JPH0412431B2 - - Google Patents
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- JPH0412431B2 JPH0412431B2 JP58127728A JP12772883A JPH0412431B2 JP H0412431 B2 JPH0412431 B2 JP H0412431B2 JP 58127728 A JP58127728 A JP 58127728A JP 12772883 A JP12772883 A JP 12772883A JP H0412431 B2 JPH0412431 B2 JP H0412431B2
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- signal
- multiplexer
- input
- voltage
- switch
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/0703—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
- G06F11/0751—Error or fault detection not based on redundancy
- G06F11/0754—Error or fault detection not based on redundancy by exceeding limits
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- Theoretical Computer Science (AREA)
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、入力信号を切換えるマルチプレクサ
の故障検出方法に関するものである。
の故障検出方法に関するものである。
計算機システムの入力装置には、通常複数の信
号線が接続され、それをマルチプレクサ等で切換
えて入力信号を処理装置へ取込むようになつてい
る。第1図にプロセスの計算機システムの例を示
す。プロセス60から複数のアナログ信号を信号
線70を介して入力する入力装置20は、そのア
ナログ信号を切換えて順次1つずつ取込むマルチ
プレクサを有し、その取込んだ信号をデジタル信
号に変換し、信号線80、システムバス50を介
して処理装置10へ出力する。処理装置10は、
システムバス50を介して、入力装置20からの
信号を取込んだり、出力装置40にデイジタル信
号を出力する。出力装置40は、信号線90から
のデイジタル信号をアナログ信号に変換して、信
号線100を介してプロセス60に対して出力す
るものである。
号線が接続され、それをマルチプレクサ等で切換
えて入力信号を処理装置へ取込むようになつてい
る。第1図にプロセスの計算機システムの例を示
す。プロセス60から複数のアナログ信号を信号
線70を介して入力する入力装置20は、そのア
ナログ信号を切換えて順次1つずつ取込むマルチ
プレクサを有し、その取込んだ信号をデジタル信
号に変換し、信号線80、システムバス50を介
して処理装置10へ出力する。処理装置10は、
システムバス50を介して、入力装置20からの
信号を取込んだり、出力装置40にデイジタル信
号を出力する。出力装置40は、信号線90から
のデイジタル信号をアナログ信号に変換して、信
号線100を介してプロセス60に対して出力す
るものである。
ここで、アナログ信号を切換えて順次取込むマ
ルチプレクサの従来の故障検出方法の1つを第2
図を参照して説明する。第2図において、21は
走査信号により内部のスイツチ211〜21nを
順次1つずつONさせ、複数の入力信号を1つず
つ切換えるマルチプレクサ、35はマルチプレク
サ21の1つの入力端子(内部スイツチ211)
に接続される基準電源、22はマルチプレクサの
出力を増幅する前置増幅器、23は増幅した信号
をデイジタル信号に変換するアナログ/デイジタ
ル(以下A/Dと記す)変換器、24,25は、
基準電源35の基準電圧を増幅した電圧が規定の
