JPH0413243A - 光ヘッド - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、記録媒体であるディスクから光学的に情報
を読み取る光デイスク装置において、光源を含む光学系
及びディスクからの反射光を受光する光検出器等を備え
た光ヘッドに関するものである。

〔従来の技術〕

第７図及至第９図は従来の光ヘッドの構成を示すもので
あり、第７図は光デイスク装置における光へノド部の構
成図、第８図は上記光ヘツド部における光ビーム射出手
段の側断面図、第９図は上記光ビーム射出手段における
光学部品の配置図である。

図において、ｆｉ＋は記録媒体であるディスク、（２）
はディスクモータ、（３）は光学ベース、（４）は対物
レンズ駆動装置、（５）は対物レンズ、（６）は対物レ
ンズ駆動装置（４）の一部に設けられ、対物レンズ（５
）に後述の光ビーム射出手段（５０）より射出される光
ビーム（９）を導く反射ミラーであり、上記対物レンズ
駆動装置（４）と対物レンズ（５）および反射ミラー（
６）とで集光手段（４０）を構成している。また、（７
）はディスクモータ（２）や光学ベース（３）等を保持
するベース、（９）は後述する光ビーム射出手段（５０
）から射出される光ビーム、（９ａ）は光ビーム（９）
の中心を示す光軸、Ｇ１１ｌば対物レンズ（５）によっ
てディスク（１１の情報面に集光された微小光スポット
、ａυは半導体レーザ、叩は半導体レーザａυからの射
出光を平行ビームとするコリメータレンズ、（２）はハ
ーフプリズムである。上記半導体レーザαυとコリメー
タレンズ（２）およびハーフプリズムａ３１とで光ビー
ム射出手段（５０）を構成している。更に、（財）は半
導体レーザ保持ベース、Ｏ５＋はカバー、αｅは偏光ビ
ームスプリッタ、０７１はツーコブリズム、α醋α優は
集光レンズ、（イ）はトラックずれ検出用２分割光検出
器、（２１ａ）　（２１ｂ）は焦点ずれ検出用２分割光
検出器、（２４）はλ／２板である。

次に動作について説明する。第８図に示すように、半導
体レーザαυから射出した光は、コリメータ１．ンズ０
３Ｇこより平行光とされた後、ハーフプリズムａ３を通
過し−（光ビーム射出手段（５０）より射出する光ビー
ム（９）となる、一方、第７図に示すように対物レンズ
駆動装置（４）は、ディスクｔｉ）のラジアル方向（Ｂ
方向）に可動自在にスライドベアリング等（図示せず）
により支持されている。さらに、リニアモータ等（図示
せず）によりラジアル方向（Ｂ方向）に駆動することが
できる。上記の射出された光ビーム（９１は、対物レン
ズ駆動装置（４）の−部に設けられた反射ミラー（６）
によって、対物レンズ【５）に導かれ、ディスク（１）
の情報記録面に１〜２μｍ程度の光スポツｈａωを形成
する。なお、本文では詳細には述べないが、対物レンズ
駆動袋Ｗ（４）は対物レンズ（５）をディスク（１）の
面に対して直交する光軸方向とラジアル方向　（Ｂ方向
）に駆動することにより、ディスク（１）上の情報面に
対する焦点ずれ、及びトラ、りずれを補正するものであ
る。

ディスク（１）面で反射された光ヒ゛−ムは、第９図に
示すようｔこ逆行しハーフプリズムａｌにより反射され
て偏光ビームスプリッタｆ１８１によって２方向に分離
される。まず、透過した光ビーム（２２）は集光レンズ
Ｑ’Ｊにより集光され２分割光検出器（２）の差動出力
からトランクずれを検出する。又、偏光ビームスプリン
タＯので反射された光ビームは、フーコプリズム面によ
り２つ番こ分けられ、さらに集光レンズα場によって集
光しながら結像点に配置された焦点ずれ検出用２分割光
検出器（２１ａ）　、　（２１ｂ）に入射する。各々の
差動出力から焦点ずれが検出される。これらのトラック
ずれ抽出量、焦点ずれ検出量に応して、上記対物レンズ
駆動袋Ｗ（４）は対物レンズ（５）を駆動するものであ
る。なお、ディスク（１）からの情報は、上記２分割光
検出器（２Ｉ、２分割光検出器（２１ａ）　、　（２１
ｂ）のすべての和信号によって得ることができる。

ｌころで、光デイスク装置における高さ寸法は、光ヘッ
ドの高さ寸法（第７図のＨ）により決定される。光へノ
ドの高さ寸法Ｈに、ディスク（１）の上面から反射ミラ
ー（６）の中心までの寸法すなわち光ビーム射出手段（
５０）より射出される光ビーム（９）の光軸の中心（９
ａ）までの寸法り、　と、上記光ビーム（９）の中心光
軸（９ａ）から半導体レーザαＤやコリメータレンズ＠
等の光学部品の寸法および光学ベースｆ３１の底部寸法
等で決まる寸法り１、および、ベース（７）の厚み寸法
り、とを加え合わせた寸法となる。

