JP2503523Y2 - アクティブ測距装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 A.産業上の利用分野 この考案はカメラ用のアクティブ測距装置に関するも
のである。

B.従来の技術 従来のアクティブ測距装置の投光及び受光を行う部分
は、第３図に図示するよう赤外変調光を放射する投光素
子（３）、放射光を集束する投光レンズ（５）、被写体
からの反射光を集束する受光レンズ（６）、その光を受
光する受光素子（４）及びこれらを保護し外観を整えて
る透光部材（１）から構成されている。

しかし、透光部材（１）の端面（1b）には反射防止処
理が施されていなかった。

C.考案が解決しようとする課題 従来のアクティブ測距装置には次のような問題があっ
た。

透光部材（１）の端面（1b）に反射防止処理が施され
ていないために、第３図に点線で図示するように端面
（1b）において透光部材（１）に斜めに入射した光が反
射し、透光部材（１）内に戻り迷光となる。透光部材
（１）は透明な平面板であり、平滑な両面において光が
全反射する導光板（ライトガイド）として作用し、他の
端面（1c）に到達して反射し、透光部材（１）外に射出
する。受光レンズ（６）側に戻った光は受光素子（４）
に入射し受光される。

端面（1b）に到達する光の全投光素子（３）から放射
される光に対する割合は小さいが、被写体において反射
し再び受光素子（４）に入射し受光される光の全投光素
子（３）から放射される光に対する割合も小さいから、
この迷光による受光素子（４）における入射光の位置及
び強度に及ぼす影響は無視し得ない大きさとなり誤測距
の原因となる。特に被写体までの距離が大きいと反射し
て戻る光量が小さく、迷光の影響で測距不能となる場合
があった。

又これを避けるために透光部材（１）を大きくする
と、カメラが大きくなってしまう問題があった。

D.課題を解決するための手段 本考案は上記課題を解決するために、被写体に光を投
射する投光器（３、５）と該投射された光の該被写体に
おける反射光を受光し、該被写体までの距離に対応した
信号を出力する受光器（４、６）と、該投光器及び受光
器の該被写体側に配設された透光部材（１）とを有する
アクティブ測距装置において、 該透光部材（１）が端面（1a）に反射防止処理が施さ
れたものであるアクティブ測距装置を構成した。

又、該反射防止処理をシボ加工処理又は塗装加工処理
とした。

E.作用 透光部材（１）の端面（1b）における反射が防止さ
れ、迷光が受光素子（４）に入射し受光されることがな
い。

F.考案の実施例 本考案の第１の実施例を設置したカメラについて第１
図により説明する。

第１図は本実施例を設置したカメラの正面図である。

カメラの前面に設置された前板（２）の上部には、透
光部材（１）が同一面に設けられ、その後部に投光レン
ズ（５）及び受光レンズ（６）が設置されている。

本考案の第１の実施例について第２図により説明す
る。

第２図は本実施例の断面図である。

カメラの上部前面に設置された測距装置の投光及び受
光を行う部分は、赤外変調光を放射する投光素子
（３）、放射された赤外変調光を集束する投光レンズ
（５）、被写体から反射して戻ってきた赤外変調光を集
束する受光レンズ（６）及びその光を受光する受光素子
（４）及びこれらを保護し外観を整える透明な平行平面
板である透光部材（１）から構成されている。

投光素子（３）及び受光素子（４）はそれぞれ複数の
素子（3a）、（3b）、（3c）及び（4a）、（4b）、（4
c）で構成されている。

透光部材（１）の前板（２）に接する端面（1a）には
反射防止のためにシボ加工が施されている。

次に光の進路について説明する。

投光素子（３）から放射された赤外変調光は、投光レ
ンズ（５）により集束され透光部材（１）を透過し、被
写体において反射し、再び透光部材（１）を透過し、受
光レンズ（６）により集束され、受光素子（４）に入射
し受光される。そして受光素子（４）における入射光の
位置及び強度から距離を測定する。

投光素子（３）から放射された赤外変調光は、投光レ
ンズ（５）により集束されるが、一部は第２図に点線で
図示するように透光部材（１）の前板（２）に接する端
面（1a）に到達する。特に投光素子（３）が複数の素子
よりなる本実施例の場合は斜め方向の放射量が大きく投
光レンズ（５）に近い方の端面（1a）においてはかなり
強く光が入射する。しかしこの光は端面（1a）に反射防
止のシボ加工が施されているから反射して迷光となって
透光部材（１）内に戻ることはない。

もし端面（1a）にシボ加工が施されていないと、第３
図に点線で図示するようにシボ加工が施されていない端
面（1b）においてこの光が反射し、透光部材（１）内に
戻り迷光となる。透光部材（１）は透明な平面板であ
り、平滑な両面において光が全反射する導光板（ライト
ガイド）として作用し、他の端面（1c）に到達して反射
し、透光部材（１）外に射出する。受光レンズ（６）側
に戻った光は受光素子（４）に入射し受光される。

端面（1b）に到達する光の全投光素子（４）から放射
される光に対する割合は小さいが、被写体において反射
し再び受光素子（４）に入射し受光される光の全投光素
子（３）から放射される光に対する割合も小さいから、
この迷光による受光素子（４）における入射光の位置及
び強度に及ぼす影響は無視し得ない大きさとなり誤測距
の原因となる。特に被写体までの距離が大きいと反射し
て戻る光量が小さいから、迷光の影響で測距不能となっ
てしまう。

本実施例によりこの迷光による受光素子（４）におけ
る入射光の位置及び強度に及ぼす影響を避けることが出
来る。

第２の実施例は端面（1a）に塗装処理を施したもので
ある。その他については第１の実施例と同様である。

尚透光部材（１）の端面（1a）に施す反射防止処理
は、各部の配置関係等によっては必ずしも全端面に施さ
ず投光素子（３）に近接した部位のみで充分に反射防止
が行われる場合があるのは言うまでもない。

又透光部材を大きくする必要がなくカメラが大きくな
ってしまうことがない。

G.考案の効果 本考案によれば、透光部材の端面における反射が防止
され、迷光が受光器に入射し受光されることがないか
ら、誤測距又は被写体までの距離が大きいときの測距不
能が避けられる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案による一実施例の装置を設置したカメラ
の正面図、 第２図は本実施例の断面図、 第３図は従来例の断面図である。 〔主要部分の符号の説明〕 （１）：透光部材 （1a）：端面 （２）：前板 （３）：投光素子 （４）：受光素子 （５）：投光レンズ （６）：受光レンズ

Claims (3)

(57)【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】被写体に光を投射する投光器と；前記投射
   された光の前記被写体における反射光を受光し、前記被
   写体までの距離情報に対応した信号を出力する受光器
   と；前記投光器及び受光器の該被写体側に配設された透
   光部材と；を含むアクティブ測距装置において、 前記投光器に対し露呈しない、前記透光部材の端面に反
   射防止処理が施されていることを特徴とするアクティブ
   測距装置。
2. 【請求項２】前記反射防止処理がシボ加工処理であるこ
   とを特徴とする請求項１に記載のアクティブ測距装置。
3. 【請求項３】前記反射防止処理が塗装加工処理であるこ
   とを特徴とする請求項１に記載のアクティブ測距装置。