範囲(VS±E)にあるか否かを検出する比較器、
28は、比較器24,25の出力と選択信号との
論理積をとるANDゲートである。
ルチプレクサの従来の故障検出方法の1つを第2
図を参照して説明する。第2図において、21は
走査信号により内部のスイツチ211〜21nを
順次1つずつONさせ、複数の入力信号を1つず
つ切換えるマルチプレクサ、35はマルチプレク
サ21の1つの入力端子(内部スイツチ211)
に接続される基準電源、22はマルチプレクサの
出力を増幅する前置増幅器、23は増幅した信号
をデイジタル信号に変換するアナログ/デイジタ
ル(以下A/Dと記す)変換器、24,25は、
基準電源35の基準電圧を増幅した電圧が規定の
範囲(VS±E)にあるか否かを検出する比較器、
28は、比較器24,25の出力と選択信号との
論理積をとるANDゲートである。
以下、動作を説明する。走査信号により内部ス
イツチ211をONさせ、基準電源35の基準電
圧を取込んだ時、前置増幅器22の出力電圧が、
基準電圧のみを正しく増幅しているか否かを比較
器24,25で検出するものである。
イツチ211をONさせ、基準電源35の基準電
圧を取込んだ時、前置増幅器22の出力電圧が、
基準電圧のみを正しく増幅しているか否かを比較
器24,25で検出するものである。
内部スイツチ211のみが正常に動作した時の
増幅器22の出力電圧をVSとした時、比較器2
4は、増幅された電圧がVS+Eより大きければ
出力信号を送出し、比較器25は、増幅された電
圧がVS−Eより小さければ出力信号を送出する
ようにそれぞれバイアス電圧VS+E、VS−Eが
設定してある。ANDゲート28の一方入力であ
る選択信号はマルチプレクサ21の内部スイツチ
211をONするとき(基準電圧35を選択する
とき)のみ送出される。
増幅器22の出力電圧をVSとした時、比較器2
4は、増幅された電圧がVS+Eより大きければ
出力信号を送出し、比較器25は、増幅された電
圧がVS−Eより小さければ出力信号を送出する
ようにそれぞれバイアス電圧VS+E、VS−Eが
設定してある。ANDゲート28の一方入力であ
る選択信号はマルチプレクサ21の内部スイツチ
211をONするとき(基準電圧35を選択する
とき)のみ送出される。
次に、走査信号により、マルチプレクサ21の
内部スイツチ212をONさせ、入力信号AI−1
を取込む。そしてAI−1,2,3,…nと順次
入力信号を取込んでいくわけである。一通り取込
み終つたら、再び内部スイツチ211をONさ
せ、基準電源35から基準電圧を取込み、比較器
24,25で検出する。このとき、スイツチ21
1の他にONとなつているスイツチが1つでもあ
れば、比較器24,25に入力される電圧は変動
し、規定の範囲(VS±E)外となるので、エラ
ー信号が出力される。
内部スイツチ212をONさせ、入力信号AI−1
を取込む。そしてAI−1,2,3,…nと順次
入力信号を取込んでいくわけである。一通り取込
み終つたら、再び内部スイツチ211をONさ
せ、基準電源35から基準電圧を取込み、比較器
24,25で検出する。このとき、スイツチ21
1の他にONとなつているスイツチが1つでもあ
れば、比較器24,25に入力される電圧は変動
し、規定の範囲(VS±E)外となるので、エラ
ー信号が出力される。
この方法は、入力信号の切換えに際して、一周
期に1度、基準電源のチエツクを行なうことによ
り、内部スイツチの故障を検出するものである。
すなわち、マルチプレクサ21の内部スイツチの
いずれかが永久的にONとなるような故障に対し
ては、内部スイツチ211がONした時(基準電
源を取込んだ時)、比較器24,25のいずれか
が論理レベル「1」となる。ANDゲート28で
は、選択信号と論理積がとられ、最終的なエラー
信号が出力され、故障が検出される。
期に1度、基準電源のチエツクを行なうことによ
り、内部スイツチの故障を検出するものである。
すなわち、マルチプレクサ21の内部スイツチの
いずれかが永久的にONとなるような故障に対し
ては、内部スイツチ211がONした時(基準電
源を取込んだ時)、比較器24,25のいずれか