〔発明が解決しようとする課題〕

従来の光ヘッドは以上のように構成されているので、デ
ィスクの上面から反射ミラーの中心までの寸法り、は対
物レンズ駆動装置（４；を構成するときに、−ａに対物
レンズホルダー（図示せず）や駆動開路等を配置するた
めにある程度の寸法を必要とし、この寸法り、を小さく
することには限界があった。また１１寸法り、も光ビー
ム出射手段に使用される部品の寸法では一決定され、寸
法１１２も小さくするのは困難であった。また、ベース
の厚み寸法り、も装置の強度確保等のため小さくするこ
とζこは限度があった。

すなわち、従来の光へノドの高さ寸法Ｈを小さくするこ
とは、上記理由により困難であった。

この発明は上記のような問題点を解消するためになさ第
１たもので、光ヘットの高さ寸法を小さく、小形化され
た光デイスク装置を得ることを目的としている。

〔課題を解決するための手段〕

この発明に係わる光−ノドは、光ビーム射出手段と集光
手段の間に、光ビーム射出手段から出射された光ビーム
の第１の光軸を、これと平行でがつ離間した第２の光軸
に変換する光軸変化プリズムを設けたものである。

ム射出手段より射出された光ビームの光軸をこれと平行
でかつ下方（ベース側）に位置する光軸（即ち、集光手
段へ入射される光軸）に変換させることにより、光へン
ドの高さ寸法を小さくする。

〔実施例〕

以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図は、この発明の一実施例による光デイスク装置の光ヘ
ツド部の構成を示す図、第２図は光ビーム射出手段の側
断面図、第３図は光ビーム射出手段における光学部品の
配置を示す図、第４回は光軸変換プリズムの位置ズレに
よる光路の変化を示す原理図である。

図において、＋１１は記録媒体であるディスク、（２）
はディスクモータ、（３）は光学ベース、（４）は対物
レンズ駆動装置、（５）は対物レンズ、（６）は対物レ
ンズ駆動装置（４）の一部に設けられ、対物レンズｆ５
１に後述の光軸変換プリズム（８）により光軸を変換さ
れた第の光ビーム（３０）が入射される反射ミラーであ
り、上記対物レンズ駆動装置（４）と対物レンズ（５）
および反射ミラー（６）とで集光手段（４０）を構成し
ている。

また、（７）はディスクモータ（２）や光学ベース（３
）等を保持するベース、（８）は光軸の変換を行う光軸
変換プリズム、（９）は後述の光ビーム射出手段から射
出される第１の光ビーム、（９ａ）は上記第１の光ビー
ム（９）の中心を示す第１の光軸、αＱは対物レンズ（
５）によってディスク＋１１の情報面に集光された微小
光スポット、αυは半導体１／−ザ、叩は半導体レーザ
０υからの射出光を平行ビームとするコリメータレンズ
、αＪはハーフプリズムである。上記半導体レーザＯＬ
１とコリメータレンズいおよびハーフプリズムＱ３１と
で光ビーム射出手段（５０）を構成している６更に、α
０は半導体レーザ保持ベース、ＱＳＩはカバー０［ｉ＋
は偏光ビームスプリッタ、Ｏｈはツーコブリズム、０穆
゛、ａ！１は集光レンズ、（至）はトラックずれ検出用
２分割光検出器、　（２ｉａ）　（２］、ｂ）は焦点ず
れ検出用２分割光検出器、（２４）はλ／２板である。

（り また、（３０）は上記光軸変換プリズム擾により上記第
１の光ビーム（９）の光軸が変換された第２の光ビーム
、（３０ａ）　はこの第２の光ビームの中心を示す第２
の光軸である。

次に動作について説明する。第１図及至第３図に示すよ
うに、半導体レーザαυから射出した光はコリメータレ
ンズ（転）により平行光とされた後、ハーフプリズムα
湯を通過して光ビーム射出手段（４０）より射出される
第１の光ビーム（９）となる。この第行な対向する２面
で反射するように反射面の配置された光軸変換プリズム
（８）へ入射され、第１の光軸（９ａ）と寸法ｈ４の段
差を有した第２の光軸（３０ａ）を有した第２の光ビー
ム（３０）へ変換される。尚、光軸変換プリズム（８）
はこの先軸の段差ｈ４が記録媒体ｆｌｌの面と直交しか
つ下方（即ち、ベース（１１側）に発生するよう配置さ
れている。従って、この発明の光ヘッドにおいては、従
来の光ヘッドの高さ寸法Ｈより車に光軸の段差ｈ４だけ
高さ寸法が小さくなるまた、得られる光軸の段差り、は
光軸変換プリズム（８）により自由に決定することがで
きる。

