JPH0927142A - 光ピックアップ装置 - Google Patents

光ピックアップ装置

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JPH0927142A
JPH0927142A JP8138297A JP13829796A JPH0927142A JP H0927142 A JPH0927142 A JP H0927142A JP 8138297 A JP8138297 A JP 8138297A JP 13829796 A JP13829796 A JP 13829796A JP H0927142 A JPH0927142 A JP H0927142A
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pickup device
semiconductor substrate
reflected
optical pickup
optical
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Yang-Oh Choi
良吾 崔
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Daiu Denshi Kk
WiniaDaewoo Co Ltd
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Daiu Denshi Kk
Daewoo Electronics Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 容易に制作でき、レーザビームの強度が効率
的に利用できる光ピックアップ装置を提供する。 【解決手段】 本発明の光ピックアップ装置２０は上
面、傾斜面及び下面を有する多角形プリズム２２を具備
する。レーザ光源２１から放射されたレーザビームは傾
斜面２２ａで反射されて光ディスク２６に集光され、光
ディスク２６から反射した反射光は傾斜面２２ａを経て
下面のフレネルレンズ２８によって反射され光検出器２
３に集光される。本発明の光ピックアップ装置２０は光
検出器２３によって検出されたレーザビームのデータを
利用してフォーカシングサーボ及びトラッキングサー
ボ、そして情報の記録／再生を遂行する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光ピックアップ装置
に関するものであり、より詳細にはコンパクトディスク
プレーヤ、レーザビジョンディスクプレーヤ等の光ディ
スクに情報を記録し及び／又は記録されている情報を再
生する光ピックアップ装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、光ピックアップ装置は光ディス
ク上に形成された情報記録面に光ビームを投射してその
光ディスクにデータを記録したり、またその光ディスク
からデータを再生する。
【０００３】光ピックアップ装置で光ディスクに情報を
記録する場合、半導体レーザから放射された光ビームは
ビームスポット形態で情報記録面上に集光照射され、そ
のビームスポットによって照射された情報記録面の領域
の温度はキュリー点まで上昇される。情報記録面の昇温
した領域は保磁力を失ってその情報記録面に加えられた
外部の磁界方向の方向に磁化される。その後、光ビーム
の照射は停止され、外部の磁界は維持されて、それによ
ってビームスポットが照射された領域の温度はキュリー
点の温度以下に減少して前記した方向で磁化された状態
に維持され、それによって情報が記録される。
【０００４】光ディスクから情報を再生する場合は、半
導体レーザから光ビームをキュリー点以下の低いレベル
の温度で放射して、その光ビームは記録媒体上に集光さ
れる。その時、その記録媒体上に集光された光ビーム上
にカー効果が起り、それによって照射された領域が磁化
された方向に依存する角度だけ光の偏光面が回転され
る。したがって、偏光面が回転された方向から照射され
た領域の磁化された方向を検出するによってデータを再
生できるようになる。
【０００５】情報の記録／再生が可能な光ディスク上に
は情報トラックがほぼ１．６μｍの間隔を有し同心円状
また螺旋形状に形成され、その情報トラックを利用して
光ディスク上の所定位置にデータを記録したりその所定
位置からデータを再生できる。データを正確に記録し再
生するためにはフォーカシング制御及びトラッキング制
御を遂行しなければならない。即ち、光ビームを情報ト
ラック上に集光してその情報トラックを追従するように
