JPH04139624A - 光学ヘッドとその調整方法 - Google Patents
光学ヘッドとその調整方法Info
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- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
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Abstract
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Description
み出し/書き込みを行う光学ヘッドと、その調整方法に
関し、 レーザ発光素子の光軸と光学系の光軸とを一致できるよ
うにすることによって、オフトラックが少ない光学ヘッ
ドを安価に実現することを目的とし、 レーザ発光素子と光学素子とを組み合わせて成る光学ヘ
ッドにおいて、光学素子の光軸に対して、レーザ発光素
子の光軸方向を可変可能に取り付けて成るよう構成する
。
の光軸と一致させるよう調整する。
D (LASEliDISK) 、OD3(OPTIC
AL DIGITAL DATA DISK)等を記録
媒体として使用する光デイスク装置において、光ディス
クからのデータの読み出し/書き込みを行う光学ヘッド
と、その調整方法に関する。
込みは、コヒーレント特性を有するレーザ光を用いて行
っている。しかも、光ディスクのトレースは、ビーム径
が1μmオーダーのレーザビームによって行っている。
ッドの光学系には、高い光学処理精度が必要である。
いる。
平面図、(b)は(a)の右側面図、(c)は(b)の
A−A断面図、である。
DIODE)2のレーザ光を光学的に処理し、ビーム
出射部3から光ディスクに向けてレーザビームを照射す
る仕組である。
6a 、 6bによってヘッドベース4に取り付けてい
る。
受けてLD 2がレーザ発振し、1LD2から出射す
る直線偏向のレーザ光をコリメータレンズ8で平行光に
変換する。
ームに変換し、ビームスプリンタ10を透過して対物レ
ンズ11で光ディスク12に集束する。
上の記録データに応じて強度が変化し、対物レンズ11
で平行光に変換した後、ビームスプリッタ10でハーフ
ミラ−13側へ反射され、該ノh−フミラーとレンズ1
4a、 14bを介して光検知器15.16に入射する
。
17を得る。また、光検知器16から光ディスクのトレ
ースに関するサーボ信号18を得る。
種類によって強度変化を受ける場合や偏向面の回転を受
ける場合等があり、それらによって、光学ヘッドの処理
系も若干界なる。
。
明する斜視図、である。
2の基準面19をレーザ光の出射方向の基準として取
り付ける。すなわち、レーザ光は基準面19に対して垂
直方向に出射する。
が一致するようにiLD 2を図上のX方向とY方向
とに位置調整する。その結果、光学系の光軸25とり、
D2の光軸とが一致する。
ことによって、該コリメータレンズ8から図上の上方向
に出射するレーザ光を光学系の光軸25と平行のビーム
光にする。すなわち、平行ビーム光が得られる場合は、
コリメータレンズ8の焦点位置にLD 2の発光点2
7が位置する場合である。
明する。
を説明する図で、(a)はオントランク状態を説明する
図、(b) (c)はオフトラック状態を説明する図、
である。
照射した際に、その反射光の強度分布21a21b、2
1cを光検知器16A、 16Bで検知し、レーザビー
ムのトラッキング状態を検出する方法である。
A、 16Bの検知出力信号が同一となる。したがって
、差動増幅器23の出力電圧e0は0(ゼロ)である。
クした場合であり、光検知器16Aの検知出力信号の大
きさが光検知W16Bの検知出力信号の大きさよりも大
きくなる。したがって、差動増幅器23の出力電圧e0
は−(マイナス)出力となる。
クした場合であり、光検知器16Aの検知出力信号の大
きさよりも光検知器16Bの検知出力信号の大きさが大
きくなる。したがって、差動増幅器23の出力電圧e0
は±(プラス)出力となる。
のトラッキング状態を知ることができる。
ビームの強度分布が、光学系の光軸に対して非対称であ
る場合は、該レーザビームのトランキングエラーを生じ
る問題がある。
の半径方向に生じる場合に、トランキングエラーが発生
し問題となる。
を説明する図で、(a)は光学系の光軸とLDの光軸と
が一致している場合のレーザビームの光量分布を説明す
る回、(b)は(a)のトラック検出結果を説明する図
、(c)は光学系の光軸に対しLDの光軸方向が不一致
の場合のレーザビームの光量分布を説明する図、(d)
は(c)のトラック検出結果を説明する図、である。
軸26が基準面19に対して垂直である場合は、LD
2の光軸26と光学系の光軸25とが一致し、レーザ
ビームの光量分布24は光学系の光軸25をピークとし
て対称に分布する。
2のビット20から得られる反射光の強度分布21aは
、光検知器16Aと光検知器16Bとで等しくなり、差
動増幅器23の出力電圧e0は0(ゼロ)となる。
aが基準面19に対して傾いている場合は、LD 2
aの光軸26aと光学系の光軸25との間に△θの方向
誤差を生じ、LD2aから出射するレーザ光は該LD2
aの光軸26a方向へ最も強(出射される為、レーザビ
ームの光量分布24aのピーク位置が光学系の光軸25
から逸れ、光学系の光軸25に対して非対称に分布する
。
が光ディスク12のビット20にオントラックしている
にも係わらず、該ビット20から得られる反射光の強度
分布21dは、光検知器i6Aの検知出力信号の大きさ
よりも光検知器16Bの検知出力信号の大きさが大きく
なる。
)出力となり、オフトランク状態を示す。
の補正を行い、図上で示せばビット2oの右側にオフト
ラックさせることになる。
由は、レーザダイオードの半導体チップをパッケージに
ポンディングする場合に方向誤差を生じるためであり、
例えば、角度にして2〜3°程度の許容偏差を有してい
る。
