JPH0415433B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0415433B2 JPH0415433B2 JP57127910A JP12791082A JPH0415433B2 JP H0415433 B2 JPH0415433 B2 JP H0415433B2 JP 57127910 A JP57127910 A JP 57127910A JP 12791082 A JP12791082 A JP 12791082A JP H0415433 B2 JPH0415433 B2 JP H0415433B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- receiving element
- emitting element
- reflective
- light emitting
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 19
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 16
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V8/00—Prospecting or detecting by optical means
- G01V8/10—Detecting, e.g. by using light barriers
- G01V8/12—Detecting, e.g. by using light barriers using one transmitter and one receiver
- G01V8/14—Detecting, e.g. by using light barriers using one transmitter and one receiver using reflectors
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、検出装置に関するものであり、詳し
くは、紙、フイルム等の平板状物体の検出に用い
る反射式検出装置に関するものである。
くは、紙、フイルム等の平板状物体の検出に用い
る反射式検出装置に関するものである。
従来、この種の検出装置には、無接触で薄紙、
ガラス、プラスチツク等の透明な被検出物体の有
無の検出を行なえる反射型ホトセンサが使用され
てきた。
ガラス、プラスチツク等の透明な被検出物体の有
無の検出を行なえる反射型ホトセンサが使用され
てきた。
反射型ホトセンサを用いた検出装置は、従来、
第３図のように、発光素子１１と受光素子１２の
光軸が同一平面内である距離を隔てて交わるよう
に発光素子１１、受光素子１２が併置された反射
型ホトセンサが使用されている。第３図ａは、従
来例の検出状態であり、発光素子１１から出た光
は、矢印Ｅの方向Ｋ進み、被検出物体４にあた
る。そこで反射された光が、矢印Ｆの方向に進
み、受光素子１２により検出される。しかし第３
図ｂのように、検出位置の制約により検出位置直
後に、フレーム等の物体５があると、被検出物体
がなくても、発光素子１１から出た光は、物体５
にあたり反射され、矢印GHの光路をとり受光素
子１２が検出してしまい、被検出物体の有無を検
出するのが不可能になつたり、また、検出可能で
あるが被検出物体の有無による受光素子の出力の
電位差が小さく、検出装置後片の検出回路の構成
が困難になるという欠点があつた。
第３図のように、発光素子１１と受光素子１２の
光軸が同一平面内である距離を隔てて交わるよう
に発光素子１１、受光素子１２が併置された反射
型ホトセンサが使用されている。第３図ａは、従
来例の検出状態であり、発光素子１１から出た光
は、矢印Ｅの方向Ｋ進み、被検出物体４にあた
る。そこで反射された光が、矢印Ｆの方向に進
み、受光素子１２により検出される。しかし第３
図ｂのように、検出位置の制約により検出位置直
後に、フレーム等の物体５があると、被検出物体
がなくても、発光素子１１から出た光は、物体５
にあたり反射され、矢印GHの光路をとり受光素
子１２が検出してしまい、被検出物体の有無を検
出するのが不可能になつたり、また、検出可能で
あるが被検出物体の有無による受光素子の出力の
電位差が小さく、検出装置後片の検出回路の構成
が困難になるという欠点があつた。
本発明の目的は、被検出物と検出位置背後の物
体との区別を容易にし、被検出物の形状、表面状
態に係わらず、その有無を精度よく検出する反射
式検出装置を得ることにある。
体との区別を容易にし、被検出物の形状、表面状
態に係わらず、その有無を精度よく検出する反射
式検出装置を得ることにある。
本発明による平板状物体の反射式検出装置は、
発光素子及び受光素子と、発光素子及び受光素子
の互いの光路を同一平面内で平行もしくは非交差
状態に併置せるよう発光素子及び受光素子をパツ
ケージで支持したホトセンサと、発光素子からの
光線を反射する第１の反射面と第１の反射面で反
射された光線を受光素子の方向に反射する第２の
反射面とを一体的に備えた逆進光学手段とを有
し、逆進光学手段とホトセンサとを対向配置し、
平板状物体を逆進光学手段とホトセンサとの間に
介在させるよう構成したことを特徴としている。
発光素子及び受光素子と、発光素子及び受光素子
の互いの光路を同一平面内で平行もしくは非交差
状態に併置せるよう発光素子及び受光素子をパツ
ケージで支持したホトセンサと、発光素子からの
光線を反射する第１の反射面と第１の反射面で反
射された光線を受光素子の方向に反射する第２の
反射面とを一体的に備えた逆進光学手段とを有
し、逆進光学手段とホトセンサとを対向配置し、
平板状物体を逆進光学手段とホトセンサとの間に
介在させるよう構成したことを特徴としている。
本発明を図面により詳しく説明すると、第１図
は、本発明による一実施例であり、１は発光素
子、２は受光素子であり互いの光路は非交差状
態、すなわち平行あるいは互いに遠方へ行くに従
つて離れるよう併置されたパツケージ６に一体に
支持されている。
は、本発明による一実施例であり、１は発光素
子、２は受光素子であり互いの光路は非交差状
態、すなわち平行あるいは互いに遠方へ行くに従
つて離れるよう併置されたパツケージ６に一体に
支持されている。
第１図ａは被検出物体が無いときの光路を示
す。発光素子１から出た光は矢印Ａの方向に進ん
