JPS63113622A - アナログ入力装置 - Google Patents
アナログ入力装置Info
- Publication number
- JPS63113622A JPS63113622A JP61259538A JP25953886A JPS63113622A JP S63113622 A JPS63113622 A JP S63113622A JP 61259538 A JP61259538 A JP 61259538A JP 25953886 A JP25953886 A JP 25953886A JP S63113622 A JPS63113622 A JP S63113622A
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- sensor
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- input device
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- Pending
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 14
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 7
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的コ
(産業上の利用分野)
この発明は、センサから得られる信号をフィルタを介し
て取込み、ディジタル化したデータとするアナログ入力
装置の改良に関するものでおる。
て取込み、ディジタル化したデータとするアナログ入力
装置の改良に関するものでおる。
(従来の技術)
従来の、熱電対をセンサとするアナログ入力装置を、第
2図に示す。同図において、8は、熱電対を示す。熱電
対8より得られる信号は、フィルタ1を介してスキャン
回路2に取込まれ、増幅器3にて増幅され、S/H回路
(サンプリング/ホールド回路)4でサンプリングされ
て保持される。S/H回路4で保持されている信号は、
A/D変換器5によってディジタル化され、制御回路7
に取込まれる。
2図に示す。同図において、8は、熱電対を示す。熱電
対8より得られる信号は、フィルタ1を介してスキャン
回路2に取込まれ、増幅器3にて増幅され、S/H回路
(サンプリング/ホールド回路)4でサンプリングされ
て保持される。S/H回路4で保持されている信号は、
A/D変換器5によってディジタル化され、制御回路7
に取込まれる。
上記アナログ入力装置には、熱電対8の断線検査用に電
源部6が備えられている。制御回路7は、断線検査モー
ドとなると、電源部6を制御し、熱電対8に電圧を印加
するようにする。このとき、熱電対8に印加された電圧
は、フィルタ1、スキャン回路2、増幅器3、S/H回
路4、A、/D変換器5の経路で制御回路7に取込まれ
る。上記では、熱電対8に断線が生じた場合に、熱電対
8に生じる電圧が大きくなるので、このときのA/D変
換器5の出力がオーバフローとなるように、各部を調整
しておけば、断線を検出することができる。
源部6が備えられている。制御回路7は、断線検査モー
ドとなると、電源部6を制御し、熱電対8に電圧を印加
するようにする。このとき、熱電対8に印加された電圧
は、フィルタ1、スキャン回路2、増幅器3、S/H回
路4、A、/D変換器5の経路で制御回路7に取込まれ
る。上記では、熱電対8に断線が生じた場合に、熱電対
8に生じる電圧が大きくなるので、このときのA/D変
換器5の出力がオーバフローとなるように、各部を調整
しておけば、断線を検出することができる。
しかしながら、上記のアナログ入力’11によると、フ
ィルタ1は、商用周波数による誘導ノイズを除去するた
め、時定数が大きく構成されており、断線検査用に熱電
対8に印加された電圧(熱電対8のインピーダンスと抵
抗R8とにより分圧された電源部6の電圧)が、検査終
了後に残留する。
ィルタ1は、商用周波数による誘導ノイズを除去するた
め、時定数が大きく構成されており、断線検査用に熱電
対8に印加された電圧(熱電対8のインピーダンスと抵
抗R8とにより分圧された電源部6の電圧)が、検査終
了後に残留する。
従って、断線検査直後に、熱電対8により得られる信号
を取込もうとすると、誤ったデータを取込むことになり
、このため、しばらく待たねばならず、装置の信頼性、
操作性が悪いという欠点があった。
