111で平坦度が良好と判定した場合はS113に進み、不良と判定した場合は本処理を終了する。
S113では、制御部31は浮き判定点53AのXYZ座標と基準平面56との相対位置に基づいて接合部51Cの浮きの有無を判定する。具体的には、制御部31はS110でリード51毎に算出した距離の中にマイナスの距離が一つでもある場合は少なくとも一つの接合部51Cに浮きが有ると判定し、全てプラスの距離である場合はいずれの接合部51Cも浮きが無いと判定する。
なお、距離がマイナスであってもプリント基板に塗布されている半田の厚みによって接合部51Cの下面53が半田を介してプリント基板に接触することができる場合も考えられる。このため距離がマイナスであっても一定の範囲内であれば浮きが無いと判定するようにしてもよい。
上述したS101、S102、S104、S105、S107及びS113は判定処理の一例である。
(5)実施形態の効果
以上説明した実施形態1に係る判定装置によると、接合部51C間の相対関係ではなく、部品本体50の下面50Aに対する接合部51Cの絶対的な位置(ここでは浮き判定点53Aと基準平面56との距離)によって接合部51Cの浮きの有無を判定することができる。このため、全てのリード51の接合部51Cが部品本体50の下面50Aより上に同程度浮いてしまっている場合は全ての接合部51Cについて浮きが有ると判定されることになる。よって判定装置によると、全てのリード51の接合部51Cが部品本体50の下面50Aより上に同程度浮いてしまっていても接合部51Cの浮きの有無を判定することができる。
更に、判定装置によると、「部品の接合部以外の部分であって部品本体に対する位置が接合部の浮きの有無によらず略一定である部分上の3以上の点」のXYZ座標として部品本体50の下面50Aに付されている3以上のマーク52のXYZ座標を検出するので、マーク52が付されていない場合に比べて各点の特定が容易になる。このため各点のXYZ座標をより確実に検出することができる。
更に、表面実装機1によると、全てのリード51の接合部51Cが部品本体50の下面50Aより上に同程度浮いてしまっていても接合部51Cの浮きの有無を判定することができる。
<実施形態2>
次に、本発明の実施形態2を図10ないし図12によって説明する。
図10に示すように、実施形態2に係る部品Eは部品本体50の下面50Aにマーク52が付されていない。このため、図10及び図11に示すように、実施形態2に係る制御部31は、少なくとも3つのリード51の基端部51Aの下面60の中心点61(図10参照)の3次元座標から基準平面65(図11参照)を設定する。基端部51Aの下面60は「部品の接合部以外の部分であって部品本体に対する位置が接合部の浮きの有無によらず略一定である部分」の一例である。
なお、基準平面65を設定するための点は基端部51Aの下面60上の中心点61に限定されるものではなく、基端部51Aの下面60上の他の点であってもよい。ただし、部品本体50に近いほど浮きの影響を受け難くなって部品本体50に対する位置が安定するので、部品撮像カメラ15の視野に入る範囲でなるべく部品本体50に近い点が望ましい。
次に、図11及び図12を参照して、実施形態2に係る平坦度及び浮き判定処理について説明する。
図11に示すように、実施形態2では基準平面65と部品本体50の下面50Aとが一致しない。そこで、図12に示すように、制御部31は、S109で基準平面65を設定した後、S110の前に、S109で設定した基準平面65が部品本体50の下面50Aと一致するように基準平面65を当該基準平面65に直交する方向に所定距離だけ平行移動させる(S201)。
上述した所定距離は、具体的には部品本体50の下面50Aに直交する方向における部品本体50の下面50Aから基端部51Aの下面60までの距離に相当する。所定距離は予め記憶部35に記憶されているものとする。
なお、ここでは基準平面65を平行移動させる場合を例に説明したが、基準平面65を平行移動させるのではなく、各浮き判定点について基準平面65との距離を算出し、算出した距離にそれぞれ上述した所定距離を加算した距離を浮き判定点と部品本体50の下面50Aとの距離として浮きの有無を判定してもよい。
実施形態2はその他の点において実施形態1と実質的に同一である。
以上説明した実施形態2に係る判定装置によると、リード51の基端部51Aの下面60は部品本体50に対する位置が接合部51Cの浮きの有無によらず略一定であるので、下面60の中心点61のXYZ座標を検出して基準平面65を設定すると、部品本体50の下面50Aにマーク52が付されていない部品Eであっても、接合部51Cの浮きの影響を受けずに(あるいは浮きの影響が小さい)基準平面65を設定することができる。このため、マーク52が付されていない部品Eであっても、部品本体50の下面50Aに対して全ての電極の接合部51Cが同程度浮いてしまっていても接合部51Cの浮きの有無を判定することができる。