が論理レベル「1」となる。ANDゲート28で
は、選択信号と論理積がとられ、最終的なエラー
信号が出力され、故障が検出される。
しかしながら、上記方法では、マルチプレクサ
21内部のスイツチの永久故障に対しては故障検
出できるが、ある瞬間のみONしてしまう瞬時故
障(例えば、内部スイツチ212が一時的に故障
(ON)しても、走査信号により内部スイツチが
順次切換えられ、一巡して基準電圧を取込む時に
内部スイツチ212は既にOFFしてしまつてい
るような故障)に対しては故障検出できないとい
う欠点があつた。
21内部のスイツチの永久故障に対しては故障検
出できるが、ある瞬間のみONしてしまう瞬時故
障(例えば、内部スイツチ212が一時的に故障
(ON)しても、走査信号により内部スイツチが
順次切換えられ、一巡して基準電圧を取込む時に
内部スイツチ212は既にOFFしてしまつてい
るような故障)に対しては故障検出できないとい
う欠点があつた。
本発明の目的は、上記のようなマルチプレクサ
の瞬時故障に対しても検出することができる故障
検出方法を提供するにある。
の瞬時故障に対しても検出することができる故障
検出方法を提供するにある。
本発明は、マルチプレクサの入力信号の切換え
時に空き時間を設け、この空き時間中は信号電圧
は発生していないが点に着目して、空き時間毎
に、マルチプレクサの出力信号電圧が規定の範囲
にあるか否かを検出し、規定の範囲外であれば、
エラー信号を処理装置に対して出力することによ
り、マルチプレクサの故障検出を行うことを特徴
としている。
時に空き時間を設け、この空き時間中は信号電圧
は発生していないが点に着目して、空き時間毎
に、マルチプレクサの出力信号電圧が規定の範囲
にあるか否かを検出し、規定の範囲外であれば、
エラー信号を処理装置に対して出力することによ
り、マルチプレクサの故障検出を行うことを特徴
としている。
すなわち、マルチプレクサの内部スイツチの切
換えは、多重選択を防止するために走査信号によ
り、まず現内部スイツチをOFFさせ、空き時間
(以下アイドル時間と記す)を設けて、同じく走
査信号により次の内部スイツチをONさせて行な
う。このアイドル時間中はマルチプレクサが正常
であれば、どの内部スイツチもONとなつておら
ず、従つてマルチプレクサの出力には信号電圧は
発生しないはずである。よつて、アイドル時間中
に、何らかの信号電圧が発生していればマルチプ
レクサが故障したと判定できる。
換えは、多重選択を防止するために走査信号によ
り、まず現内部スイツチをOFFさせ、空き時間
(以下アイドル時間と記す)を設けて、同じく走
査信号により次の内部スイツチをONさせて行な
う。このアイドル時間中はマルチプレクサが正常
であれば、どの内部スイツチもONとなつておら
ず、従つてマルチプレクサの出力には信号電圧は
発生しないはずである。よつて、アイドル時間中
に、何らかの信号電圧が発生していればマルチプ
レクサが故障したと判定できる。
以下、本発明の一実施例を第3図を用いて説明
する。
する。
第3図において、マルチプレクサ21、増幅器
22、A/D変換器23、比較器24,25、
ANDゲート28は第2図と同様である。ただし、
比較器24の反転入力、比較器25の非反転入力
に印加される電圧は従来方法が基準電圧を増幅し
た電圧(VS)を中心とする規定の範囲(VS±E)
で設定していたのに対し、本発明は、接地電位を
中心とする規定の範囲(±E)で設定している。
更に、第2図との違いは、マルチプレクサ21の
出力を抵抗26とスイツチ27とからなる直列回
路を介して接地していることである。また、この
スイツチ27の開閉動作を行なわせるために選択
信号にかわるチエツク信号を送出しており、この
チエツク信号は、アイドル時間毎に出力するもの
である。そして、このチエツク信号と、比較器2
4,25の出力がワイヤードオアされた信号とが
ANDゲート28に入力されて、論理積がとられ、
エラー信号が出力されるような構成となつてい
る。
22、A/D変換器23、比較器24,25、
ANDゲート28は第2図と同様である。ただし、
比較器24の反転入力、比較器25の非反転入力
に印加される電圧は従来方法が基準電圧を増幅し