を取込もうとすると、誤ったデータを取込むことになり
、このため、しばらく待たねばならず、装置の信頼性、
操作性が悪いという欠点があった。
(発明が解決しようとする問題点)
上記のように、従来のアナログ入力装置ではセンサの断
線検査時の電圧がフィルタに残留し、断線検査直後にセ
ンサから得たデータは誤ったデータとなっており、正し
いデータを得るまでにしばらく待たなければならず、装
置の信頼性、操作性が悪いという欠点があった。本発明
は、かかる従来のアナログ入力装置の欠点に鑑みなされ
たもので、その目的は、センサの断線検査直後にも、セ
ンサによる正しいデータを取込むことができ、信頼性が
高く、操作性のほれたアナログ入力装置を提供すること
でおる。
線検査時の電圧がフィルタに残留し、断線検査直後にセ
ンサから得たデータは誤ったデータとなっており、正し
いデータを得るまでにしばらく待たなければならず、装
置の信頼性、操作性が悪いという欠点があった。本発明
は、かかる従来のアナログ入力装置の欠点に鑑みなされ
たもので、その目的は、センサの断線検査直後にも、セ
ンサによる正しいデータを取込むことができ、信頼性が
高く、操作性のほれたアナログ入力装置を提供すること
でおる。
[発明の構成]
く問題点を解決するための手段)
本発明では、センサの断線検査用に用いられる電源部と
、前記センサから得られる信号を通過させる第1のフィ
ルタより小さい時定数を有する第2のフィルタと、前記
センサを前記第1のフィルタまたは前記第2のフィルタ
に選択的に接続するスイッチ群と、前記センサからの信
号を取込む場合には、前記スイッチ群を制御して前記セ
ンサと前記第1のフィルタとを接続する一方、前記セン
サの断線検出時には、前記電源部から前記センサへ電圧
を与えるとともに、前記スイッチ群を制御して前記セン
サと前記第2のフィルタとを接続する制御手段とを具備
させてアナログ入力装置を構成したものでおる。
、前記センサから得られる信号を通過させる第1のフィ
ルタより小さい時定数を有する第2のフィルタと、前記
センサを前記第1のフィルタまたは前記第2のフィルタ
に選択的に接続するスイッチ群と、前記センサからの信
号を取込む場合には、前記スイッチ群を制御して前記セ
ンサと前記第1のフィルタとを接続する一方、前記セン
サの断線検出時には、前記電源部から前記センサへ電圧
を与えるとともに、前記スイッチ群を制御して前記セン
サと前記第2のフィルタとを接続する制御手段とを具備
させてアナログ入力装置を構成したものでおる。
(作用)
上記アナログ入力装置によると、センサの断線検査時に
は、第2のフィルタが用いられ、センサから得られる信
号を通過させる第1のフィルタは用いられない。つまり
、断線検査直後でも、上記第1のフィルタには、電圧が
残留しておらず、センサからこの第1のフィルタを介し
て得た信号は、正しいものとなる。しかも、第2のフィ
ルタの時定数は、上記第1のフィルタの時定数より小さ
いから、応答が早く、検査時間を短縮できる。
は、第2のフィルタが用いられ、センサから得られる信
号を通過させる第1のフィルタは用いられない。つまり
、断線検査直後でも、上記第1のフィルタには、電圧が
残留しておらず、センサからこの第1のフィルタを介し
て得た信号は、正しいものとなる。しかも、第2のフィ
ルタの時定数は、上記第1のフィルタの時定数より小さ
いから、応答が早く、検査時間を短縮できる。
(実施例)
以下、図面を参照して本発明の一実施例を説明する。第
1図は、本発明の一実施例のブロック図である。同図に
おいて、第2図と同一の構成要素には、第2図と同一の
符号を付し、その説明を省略する。この実施例では、抵
抗R1,R2、コンデンサCから成る第2のフィルタ9
を設ける。
1図は、本発明の一実施例のブロック図である。同図に
おいて、第2図と同一の構成要素には、第2図と同一の
符号を付し、その説明を省略する。この実施例では、抵
抗R1,R2、コンデンサCから成る第2のフィルタ9
を設ける。
この第2のフィルタ9と熱電対8との間は、半導体スイ
ッチQ3により、また、第2のフィルタ9とスキャン回
路2との間は、半導体スイッチQ4により、接続/切離
される。更に、フィルタ1と熱電対8との間は、半導体
スイッチQ1により、また、フィルタ1とスキャン回路
2との間は、半導体スイッチQ2により、接続/切離さ
れる。また、第2のフィルタ9には、放電用の半導体ス
イッチQ5が設けられている。以上の半導体スイッチ0
1〜Q5は、制御回路7Aによりオンオフされる。また