制御しなければならない。それで、光ヘッドはフォーカ
シングエラー信号とトラッキングエラー信号を含むサー
ボエラー信号を検出して、対物レンズアクチュエータは
その検出されたサーボエラー信号に基いて対物レンズを
フォーカシング及びトラッキング方向に駆動する。
【０００６】図１には以上に説明したように光ディスク
プレーヤに採択される従来の一般的な光ピックアップ装
置１０の線図的な構成が図示されている。図示している
ように、一般的に使用する光ディスクプレーヤの光ピッ
クアップ装置１０は所定の形状及び大きさを有する第１
半導体基板４を具備する。第１半導体基板４の一側上に
は第２半導体基板４ａが配置されて、第２半導体基板４
ａの上面中央にレーザビームを発生する半導体レーザ１
が装着されている。
【０００７】前記第１半導体基板４の他の一側上には多
角型プリズム２が半導体レーザ１と所定の間隔をおいて
配置される。プリズム２の下面と第１半導体基板４の上
面との間の境界面には光ディスクから変調反射されたレ
ーザビームの強度を電気的信号に変換する光検出器３、
３ａが配置されている。また、プリズム２の傾斜面７の
上側には所定の間隔をおいて対物レンズ５が配置されて
いる。
【０００８】上述したように構成された従来技術による
光ピックアップにおいて、半導体レーザ１は７８０ｎｍ
±２０ｎｍの発振波長を有するレーザビームを放射す
る。半導体レーザ１から放射されたレーザビームはプリ
ズム２の傾斜面７によって所定の角度で反射されて対物
レンズ５を経て光ディスク６上にほぼ１μｍ程度のスポ
ットに集光される。
【０００９】光ディスク６の情報記録面に照射されたレ
ーザビームは情報が記録されたピット６ａの大きさによ
って光の強度が変調された後、反射されて対物レンズ５
を通じてプリズム２に戻って来る。光ディスク６によっ
て反射されたレーザビームはプリズム２の傾斜面７によ
って屈折し、その一部は第１光検出器３に入射し、その
一部はプリズム２の上面に反射する。プリズム２の上面
に反射されたレーザビームは再び反射して第２光検出器
３ａによって受光される。第１及び第２の光検出器３、
３ａは受光したレーザビームの強度に応じて光情報を電
気的信号で変換し、またフォーカシングエラー及びトラ
ッキングエラーを検出してサーボ系に伝達することによ
ってフォーカシング制御及びトラッキング制御がなされ
る。
【００１０】上述した従来技術による光ディスクプレー
ヤの光ピックアップ装置１０は光検出器が２個組で構成
されていて価格上昇の要因となるだけでなく、光ディス
ク６から反射されたレーザビームを２個のレーザビーム
に分割するためにプリズム２に入射したレーザビームを
多数回反射しなければならない。このため、光ディスク
６によって反射されたレーザビームをプリズム２内で複
数回反射することによってレーザビームの光量損失が増
加して光効率が低下してしまう。
【００１１】以上のような問題点を解消するために容易
に製造ができ、レーザビームの強度が効率的に使用でき
るプリズムを具備した光ピックアップ装置を提供するた
めのいろいろな方案が研究及び試みられた。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】Ｓａｔｏｓｈｉ ｓｕ
ｇｉｕｒａによる米国特許第５,１６４，９３０号では
製造が容易でレーザビームの強度が効率的に利用できる
プリズムを具備した光ピックアップ装置が開示されてい
る。Ｓａｔｏｓｈｉ Ｓｕｇｉｕｒａの光ピックアップ
装置は半導体基板、光放射手段、ビームスプリッチング
手段、光回折手段を含み、半導体レーザから投射された
光ビームの光路を短縮するによってレーザビームの強度
を効率的に使用できる。しかし、ＳａｔｏｓｈｉＳｕｇ
ｉｕｒａの光ピックアップ装置は２個の光検出器と、回
折ビームを第２光検出器に案内する光波案内部が半導体
基板内に装置されているため、これらを組み立てること
による困難性がある。
【００１３】本発明は以上のような従来技術の問題点を
解決するためのものであり、本発明の技術的課題は容易
に製造でき、レーザビームの強度が効率的に利用できる
光ピックアップ装置を提供することにある。
【００１４】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の本発明は、情報が記録された光ディスクから情報を読
み出す光ディスクプレーヤの光ピックアップ装置におい
て、第１半導体基板と、前記第１半導体基板の一側上に
配置され、レーザビームを放射するレーザ光源と、前記
レーザ光源から放射された前記レーザビームを前記光デ
ィスクに向かう第１方向に向け、前記光ディスクから反