た電圧(VS)を中心とする規定の範囲(VS±E)
で設定していたのに対し、本発明は、接地電位を
中心とする規定の範囲(±E)で設定している。
更に、第2図との違いは、マルチプレクサ21の
出力を抵抗26とスイツチ27とからなる直列回
路を介して接地していることである。また、この
スイツチ27の開閉動作を行なわせるために選択
信号にかわるチエツク信号を送出しており、この
チエツク信号は、アイドル時間毎に出力するもの
である。そして、このチエツク信号と、比較器2
4,25の出力がワイヤードオアされた信号とが
ANDゲート28に入力されて、論理積がとられ、
エラー信号が出力されるような構成となつてい
る。
ここで、増幅器22の入力インピーダンスは信
号源インピーダンスとの比で取りこんだデータ精
度上無視できる程の高インピーダンスである。
号源インピーダンスとの比で取りこんだデータ精
度上無視できる程の高インピーダンスである。
また、抵抗26、スイツチ27からなる直列回
路を挿入したのは、マルチプレクサの内部スイツ
チをOFFしたアイドル時間中でも、マルチプレ
クサの出力には信号源からの引き込み線の静電容
量により幾らかの残留電圧が残り、増幅器22の
入力はオープンとならないので、その電圧を降下
させるためである。すなわちアイドル時間中にマ
ルチプレクサ21の出力に何らかの電圧が発生し
ていて、その電圧が増幅器22で増幅されてしま
うと、比較器24,25は接地電位を中心に範囲
の検出を行なうので、正常状態でも故障と判断さ
れる恐れがあるためである。
路を挿入したのは、マルチプレクサの内部スイツ
チをOFFしたアイドル時間中でも、マルチプレ
クサの出力には信号源からの引き込み線の静電容
量により幾らかの残留電圧が残り、増幅器22の
入力はオープンとならないので、その電圧を降下
させるためである。すなわちアイドル時間中にマ
ルチプレクサ21の出力に何らかの電圧が発生し
ていて、その電圧が増幅器22で増幅されてしま
うと、比較器24,25は接地電位を中心に範囲
の検出を行なうので、正常状態でも故障と判断さ
れる恐れがあるためである。
ここで、第4図のタイムチヤートを用いて動作
の説明をする。まず、マルチプレクサ21に対し
て走査信号が入力され、内部スイツチ211が
ONし、入力信号AI−1が増幅器22に入力され
る。次にスイツチ211をOFFして、アイドル
時間T経過後スイツチ212をONして、AI−2
が入力される。この時、内部スイツチ212が故
障してON状態が続いたとする。チエツク信号
は、アイドル時間毎(CH1、CH2、CH3、…)に
出力されており、スイツチ27をONする。この
場合、内部スイツチ212が故障してON状態の
ままになつているので、AI−2は抵抗26とス
イツチ27を介してアースに流れる。よつて抵抗
26には電圧が発生し、その電圧は増幅器22で
増幅され、該定電圧Eより大きくなり比較器24
の出力は“1”となる。そしてその出力とチエツ
ク信号のCH2はANDゲート28により論理積が
とられ、エラー信号EPが発生する。
の説明をする。まず、マルチプレクサ21に対し
て走査信号が入力され、内部スイツチ211が
ONし、入力信号AI−1が増幅器22に入力され
る。次にスイツチ211をOFFして、アイドル
時間T経過後スイツチ212をONして、AI−2
が入力される。この時、内部スイツチ212が故
障してON状態が続いたとする。チエツク信号
は、アイドル時間毎(CH1、CH2、CH3、…)に
出力されており、スイツチ27をONする。この
場合、内部スイツチ212が故障してON状態の
ままになつているので、AI−2は抵抗26とス
イツチ27を介してアースに流れる。よつて抵抗
26には電圧が発生し、その電圧は増幅器22で
増幅され、該定電圧Eより大きくなり比較器24
の出力は“1”となる。そしてその出力とチエツ
ク信号のCH2はANDゲート28により論理積が
とられ、エラー信号EPが発生する。
内部スイツチ212の故障が回復すれば、次の
アイドル時間の際にはエラー信号は発生せず、ど
この接点にエラーが発生したか不明になるので、
後述する如く、エラー信号により、その時点の走