、制御回路7A以外の構成は、通常、復数設けられてお
り、制御回路7Aに接続される。
ッチQ3により、また、第2のフィルタ9とスキャン回
路2との間は、半導体スイッチQ4により、接続/切離
される。更に、フィルタ1と熱電対8との間は、半導体
スイッチQ1により、また、フィルタ1とスキャン回路
2との間は、半導体スイッチQ2により、接続/切離さ
れる。また、第2のフィルタ9には、放電用の半導体ス
イッチQ5が設けられている。以上の半導体スイッチ0
1〜Q5は、制御回路7Aによりオンオフされる。また
、制御回路7A以外の構成は、通常、復数設けられてお
り、制御回路7Aに接続される。
尚、フィルタ1は、商用周波数により誘導されるノイズ
を除去するため、時定数が大きいものでおるが、第2の
フィルタ9の時定数は、フィルタ1の時定数より小さく
設定される。
を除去するため、時定数が大きいものでおるが、第2の
フィルタ9の時定数は、フィルタ1の時定数より小さく
設定される。
以上のように構成されたアナログ入力装置の動作を説明
する。
する。
(1)熱電対8により19られる信号取込時の動作。
熱電対8により得られた信号は、フィルタ1によりノイ
ズ除去され、スキャン回路2へ与えられる。このとき、
制御回路7Aは、スキャン回路2のスイッチSを閉じる
とともに、半導体スイッチQ 、Q をオン(閉)
とし半導体スイッチQ3〜Q5をオフ(開)としており
、更に、電源部6による電圧の印加を停止している。フ
ィルタ1よリスキャン回路2に与えられた信号は、取込
まれて増幅器3へ与えられ、所定のゲインで増幅される
。増幅器3より出力された信号は、S/H回路4でサン
プリングを受け、サンプリングされた信号は保持される
。サンプリングされた信号は、A/D変換器5へ与えら
れ、ここでディジタル化されて、制御回路7Aに与えら
れる。
ズ除去され、スキャン回路2へ与えられる。このとき、
制御回路7Aは、スキャン回路2のスイッチSを閉じる
とともに、半導体スイッチQ 、Q をオン(閉)
とし半導体スイッチQ3〜Q5をオフ(開)としており
、更に、電源部6による電圧の印加を停止している。フ
ィルタ1よリスキャン回路2に与えられた信号は、取込
まれて増幅器3へ与えられ、所定のゲインで増幅される
。増幅器3より出力された信号は、S/H回路4でサン
プリングを受け、サンプリングされた信号は保持される
。サンプリングされた信号は、A/D変換器5へ与えら
れ、ここでディジタル化されて、制御回路7Aに与えら
れる。
(2)熱電対8の断線検査時の動作。
制御回路7Aは、半導体スイッチQ1.Q2゜Q5をオ
フとし、半導体スイッチQ3.Q4をオンとし、電源部
6による電圧の印加を開始するとともに、所定のタイミ
ングでスキャン回路2のスイッチSを閉じる。このとき
、電源部6から出力される出力電圧を、図の如く、巳と
し、ダイオードD1.D2による電圧降下をVFとし、
熱電対8のインピーダンスをRとし、スキャン回路T/
C 2への入力電圧をv;、とすると、第2のフィルタ9を
介してスキャン回路2へ入力される入力電圧Vinは、 Vi、= (R,/。(E−2VF))/ (Ro+R
T/C) となる。この式から明らかなように、vioは熱電対8
のインピーダンスRT/。の増減に応じて増減する。従
って、断線のときには、RT/Cは無限大となるのであ
るから、RT/。が所定値(例えば、20にΩ)以上と
考えられるときのVioに対して、A/D変換器5の出
力がオーバフローするように、抵抗R8、電圧E (V
) 、増幅器3のゲインを調整しておく。このようにす
ると、A/D変換器5の出力がオーバフローとなってい
なければ、熱電対8の断線はなく、A/D変換器5の出
力がオーバフローしていれば、熱電対8が断線している
と検出できる。
フとし、半導体スイッチQ3.Q4をオンとし、電源部
6による電圧の印加を開始するとともに、所定のタイミ
ングでスキャン回路2のスイッチSを閉じる。このとき
、電源部6から出力される出力電圧を、図の如く、巳と
し、ダイオードD1.D2による電圧降下をVFとし、
熱電対8のインピーダンスをRとし、スキャン回路T/
C 2への入力電圧をv;、とすると、第2のフィルタ9を
介してスキャン回路2へ入力される入力電圧Vinは、 Vi、= (R,/。(E−2VF))/ (Ro+R
T/C) となる。この式から明らかなように、vioは熱電対8
のインピーダンスRT/。の増減に応じて増減する。従
って、断線のときには、RT/Cは無限大となるのであ
るから、RT/。が所定値(例えば、20にΩ)以上と