射した反射光を光検出器に向かう第２方向に向けると共
に、前記反射光に非点収差を発生させる配向手段と、前
記配向手段を経て入射する前記反射光を受光して、前記
光ディスクの前記情報を読み出しトラッキングサーボ及
びフォーカシングサーボを行うためのデータを提供する
光検出器とを具える光ピックアップ装置を提供する。
【００１５】望ましくは、本発明の光ピックアップ装置
は、前記レーザ光源から放射された前記レーザビームを
一つの主ビームと二つの副ビームとに分割するためのビ
ーム分割手段をさらに含み、該分割手段は前記レーザ光
源と前記配向手段の間に配置された回折格子を含む。
【００１６】前記配向手段は、前記レーザ光源から放射
された前記レーザビームを前記光ディスクに向けて反射
させて前記光ディスクによって反射された反射光を屈折
させる光路を形成する多角型プリズムと、屈折された前
記反射光に非点収差を発生させると共に前記反射光を前
記光検出器に向けて集光反射させるフレネルレンズを含
む。
【００１７】前記配向手段は、前記レーザ光源から放射
された前記レーザビームの一部は透過させ一部は前記光
ディスクに向けて反射させ、前記光ディスクによって反
射された反射光に非点収差を発生させるビームスプリッ
ター、該ビームスプリッターを通過した反射光を屈折さ
せる光路を形成する多角型プリズム及び屈折された前記
反射光を前記光検出器を向けて集光反射させる反射体を
含む。
【００１８】前記多角型プリズムは上面、傾斜面及び下
面を含み、前記上面には光検出器が配置され、前記傾斜
面には前記レーザ光源と対向するように配置され、前記
下面は前記第１半導体基板との間にフレネルレンズが配
置される。
【００１９】前記フレネルレンズは楕円形の形状で、一
面を平面とし、他の一面は断面が鋸の歯の形状である楕
円形の環が同心で配列されている。前記フレネルレンズ
は楕円形環が形成されている面が前記第１半導体基板の
上面に挿入され、平面である他の一面が前記第１半導体
基板の上面と一致するように配置されて、前記第１半導
体基板の上面とフレネルレンズの平面部がなす面に前記
多角形プリズムが接着剤によって接着される。
【００２０】前記多角型プリズムは上面、傾斜面及び下
面を含み、前記上面には光検出器が挿入され、前記傾斜
面は前記レーザ光源と対向するように配置されたビーム
スプリッターが接着され、前記下面は前記第１半導体基
板に接着されて、前記下面と前記第１半導体基板との間
に反射体が配置される。
【００２１】
【作用】このような構成を有する本発明の光ピックアッ
プ装置において、前記配向手段に入射した前記レーザビ
ームは傾斜面により反射され前記対物レンズを通じて前
記光ディスクに向けて進行する。前記光ディスクから反
射され前記対物レンズを通過する反射光は、前記傾斜面
を透過して前記配向手段の下面に進行した後前記下面に
再び反射され前記光検出器によって検出される。前記光
ピックアップ装置は前記光検出器での受光強度を利用し
てフォーカシングサーボ及びトラッキングサーボを行っ
て前記光ディスクに情報を記録し、記録されている情報
を再生する。
【００２２】以上のような本発明の目的と別の特徴及び
長所などは参照した本発明のいくつかの好適な実施例に
対する以下の説明から明白になるであろう。
【００２３】
【発明の実施の形態】以下、本発明を添付図面に基づい
て詳細に説明する。図２は本発明の第１実施例による光
ディスクプレーヤの光ピックアップ装置の断面図であ
る。図２を参照すると、第１実施例による光ピックアッ
プ装置２０は第１半導体基板２４を具備する。第１半導
体基板２４の一側部には支持部材である第２半導体基板
２４ａが配置されており、第２半導体基板２４ａの上面
にはレーザ光源である半導体レーザ２１が装着されてい
る。一方、第１半導体基板２４の他側部には配向装置Ａ
が配置されている。配向装置Ａは多角型プリズム２２と
フレネルレンズ２８を含む。
【００２４】図示しているように、多角型プリズム２２
は上面、傾斜面及び下面を含み、上面には光検出器２３
が挿入され、傾斜面は半導体レーザ２１と対向するよう
に配置される。多角型プリズム２２の下面は第１半導体
基板２４に接着され、下面と第１半導体基板２４との間
にはフレネルレンズ２８が配置される。
【００２５】多角型プリズム２２は半導体レーザ２１か
ら放射されたレーザビームを光ディスク２６に向けて反
射させ光ディスク２６によって反射されたレーザビーム
を屈折させる光路を形成する。
【００２６】フレネルレンズ２８は形状が多円形であ
り、一面は平面で他の一面は断面が鋸の歯の形状である
楕円形環が同心で配列されている。フレネルレンズ２８