査信号の内容を記憶し、必要により取り出せるよ
うにすればよい。
アイドル時間の際にはエラー信号は発生せず、ど
この接点にエラーが発生したか不明になるので、
後述する如く、エラー信号により、その時点の走
査信号の内容を記憶し、必要により取り出せるよ
うにすればよい。
第5図は、第3図で示した本発明の一実施例を
入力装置20を含む計算機システムに適用した構
成図である。
入力装置20を含む計算機システムに適用した構
成図である。
マルチプレクサ21、増幅器22、A/D変換
器23、比較器24,25、抵抗26、スイツチ
27、ANDゲート28は、第3図と同様である。
51はデータバス、52はコントロールバスで、
システムバス50に含まれ、処理装置10(図示
せず、第1図参照)に接続されている。30,3
4はANDゲート、31はフリツプフロツプ、3
2,33はレジスタである。尚、単線の矢印は、
コントロール信号の流れを表わし、二重線の矢印
はアドレスおよびデータ信号の流れを表わす。
器23、比較器24,25、抵抗26、スイツチ
27、ANDゲート28は、第3図と同様である。
51はデータバス、52はコントロールバスで、
システムバス50に含まれ、処理装置10(図示
せず、第1図参照)に接続されている。30,3
4はANDゲート、31はフリツプフロツプ、3
2,33はレジスタである。尚、単線の矢印は、
コントロール信号の流れを表わし、二重線の矢印
はアドレスおよびデータ信号の流れを表わす。
まず、処理装置10は、レジスタ33に対し、
データバス51を介して、アドレス信号をD端子
に、そしてコントロールバス52を介して、アド
レスラツチ信号をT端子に入力させる。するとア
ドレスがレジスタ33にラツチされ、レジスタ3
3の出力は、走査信号としてマルチプレクサ21
を動作させると共に、レジスタ32のD端子に入
力される。そして、マルチプレクサ21は入力信
号AI−1〜nのいずれかを選択し、その出力は
増幅器22により増幅され、その出力信号をA/
D変換器23でデイジタル信号に変換する。その
デイジタル信号は、コントロールバス52からの
データ取込信号とANDゲート30により論理積
がとられ、アドレスバス51を介して処理装置1
0に取込まれる。これが正常データの流れであ
る。
データバス51を介して、アドレス信号をD端子
に、そしてコントロールバス52を介して、アド
レスラツチ信号をT端子に入力させる。するとア
ドレスがレジスタ33にラツチされ、レジスタ3
3の出力は、走査信号としてマルチプレクサ21
を動作させると共に、レジスタ32のD端子に入
力される。そして、マルチプレクサ21は入力信
号AI−1〜nのいずれかを選択し、その出力は
増幅器22により増幅され、その出力信号をA/
D変換器23でデイジタル信号に変換する。その
デイジタル信号は、コントロールバス52からの
データ取込信号とANDゲート30により論理積
がとられ、アドレスバス51を介して処理装置1
0に取込まれる。これが正常データの流れであ
る。
次にチエツク信号による故障検出データの流れ
を以下に示す。
を以下に示す。
処理装置10は、アイドル時間中にコントロー
ルバス52を介して、チエツク信号CHを出力し
て、スイツチ27をONして、故障検出を行な
う。もしこの時、マルチプレクサ21の内部接点
211〜21nのうち、いずれかが故障し、短絡
状態であれば第3図で説明した如く、ANDゲー
ト28よりエラー信号が発生するのでフリツプフ
ロツプ31がセツトされる。そしてこのフリツプ
フロツプ31の出力はコントロールバス52を介
して処理装置10にエラー信号として出力され、
処理装置10は故障があつたことを知ることがで
きる。またフリツプフロツプ31がセツトされる
と、レジスタ32のT端子にパルスが入力され、
その時のアドレスがレジスタ32に記憶される。
フリツプフロツプ31がセツトされている時に
は、レジスタ32の内容は更新されない。従つ
て、必要により処理装置10よりアドレス取込信
号を出力すれば、このレジスタ32の内容が、
ANDゲート34、データバス51を介して処理
装置10に取込まれ、いつでも故障したアドレス
を知ることができる。故障アドレスを取込んだ場