考えられるときのVioに対して、A/D変換器5の出
力がオーバフローするように、抵抗R8、電圧E (V
) 、増幅器3のゲインを調整しておく。このようにす
ると、A/D変換器5の出力がオーバフローとなってい
なければ、熱電対8の断線はなく、A/D変換器5の出
力がオーバフローしていれば、熱電対8が断線している
と検出できる。
ざて、断線検査が終了すると、制御部7Aは、電源部6
による電圧の印加を止めるとともに、崖導体スイッチQ
5をオンとする。これによって、スキャン回路2の入力
電圧■ioが放電される。この後、所定時間経過すると
制御部7Aは、半導体スイッチ03〜Q5をオフとし、
半導体スイッチQ1.Q2をオンとして、熱電対8によ
り得られる信号の取込動作へ移行する。
による電圧の印加を止めるとともに、崖導体スイッチQ
5をオンとする。これによって、スキャン回路2の入力
電圧■ioが放電される。この後、所定時間経過すると
制御部7Aは、半導体スイッチ03〜Q5をオフとし、
半導体スイッチQ1.Q2をオンとして、熱電対8によ
り得られる信号の取込動作へ移行する。
このように本実施例では、断線検出を、時定数の小さい
第2のフィルタ9を介して行うので、断線検査直後に要
する時間を想縮できる。しかも、スキャン回路5への入
力電圧のディスチャージを行い、電圧の残留を抑制して
いるので、フィルタ1への影響がなく、熱電対8による
信号の取込みが無意味となる時間を短縮でき、断線検出
直後に熱電対8による信号の取込を行った場合でも、誤
° 差の少ないデータを得ることができる。
第2のフィルタ9を介して行うので、断線検査直後に要
する時間を想縮できる。しかも、スキャン回路5への入
力電圧のディスチャージを行い、電圧の残留を抑制して
いるので、フィルタ1への影響がなく、熱電対8による
信号の取込みが無意味となる時間を短縮でき、断線検出
直後に熱電対8による信号の取込を行った場合でも、誤
° 差の少ないデータを得ることができる。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、センサの断線検
出時には、第2のフィルタを用いて、センサより得られ
る信号を通過させる第1のフィルタを用いないので、こ
の第1のフィルタに電圧か残留せず、センサの断線検査
直後に、上記第1のフィルタを介してセンサによる信号
を得ても、正しいデータを取込むことが可能で市り、信
頼性が高く、また、待時間が短縮されることから操作性
が向上するという利点がある。
出時には、第2のフィルタを用いて、センサより得られ
る信号を通過させる第1のフィルタを用いないので、こ
の第1のフィルタに電圧か残留せず、センサの断線検査
直後に、上記第1のフィルタを介してセンサによる信号
を得ても、正しいデータを取込むことが可能で市り、信
頼性が高く、また、待時間が短縮されることから操作性
が向上するという利点がある。
第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は従来
のアナログ入力装置のブロック図である。
のアナログ入力装置のブロック図である。
Claims (1)
- センサから得られる信号を第1のフィルタを介して取込
み、ディジタル化したデータとするアナログ入力装置に
おいて、前記センサの断線検査用に用いられる電源部と
、前記第1のフィルタより小さい時定数を有する第2の
フィルタと、前記センサを前記第1のフィルタまたは前
記第2のフィルタに選択的に接続するスイッチ群と、前
記センサからの信号を取込む場合には、前記スイッチ群
を制御して前記センサと前記第1のフィルタとを接続す
る一方、前記センサの断線検出時には、前記電源部から
前記センサへ電圧を与えるとともに、前記スイッチ群を
制御して前記センサと前記第2のフィルタとを接続する
制御手段とを具備したことを特徴とするアナログ入力装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61259538A JPS63113622A (ja) | 1986-10-30 | 1986-10-30 | アナログ入力装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61259538A JPS63113622A (ja) | 1986-10-30 | 1986-10-30 | アナログ入力装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63113622A true JPS63113622A (ja) | 1988-05-18 |