は楕円形環が形成されている面が第１半導体基板２４の
上面に挿入され、平面である他の一面が第１半導体基板
２４の上面と一致されるように配置され、第１半導体基
板２４の上面とフレネルレンズ２８の平面部がなす面に
多角型プリズム２２が接着剤により接着される。
【００２７】フレネルレンズ２８は多角型プリズム２２
によって屈折されたレーザビームに非点収差を発生さ
せ、そのレーザビームを光検出器２３に向けて集光反射
する。
【００２８】多角型プリズム２２は、その一面が第１半
導体基板２４の上面と平行し、半導体レーザ２１と多角
型プリズム２２を横切る仮想軸線と対物レンズ２５の光
軸に対して傾斜すると共に半導体レーザ２１及び対物レ
ンズ２５と対向する傾斜面２２ａを有する。
【００２９】プリズム２２の傾斜面２２ａと半導体レー
ザ２１との間には回折格子２７が配置され、回折格子２
７は半導体レーザ２１で放射されたレーザビームを３ビ
ーム、つまり一つの主ビームと二つの副ビームに分割す
る。
【００３０】また、本発明による光ピックアップ装置２
０は多角型プリズム２２によって反射されたレーザビー
ムを光ディスク２６の情報記録面に集光させ、光ディス
ク２６の情報記録面により反射された反射光を多角型プ
リズム２２に向けて入射させる対物レンズ２５を具備す
る。
【００３１】前述したように構成された光ピックアップ
装置２０はサーボ系（図示せず）の制御信号により半導
体レーザ２１が動作してレーザビームを放射する。半導
体レーザ２１から放射されたレーザビームは半導体レー
ザ２１と多角型プリズム２２との間に配置された回折格
子２７を通過しながら３ビーム、つまり、一つの主ビー
ムと二つの副ビームに分割され、多角型プリズム２２に
よって反射され、対物レンズ２５に向けて反射される。
多角型プリズム２２によって反射されたレーザビームは
対物レンズ２５によって光ディスク２６に照射される。
光ディスク２６に照射されたレーザビームはその光ディ
スク２６のピット２６ａによって変調反射され対物レン
ズ２５を通じて多角型プリズム２２に入射する。
【００３２】多角型プリズム２２の傾斜面２２ａに到達
した情報を有するレーザビームは、その傾斜面２２ａで
屈折し、その下面に配置されたフレネルレンズ２８に入
射する。情報を有するレーザビームはフレネルレンズ２
８によって反射すると共に非点収差が導入され、最終的
に光検出器２３に受光される。
【００３３】情報を含むレーザビームを受光した光検出
器２３の出力信号から３ビームと非点収差を利用してト
ラッキングエラー信号及びフォーカシングエラー信号を
形成し、これらの信号をサーボ系（図示せず）に送って
トラッキング制御及びフォーカシング制御をするように
する。
【００３４】図３は本発明の第２実施例による光ディス
クプレーヤの光ピックアップ装置の断面図である。図３
を参照すると、本発明の第２実施例による光ピックアッ
プ装置３０は第１半導体基板３４を具備する。第１半導
体基板３４の一側部には支持部材である第２半導体基板
３４ａが配置されており、第２半導体基板３４ａの上面
にはレーザ光源である半導体レーザ３１が装着されてい
る。一方、第１半導体基板３４の他側部には配向装置Ｂ
が半導体レーザ３１と所定の間隔をおいて配置されてい
る。配向装置Ｂは多角型プリズム３２とビームスプリッ
ター３８及び反射体３９を含む。
【００３５】図示しているように、多角型プリズム３２
は上面、傾斜面及び下面を含み、上面には光検出器３３
が挿入され、傾斜面３２ａは半導体レーザ３１と対向す
るように配置されたビームスプリッター３８が接着さ
れ、下面は第１半導体基板３４に接着され、下面と第１
半導体基板３４との間に反射体３９が配置される。反射
体３９は反射フィルムを含む。
【００３６】ビームスプリッター３８は半導体レーザ３
１から放射されたレーザビームを一部は透過させ一部は
光ディスク３６に向けて反射させ、光ディスク３６によ
って反射されたレーザビームに非点収差を発生させる。
【００３７】ビームスプリッター３８を通過したレーザ
ビームは光路を形成する多角型プリズム３２の傾斜面に
よって屈折されその下面に入射し、多角型プリズム３２
の下面に配置された反射体３９によって集光反射され３
３によって受光される。
【００３８】多角型プリズム３２の傾斜面に接着された
ビームスプリッター３８と半導体レーザ３１との間には
回折格子３７が配置され、回折格子３７は半導体レーザ
３１で放射されたレーザビームを３ビーム、つまり一つ
の主ビームと二つの副ビームに分割する。
【００３９】ビームスプリッター３８によって反射され
たレーザビームを光ディスク３６の情報記録面に集光さ