合には、エラーリセツト信号を出力し、エラーフ
リツプフロツプ31をリセツトし、次のエラー検
出及びアドレスの記憶にそなえる。
ルバス52を介して、チエツク信号CHを出力し
て、スイツチ27をONして、故障検出を行な
う。もしこの時、マルチプレクサ21の内部接点
211〜21nのうち、いずれかが故障し、短絡
状態であれば第3図で説明した如く、ANDゲー
ト28よりエラー信号が発生するのでフリツプフ
ロツプ31がセツトされる。そしてこのフリツプ
フロツプ31の出力はコントロールバス52を介
して処理装置10にエラー信号として出力され、
処理装置10は故障があつたことを知ることがで
きる。またフリツプフロツプ31がセツトされる
と、レジスタ32のT端子にパルスが入力され、
その時のアドレスがレジスタ32に記憶される。
フリツプフロツプ31がセツトされている時に
は、レジスタ32の内容は更新されない。従つ
て、必要により処理装置10よりアドレス取込信
号を出力すれば、このレジスタ32の内容が、
ANDゲート34、データバス51を介して処理
装置10に取込まれ、いつでも故障したアドレス
を知ることができる。故障アドレスを取込んだ場
合には、エラーリセツト信号を出力し、エラーフ
リツプフロツプ31をリセツトし、次のエラー検
出及びアドレスの記憶にそなえる。
本実施例によれば、永久故障ではなく、あるス
イツチが一時的に故障して、一巡する間にその故
障が回復してしまうような瞬時故障の場合におい
ても故障したアドレスがレジスタ32に記憶され
ているので、故障検出することが出来るという効
果を有する。
イツチが一時的に故障して、一巡する間にその故
障が回復してしまうような瞬時故障の場合におい
ても故障したアドレスがレジスタ32に記憶され
ているので、故障検出することが出来るという効
果を有する。
本発明の他の実施例を第6図を用いて説明す
る。第6図における第3図との相違は、抵抗2
6、スイツチ27の直列回路を除いた点である。
但し、本実施例は、入力信号源インピーダンスに
対して、入力インピーダンス29が低い増幅器2
2′に対してのみ適用が可能である。
る。第6図における第3図との相違は、抵抗2
6、スイツチ27の直列回路を除いた点である。
但し、本実施例は、入力信号源インピーダンスに
対して、入力インピーダンス29が低い増幅器2
2′に対してのみ適用が可能である。
本実施例の場合、アイドル時間中マルチプレク
サ21の内部スイツチがすべてOFFの時は、マ
ルチプレクサ21の出力に多少の残留電圧が残つ
ていても入力インピーダンス29が低いので、残
留電圧が低下し、残留電圧による影響をなくすこ
とができる。また、どれか一つの内部スイツチで
もON状態が続いている時は、入力信号の信号源
インピーダンスと増幅器22′の入力インピーダ
ンス29の分圧比で現われた電圧が増幅される。
これ以後の動作は第3図と同様で、増幅器22′
からの出力を比較器24,25で検出し、チエツ
ク信号と論理積がとられ、エラー信号の有無によ
り、故障検出がなされる。エラー信号の処理につ
いては第5図と同様に扱うことができる。
サ21の内部スイツチがすべてOFFの時は、マ
ルチプレクサ21の出力に多少の残留電圧が残つ
ていても入力インピーダンス29が低いので、残
留電圧が低下し、残留電圧による影響をなくすこ
とができる。また、どれか一つの内部スイツチで
もON状態が続いている時は、入力信号の信号源
インピーダンスと増幅器22′の入力インピーダ
ンス29の分圧比で現われた電圧が増幅される。
これ以後の動作は第3図と同様で、増幅器22′
からの出力を比較器24,25で検出し、チエツ
ク信号と論理積がとられ、エラー信号の有無によ
り、故障検出がなされる。エラー信号の処理につ
いては第5図と同様に扱うことができる。
本発明の他の実施例を第7図を用いて説明す
る。本実施例は、コンデンサ記憶伝送方式のマル
チプレクサ21′を用いたものである。このマル
チプレクサ21′は入力側と出力側、すなわち信
号源側と増幅器側とを絶縁化したものである。す
なわち、このマルチプレクサ21′は2つの接点
を有する内部スイツチ221〜22nを信号源側