Family
ID=17335500
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61259538A Pending JPS63113622A (ja) | 1986-10-30 | 1986-10-30 | アナログ入力装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63113622A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008072329A1 (ja) | 2006-12-14 | 2008-06-19 | Mitsubishi Electric Corporation | アナログ入力装置 |
WO2008133081A1 (ja) | 2007-04-19 | 2008-11-06 | Mitsubishi Electric Corporation | 絶縁電源付きアナログマルチプレクサ |
JP2008268234A (ja) * | 2008-08-08 | 2008-11-06 | Fuji Electric Systems Co Ltd | バーンアウト検出回路 |
JP2012068079A (ja) * | 2010-09-22 | 2012-04-05 | Yokogawa Electric Corp | バーンアウト検出回路 |
-
1986
- 1986-10-30 JP JP61259538A patent/JPS63113622A/ja active Pending
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008072329A1 (ja) | 2006-12-14 | 2008-06-19 | Mitsubishi Electric Corporation | アナログ入力装置 |
EP2056191A1 (en) * | 2006-12-14 | 2009-05-06 | Mitsubishi Electric Corporation | Analog input device |
EP2056191A4 (en) * | 2006-12-14 | 2010-10-20 | Mitsubishi Electric Corp | ANALOG INPUT DEVICE |
US8120367B2 (en) | 2006-12-14 | 2012-02-21 | Mitsubishi Electric Corporation | Analog input device |
WO2008133081A1 (ja) | 2007-04-19 | 2008-11-06 | Mitsubishi Electric Corporation | 絶縁電源付きアナログマルチプレクサ |
EP2109221A1 (en) * | 2007-04-19 | 2009-10-14 | Mitsubishi Electric Corporation | Analog multiplexer with insulation power supply |
US7898315B2 (en) | 2007-04-19 | 2011-03-01 | Mitsubishi Electric Corporation | Analog multiplexer with insulation power supply |
JP4832571B2 (ja) * | 2007-04-19 | 2011-12-07 | 三菱電機株式会社 | 絶縁電源付きアナログマルチプレクサ |
EP2109221A4 (en) * | 2007-04-19 | 2014-04-16 | Mitsubishi Electric Corp | ANALOG MULTIPLEXER WITH INSULATED POWER SUPPLY |
JP2008268234A (ja) * | 2008-08-08 | 2008-11-06 | Fuji Electric Systems Co Ltd | バーンアウト検出回路 |
JP2012068079A (ja) * | 2010-09-22 | 2012-04-05 | Yokogawa Electric Corp | バーンアウト検出回路 |
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