せ、光ディスク３６の情報記録面により反射された反射
光をビームスプリッター３８に入射させる対物レンズ３
５を具備する。
【００４０】前述したように構成された本発明の第２実
施例による光ピックアップ装置３０はサーボ系（図示せ
ず）の制御信号により半導体レーザ３１が動作してレー
ザビームを放射する。半導体レーザ３１から放射された
レーザビームは半導体レーザ３１と多角型プリズム３２
との間に配置された回折格子３７を通過しながら３ビー
ム、つまり、一つの主ビームと二つの副ビームに分割さ
れ、多角型プリズム３２の傾斜面に接着されたビームス
プリッター３８によって反射され、対物レンズ３５に入
射する。ビームスプリッター３８によって反射されたレ
ーザビームは対物レンズ３５によって光ディスク３６に
照射される。光ディスク３６に照射されたレーザビーム
はその光ディスク３６のピット３６ａによって変調反射
され対物レンズ３５を経てビームスプリッター３８に入
射する。
【００４１】ビームスプリッター３８の傾斜面３２ａに
入射し情報を有するレーザビームはその傾斜面３２ａで
一部は反射し、一部は屈折して多角型プリズム３２の内
部に入射する。ビームスプリッター３８の傾斜面３２ａ
で屈折しビームスプリッター３８を通過する情報を有す
るレーザビームはビームスプリッター３８の内部を伝播
する経路の長さの差により非点収差が発生する。
【００４２】ビームスプリッター３８を経て多角型プリ
ズム３２内に入射した情報を有するレーザビームは多角
型プリズム３２の下面と第１半導体基板３４との間に配
置され上面と下面がそれぞれ多角型プリズム３２の下面
及び第１半導体基板３４の上面と接合された反射体３９
に入射する。
【００４３】情報を有するレーザビームは反射体３９に
よって全反射し、最終的に光検出器３３に受光される。
【００４４】情報を有するレーザビームを受光した光検
出器３３からの出力信号に基づき３ビームと非点収差と
を利用してトラッキングエラー信号及びフォーカシング
エラー信号を発生させ、これらの信号をサーボ系（図示
せず）に送ってトラッキング制御及びフォーカシング制
御をするようにする。
【００４５】
【発明の効果】以上で説明したように、本発明の第１及
び第２実施例による光ピックアップ装置は光ピックアッ
プ装置、マイクロフレネルレンズと反射体を利用してプ
リズムに入射されたレーザビームの光路を短縮すること
によって光効率を向上させるだけでなく光検出器の数を
減らすことによって構造が単純化できる利点がある。
【００４６】本発明は実施例によって詳細に説明された
が、本発明は実施例によって限定されず、本発明が属す
る技術分野で通常の知識を有するものなら本発明の思想
と精神を離れず、本発明を修正または変更できるもので
あろう。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来技術による光ピックアップ装置の概略斜視
図である。
【図２】本発明の第１実施例による光ピックアップ装置
の概略断面図である。
【図３】本発明の第２実施例による光ピックアップ装置
の概略断面図である。
【符号の説明】
Ａ，Ｂ配向装置 ２０ 光ピックアップ装置 ２１ 半導体レーザ ２２ 多角型プリズム ２３ 光検出器 ２３ａ 傾斜面 ２４ 第１半導体基板 ２４ａ 第２半導体基板 ２５ 対物レンズ ２６ 光ディスク ２６ａ ピット ２７ 回折格子 ２８ フレネルレンズ

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 情報が記録された光ディスクから情報を
    読み出す光ディスクプレーヤの光ピックアップ装置にお
    いて、 第１半導体基板と、 前記第１半導体基板の一側上に配置され、レーザビーム
    を放射するレーザ光源と、 前記レーザ光源から放射されたレーザビームを前記光デ
    ィスクに向かう第１方向に向け、前記光ディスクから反
    射した反射光を光検出器に向かう第２方向に向けると共
    に、前記反射光に非点収差を発生させる配向手段と、 前記配向手段を経て入射する前記反射光を受光して、前
    記光ディスクの情報を読み出しトラッキングサーボ及び
    フォーカシングサーボを行うためのデータを形成する光
    検出器とを具えることを特徴とする光ピックアップ装
    置。
  2. 【請求項２】 前記レーザ光源から放射されたレーザビ
    ームを一つの主ビームと二つの副ビームとに分割して前
    記配向手段に入射させるためのビーム分割手段をさらに
    含むことを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ
