JPH0361588U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0361588U JPH0361588U JP12382789U JP12382789U JPH0361588U JP H0361588 U JPH0361588 U JP H0361588U JP 12382789 U JP12382789 U JP 12382789U JP 12382789 U JP12382789 U JP 12382789U JP H0361588 U JPH0361588 U JP H0361588U
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- JP
- Japan
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- test
- analog
- unit
- tester
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- Pending
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
第１図はこの考案の実施例を示すブロツク図、
第２図は従来のＩＣテスタを示すブロツク図、第
３図は従来のＩＣテスタにおけるアナログ測定系
の較正を行う状態を示すブロツク図である。
第２図は従来のＩＣテスタを示すブロツク図、第
３図は従来のＩＣテスタにおけるアナログ測定系
の較正を行う状態を示すブロツク図である。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 テストヘツドにパフオーマンスボードを搭載し
、そのパフオーマンスボードに被試験ＩＣ素子を
取付け、テスタ本体よりアナログ試験信号を上記
テストヘツド内のアナログユニツトを通じて上記
被試験ＩＣ素子へ供給し、その被試験ＩＣ素子の
出力を上記アナログユニツトを通じて上記テスタ
本体で受信して試験を行うと共に、較正時に、較
正用経路を通じて上記テストユニツト内の標準ユ
ニツトと上記アナログユニツトとを接続してアナ
ログ試験系の較正を行うＩＣテスタにおいて、 上記較正用経路は上記テストヘツド内に設けら
れ、その一端が上記標準ユニツトに接続され、 外部信号により制御されて上記アナログユニツ
トを上記較正用経路と他端と上記パフオーマンス
ボードとに切替え接続する切替スイツチが設けら
れていることを特徴とするＩＣテスタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12382789U JPH0361588U (ja) | 1989-10-23 | 1989-10-23 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12382789U JPH0361588U (ja) | 1989-10-23 | 1989-10-23 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0361588U true JPH0361588U (ja) | 1991-06-17 |
Family
ID=31671784
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12382789U Pending JPH0361588U (ja) | 1989-10-23 | 1989-10-23 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0361588U (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008293175A (ja) * | 2007-05-23 | 2008-12-04 | Futaba Keiki Kk | タクシーメータ、及びタクシー乗務員の超過勤務制限方法 |
| JP2009085770A (ja) * | 2007-09-28 | 2009-04-23 | Yokogawa Electric Corp | 信号測定装置 |
| JP2015055516A (ja) * | 2013-09-11 | 2015-03-23 | 日置電機株式会社 | 基板検査装置、及び標準器 |
| JP2015206673A (ja) * | 2014-04-21 | 2015-11-19 | 日本電産リード株式会社 | 検査治具、基板検査装置、及び基板検査方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6336165A (ja) * | 1986-07-22 | 1988-02-16 | クリデンス システムズ コーポレイション | 自動試験装置及び該装置を校正する方法 |
-
1989
- 1989-10-23 JP JP12382789U patent/JPH0361588U/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6336165A (ja) * | 1986-07-22 | 1988-02-16 | クリデンス システムズ コーポレイション | 自動試験装置及び該装置を校正する方法 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP4577330B2 (ja) * | 2007-05-23 | 2010-11-10 | 二葉計器株式会社 | タクシーメータ、及びタクシー乗務員の超過勤務制限方法 |
| JP2009085770A (ja) * | 2007-09-28 | 2009-04-23 | Yokogawa Electric Corp | 信号測定装置 |
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| JP2015206673A (ja) * | 2014-04-21 | 2015-11-19 | 日本電産リード株式会社 | 検査治具、基板検査装置、及び基板検査方法 |