JPH04136755A - アレイ形超音波探触子を用いる超音波映像探傷装置 - Google Patents

アレイ形超音波探触子を用いる超音波映像探傷装置

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JPH04136755A
JPH04136755A JP2259260A JP25926090A JPH04136755A JP H04136755 A JPH04136755 A JP H04136755A JP 2259260 A JP2259260 A JP 2259260A JP 25926090 A JP25926090 A JP 25926090A JP H04136755 A JPH04136755 A JP H04136755A
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JP
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longitudinal
wave
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transverse
waves
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Pending
Application number
JP2259260A
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English (en)
Inventor
Yoshihisa Okita
大北 芳久
Shigeyuki Kawakami
川上 繁幸
Akihiro Kanetani
章宏 金谷
Tadao Shima
島 忠夫
Junichi Kajiwara
梶原 純一
Yoshiyuki Nagano
好幸 永野
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NIPPON KENKI KK
Kyushu Electric Power Co Inc
Original Assignee
NIPPON KENKI KK
Kyushu Electric Power Co Inc
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/04Analysing solids
    • G01N29/06Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
    • G01N29/0609Display arrangements, e.g. colour displays
    • G01N29/0645Display representation or displayed parameters, e.g. A-, B- or C-Scan
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04Wave modes and trajectories
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、アレイ形超音波探触子を用いる超音波映像
探傷装置に関し、詳しくは、複数の振動子を配列して電
子的に駆動対象を切替えて縦波と横波の両波により探傷
を行い、測定結果をBスコープ像等として表示する電子
スキャン形の超音波映像探傷装置において、両波の音速
および縦波。
横波を発生する振動子の駆動範囲を適正な状態に調整す
ることが容易な映像探傷装置に関する。
[従来の技術] いわゆる、電子スキャン式の超音波探触子(プローブ)
は、医療機器の分野では多く使用されている。近年、電
子回路やスイッチ回路の小型化、高性能化に伴い、この
電子スキャン式のプローブが金属材料等の超音波探傷に
も利用されるようになってきた。その1つに縦波、横波
の両者を利用するアークアレイ形プローブがある。
アークアレイ形プローブは、複数の振動子(素子)が円
弧状に配列されていて、その連続する複数個の素子を同
時励振し、かつ、その位置を順次移動させる電子スキャ
ンにより縦波、横波の両者を発生させて縦断面方向のス
キャンを行うことによりBスコープ画像を得る測定デー
タを採取することができる。これは、材料に入射する角
度を選択することである角度範囲に亙って探傷を行うも
のであって、その入射角が大きくなると被検体の入射点
で縦波が横波に変換(エコーは逆変換)される特性があ
る。
そこで、円弧の端にまたはそこに近いところに位置する