ることも可能であるが、その場合、LDの製造コストが
極端に高くなる。そのため、光デイスク装置のコスト全
体を押し上げることになる。
のような問題を解消し、LDの光軸と光学系の光軸とを
一致できるようにすることによって、オフトラックが少
ない光学ヘッドを安価に実現することにある。
に、取り付は角度を可変できる構成としたところに特徴
がある。
合わせて成る光学ヘッドにおいて、光学素子8aの光軸
25aに対して、レーザ発光素子2bの光軸26b方向
を可変可能に取り付けて成る光学ヘッドである。
素子2bの光軸26b方向を可変し、レーザビームの光
量分布24bの最大点を、光学素子の光軸25aと一致
させる調整方法を採る。
6b方向を可変可能である。
発光素子2bの基準面19に対して傾いている場合であ
っても、該傾きに相当する角度θだけレーザ発光素子2
bの取り付は角度を可変することによって、レーザ発光
素子2bの光軸26bと光学系の光軸25aとを同一方
向に一致させることが可能である。
は、光学系の光軸25a方向へ最も強く出射され、該光
学系の光軸25aを最大点とする対称的なレーザビーム
の光量分布24bを得ることができる。つまり、レーザ
ビームの光量分布24bの最大点を、光学素子の光軸2
5aと一致させるように調整すればよいのである。
ように具体化できるかを実施例で説明する。
はLDの取り付は部を説明する図でヘッドベースのみを
切断した断面図、(b)は(a)の光学ヘッドを図上の
左側面から見た図、である。
整台2整合取り付ける。この際、LD固定板29はLD
固定ネジ30a 、 30bで固定する。したがって、
LD2cはLD調整台28上に完全に固定される。
a1bでヘッドベース4aに取り付ける。この際、LD
調整台28のネジ孔にはクリアランスを設けてあり、B
+、、 D BH整置台28ヘッドベース4aに取り
付ける際に、第2図(b)の図上X軸方向およびY軸方
向に移動することが可能である。すなわち、LD2cの
発光点27を、光学系の光軸25上に位置させるように
調整することができる。
(a)の図上Z方向に移動させることによって調整する
。すなわち、コリメータレンズ8の焦点位置にLD2c
の発光点27を位置させるように調整する。尚、該コリ
メータレンズ8の位置調整は、Z軸調整穴33に治工具
(偏心ドライバー)を挿入して調整する。
ビームの光量分布の調整は、θ調整ネジ32で行う。す
なわち、θ調整ふジ32を回転することによって、LD
調整台28の湾曲部34の湾曲状態が変化し、LD2c
の向きを光学系の光軸25に対して可変することができ
る。
はダブルナツトで行う。
るフロック図、である。
を、スクリーン36側のショートバスとスクリーン37
例のロングパスとにハーフミラ−35で分割し、該スク
リーン36.37上に現れるビームスポットをCCD
(C)IARGE C0UPLED DEVICE)
カメラ3839で撮影する。
の撮影像をCRT (CAT)IODE RAY TI
IBE)モニタ40.41で観測する。
クリーン36,37 、CCDカメラ38.39の光軸
は一致させである。
タ40とCRTモニタ41に観測されるレーザビームの
スポット径が、同じ大きさになるように調整する。
スを経たレーザビームのスポット径が同一径であるなら
ば、該レーザビームは平行光である。尚、この時、LD
2cの発光点27はコリメータレンズ8の焦点距離と同
じ距離に位置している。
なわちLD2cの位置をX軸方向およびY軸方向に移動
させ、CRTモニタ40およびCRTモニタ4】に観測
されるビームスポットが、ターゲント42.43の中心
に位置するように調整する。
2,43の中心に位置しているならば、LD2cの発光
点27は光学系の光軸25上に位置している。
光軸25に対して可変し、CRTモニタ4oおよびCR
Tモニタ41に観測されるビームスポットの光量を、各
々のCRTモニタ40.41において、それぞれ上下方
向で対称の光量分布になるように調整する。
対称にすることによって、ビームスポットの中央位置す
なわち光学系の光軸25位置において、最も光量が大き
く、かつ、光量分布が対称のレーザビームを得ることが
できる。
光軸調整を行うと、LD2cの発光点27が光学系の光
軸25から僅かながら逸れるため、再度■のビーム位置
の調整行うと良好な調整結果が得られる。
ッドに取り付ける際に、取り付は角度を可変できる構成
とすることによって、光学ヘッド内の光学系の光軸とレ
ーザ発光素子との光軸とを一致させることができる。
光量分布は、光学系の光軸に対して対称分布となり、オ
フトラックの少ない光学ヘッドを実現することができる
。
許容偏差を設定する必要が無い為、低コスト、かつ、低
オフトラックの光学ヘッドを実現することができる。
実施例の光学ヘッドを説明する図で、(a)はLDの取
り付は部を説明する図でヘソドヘースのみを切断した断
面図、(b)は(a)の光学へラドを図上の左側面から
見た図、 第3図は、実施例の光学ヘッドを調整する方法を説明す
るブロック図、 第4図は、光学ヘッドの全容を説明する図で、(a)は
平面図、(b)は(a)の右側面図、(c)は(b)の
A−A断面図、 第5図は、光学ヘッドの概要を説明するブロック図、 第6図は、LDを光学ヘッドに取り付けた際の調整を説
明する斜視図、 第7図は、ブツシュプル法によるオフトラック検出方法
を説明する図で、(a)はオンドラック状態を説明する
図、(b) (c)はオフトラック状態を説明する図1
、 第8図は、LDの光軸誤差がトラッキングに与える影響
を説明する図で、(a)は光学系の光軸とLDの光軸と
が一致している場合のレーザビームの光量分布を説明す
る図、(b)は(a)のトラック検出結果を説明する図
、(c)は光学系の光軸に対しLDの光軸方向が不一致
の場合のレーザビームの光量分布を説明する図、(d)
は(c)のトラック検出結果を説明する図、である。 図において、Llaは光学ヘッド、2.2a、2cはL
D (LASERDIODE)、2bはレーザ発光素子
、3はビーム出射部、4,4aはヘッドベース、5は固