    装置。
  3. 【請求項３】 前記ビーム分割手段が、前記レーザ光源
    と前記配向手段の間に配置された回折格子を含むことを
    特徴とする請求項２に記載の光ピックアップ装置。
  4. 【請求項４】 前記配向手段が、前記レーザ光源から放
    射されたレーザビームを前記光ディスクに向かう前記第
    １方向に反射させ前記光ディスクによって反射された反
    射光を前記第２方向に屈折させる光路を形成する多角型
    プリズムと、屈折した反射光に非点収差を発生させこの
    反射光を前記光検出器に向けて集光反射させるフレネル
    レンズとを含むことを特徴とする請求項１に記載の光ピ
    ックアップ装置。
  5. 【請求項５】 前記多角型プリズムが上面、傾斜面及び
    下面を含み、前記上面には光検出器が配置され、前記傾
    斜面は前記レーザ光源と対向するように配置され、前記
    下面は前記第１半導体基板に接着され、前記下面と前記
    第１半導体基板との間にフレネルレンズが配置されるこ
    とを特徴とする請求項４に記載の光ピックアップ装置。
  6. 【請求項６】 前記フレネルレンズは、形状が楕円形
    で、一面は平面で他の一面は断面が鋸の歯の形状である
    楕円形の環が同心で配列されていることを特徴とする請
    求項４に記載の光ピックアップ装置。
  7. 【請求項７】 前記フレネルレンズは、楕円型環が形成
    されている面が前記第１半導体基板の上面に挿入され、
    平面である他の一面が前記第１半導体基板の上面と一致
    するように配置されて、前記第１半導体基板の上面とフ
    レネルレンズとの平面部がなす面に前記多角型プリズム
    が接着剤によって接着されることを特徴とする請求項６
    に記載の光ピックアップ装置。
  8. 【請求項８】 前記配向手段が、前記レーザ光源から放
    射されたレーザビームの一部は透過させ残り一部を前記
    光ディスクに向けて反射させ、前記光ディスクによって
    反射された反射光に非点収差を発生させるビームスプリ
    ッター、該ビームスプリッターを通過した前記反射光を
    屈折させて光路を形成する多角型プリズム、及び屈折さ
    れた反射光を前記光検出器を向けて集光反射させる反射
    体を含むことを特徴とする請求項１に記載の光ピックア
    ップ装置。
  9. 【請求項９】 前記多角型プリズムが上面、傾斜面及び
    下面を含み、前記上面には光検出器が挿入され、前記傾
    斜面には前記レーザ光源と対向するように配置されたビ
    ームスプリッターが接着され、前記下面は前記第１半導
    体基板に接着され、前記下面と前記半導体基板との間に
    半導体が配置されることを特徴とする請求項８に記載の
    光ピックアップ装置。
  10. 【請求項１０】 前記反射体が反射フィルムを含むこと
    を特徴とする請求項９に記載の光ピックアップ装置。
  11. 【請求項１１】 前記配向手段によって反射されたレー
    ザビームを前記光ディスクの情報記録面に集光させ、前
    記光ディスクの情報記録面によって反射した反射光を前
    記配向手段に入射させる対物レンズをさらに具備するこ
    とを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
  12. 【請求項１２】 前記第１半導体基板と前記レーザ光源
    との間に配置され、前記レーザ光源を支持する支持部材
    をさらに具備することを特徴とする請求項１に記載の光
    ピックアップ装置。
  13. 【請求項１３】 情報が記録された光ディスクから情報
    を読み出す光ディスクプレーヤの光ピックアップ装置に
    おいて第１半導体基板と、 前記第１半導体基板の一側上に配置され、レーザビーム
    を放射するレーザ光源と、 前記レーザ光源から放射されたレーザビームを一つの主
    ビームと二つの副ビームとに分割するためのビーム分割
    手段と、 前記レーザ光源から放射されたレーザビームを前記光デ
    ィスクに向く前記第１方向に反射させ前記光ディスクに
    よって反射された前記反射光を前記第２方向に向けて屈
    折させて光路を形成する多角形プリズム、及び屈折した
    反射光に非点収差を発生させて前記反射光を光検出器に
    向けて集光反射させるフレネルレンズを含む配向手段
    と、 前記プリズムによって反射したレーザビームを前記光デ