素子の音波は、被検体に対して入射角が大きくなり、被
検体内部に侵入した際に縦波が横波に変換されて横波と
しての探傷ができる。一方、円弧の中央および中央付近
に位置する素子から発生ずる音波は、被検体に対して入
射角が小さくなるので縦波としてそのまま被検体に侵入
し、縦波の探傷となる。
縦波と横波とでは媒体中での音波の伝搬速度が相違する
。アークアレイ形プローブでは、縦波。
横波の被検査体内での音速、縦波、横波を発生する素子
の角度の領囲をあらかじめ計算により算出し、その結果
に応じて該当の素子毎に駆動範囲を決め、また、同時に
駆動する素子数を定めてから探傷を行う。そして、これ
を利用する測定装置では、縦波と横波の探傷により得ら
れたAスコープ波形からそれぞれの音速で路程を計算し
てBスコープ像の表示データを生成してその測定映像を
ディスプレイ上に表示する。
[解決しようとする課題] このアークアレイ形プローブでは、被検査体内での縦波
と横波の音速等が設定した値よりずれていた場合には、
縦波と横波による測定ずれが発生して縦波と横波と境界
点にあるような欠陥等が表示される場合には、それが連
続した欠陥として表示されない欠点がある。
これは、路程の計算が音速とエコー発生までの時間で算
出されるからであり、特に、横波による探傷で得られる
エコー発生点までの距離は、横波の音速、入射角と屈折
角とが大きく関係し、斜めに被検体内を伝搬するものと
して計算されるためにその計算や設定値の選択が難しい
からである。
この発明は、このような従来技術の問題点を解決するも
のであって、縦波と横波による測定のずれを容易に調整
することができるアレイ形プローブを用いる超音波映像
探傷装置を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] このような目的を達成するためのこの発明の超音波映像
探傷装置の特徴は、測定対象と同じ材質で縦断面におけ
る形伏が円弧状であるエコー発生部を有する試験片と、
この試験片の円弧状のエコー発生部を探傷して縦波にょ
る探傷範囲と横波による探傷範囲とが円弧状のエコー発
生部において一部重複する縦断面映像が得られるように
プローブを駆動し、ディスプレイ上に表示された縦断面
映像の円弧上のエコー発生部の表示状態が連続するよう
に縦波上横波のそれぞれの音速を選択するものである。
[作用コ このように、円弧上のエコー発生部を持つ試験片を探傷
してディスプレイLに表示される映像を観測するように
すれは、縦波と横波との音速ずれの状態とそれぞれの超
音波発生範囲の関係が2つの円弧の関係において表示さ
れる。特に、音速のずれについては、表示された2つの
円弧の関係が入射点からの半径の相違として現れ、また
、駆動範囲に関しては、その両端の重ね合わせ量となっ
て現れるので、表示映像を観測しながら音速や駆動範囲
を決定することにより適正な音速や駆動範囲の選択が容
易になる。
このように表示映像を観測しながら音速設定値や圧電素
子駆動範囲の調整ができるので、アークアレイ形プロー
ブの駆動条件設定が効率よく行え、正確な探傷が可能に
なる。
[実施例コ 以下、この発明の一実施例について図面を参照して詳細
に説明する。
第1図は、この発明のアレイ形プローブを用いる超音波
映像探傷装置を適用した一実施例の超音波映像探傷装置
のブロック図であり、第2図は、そのアークアレイ形プ
ローブの音速調整等に用いられる試験片の縦断面図、第
3図(a)は、そのアークアレイ形プローブの説明図、
第3図(b)および(C)は、それぞれ第2図の試験片
の測定映像の説明図である。
20は、アークアレイ形プローブ2を駆動して試験片1
や他の同様な材質の被検体を探傷する超音波映像探傷装
置である。アークアレイ形プローブ2は、第3図(a)
に示すように、先端を中心にして後端が弧状となってい
るアクリル樹脂等の超音波伝播体20とその弧の面に配
列された複数の圧電素子2a、2b、  ・−拳・2n
とからなるプローブである。
試験片1は、第2図の縦断面図に示すように入射点1b
を中心にした円弧状に形成された反射部分(例えば空隙
)laを内部に有している。この試験片1の入射点1b
にアークアレイ形プローブ2の超音波照射点2p(第3
図(a)参照)を接触させたときに、アークアレイ形プ
ローブ2の各圧電素子は、空隙等の反射部分1aに超音
波を照射し、そこからのエコーを受信することができる
アークアレイ形プローブ2の各圧電素子2 a +2b
+  ” ” ” @2n (第3図(a)参照)は、
スイッチ回路3から励振パルスを受けて駆動される。
スイッチ回路3は、駆動素子選択回路4からの制御信号
に応じてその内部の複数のスイッチが“0N10FF”