定板、6a、6bはX−Y調整/固定ネジ、7は光ビー
ム電源、8はコリメータレンズ、8aは光学素子、9は
アナモルフィックプリズム、10はビームスプリッタ、
11は対物レンズ、12は光ディスク、13はハーフミ
ラ−114a、14bはレンズ、15.16は光検知器
、17は主信号、18はサーボ信号、19は基準面、2
0はビット、21a、21b、21c、21dは反射光
の強度分布、22は反射光の回折パターン、23は差動
増幅器、24゜24a、24bはレーザビームの光量分
布、25は光学系の光軸、25aは光学素子の光軸、2
6.26aはLD(LASERDIODE)の光軸、2
6bはレーザ発光素子の光軸、27は発光点、28はL
D調整台、29はLD固定板、30a 、 30bはL
D固定ネジ、31a、31bはX−Y調整/固定ネジ、
32はθ調整ネジ、33はZ軸調整穴、34は湾曲部、
35はハーフミラ−136,37はスクリーン、 38.39 はCCDカメラ、40 はCR Tモニタ、 はターゲン ト、 をそれぞれ示し ている。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、レーザ発光素子(2b)と光学素子(8a)とを組
み合わせて成る光学ヘッドにおいて、 光学素子(8a)の光軸(25a)に対して、レーザ発
光素子(2b)の光軸(26b)方向を可変可能に取り
付けて成ること、を特徴とする光学ヘッド。 2、請求項1記載の光学ヘッドにおいて、 レーザ発光素子(2b)の光軸(26b)方向を可変し
、レーザビームの光量分布(24b)の最大点を、光学
素子の光軸(25a)と一致させること、を特徴とする
光学ヘッドの調整方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2261848A JP2835778B2 (ja) | 1990-09-28 | 1990-09-28 | 光学ヘッドとその調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2261848A JP2835778B2 (ja) | 1990-09-28 | 1990-09-28 | 光学ヘッドとその調整方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2261848A Expired - Fee Related JP2835778B2 (ja) | 1990-09-28 | 1990-09-28 | 光学ヘッドとその調整方法 |
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Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2835778B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1688934A2 (en) * | 2005-01-27 | 2006-08-09 | Samsung Electronics Co., Ltd. | An optical unit, an optical pick-up apparatus and a method of adjusting an optical axis |
US8102752B2 (en) | 2005-06-02 | 2012-01-24 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical head and optical pickup device with a holder structure providing optical axis adjustment |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP3621850B2 (ja) | 1999-09-07 | 2005-02-16 | 株式会社三協精機製作所 | 光ピックアップ装置 |
JP3999240B2 (ja) * | 2005-06-30 | 2007-10-31 | シャープ株式会社 | 光ヘッド及び光ピックアップ装置 |
-
1990
- 1990-09-28 JP JP2261848A patent/JP2835778B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1688934A2 (en) * | 2005-01-27 | 2006-08-09 | Samsung Electronics Co., Ltd. | An optical unit, an optical pick-up apparatus and a method of adjusting an optical axis |
EP1688934A3 (en) * | 2005-01-27 | 2008-12-31 | Samsung Electronics Co., Ltd. | An optical unit, an optical pick-up apparatus and a method of adjusting an optical axis |
US8102752B2 (en) | 2005-06-02 | 2012-01-24 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical head and optical pickup device with a holder structure providing optical axis adjustment |
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---|---|
JP2835778B2 (ja) | 1998-12-14 |
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