光軸変換された第２の光ビーム（３０）は、対物レンズ
駆動装置（４）の一部に設けられた反射ミラー（６１に
よって対物レンズ（５）に導かれ、ディスク（１）の情
報記録面に１〜２μｍ程度の光スボソ）　Ｑｌを形成す
る。第４図のｆａｔ及至ｆｃｌには、この先軸変換プリ
ズム（８）の位置が温度や経年的に変化した場合の、プ
リズムに入射する光軸に対する射出光軸位置ずれを示す
。第４図の（ａｌ及びｆｂｉに示すように、光軸変換プ
リズム（８）の上下（Ｃ方向）、左右（Ｄ方向）。

及び紙面に垂直な方向（図示せず）といった平行位置ず
れに対しては、光軸ズレを生しない。第４図ｔｅｌに示
すような回転方向（Ｅ方向）のズレが最も光軸ズレを生
ずることになる。このズレ量Δは回転ズレ角Δθ、プリ
ズムの屈折率ｎにより決定されるが、ｎ＝１．５程度の
一般の光学材料を使用した場合には、回転ズレ各Δθ＝
　１０ａ＋ｒａｄが生しても、３０μｍ程度のズレしか
生しない。しかも、このズレはほぼ平行ズレである。こ
うしたズレは第３図におけるトラッキング用２分割光検
出器（２）上の光スポットの強度分布に影響を与えるこ
とになるが、温度や経年的に変化する量から考えると十
分に小さな値であり無視できる程度である。これは、こ
うした光軸変化プリズム（８）を使用することにより発
生するズレもほぼ平行ズレのみになるためである。

〔発明の効果〕

以上のように、この発明によれば、光ビーム射出手段か
ら射出された光ビームの第１−の光軸を、これと平行で
かつ離間した第２の光軸に変換する光軸変換プリズムを
設けることにより、光ビーム射出手段から射出される光
ビームの光軸の位置を自由に変換することができ、ディ
スクの上端面から光学ベース下端面までの寸法を小さく
することができ、光ヘッドの大幅な小形化が可能となる
。

なお、上記実施例では、光軸変換プリズム（８）を光ビ
ーム射出手段（５０）側に設けた例について述べたが、
第５図および第６図に示すように光ビーム射出手段（５
０）に対して可動的な集光手段（４０）側に設けても同
様の効果を得ることができる。

第５図および第６図において、（８）は集光手段（４０
）を構成する反射ミラーの全面に取付けられた光軸変換
プリズム、（９）は光ビーム射出手段（５０）より射出
される第１の光ビームで（９ａ）はその中心を示す第１
の光軸、（３０）は光軸変換プリズム（８）にて第１の
光ビーム（９）が光軸変換された第２の光ビーム、（３
０ａ）　は第２の光ビーム（３０）の中心を示す第２の
光軸、ｈ４は第１の光軸（９ａ）と第２の光軸（３０ａ
）の段差寸法を示している。

また、集光手段（４０）と光ビーム射出手段（５０）と
を一体的に構成した装置においても同様の効果を奏する
ことは容易に考えられる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を示す側面図、第２図は光
軸変換の説明図、第３図は光ビーム射出手段の光学部品
配置図、第４図は光軸変換プリズムの位置ズレと光軸ズ
レ関係を示す原理図、第５図はこの発明の他の実施例を
示す側面図、第６図は第５図の実施例における光軸変換
説明図、第７図は従来の実施例を示す側面図、第８図は
光ビーム射出手段の側断面図、第９図は光ビーム射出手
段の光学部品配置図である。 図において、（１１は記録媒体（ディスク）　、＋８１
は光軸変換プリズム、（９１よ第１の光ビーム、（９ａ
）は第１の光軸、顛は微小光スポット、ａυは半導体レ
ーザ、（３０）は第２の光ビーム、（３０ａ）は第２の
光軸、（４０）は集光手段、（５０）は光ビーム射出手
段である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人　　　　大　　岩　　増　　雄 第２図 第３図 第５図 第８図 第９図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 半導体レーザから射出された光を集束させて記録媒体上
   に微小光スポットを形成し、光学的に情報の記録再生も
   しくは消去を行うための光ヘッドにおいて、上記半導体
   レーザから射出された光を光ビームとして射出する光ビ
   ーム射出手段と、上記光ビームを集束させて上記記録媒
   体上に微小光スポットを形成する集光手段との間に、上
   記光ビーム射出手段から射出した光ビームが形成する第
   １の光軸を、この第１の光軸と平行でかつ離間した第２
   の光軸に変換する光軸変換プリズムを設けたことを特徴
   とする光ヘッド。