制御され、パルサ5から供給される複数のパルスをアー
クアレイ形プローブ2に加える。これによりアークアレ
イ形プローブ2の圧電素子2a、2b、@Φ・・2nの
うち、例えば、6個が同時駆動される。
駆動素子選択回路4は、後述する演算処理装置12から
制御信号を受けてこの制御信号に応じて、いわゆる電子
スキャン制御を行うものであって、スイッチ回路3がパ
ルサ5から受ける6個のパルス信号に対してそれにより
駆動される圧電素子を順次1個づつシフトさせて一方の
弧の端から他方の弧の端に向かって駆動する制御をする
。また、スイッチ回路3を介してレシーバ6にアークア
レイ形プローブ2の圧電素子2at 2b、  働・・
会2nのうち6個の受信圧電素子を接続し、それらが駆
動された後に受信される反射部分1aからのエコーにつ
いてそれぞれ6個の圧電素子を単位としてエコーの受信
信号を順次レシーバ6に送出する制御をする。また、こ
れに加えて前記と同様なシフトも行う。ここで、同時に
駆動する圧電素子の個数とその圧電素子の駆動範囲の選
択は、演算処理装置12からの制御信号で行われ、この
制御信号は、操作パネル13からの入力信号に応じて外
部からの操作により決定される。
コントローラ7は、演算処理装置12から制御信号を受
け、操作パネル13上のスタートスイッチ13aの投入
を開始時点としてパルサ5を制御してパルサ5に同時に
駆動する圧電素子の数に対応する励振パルス発生させ、
ここでは6個の圧電素子を同時に駆動するパルスを発生
させ、それらをパラレルにスイッチ回路3に送出させる
さて、複数の圧電素子で受信された群として得られる6
個単位の圧電素子ごとのエコー受信信号は、圧電素子の
シフトに応じてレシーバ6で受信されて増幅される。そ
して、検波された後にミキサ8に加えられ、ここで加算
されて1つの受信信号としてゲート・ピーク検出回路9
に出力される。
ケート・ビーク検出回路9は、そのゲート位置とゲート
幅とが演算処理装置12からの制御信号で設定され、ゲ
ート・ビーク検出回路9により検出されたピーク検出出
力が路程カウンタlOに送出される。
11は、ワンショット回路であって、例えば、ミキサ8
の出力を受けて受信信号中に存在する励振パルス(パル
サ5で発生した励振パルスの受信側でのパルス)により
トリガされて路程カウンタ10をトリガするパルスを発
生する。路程カウンタ10は、ワンショット回路11の
出力によりトリガされ、外部または内部から供給される
クロックのカウントを開始する。これをカウントするこ
とで励振パルス発生からエコー受信までの時間カウント
を行う。そして、ゲート・ビーク検出回路9から出力さ
れるエコー検出信号でそのカウントを停止してカウント
した時間値を演算処理装置12に送出する。
ここで得られる時間値は、6個の圧電素子が励振パルス
を発生し、そのエコー受信信号が同じ6個の圧電素子に
得られたときのエコーに対するものであり、各圧電素子
がシフトされるタイミングに応じて順次このような時間
値がここで検出される。
そこで、第1図のように、試験片1がアークアレイ形プ
ローブ2により探傷され、アークアレイ形プローブ2の
各圧電素子が走査(圧電素子のシフト)されたときには
、円弧状の空隙等の反射部分1aをカバーする範囲に亙
って縦断面方向の探傷がなされる。このとき、この走査
(圧電素子のシフト)に対応してそれぞれの時間値が路
程カウンタ10に得られる。
演算処理装置12は、内部にマイクロプロセッサとメモ
リ等を内蔵していて路程カウンタ10から圧電素子の走
査(圧電素子のシフト)に応じて順次得られる時間値に
対して操作パネル13から人力された音速を掛けて路程
を算出する。この場合に算出される路程は、縦波と横波
とでは異なる。
そこで、演算処理装置12は、コントローラ7から圧電
素子2at 2b+  ・・・・2nを駆動する制御信
号を受けてそれをカウントすること(コントローラ7か
らのこの制御信号をに応じて圧電素子のシフトも行われ
る。)で得られる縦波、横波の探傷タイミングを検出し
、それに応じて縦波あるいは横波のそれぞれの音速を掛
け、さらに、その屈折角に応じてそれぞれの表面からの
距離を算出してメモリに記憶していく。
メモリに記憶された各距離データは、演算処理装置12
でプログラム処理により表示データに展開され、それが
CRTディスプレイ(CRT)14に送出され、第3図
(b)に示すような測定映像(ただし、図ではアークア
レイ形プローブ2と測定角度範囲を示すA、B、C,D
とが参考のために追加されている。)として表示される
同図(b)に示されるように、測定映像は、通常、2つ
の円弧となる場合がある。これは、多くの場合、縦波に