    ィスクの情報記録面に集光させ、前記光ディスクの情報
    記録面によって反射した反射光を前記プリズムに入射さ
    せる対物レンズと、 前記多角形プリズムと前記フレネルレンズとを通過した
    反射光を受光し、前記光ディスクの前記情報を読み出し
    てトラッキングサーボ及びフォーカシングサーボを行う
    ためのデータを形成する光検出器とを具えることを特徴
    とする光ピックアップ装置。
  14. 【請求項１４】 前記ビーム分割手段が、前記レーザ光
    源と前記多角形プリズムとの間に配置された回折格子を
    含み、前記多角形プリズムは上面、傾斜面及び下面を含
    み、前記上面には光検出器が配置され、前記傾斜面は前
    記レーザ光源と対向するように配置され、前記下面は前
    記第１半導体基板に接着され、前記下面と前記第１半導
    体基板との間にフレネルレンズが配置されることを特徴
    とする請求項１３に記載の光ピックアップ装置。
  15. 【請求項１５】 前記フレネルレンズは、楕円形の形状
    で、一面は平面で他の一面は断面が鋸の歯の形状である
    楕円形の環が同心で配列され、このフレネルレンズの楕
    円形環が形成されている面が前記第１半導体基板の上面
    に結合され、平面である他の一面が前記第１半導体基板
    の上面と一致するように配置され、前記第１半導体基板
    の上面とフレネルレンズの平面部がなす面に前記多角形
    プリズムが接着剤によって接着されることを特徴とする
    請求項１４に記載の光ピックアップ装置。
  16. 【請求項１６】 前記第１半導体基板と前記レーザ光源
    との間に配置され、、前記レーザ光源を支持する支持部
    材をさらに具備することを特徴とする請求項１３に記載
    の光ピックアップ装置。
  17. 【請求項１７】 情報が記録された光ディスクから情報
    を読み出す光ディスクプレーヤの光ピックアップ装置に
    おいて、 第１半導体基板と前記第１半導体基板の一側上に配置さ
    れ、レーザビームを放射するレーザ光源と、 前記レーザ光源から放射された前記レーザビームを一つ
    の主ビームと二つの副ビームで分割するためのビーム分
    割手段と、 前記レーザ光源から放射された前記レーザビームの一部
    は透過させて一部は前記光ディスクを向けて反射させ、
    前記光ディスクによって反射された反射光に非点収差を
    発生させるビームスプリッター、該ビームスプリッター
    を通過した前記反射光を屈折させて光路を形成する多角
    形プリズム、及び屈折された反射光を前記光検出器に向
    けて集光反射させる反射体を含む配向手段と、 前記ビームスプリッターによって反射されたレーザビー
    ムを前記光ディスクの情報記録面に集光させ、前記光デ
    ィスクの情報記録面によって反射された反射光を前記ビ
    ームスプリッターに入射させる対物レンズと、 前記ビームスプリッターと前記多角形プリズムを経て入
    射する反射光を受光し、前記光ディスクの前記情報を読
    み出してトラッキングサーボ及びフォーカシングサーボ
    を行うためのデータを形成する光検出器とを具えること
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  18. 【請求項１８】 前記ビーム分割手段が、前記レーザ光
    源と前記非点収差発生手段との間に配置された回折格子
    を含み、前記多角形プリズムは上面、傾斜面及び下面を
    含み、前記上面には光検出器が挿入され、前記傾斜面に
    は前記レーザ光源と対向するように配置されたビームス
    プリッターが接着され、前記下面は前記第１半導体基板
    に接着され、前記下面と前記第１半導体基板の間に反射
    体が配置されることを特徴とする請求項１７に記載の光
    ピックアップ装置。
  19. 【請求項１９】 前記反射体は反射フィルムを含むこと
    を特徴とする請求項１８に記載の光ピックアップ装置。
  20. 【請求項２０】 前記第１半導体基板と前記レーザ光源
    との間に配置され、前記レーザ光源を支持する支持部材
    をさらに具備することを特徴とする請求項１７に記載の
    光ピックアップ装置。
JP8138297A 1995-05-31 1996-05-31 光ピックアップ装置 Pending JPH0927142A (ja)

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