で、反射壁３ａにあたり、矢印Ｂの方向に進み、
次に反射壁３ｂにあたり反射されて矢印Ｃに示す
ように受光素子２に入射して検出される。反射壁
３ａによる第１の反射面と反射壁３ｂによる第２
の反射面は一体に形成されていて、通常光路Ａ−
Ｂによる反射角と光路Ｂ−Ｃによる反射角とは等
しくなるよう構成されていていわゆる逆進光学手
段を形成している。反射壁をこのように構成する
ことによつて反射壁の配置角がずれたり、ホトセ
ンサと反射壁の距離がばらついても発光素子から
の光路は最終的に受光素子の光路として反射され
る性質を備え、反射式検出装置の信頼性を高める
ことになる。
す。発光素子１から出た光は矢印Ａの方向に進ん
で、反射壁３ａにあたり、矢印Ｂの方向に進み、
次に反射壁３ｂにあたり反射されて矢印Ｃに示す
ように受光素子２に入射して検出される。反射壁
３ａによる第１の反射面と反射壁３ｂによる第２
の反射面は一体に形成されていて、通常光路Ａ−
Ｂによる反射角と光路Ｂ−Ｃによる反射角とは等
しくなるよう構成されていていわゆる逆進光学手
段を形成している。反射壁をこのように構成する
ことによつて反射壁の配置角がずれたり、ホトセ
ンサと反射壁の距離がばらついても発光素子から
の光路は最終的に受光素子の光路として反射され
る性質を備え、反射式検出装置の信頼性を高める
ことになる。
第１図ｂは、被検出物体があるときの光路を示
す。発光素子１から出た光は、矢印Ａの方向に進
み被検出物体４にあたり、そこで反射されて矢印
Ｄの方向に進むため、受光素子２では検出されな
い。このように本発明では被検出物体４があると
き、受光素子２はオフの状態になり、被検出物体
４がないときオンの状態になる。
す。発光素子１から出た光は、矢印Ａの方向に進
み被検出物体４にあたり、そこで反射されて矢印
Ｄの方向に進むため、受光素子２では検出されな
い。このように本発明では被検出物体４があると
き、受光素子２はオフの状態になり、被検出物体
４がないときオンの状態になる。
第２図は、本発明による他の実施例であり、上
記の実施例における反射壁を反射型ホトセンサの
パツケージ１６と一体化したもので、発光素子１
から出た光は矢印Ａ，Ｂ，Ｃの如く反射壁１３
ａ，１３ｂにあたつて反射し、受光素子２に入射
して検出される。この場合、反射壁の配置角や、
ホトセンサと反射壁の距離などのばらつきが抑制
され、ホトセンサと反射壁の位置合わせが不要と
なる利点を有している。
記の実施例における反射壁を反射型ホトセンサの
パツケージ１６と一体化したもので、発光素子１
から出た光は矢印Ａ，Ｂ，Ｃの如く反射壁１３
ａ，１３ｂにあたつて反射し、受光素子２に入射
して検出される。この場合、反射壁の配置角や、
ホトセンサと反射壁の距離などのばらつきが抑制
され、ホトセンサと反射壁の位置合わせが不要と
なる利点を有している。
［発明の効果］
詳述した如く、本発明によれば反射壁は発光素
子からの光線を反射する第１の反射壁とこの第１
の反射壁で反射された光線を受光素子の方向に反
射する第２の反射壁とが凹形状に一体としたいわ
ゆる逆進光学手段であることにより、反射壁とホ
トセンサとの距離がある程度移動してもまた、反
射壁の平面上の配置角がずれても発光素子と反射
面、受光素子と反射面との２つの光軸がずれない
ため反射壁とホトセンサの配置に精度を必要とし
ない利点を有している。
子からの光線を反射する第１の反射壁とこの第１
の反射壁で反射された光線を受光素子の方向に反
射する第２の反射壁とが凹形状に一体としたいわ
ゆる逆進光学手段であることにより、反射壁とホ
トセンサとの距離がある程度移動してもまた、反
射壁の平面上の配置角がずれても発光素子と反射
面、受光素子と反射面との２つの光軸がずれない
ため反射壁とホトセンサの配置に精度を必要とし
ない利点を有している。
また、反射壁とホトセンサとの間に被検出物体
を配置する構造にすることによつて、２つの反射
面と発光素子、受光素子との間の光路の少なくと
も一方の光路を遮ることにより被検出物体を検知
することができ被検出物体の有無を明確に検出す
る効果がある。
を配置する構造にすることによつて、２つの反射
面と発光素子、受光素子との間の光路の少なくと
も一方の光路を遮ることにより被検出物体を検知
することができ被検出物体の有無を明確に検出す
る効果がある。
さらに、発光素子と受光素子の光軸が交差しな
い構成としているため、たとえ被検出物体が反射
物であつても反射光は発光素子の側に戻される
か、受光素子とは逆の方向へ反射され確実に被検
出物の検出が可能であると言う特徴を有してい
る。
い構成としているため、たとえ被検出物体が反射
物であつても反射光は発光素子の側に戻される
か、受光素子とは逆の方向へ反射され確実に被検
出物の検出が可能であると言う特徴を有してい
る。
第１図、第２図は、本発明による反射式検出装
置の実施例の縦断面図、第３図は従来例の縦断面
図である。 １，１１……発光素子、２，１２……受光素
子、３ａ，３ｂ，１３ｂ……反射壁、４……被検
出物体、５……物体、６，２６……パツケージ。
置の実施例の縦断面図、第３図は従来例の縦断面
図である。 １，１１……発光素子、２，１２……受光素
子、３ａ，３ｂ，１３ｂ……反射壁、４……被検
出物体、５……物体、６，２６……パツケージ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 平板上物体の有無を検出する反射式検出装置
に於いて、 発光素子及び受光素子と、該発光素子及び受光
素子の互いの光路を同一平面内で平行もしくは非
交差状態に併置せるよう前記発光素子及び受光素
子をパツケージで支持したホトセンサと、前記発
光素子からの光線を反射する第１の反射面と該第
１の反射面で反射された光線を前記受光素子の方
向に反射する第２の反射面とを一体的に備えた逆
進光学手段とを有し、前記逆進光学手段と前記ホ
トセンサとを対向配置し、前記平板状物体を前記
逆進光学手段と前記ホトセンサとの間に介在させ
るよう構成したことを特徴とする平板状物体の反
射式検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57127910A JPS5918474A (ja) | 1982-07-22 | 1982-07-22 | 平板状物体の反射式検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57127910A JPS5918474A (ja) | 1982-07-22 | 1982-07-22 | 平板状物体の反射式検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5918474A JPS5918474A (ja) | 1984-01-30 |