対して横波の音速設定が正しくないからである。また、
圧電素子の縦波と横波の駆動範囲が正しくないと2つの
弧の一部が二重線となり、重なる領域が生じたり、離れ
たりする。これは、縦波と横波の駆動する範囲が適切で
ないからである。
アークアレイ形プローブ2は、第3図(a)に示すよう
に、先端の入射点2pを通る中心軸線Oに対してほぼ入
射角θlの範囲が縦波発生領域となっていて、入射角θ
2の範囲を越えた範囲が横波発生領域となっている。そ
して、それぞれの入射角θl、θ2は、探傷対象となる
被検体の音響特性とアークアレイ形プローブ2の音響特
性の関係、温度等の測定条件で決定され、必ずしも計算
により正確に求めることはできない。
そこで、音速や縦波、横波の圧電素子駆動範囲(入射角
0〜θlと入射角θ2以降により決定される駆動圧電素
子の範囲)等をある程度実際に一致するように選択して
、第1図に示すよな円弧状の空隙等の反射部分1a(エ
コー発生部)が存在する試験片1を探傷する。その結果
、アークアレイ形プローブ2が発生する超音波のうち第
3図(b)に示す縦波領域(A−Bの範囲)と横波領域
(C−Dの範囲)が重複あるいは不連続となり、重複し
ているときにはその重複部分(A−Dの範囲)が表示画
面上に現れる。しかも、特に、横波による探傷結果の測
定映像は、その音速と屈折角の設定の仕方次第で縦波の
映像に対して前後にその表示位置がずれる。一方、縦波
の音速設定値は、入射角も小さく、−数的に材質と温度
等で比較的正確に捉えられるので正確な値を選択し易い
。なお、縦波領域(A−Bの範囲)と横波領域(C〜D
の範囲)との間に探傷できない範囲が生じたときには前
記の2つの円弧の測定映像は、相互に離れたものとなる
このような表示状態は、試験片1の、主として、その材
質により設定した音速、圧電素子駆動範囲(入射角O〜
θ1と入射角θ2以降)、そして屈折角が、当初の判断
より多少変わっている場合であって、それにより同図の
ように、A−Dの境界部分で二重表示され、Bスフ−1
画像にずれが生じる。
音速についていえば、入射点1bより、反射部分1aが
等距離でありながら、入射角O〜θlの駆動領域選択で
設定される縦波探傷範囲(A−B)で予定した縦波音速
で算出した距離と入射角θ2以降の駆動領域選択で設定
される横波探傷領域(C−D)で予定した横波音速で算
出した距離とがちがうため、範囲A−D間で前後にずれ
が生じている。さらに、Aラインの角度およびDのライ
ン角度についても予定した位置よりずれるために図のよ
うな重なり状態のBスコープとなる。そして、これによ
り音速およびアークアレイ形プローブ2の圧電素子にお
ける縦波、横波の設定領域に不都合があることが明瞭に
なる。
ここで、縦波、横波の音速、そしてこれらの駆動範囲の
選択(入射角O〜θlと入射角e2以降)と同時に駆動
する圧電素子の数は、操作1寸ネル13を介して演算処
理装置12に数値設定することで変更できる。操作パネ
ル13は、操作面に設けられたキーやダイヤル等の外部
操作に応じて縦波。
横波の音速、そしてこれらの駆動範囲の選択、さらに必
要に応じて同時に駆動する圧電素子の数についての各設
定値を発生してそれを演算処理装置12に入力する。こ
れによる設定値の出力は、演算処理装置12を介して圧
電素子選択回路4およびコントローラ7にそれぞれ送出
されて、それに応じた測定画像を次に得ることができる
そこで、操作パネル13上のダイヤルまたはデジタルス
イッチ等を調整して横波の音速、必要に応じて縦波の音
速の調整、また、縦波、横波の圧電素子駆動範囲を設定
しなおし、さらに、屈折角の設定をしなおし、また、同
時に駆動する圧電素子の数を変更することなどで、第3
図(C)にボすような正しいBスフ−1画像にすること
ができる。これによりアークアレイ形プローブ2に対す
る正しい駆動条件を選択して設定することができる。こ
のように、内部に円弧状の反射部分1aを有する試験片
1を用いることにより、音速値および範囲、屈折角等の
調整を行うことが比較的容易になる。そして、このよう
にして設定されたアークアレイ形プローブ2により試験
片1と同様な材質の部材に対して超音波探傷を行うこと
で正確な測定をすることができる。
以上説明してきたが、実施例の試験片における円弧の位
置は、−例であって、入射点を中心とする円の一部で、
かつ、縦波と横波を受けるような位置に配置されていれ
ば、どこに形成してもよい。
また、駆動範囲や同時駆動数、音速、屈折角等の各入力
値をプログラム処理により関連付けして順次選択できる
ように、例えば、テーブル化しておき、このプログラム
中の定数化された数値を順次変更することにより、第3
図(C)のBスフ−1画像に調整することもできる。