<他の実施形態>
本明細書で開示される技術は上記既述及び図面によって説明した各実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような各実施形態も技術的範囲に含まれる。
(1)上記実施形態では浮き判定点が接合部51Cの下面53に設定されている場合を例に説明したが、浮き判定点は接合部51Cの上面や側面に設定されていてもよい。それらの面に浮き判定点が設定されていても、浮き判定点と接合部51Cの下面53との位置関係から接合部51Cの浮きの有無を判断することは可能だからである。
(2)上記実施形態ではカメラを用いて浮き判定点53Aやマーク52の中心点のXYZ座標を検出する検出部を例に説明したが、検出部はこれらの点のXYZ座標を検出できるものであればカメラを用いるものに限定されない。
(3)上記実施形態1では浮き判定点53Aと基準平面56との距離がプラスの距離であるか否かによって浮きの有無を判定する場合を例に説明した。これに対し、浮き判定点53Aが鉛直方向において基準平面56より上側にあるか下側にあるかによって浮きの有無を判定してもよい。実施形態2についても同様である。
(4)上記実施形態1ではマーク52上の点としてマーク52の中心点を例に説明したが、マーク52上の点はマーク52の中心点に限定されるものではない。
(5)上記実施形態2では部品本体50の下面50Aにマーク52が付されていない場合は基準平面65を設定するための3以上の点をリード51の基端部51Aの下面60に設定する場合を例に説明した。これに対し、部品本体50の下面50Aにマーク52が付されていない場合であっても、リード51の基端部51Aの下面ではなく部品本体50の下面50Aにそれらの点を設定してもよい。
(6)上記実施形態1及び2では基準平面56あるいは基準平面65を設定するための3以上の点が部品本体50の下面50Aに略平行な平面上にある場合を例に説明した。しかしながら、これらの点は必ずしも部品本体50の下面50Aに略平行な平面上になくてもよい。例えば部品本体50の下面50Aに2つの点を設定し、リード51の基端部51Aの下面60に3つめの点を設定してもよい。この場合もそれらの点から算出される最小二乗平面を傾けることによって部品本体50の下面50Aと略平行な基準平面を設定することができるからである。
(7)上記実施形態1及び2では部品本体の側面から延出している複数の電極を備える部品としてSOPを例に説明したが、部品はSOPに限定されるものではなく、例えばQFPであってもよい。
1…表面実装機、15…部品撮像カメラ(検出部、判定装置の一例)、31…制御部(判定装置の一例)、50…部品本体、50A…部品本体の下面、51…リード(電極の一例)、51C…接合部、53A…中心点(接合部上の点の一例)、52…マーク、56…基準平面、61…中心点(接合部以外の部分上の点の一例)、65…基準平面、E…部品

Claims (4)

  1. 部品本体と、前記部品本体の側面から延出している複数の電極であってそれぞれ基板に接合される接合部を有する複数の電極とを備える部品の前記部品本体の下面に対する前記接合部の浮きの有無を判定する判定装置であって、
    前記部品上の点の3次元座標を検出する検出部と、
    制御部と、
    を備え、
    前記制御部は、
    前記部品の前記接合部以外の部分であって前記部品本体に対する位置が前記接合部の浮きの有無によらず略一定である部分上の3以上の点の3次元座標を前記検出部によって検出し、検出した3次元座標に基づいて、前記部品本体の下面に略平行な基準平面を設定する設定処理と、
    前記電極毎に前記接合部上の点の3次元座標を前記検出部によって検出し、検出した3次元座標と前記基準平面との相対位置に基づいて前記接合部の浮きの有無を判定する判定処理と、
    を実行する、判定装置。
  2. 前記部品本体の下面に3以上のマークが付されており、
    前記制御部は、前記設定処理において、前記マーク毎に当該マーク上の点の3次元座標を前記検出部によって検出することによって前記3以上の点の3次元座標を検出する、請求項1に記載の判定装置。
  3. 前記3以上の点はそれぞれ互いに異なる前記電極の前記接合部以外の部分上の点である、請求項1に記載の判定装置。
  4. 請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の判定装置を備える表面実装機。
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