| JPH0415433B2 true JPH0415433B2 (ja) | 1992-03-17 |
Family
ID=14971672
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57127910A Granted JPS5918474A (ja) | 1982-07-22 | 1982-07-22 | 平板状物体の反射式検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5918474A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10838358B2 (en) | 2017-11-07 | 2020-11-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus that has sheet sensor |
| US10866555B2 (en) | 2017-01-19 | 2020-12-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus capable of detecting sheet |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60145062U (ja) * | 1984-03-08 | 1985-09-26 | 株式会社 寺岡精工 | ラベルプリンタ |
| JPS61170559A (ja) * | 1985-01-21 | 1986-08-01 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 被覆超硬合金 |
| JP2699815B2 (ja) * | 1985-09-06 | 1998-01-19 | 三菱マテリアル株式会社 | 耐摩耗性のすぐれた表面被覆エンドミル |
| JPH01255657A (ja) * | 1988-04-02 | 1989-10-12 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 被覆硬質合金およびその製造方法 |
| US5075181A (en) * | 1989-05-05 | 1991-12-24 | Kennametal Inc. | High hardness/high compressive stress multilayer coated tool |
| US5250367A (en) * | 1990-09-17 | 1993-10-05 | Kennametal Inc. | Binder enriched CVD and PVD coated cutting tool |
| US5266388A (en) * | 1990-09-17 | 1993-11-30 | Kennametal Inc. | Binder enriched coated cutting tool |
| US5232318A (en) * | 1990-09-17 | 1993-08-03 | Kennametal Inc. | Coated cutting tools |
| DE549584T1 (de) * | 1990-09-17 | 1993-10-14 | Kennametal Inc | Cvd- und pvd-beschichtete schneidwerkzeuge. |
| US5750247A (en) * | 1996-03-15 | 1998-05-12 | Kennametal, Inc. | Coated cutting tool having an outer layer of TiC |
| DE10260512B4 (de) * | 2002-12-21 | 2005-03-03 | Diehl Ako Stiftung & Co. Kg | Blende eines optischen Sensors |
| JP2007093337A (ja) * | 2005-09-28 | 2007-04-12 | Sunx Ltd | 光電センサ |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5526420B2 (ja) * | 1975-09-04 | 1980-07-12 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS48100182U (ja) * | 1972-02-26 | 1973-11-26 | ||
| JPS6123827Y2 (ja) * | 1978-07-26 | 1986-07-16 |
-
1982
- 1982-07-22 JP JP57127910A patent/JPS5918474A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5526420B2 (ja) * | 1975-09-04 | 1980-07-12 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10866555B2 (en) | 2017-01-19 | 2020-12-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus capable of detecting sheet |
| US10838358B2 (en) | 2017-11-07 | 2020-11-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus that has sheet sensor |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5918474A (ja) | 1984-01-30 |
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