さらに、表示像に対応する画面メモリの画素から2つの
円弧の重複量と重複部分の相互の間隔(あるいはそれぞ
れの円弧の半径)をプログラム処理にて算出してプロー
ブの圧電素子に対する駆動範囲とそれぞれの音速を算出
するようにしてもよい。
実施例では、アークアレイ形プローブの例を挙げている
が、電子スキャンは、通常の直線上に配列した素子のプ
ローブでも可能であり、その際にもその走査角度に応じ
て縦波と横波が発生するので、この発明はアークアレイ
形に限定されるものではない。
[発明の効果コ このように、この発明にあっては、アークアレイ形プロ
ーブを用いて、Bスフ−1画像を得ようとする場合、円
弧状の現実に連続した反射体を持つ試験片を超音波探傷
し、Bスコープとしてずれて表示されるのをその表示が
正しい円弧状になるように調整するようにしているので
、縦波、横波を利用してBスキャンを行うアークアレイ
形プローブの駆動条件の調整を簡単に行うことができる
このように調整された探傷器により、試験片と同材質の
被検体を探傷し、Bスコープ像を表示すれば、正しい画
像を観測することができ、より正確な超音波探傷を行う
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明のアレイ形プローブを用いる超音波
映像探傷装置を適用した一実施例の超音波映像探傷装置
のブロック図、第2図は、そのアークアレイ形プローブ
の音速調整等に用いられる試験片の縦断面図、第3図(
a)は、そのアークアレイ形プローブの説明図、第3図
(b)および(C)は、それぞれ第2図の試験片の測定
映像の説明図である。 1・・・試験片、2・・・アークアレイ形プローブ、3
・・・スイッチ回路、4・・・駆動素子選択回路、5・
・・パルサ、6・・・レシーバ、7・・・コントローラ
、8・・・ミキサ、9・・・ゲート・ビーク検出回路、
IO・・・路程カウンタ、11・・・ワンショット回路
、12・・・演算処理装置、13・・・操作パネル、1
4・・・CRTディスプレイ(CRT)。 第3図(0)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数の振動子を円弧状に配列したアレイ形の超音
    波探触子により縦波と横波とを発生させて縦断面方向に
    超音波探傷を行い、測定結果をディスプレイ上に映像表
    示する超音波映像測定装置において、測定対象と同じ材
    質で縦断面における形状が円弧状であるエコー発生部を
    有する試験片と、この試験片の前記円弧状のエコー発生
    部を探傷して前記縦波による探傷範囲と前記横波による
    探傷範囲とが前記円弧状のエコー発生部において一部重
    複する縦断面映像が得られるように前記超音波探触子を
    駆動し、前記ディスプレイ上に表示された前記縦断面映
    像の前記円弧上のエコー発生部の表示状態が連続するよ
    うに前記縦波と前記横波のそれぞれの音速を選択するこ
    とを特徴とするアレイ形超音波探触子を用いる超音波映
    像探傷装置。
  2. (2)ディスプレイ上に表示された前記縦断面映像の前
    記円弧上のエコー発生部の表示状態が連続し、かつ、重
    複しないように縦波と横波のそれぞれの音速と複数の振
    動子の駆動範囲とを選択することを特徴とする請求項1
    記載のアレイ形超音波探触子を用いる超音波映像探傷装
    置。
JP2259260A 1990-09-28 1990-09-28 アレイ形超音波探触子を用いる超音波映像探傷装置 Pending JPH04136755A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007017164A (ja) * 2005-07-05 2007-01-25 Hitachi Ltd 超音波探傷方法及び探傷システム
US7370534B2 (en) * 2005-03-24 2008-05-13 Imperium, Inc. Multiangle ultrasound imager
JP2010276465A (ja) * 2009-05-28 2010-12-09 Hitachi Engineering & Services Co Ltd 超音波探傷装置及び方法
JP2020106410A (ja) * 2018-12-27 2020-07-09 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 超音波探傷方法及び装置

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