JPH04136584U - インサーキツトテスタ用フイクスチヤ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】インサーキットテスタで回路基板を試験する際
に回路基板とフィクスチャ付属のプローブピンとの間の
ちり等による汚れによる接触不良をなくする。 【構成】フィクスチャ内部にスプレー式洗浄剤１と、洗
浄剤吹き付けの時間を制御する制御部２と、洗浄開始用
のスイッチ５と、洗浄剤をプローブピンに吹き付けるノ
ズル３を備えている。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案はインサーキットテスタ用ファクスチャに関し、特にインサーキットテ スタのプローブピンの洗浄機能を有するインサーキットテスタ用ファクスチャに 関する。

【０００２】

【従来の技術】

一般にインサーキットテスタ用フィクスチャは被試験基板の試験端子部に複数 のプローブピンを機械的に接触させて測定電圧を得ている。この測定電圧はフィ スクチャ内のプローブピンに接続されている試験リード線によりフィクスチャ外 に引き出されて測定機に接続されていた。このようなフィクスチャ内のプローブ ピンが極めて小さい部分の接触のために、ほこりやごみ等により直接試験端子に 接触できないことがあった。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】

上述した従来のインサーキットテスタ用フィクスチャは、プローブピンの清掃 機能を有していないので、ちりやほこりによる被試験基板とプローブピンとの接 触不良が発生する欠点があった。

【０００４】

【課題を解決するための手段】

本考案のインサーキットテスタ用フィクスチャは被試験基板にプローブピンを 接触させて試験を行うインサーキットテスタ用フィクスチャにおいて、前記基板 の試験を行う直前に前記プローブピンの洗浄を行うスプレー式洗浄剤と、プロー ブピンの近傍に配置して前記プローブピンに前記洗浄剤を吹き付けるノズルと、 基板の試験開始直前まで洗浄剤の吹き付けを時間制御するタイマ付制御部とを有 する。

【０００５】

【実施例】 次に本考案について図面を参照して説明する。図１は本考案の一実施例の構成 図である。図１において本考案ではスプレー式洗浄剤１、タイマ付制御部２、ノ ズル３、スイッチ５を追加している。

【０００６】 被試験基板６を試験する際に、スイッチ５を試験スタートスイッチ（図示せず ）と同時にオンされるようにしておく。インサーキットテスタ用フィクスチャ本 体は試験スタートスイッチオンの数秒後に試験スタートとなるように設定してお く。試験スタートスイッチオンと同時に、スイッチ５がオンとなると、信号はタ イマ付制御部２で試験開始までスプレー式洗浄剤１から洗浄剤が噴射される。噴 射された洗浄剤はノズル３を経由して、プローブピン４を洗浄し、ちりやほこり を吹きとばし接触不良を防ぐ。なお、プローブピン４で検出された信号は試験リ ード線７を通して外部測定機で計測される。

【０００７】

【考案の効果】

以上説明したように本考案はインサーキットテスタ用フィクスチャがプローブ ピンを洗浄するスプレー式洗浄剤と、吹き出しノズルと、タイマ付制御部とを有 しているので、プローブピンと基板が接触する直前にプローブピンの汚れを洗浄 し、ちりやほこりによる接触不良をなくすことができるという効果を有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例の構成図である。

【符号の説明】

１ スプレー式洗浄剤 ２ タイマー付制御部 ３ ノズル ４ プローブピン ５ スイッチ ６ 被試験基板 ７ 試験リード線

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 被試験基板にプローブピンを接触させて
   試験を行うインサーキットテスタ用フィクスチャにおい
   て、前記基板の試験を行う直前に前記プローブピンの洗
   浄を行うスプレー式洗浄剤と、プローブピンの近傍に配
   置して前記プローブピンに前記洗浄剤を吹き付けるノズ
   ルと、基板の試験開始直前まで洗浄剤の吹き付けを時間
   制御するタイマ付制御部とを有することを特徴とするイ
   ンサーキットテスタ用フィクスチャ。