と増幅器側の両方に切換えられるようにしたもの
であり、常時は信号源側に切換えておく。その
時、信号電圧はコンデンサに充電されている。
(AI−1を例にとると、抵抗230、コンデンサ
231、抵抗232の経路で電流が流れ、コンデ
ンサ231に充電される。)ここで、走査信号が
入力されると、その内容に応じて内部スイツチ2
21〜22nの1つが順次、増幅器側に切換えら
れる。この時、コンデンサに充電されている電圧
は、増幅器22で増幅される。
る。本実施例は、コンデンサ記憶伝送方式のマル
チプレクサ21′を用いたものである。このマル
チプレクサ21′は入力側と出力側、すなわち信
号源側と増幅器側とを絶縁化したものである。す
なわち、このマルチプレクサ21′は2つの接点
を有する内部スイツチ221〜22nを信号源側
と増幅器側の両方に切換えられるようにしたもの
であり、常時は信号源側に切換えておく。その
時、信号電圧はコンデンサに充電されている。
(AI−1を例にとると、抵抗230、コンデンサ
231、抵抗232の経路で電流が流れ、コンデ
ンサ231に充電される。)ここで、走査信号が
入力されると、その内容に応じて内部スイツチ2
21〜22nの1つが順次、増幅器側に切換えら
れる。この時、コンデンサに充電されている電圧
は、増幅器22で増幅される。
このようなマルチプレクサ21′において、内
部スイツチ221〜22nに故障が発生した場合
の故障検出は次のようにして行なう。
部スイツチ221〜22nに故障が発生した場合
の故障検出は次のようにして行なう。
例えば内部スイツチ221が故障して、アイド
ル時間中も、増幅器側に切換えられた状態が続く
とチエツク信号によりスイツチ27がONした場
合、抵抗36に電圧が発生するので、第3図と同
様にANDゲート28よりエラー信号が出力され
る。
ル時間中も、増幅器側に切換えられた状態が続く
とチエツク信号によりスイツチ27がONした場
合、抵抗36に電圧が発生するので、第3図と同
様にANDゲート28よりエラー信号が出力され
る。
本実施例によれば、入力側と出力側を絶縁化し
たマルチプレクサを用いているので、高いコモン
モードノイズ除去比が得られる。
たマルチプレクサを用いているので、高いコモン
モードノイズ除去比が得られる。
また、エラー検出は、A/D変換器23で入力
信号をデイジタル信号に変換した後で行なつても
よい。尚、第5図の実施例では、入力装置20内
にレジスタ32を設ける例を示しているが、処理
装置はエラー発生時のアドレスをソフト的に容易
に検出できるので、このレジスタ32は省略可能
である。また、エラー検出信号の処理を、処理装
置がある場合についてのみ説明したが、処理装置
がない場合は、例えばエラー検出信号をフリツプ
フロツプに記憶し、その出力によりランプ表示を
行い、オペレータ等が目視によりエラー発生を確
認した際、スイツチ操作により、エラー発生がど
こで生じたかを検出するようにしてもよい。
信号をデイジタル信号に変換した後で行なつても
よい。尚、第5図の実施例では、入力装置20内
にレジスタ32を設ける例を示しているが、処理
装置はエラー発生時のアドレスをソフト的に容易
に検出できるので、このレジスタ32は省略可能
である。また、エラー検出信号の処理を、処理装
置がある場合についてのみ説明したが、処理装置
がない場合は、例えばエラー検出信号をフリツプ
フロツプに記憶し、その出力によりランプ表示を
行い、オペレータ等が目視によりエラー発生を確
認した際、スイツチ操作により、エラー発生がど
こで生じたかを検出するようにしてもよい。
本発明によれば、マルチプレクサの内部スイツ
チが一時的にONとなるような瞬時故障に対して
もその故障を検出することができる。
チが一時的にONとなるような瞬時故障に対して
もその故障を検出することができる。
第1図は、プロセスの計算機システムの例を示
す図、第2図は、従来のマルチプレクサの故障検
出方法を説明するための入力装置の一部を示す
図、第3図は、本発明の一実施例を説明するため
の入力装置の一部を示す図、第4図は、本発明の
動作を示すタイムチヤート、第5図は、本発明の
一実施例を計算機システムに適用した構成図、第
6図、第7図は、本発明の他の実施例を説明する
ための入力装置の一部を示す図である。 21…マルチプレクサ、22…増幅器、24,
25…比較器、26…抵抗、27…スイツチ、2
8…ANDゲート、31…フリツプフロツプ、3
2,33…レジスタ。
す図、第2図は、従来のマルチプレクサの故障検
出方法を説明するための入力装置の一部を示す
図、第3図は、本発明の一実施例を説明するため
の入力装置の一部を示す図、第4図は、本発明の
動作を示すタイムチヤート、第5図は、本発明の
一実施例を計算機システムに適用した構成図、第
6図、第7図は、本発明の他の実施例を説明する
ための入力装置の一部を示す図である。 21…マルチプレクサ、22…増幅器、24,
25…比較器、26…抵抗、27…スイツチ、2
8…ANDゲート、31…フリツプフロツプ、3
2,33…レジスタ。
Claims (1)
- 1 複数の入力信号を切換えるマルチプレクサの
故障検出方法において、入力信号の切換え時に空
き時間を設け、該空き時間毎にマルチプレクサの
出力信号電圧が規定の範囲にあるか否かを検出
し、マルチプレクサの故障検出を行なうようにし
たことを特徴とするマルチプレクサの故障検出方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58127728A JPS6020159A (ja) | 1983-07-15 | 1983-07-15 | マルチプレクサの故障検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58127728A JPS6020159A (ja) | 1983-07-15 | 1983-07-15 | マルチプレクサの故障検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6020159A JPS6020159A (ja) | 1985-02-01 |
JPH0412431B2 true JPH0412431B2 (ja) | 1992-03-04 |
Family
ID=14967228
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58127728A Granted JPS6020159A (ja) | 1983-07-15 | 1983-07-15 | マルチプレクサの故障検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6020159A (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100866967B1 (ko) | 2007-05-10 | 2008-11-05 | 삼성전자주식회사 | 밴드갭 기준 전압 발생 회로를 이용한 이상 전압 검출 및차단 회로 |
JP2010015921A (ja) * | 2008-07-07 | 2010-01-21 | Yokogawa Electric Corp | マルチプレクサスイッチの試験方法とその装置および多点測定装置 |
JP5110154B2 (ja) * | 2010-11-10 | 2012-12-26 | 株式会社デンソー | 電圧検出装置および電圧検出システム |
JP5401491B2 (ja) | 2011-03-02 | 2014-01-29 | 日立ビークルエナジー株式会社 | 電圧測定装置および電圧測定システム |
EP4106206A1 (en) * | 2015-11-11 | 2022-12-21 | Mitsubishi Electric Corporation | A/d conversion device |
-
1983
- 1983-07-15 JP JP58127728A patent/JPS6020159A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6020159A (ja) | 1985-02-01 |
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